显示基板及显示装置的制作方法

1.本公开涉及显示技术领域，特别涉及一种显示基板及显示装置。


背景技术：

2.有机发光二极管(organic light-emitting diode，oled)显示基板因其功耗低、响应速度快和视角宽等优点被广泛应用于各类显示装置中。
3.目前，为确保oled显示基板的出厂良率较好，在oled显示基板出厂前，均会对oled显示基板中的多个像素进行点灯测试，以验证该多个像素能否正常发光。基于此，oled显示基板中一般会设置面板测试(cell test，ct)电路，该ct电路通过多条数据线引线与多条数据线耦接，该多条数据线与多个像素耦接。该ct电路用于通过多条数据线引线向多条数据线传输数据信号，该多条数据线用于将接收到的数据信号进一步传输至多个像素，以点亮该多个像素。
4.但是，受排布方式影响，各条数据线引线的长度不一，即各条数据线引线上的电阻值存在差异。如此，导致传输至各条数据线的数据信号均一性较差，进而导致多个像素的发光亮度均一性较差，影响点灯测试的测试精度。


技术实现要素：

5.本公开实施例提供了一种显示基板及显示装置，可以解决相关技术中因各条数据线引线上的电阻值存在差异，而影响点灯测试的测试精度的问题。
6.所述技术方案如下：
7.一方面，提供了一种显示基板，所述显示基板包括：
8.衬底，具有显示区和至少部分围绕所述显示区的非显示区；
9.多个像素，位于所述显示区；
10.多条数据线，位于所述显示区且与所述多个像素耦接，并用于向所述多个像素提供数据信号；
11.多条数据线引线，位于所述非显示区且与所述多条数据线耦接；
12.至少一条开关控制线、多条数据信号线和多个测试电路组，位于所述非显示区，每个所述测试电路组包括多个测试电路，每个所述测试电路具有多层导电膜层，且通过所述多层导电膜层与一条所述开关控制线、一条所述数据信号线和一条所述数据线引线耦接，并用于响应于所述开关控制线提供的开关控制信号，将来自所述数据信号线的数据信号经所述数据线引线传输至所述数据线；
13.其中，每个所述测试电路包括的多层导电膜层中，耦接所述数据线引线的目标导电膜层的电阻值与所述数据线引线的长度负相关。
14.可选的，所述目标导电膜层在所述衬底上的正投影的长度与所述数据线引线的长度负相关。
15.可选的，所述目标导电膜层在所述衬底上的正投影的宽度与所述数据线引线的长
度正相关。
16.可选的，所述目标导电膜层在所述衬底上的正投影的最大宽度与所述数据线引线的长度正相关。
17.可选的，所述多层导电膜层包括：位于所述衬底一侧的有源层、第一栅金属层和第一源漏金属层；
18.所述有源层与所述第一源漏金属层耦接，所述第一源漏金属层还分别与所述数据信号线和所述数据线引线耦接，所述第一栅金属层与所述开关控制线耦接；
19.所述目标导电膜层包括：通过所述第一源漏金属层与所述数据线引线耦接的所述有源层。
20.可选的，所述显示基板还包括：第二栅金属层和第二源漏金属层；
21.其中，所述开关控制线与所述第一源漏金属层位于同层，所述数据信号线与所述第一源漏金属层和所述第二源漏金属层位于同层，所述数据线引线与所述第一栅金属层或所述第二栅金属层位于同层。
22.可选的，每个所述像素包括多个不同颜色的子像素，每个所述子像素与一条所述数据线对应耦接；且，每个所述测试电路组包括的测试电路的数量，以及所述显示基板包括的开关控制线的数量和数据信号线的数量，均与每个所述像素包括的子像素的数量相同；
23.其中，每个所述测试电路组包括的各个测试电路与不同的开关控制线耦接，且与不同的数据信号线耦接；
24.以及，各个所述测试电路组中，与同一种颜色的子像素对应的数据线耦接的测试电路共用同一条所述数据信号线，且共用同一条所述开关控制线耦接。
25.可选的，每个所述像素包括：红色子像素、绿色子像素和蓝色子像素；
26.每个所述测试电路组中，与红色子像素对应的数据线耦接的测试电路，以及与蓝色子像素对应的数据线耦接的测试电路，共用同一条数据线引线。
