1.本发明属于半导体检测设备技术领域，具体涉及一种弹力可调、针头可弯曲式测试探针。
背景技术：
2.测试探针又称半导体探针，一般由针管、弹簧和针头组成，弹簧放置在针管中，针头则与弹簧连接，并从针管的一端伸出，结构较为简单。
3.测试探针使用时，针头与被测对象接触进行测试，但是对于表面难以接触到的部门，需要进行一定的角度弯曲进行触及，但是现有的测试探针一般都是固定的，难以进行角度变化，故而难以适应此类场合。
技术实现要素：
4.本发明的目的是提供一种弹力可调、针头可弯曲式测试探针，解决现有测试探针无法进行角度变化的问题。
5.为了达到上述目的，本发明所采用的技术方案是：一种弹力可调、针头可弯曲式测试探针，包括针管，所述针管的下端内设置有调节块，针管内设置有弹簧，所述弹簧的上端连接有衬块，所述衬块的顶部设置有弹性针轴。
6.作为本发明的一种优选的技术方案，所述调节块螺纹装配在所述针管的下端内。
7.作为本发明的一种优选的技术方案，所述衬块的顶部设置有安装孔，所述弹性针轴的下端设置在所述安装孔中。
8.作为本发明的一种优选的技术方案，所述弹簧为压缩弹簧。
9.作为本发明的一种优选的技术方案，所述弹性针轴为弯曲弹簧。
10.本发明的有益效果是：(1)本发明的一种弹力可调、针头可弯曲式测试探针，其针头为弹性针轴，可以进行任意角度的调整，能够确保针轴接触到不易接触到的位置，以便顺利完成不同场合的测试；(2)本发明的一种弹力可调、针头可弯曲式测试探针，还可对弹簧的弹力进行调节，确保测试探针的弹性针轴与被测试对象至今能够形成良好的接触；(3)本发明的一种弹力可调、针头可弯曲式测试探针，结构简单，操作方便，制造成本较低，具有较好的市场推广使用前景。
附图说明
11.此处所说明的附图用来提供对本发明的进一步理解，构成本发明的一部分，本发明的示意性实施例及其说明用于解释本发明，并不构成对本发明的不当限定。在附图中：
12.图1为本发明的一种弹力可调、针头可弯曲式测试探针的结构示意图。
13.图中：1.针管，2.弹性针轴，3.衬块，4.弹簧，5.调节块。
具体实施方式
14.下面详细描述本发明的实施例，所述实施例的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，仅用于解释本发明，而不能理解为对本发明的限制。
15.在本发明的描述中，如果有描述到第一、第二只是用于区分技术特征为目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量或者隐含指明所指示的技术特征的先后关系。
16.本发明的描述中，除非另有明确的限定，设置、安装、连接等词语应做广义理解，所属技术领域技术人员可以结合技术方案的具体内容合理确定上述词语在本发明中的具体含义。
17.如图1所示，本发明的一种弹力可调、针头可弯曲式测试探针，包括针管1，所述针管1的下端内设置有调节块5，针管1内设置有弹簧4，所述弹簧4的上端连接有衬块3，所述衬块3的顶部设置有弹性针轴2。
18.装配时，先将弹簧4放置在针管1中，之后再装入衬块3，并在针管1的上端加工缩口，使衬块3限位在针管1内，最后将弹性针轴2安装在衬块3的顶部，针管1的下端则通过调节块5封死，方可实施测试。
19.测试时，根据被测对象的位置对弹性针轴2进行调节，使其能够与被测对象之间形成良好的接触，以便进行精确的测量。
20.如图1所示，在本发明的一种弹力可调、针头可弯曲式测试探针中，调节块5螺纹装配在针管1的下端内。
21.调节块5为圆柱形，其螺纹装配在针管1的下端内，通过控制其旋入的深度，可以设定弹簧4对衬块3的弹力值作用，从而确保衬块3上弹性针轴2与被测对象之间具有良好的接。
22.如图1所示，在本发明的一种弹力可调、针头可弯曲式测试探针中，衬块3的顶部设置有安装孔，弹性针轴2的下端设置在安装孔中。
23.弹性针轴2的下端固定在安装孔中，便于对弹性针轴2进行装配，可确保能够随衬块3一起移动。
24.如图1所示，在本发明的一种弹力可调、针头可弯曲式测试探针中，弹簧4为压缩弹簧。
25.弹簧4优选为压缩弹簧，可确保弹簧4为衬块3提供足够达的弹力，使弹性针轴2能够与被测对象之间实现良好的接触。
26.如图1所示，在本发明的一种弹力可调、针头可弯曲式测试探针中，弹性针轴2为弯曲弹簧。
27.弹性针轴2优选为弯曲弹簧，可确保弹性针轴2具有足够的强度以便于被测对象之间形成良好稳定的接触，另一方面可确保弹性针轴2进行弯曲，对角度进行调节。
28.因此，与现有技术相比，本发明的一种弹力可调、针头可弯曲式测试探针，其针头为弹性针轴，可以进行任意角度的调整，能够确保针轴接触到不易接触到的位置，以便顺利完成不同场合的测试。另外，本发明的一种弹力可调、针头可弯曲式测试探针，还可对弹簧的弹力进行调节，确保测试探针的弹性针轴与被测试对象至今能够形成良好的接触。还有，
本发明的一种弹力可调、针头可弯曲式测试探针，结构简单，操作方便，制造成本较低，具有较好的市场推广使用前景。
29.上述说明示出并描述了发明的若干优选实施例，但如前所述，应当理解发明并非局限于本文所披露的形式，不应看作是对其他实施例的排除，而可用于各种其他组合、修改和环境，并能够在本文所述发明构想范围内，通过上述教导或相关领域的技术或知识进行改动。而本领域人员所进行的改动和变化不脱离发明的精神和范围，则都应在发明所附权利要求的保护范围内。
技术特征：
1.一种弹力可调、针头可弯曲式测试探针，其特征在于，包括针管(1)，所述针管(1)的下端内设置有调节块(5)，针管(1)内设置有弹簧(4)，所述弹簧(4)的上端连接有衬块(3)，所述衬块(3)的顶部设置有弹性针轴(2)。2.根据权利要求1所述的弹力可调、针头可弯曲式测试探针，其特征在于，所述调节块(5)螺纹装配在所述针管(1)的下端内。3.根据权利要求2所述的弹力可调、针头可弯曲式测试探针，其特征在于，所述衬块(3)的顶部设置有安装孔，所述弹性针轴(2)的下端设置在所述安装孔中。4.根据权利要求3所述的弹力可调、针头可弯曲式测试探针，其特征在于，所述弹簧(4)为压缩弹簧。5.根据权利要求4所述的弹力可调、针头可弯曲式测试探针，其特征在于，所述弹性针轴(2)为弯曲弹簧。
技术总结
本发明公开了一种弹力可调、针头可弯曲式测试探针，包括针管，所述针管的下端内设置有调节块，针管内设置有弹簧，所述弹簧的上端连接有衬块，所述衬块的顶部设置有弹性针轴。该弹力可调、针头可弯曲式测试探针，解决了现有测试探针无法进行角度变化的问题。测试探针无法进行角度变化的问题。测试探针无法进行角度变化的问题。
技术研发人员：张飞龙 付盼红 申啸
受保护的技术使用者：渭南高新区木王科技有限公司
技术研发日：2021.12.13
技术公布日：2022/4/15
再多了解一些
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