27.可选的，每个所述测试电路包括：开关晶体管；
28.所述开关晶体管的栅极与所述开关控制线耦接，所述开关晶体管的第一极与所述数据信号线耦接，所述开关晶体管的第二极与所述数据线引线耦接。
29.另一方面，提供了一种显示装置，所述显示装置包括：供电组件，以及如上述方面所述的显示基板；
30.其中，所述供电组件与所述显示基板耦接，并用于为所述显示基板供电。
31.综上所述，本公开实施例提供的技术方案带来的有益效果至少包括：
32.提供了一种显示基板及显示装置。其中，该显示基板包括多个测试电路组，每个测试电路组包括多个测试电路，且每个测试电路均分别与一条数据信号线和一条数据线引线耦接，该数据线引线与数据线耦接，数据线再与像素耦接。每个测试电路能够通过数据线引线将数据信号线提供的数据信号传输至数据线，以点亮像素。由于每个测试电路中与数据信号线耦接的导电膜层的电阻值与数据线引线的长度负相关，因此可以实现对不同长度的数据线引线的电阻值的有效补偿，使得各条数据线引线上的电阻值接近。进而，可以使得传输至各条数据线的数据信号的均一性较好，多个像素的发光亮度均一性较好。由此，即可以确保点灯测试的精度较好。
附图说明
33.为了更清楚地说明本公开实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本公开的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
34.图1是本公开实施例提供的一种显示基板的结构示意图；
35.图2是本公开实施例提供的一种各条数据线引线的电阻分布示意图；
36.图3是本公开实施例提供的另一种显示基板的结构示意图；
37.图4是本公开实施例提供的又一种显示基板的结构示意图；
38.图5是本公开实施例提供的再一种显示基板的结构示意图；
39.图6是本公开实施例提供的再一种显示基板的结构示意图；
40.图7是本公开实施例提供的一种显示基板中测试电路的结构版图；
41.图8是本公开实施例提供的另一种显示基板中测试电路的结构版图；
42.图9是本公开实施例提供的又一种显示基板中测试电路的结构版图；
43.图10是本公开实施例提供的再一种显示基板中测试电路的结构版图；
44.图11是本公开实施例提供的包括测试电路结构版图的显示基板示意图；
45.图12是本公开实施例提供的一种显示装置的结构示意图。
具体实施方式
46.为了使本公开的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合附图对本公开实施方式作进一步地详细描述。
47.本公开的实施方式部分使用的术语仅用于对本公开的实施例进行解释，而非旨在限定本公开。除非另作定义，本公开的实施方式使用的技术术语或者科学术语应当为本公开所属领域内具有一般技能的人士所理解的通常意义。例如，本公开实施例中使用的“第一”、“第二”或者“第三”以及类似的词语并不表示任何顺序、数量或者重要性，而只是用来区分不同的组成部分。同样，“一个”或者“一”等类似词语也不表示数量限制，而是表示存在至少一个。“包括”或者“包含”等类似的词语意指出现在“包括”或者“包含”前面的元件或者物件涵盖出现在“包括”或者“包含”后面列举的元件或者物件及其等同，并不排除其他元件或者物件。“上”、“下”、“左”或者“右”等仅用于表示相对位置关系，当被描述对象的绝对位置改变后，则所述相对位置关系也可能相应地改变。“连接”或者“耦接”是指电连接。“和/或”，表示可以存在三种关系，例如，a和/或b，可以表示：单独存在a，同时存在a和b，单独存在b这三种情况。字符“/”一般表示前后关联对象是一种“或”的关系。
48.采用oled显示基板的显示装置已成为目前的主流趋势，该显示装置的制造一般包括依次执行的基板(panel，pnl)段和模组段。其中，在pnl段主要进行显示基板的制造；在模组段主要进行驱动电路和显示基板的封装，驱动电路是指用于驱动显示基板进行显示的电路。
49.并且，为了验证pnl段的生产，提前拦截pnl段制造的不良显示基板，以节省后续模组段的模组资材，并厘清pnl段和模组段的资材关系，通常在pnl段会采用ct电路对显示基板中的像素进行点灯测试。以及，为了提高显示基板的利用率，ct电路通常设置于扇出
(fanout)位置。即，结合图1，ct电路通常位于显示基板的下方中间位置处。ct电路通过多条数据线引线与显示基板中耦接像素的数据线耦接，以点亮像素。例如，显示基板中的多个像素通常阵列排布，多列像素对应耦接多条数据线，多条数据线引线与该多条数据线再一一对应耦接。在点灯测试时，ct电路向各条数据线引线传输的数据信号一致，理论上各个像素的发光亮度应该相同。
50.但是，正因该排布方式，导致各条数据线引线的长度不一。结合图1，在ct电路恰好位于显示基板的下方正中间位置处时，沿显示基板的左右两侧靠近显示基板的中间位置的方向，各条数据线引线的长度均逐渐变短。结合电阻的电阻值r的计算公式：“r＝ρl/s；其中，ρ表示电阻率，由构成电阻的结构(如，数据线引线)自身的性质决定；l表示构成电阻的结构的长度；s表示构成电阻的横截面积”可知，数据线引线的长度与其上的电阻值r的大小正相关。即，数据线引线的长度越长，其上的电阻值越大；反之，数据线引线的长度越短，其上的电阻值越小。图2示出了从显示基板的左侧至右侧，各条数据线所耦接的各条数据线引线上的电阻分布。横坐标是指数据线引线的位置，纵坐标是指电阻值r的大小，单位可以为欧姆(ω)。结合图2可知，显示基板的中间位置处最短长度的数据线对应耦接的数据线引线的电阻值最小，显示基板的两侧处最长长度的数据线对应耦接的数据线引线的电阻值最大。该各条数据线引线上的电阻值不一，导致各条数据线引线上的负载(loading)存在差异，进而导致传输至各条数据线的数据信号均一性较差，各列像素的发光亮度存在差异，显示基板显示亮度不均一，形成图1所示的竖状缺陷(block mura)。
51.本公开实施例提供了一种显示基板，在对该显示基板进行点灯测试时，该显示基板不会因电阻值差异而出现图1所示的block mura，点灯测试精度较高。
52.图3是本公开实施例提供的一种显示基板的结构示意图。如图3所示，该显示基板包括：衬底01，该衬底01具有显示区a1和至少部分围绕显示区a1的非显示区b1。示例的，图3示出的非显示区b1位于显示区a1的下侧，与该显示区a1临接，即部分围绕该显示区a1。当然，该非显示区b1不限于位于显示区a1的下侧，如，该非显示区b1也可以位于显示区a1的上侧。
53.继续参考图3，该显示基板还包括：位于显示区a1的多个像素02和多条数据线d0。以及，位于非显示区b1的多条数据线引线d1、至少一条开关控制线sw1、多条数据信号线d2和多个测试电路组03。
54.该多条数据线d0与多个像素02耦接，并用于向该多个像素02提供数据信号。该多条数据线引线d1与多条数据线d0耦接。例如，参考图3，多个像素02可以阵列排布，位于同一列的像素02可以与同一条数据线d0耦接，每条数据线引线d1可以与一条数据线d0对应耦接。需要说明的是，每个像素02可以包括多个不同颜色的子像素，每个子像素可以与一条数据线d0耦接，且不同子像素耦接的数据线d0不同。即，每个像素02其实是与多条数据线d0耦接。
55.每个测试电路组03包括多个测试电路031。每个测试电路031具有多层导电膜层(图中未示出)，且通过该多层导电膜层与一条开关控制线sw1、一条数据信号线d2和一条数据线引线d1耦接。每个测试电路031用于响应于开关控制线sw1提供的开关控制信号，将数据信号线d2提供的数据信号经数据线引线d1传输至数据线d0。即，多条数据线d0向多个像素02提供的数据信号可以来自该数据信号线d2。多个像素02在该数据信号的驱动下可以发
光，从而即实现了对多个像素02的点灯测试。此处的多个测试电路组03即对应上述实施例记载的ct电路。
56.其中，每个测试电路031包括的多层导电膜层中，耦接数据线引线d1的目标导电膜层的电阻值r与该数据线引线d1的长度负相关。即，数据线引线d1的长度越长，目标导电膜层的电阻值r越小；反之，数据线引线d1的长度越短，目标导电膜层的电阻值r越大。如此，对于长度较长，电阻值r较大的数据线引线d1，可以通过减小其所耦接的测试电路031中目标导电膜层的电阻值，以对该数据线引线d1的电阻值r进行补偿；对于长度较短，电阻值r较小的数据线引线d1，可以通过增大其所耦接的测试电路031中目标导电膜层的电阻值，以对该数据线引线d1的电阻值r进行补偿。最终使得不同长度的数据线引线d1上的loading均一性较好，进而即可以使得各个测试电路031向各条数据线d0传输的数据信号较为一致，各个像素02的发光亮度均一性较好。进而，可以提高点灯测试的测试准确率，使得测试精度较好。
57.综上所述，本公开实施例提供了一种显示基板。该显示基板包括多个测试电路组，每个测试电路组包括多个测试电路，且每个测试电路均分别与一条数据信号线和一条数据线引线耦接，该数据线引线与数据线耦接，数据线再与像素耦接。每个测试电路能够通过数据线引线将数据信号线提供的数据信号传输至数据线，以点亮像素。由于每个测试电路中与数据信号线耦接的导电膜层的电阻值与数据线引线的长度负相关，因此可以实现对不同长度的数据线引线的电阻值的有效补偿，使得各条数据线引线上的电阻值接近。进而，可以使得传输至各条数据线的数据信号的均一性较好，多个像素的发光亮度均一性较好。由此，即可以确保点灯测试的精度较好。
58.结合上述电阻值公式可知，在本公开实施例中，可以通过调整目标导电膜层在衬底01上的正投影的长度或宽度，以灵活设置目标导电膜层的电阻值。
59.作为一种可选的实现方式，可以设置每个测试电路031的目标导电膜层在衬底01上的正投影的长度与数据线引线d1的长度负相关。即，数据线引线d1的长度越长，设置目标导电膜层在衬底01上的正投影的长度越短；反之，数据线引线d1的长度越短，设置目标导电膜层在衬底01上的正投影的长度越长。
60.或者，作为另一种可选的实现方式，可以设置每个测试电路031的目标导电膜层在衬底01上的正投影的宽度与数据线引线d1的长度正相关。即，数据线引线d1的长度越长，设置目标导电膜层在衬底01上的正投影的宽度越宽；反之，数据线引线d1的长度越短，设置目标导电膜层在衬底01上的正投影的宽度越窄。
61.当然，在一些其他实施例中，也可以同时调整目标导电膜层在衬底01上的正投影的长度和宽度，以实现对数据线引线d1上电阻值的可靠补偿。
62.可选的，在本公开实施例中，可以是设置目标导电膜层在衬底01上的正投影的最大宽度与数据线引线d1的长度正相关。如，目标导电膜层的各段在衬底01上的正投影的宽度不均一，其中最宽部分的宽度与数据线引线d1的长度正相关。当然，在一些其他实施例中，也可以是目标导电膜层在衬底01上的正投影的平均宽度与数据线引线d1的长度正相关。或者，目标导电膜层的各段在衬底01上的正投影的宽度一致。
63.可选的，在本公开实施例中，如上述实施例记载，每个像素02可以包括多个不同颜色的子像素。在此基础上，每个子像素可以与一条数据线d0对应耦接。显示基板中的多个子像素可以阵列排布，且位于同一列的各个子像素可以共用同一条数据线d0。即，与同一条数
据线d0耦接。
64.每个测试电路组03包括的测试电路031的数量，以及显示基板包括的开关控制线sw1的数量和数据信号线d2的数量，均可以与每个像素02包括的子像素的数量相同。且，每个测试电路组03包括的各个测试电路031与不同的开关控制线sw1耦接，与不同的数据信号线d2耦接。以及，各个测试电路组03中，与同一种颜色的子像素对应的数据线d0耦接的测试电路031共用同一条数据信号线d2(即，与同一条数据信号线d2耦接)，且共用同一条开关控制线sw1(即，与同一条开关控制线sw1耦接)。
65.例如，参考图4，其示出的每个像素02均包括：红色(red，r)子像素r1、蓝色(blue，b)子像素b1和绿色(green，g)子像素g1。位于同一列的红色子像素r1与同一条数据线d0耦接，位于同一列的绿色子像素g1与同一条数据线d0耦接，且位于同一列的蓝色子像素b1与同一条数据线d0耦接。相应的，每个测试电路组03均包括第一测试电路031-1，第二测试电路031-2和第三测试电路031-3共三个测试电路031。显示基板共包括三条开关控制线sw1-r1、sw1-g1和sw1-b1，三条数据信号线d2-r1、d2-g1和d2-b1。即，本公开实施例记载的ct电路为3d3s(即，包括3条数据信号线和3条开关控制线)结构的ct电路。当然，在一些实施例中，ct电路也可以为其他结构，如可以为3d1s(即，包括3条数据信号线和1条开关控制线)。
66.其中，第一测试电路031-1可以分别与开关控制线sw1-r1、数据信号线d2-r1和一条数据线引线d1耦接，且该数据线引线d1可以与红色子像素r1耦接的数据线d0耦接。该第一测试电路031-1可以用于响应于该开关控制线sw1-r1提供的开关控制信号，将数据信号线d2-r1提供的数据信号经该数据线引线d1传输至与红色子像素r1耦接的数据线d0，以点亮红色子像素r1。并且，不同测试电路组03中的该第一测试电路031-1均与该开关控制线sw1-r1和该数据信号线d2-r1耦接。
67.第二测试电路031-2可以分别与开关控制线sw1-b1、数据信号线d2-b1和一条数据线引线d1耦接，且该数据线引线d1可以与蓝色子像素b1耦接的数据线d0耦接。该第二测试电路031-2可以用于响应于该开关控制线sw1-b1提供的开关控制信号，将数据信号线d2-b1提供的数据信号经该数据线引线d1传输至与蓝色子像素b1耦接的数据线d0，以点亮蓝色子像素b1。并且，不同测试电路组03中的该第二测试电路031-2均与该开关控制线sw1-b1和该数据信号线d2-b1耦接。
68.第三测试电路031-3可以分别与开关控制线sw1-g1、数据信号线d2-g1和一条数据线引线d1耦接，且该数据线引线d1可以与绿色子像素g1耦接的数据线d0耦接。该第三测试电路031-3可以用于响应于该开关控制线sw1-g1提供的开关控制信号，将数据信号线d2-g1提供的数据信号经该数据线引线d1传输至与绿色子像素g1耦接的数据线d0，以点亮绿色子像素g1。并且，不同测试电路组03中的该第三测试电路031-3均与该开关控制线sw1-g1和该数据信号线d2-g1耦接。
69.可选的，参考图4，不同颜色的子像素与不同的数据线d0耦接，且不同的测试电路031通过不同的数据线引线d1与不同的数据线d0耦接。或者，参考图5，每个测试电路组03中，与红色子像素r1对应的数据线d0耦接的测试电路031，以及与蓝色子像素b1对应的数据线d0耦接的测试电路031，可以共用同一条数据线引线d1。即第一测试电路031-1和第三测试电路031-3与同一条数据线引线d1耦接。在此基础上，如图5所示，红色子像素r1和蓝色子像素b1可以与同一条数据线d0耦接，并通过该同一条数据线d0与同一条数据线引线d1耦
接。当然，在一些实施例中，红色子像素r1和蓝色子像素b1可以与不同的数据线d0耦接，然后该不同的数据线d0与同一条数据线引线d1耦接。
70.经测试，驱动红色子像素r1发光所需的数据信号与驱动蓝色子像素b1发光所需的数据信号较为接近。如此，通过设置一条数据线引线d1与红色子像素r1对应的数据线d0和蓝色子像素b1对应的数据线d0耦接，或是再设置红色子像素r1和蓝色子像素b1与同一条数据线d0耦接，可以有效简化布线，节省成本。
71.以图5所示结构为例，图6示出了另一种显示基板的结构示意图。参考图6可以看出，每个测试电路031(即，第一测试电路031-1，第二测试电路031-2和第三测试电路031-3)均可以包括：开关晶体管t1。
72.其中，开关晶体管t1的栅极可以与开关控制线sw1耦接，开关晶体管t1的第一极可以与数据信号线d2耦接，开关晶体管t1的第二极可以与数据线引线d1耦接。
73.如，第一测试电路031-1包括的开关晶体管t1的栅极可以与开关控制线sw1-r1耦接，第一极可以与数据信号线d2-r1耦接，第二极可以与数据线引线d1耦接。第二测试电路031-2包括的开关晶体管t1的栅极可以与开关控制线sw1-b1耦接，第一极可以与数据信号线d2-b1耦接，第二极可以与数据线引线d1耦接。第三测试电路031-2包括的开关晶体管t1的栅极可以与开关控制线sw1-g1耦接，第一极可以与数据信号线d2-g1耦接，第二极可以与数据线引线d1耦接。
74.且，图6示出的第二测试电路031-2包括的开关晶体管t1的第二极与第三测试电路031-2包括的开关晶体管t1的第二极与同一条数据线引线d1耦接。此外，参考图6还可以看出，显示基板中每个像素02可以包括一个红色子像素r1，一个蓝色子像素b1和两个绿色子像素g1。该两个绿色子像素g1对称设置，且与同一条数据线引线d1耦接。红色子像素r1和蓝色子像素b1的形状可以均呈多边形，且红色子像素r1的尺寸小于蓝色子像素b1的尺寸。绿色子像素g1的形状可以呈半圆形。当然，在一些实施例中，各个子像素也可以呈其他形状，红色子像素r1的尺寸也可以大于蓝色子像素b1的尺寸。
75.示例的，以设置每个测试电路031的目标导电膜层在衬底01上的正投影的长度与数据线引线d1的长度负相关为例，图7示出了一种第一测试电路031-1和第二测试电路031-2的结构版图。图8示出了一种第三测试电路031-3的结构版图。以及，以设置每个测试电路031的目标导电膜层在衬底01上的正投影的最大宽度与数据线引线d1的长度正相关为例，图9示出了一种第一测试电路031-1和第二测试电路031-2的结构版图。
76.参考图7至图9可以看出，每个测试电路031具有的多层导电膜层可以包括：位于衬底01一侧的有源层(poly)p1、第一栅金属层gate1和第一源漏(source&drain，sd)金属层sd1。其中，有源层p1可以与第一源漏金属层sd1耦接，第一源漏金属层sd1还可以分别与数据信号线d2和数据线引线d1耦接，第一栅金属层gate1可以与开关控制线sw1耦接。在此基础上，上述实施例记载的目标导电膜层可以包括：通过第一源漏金属层sd1与数据线引线d1耦接的有源层p1。即，可以通过调整有源层p1的长度和/或宽度，以对数据线引线d1的电阻值进行补偿。
77.例如，参考图7和图8，以及对应的局部放大图可以看出，数据线引线d1越长，有源层p1的长度l0越短。参考图9及其局部放大图可以看出，数据线引线d1越长，有源层p1的宽度d0越宽。
78.需要说明的是，在调整宽度d0时，目标导电膜层还可以包括：与数据信号线d2耦接的第一源漏金属层sd1。即，可以同时调整第一源漏金属层sd1的宽度。当然，在一些实施例中，在调整长度l0时，也可以同时调整第一源漏金属层sd1的长度。
79.可选的，参考图7至图9可以看出，显示基板还可以包括：第二栅金属层gate2和第二源漏金属层sd2。
80.其中，开关控制线sw1可以与第一源漏金属层sd1位于同层，数据信号线d2可以与第一源漏金属层sd1和第二源漏金属层sd2位于同层，即数据信号线d2可以包括源漏金属层sd1和源漏金属层sd2两层源漏金属层。如此，可以确保数据信号线d2提供数据信号的稳定性。数据线引线d1可以与第一栅金属层gate1或第二栅金属层gate2位于同层。如，每相邻的两条数据线引线d1中，一条数据线引线d1可以与第一栅金属层gate1位于同层，另一条数据线引线d1可以与第二栅金属层gate2位于同层。
81.其中，位于同层可以是指：采用同一成膜工艺形成用于形成特定图形的膜层，然后利用同一掩模板通过一次构图工艺对该膜层图案化所形成的层结构。根据特定图形的不同，一次构图工艺可能包括多次曝光、显影或刻蚀工艺，而形成的层结构中的特定图形可以是连续的也可以是不连续的。即，位于“同层”的多个元件、部件、结构和/或部分由相同的材料构成，并通过同一次构图工艺形成。如此，可以节省制造工艺和制造成本，并且可以加快制造效率。
82.可选的，结合图7至图9，沿远离衬底01的方向，有源层p1、第一栅金属层gate1、第二栅金属层gate2、第一源漏金属层sd1和第二源漏金属层sd2可以依次层叠。每相邻两层之间可以具有一层或多层绝缘层。第一源漏金属层sd1与有源层p1可以通过贯穿其之间的绝缘层的过孔耦接，以及第一源漏金属层sd1与第一栅金属层gate1可以通过贯穿其之间的绝缘层的过孔耦接。
83.需要说明的是，图7和图9仅是示意性说明，不指示具体的层叠位置关系。并且，有源层p1、第一栅金属层gate1、第二栅金属层gate2、第一源漏金属层sd1和第二源漏金属层sd2也不限于本公开实施例记载的层叠排布方式。
84.可选的，参考图3可知，在本公开实施例中，显示区a1和非显示区b1可以沿第一方向x1排布，显示基板中的开关控制线sw1和数据信号线d2可以均沿第二方向x2延伸，数据线d0可以沿第一方向x1延伸，且第一方向x1与第二方向x2相交。如，图3所示第一方向x1与第二方向x2相互垂直。
85.再结合图7至图10可以看出，本公开实施例记载的每个测试电路组03中，第一测试电路031-1、第二测试电路031-2和第三测试电路031-3可以沿第一方向x1依次排布。且以每相邻的两个第三测试电路031-3为一组，该两个第三测试电路031-3可以沿第一方向x1交错排布。以及，第一测试电路031-1和第二测试电路031-2可以共用有源层p1，并与同一条数据线引线d1耦接。
86.以图7所示结构为例，图11示出了再一种显示基板的结构示意图。参考图11可以进一步看出，各个测试电路组03可以位于fanout处，并通过数据线引线d1与像素02所耦接的数据线d0耦接。且，沿靠近显示基板的中心的方向，数据线引线d1越来越短。相应的，如上述实施例记载，参考图11，测试电路031包括的有源层p1可以越来越长。
87.综上所述，本公开实施例提供了一种显示基板。该显示基板包括多个测试电路组，
每个测试电路组包括多个测试电路，且每个测试电路均分别与一条数据信号线和一条数据线引线耦接，该数据线引线与数据线耦接，数据线再与像素耦接。每个测试电路能够通过数据线引线将数据信号线提供的数据信号传输至数据线，以点亮像素。由于每个测试电路中与数据信号线耦接的导电膜层的电阻值与数据线引线的长度负相关，因此可以实现对不同长度的数据线引线的电阻值的有效补偿，使得各条数据线引线上的电阻值接近。进而，可以使得传输至各条数据线的数据信号的均一性较好，多个像素的发光亮度均一性较好。由此，即可以确保点灯测试的精度较好。
88.图12是本公开实施例提供的一种显示装置的结构示意图。如图12所示，该显示装置包括：供电组件j1，以及如上述附图所示的显示基板00。
89.其中，该供电组件j1与显示基板00耦接，并用于为所述显示基板00供电。
90.可选的，该显示装置可以为：oled显示装置、有源矩阵有机发光二极管(active-matrix organic light-emitting diode，amoled)显示装置、液晶显示(liquid crystal display，lcd)装置、手机、平板电脑、电视机和显示器等任何具有显示功能的产品或部件。
91.以上所述仅为本公开的可选实施例，并不用以限制本公开，凡在本公开的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，应包含在本公开的保护范围之内。