一种线路面板及其相关方法和装置与流程

1.本发明涉及显示技术领域，更为具体地说，涉及一种线路面板及其电性检测方法、显示面板及其制作方法和驱动方法。


背景技术：

2.在显示面板的制造中，一般包括多个制程。例如，显示面板的制造，一般包括线路面板(阵列基板、背板等)制备、发光元件打件以及封装等。在显示面板制程中，通常会在发光元件打件后进行电性测试，确定其是否存在缺陷，进而拦截不良的显示面板流入后续的制程中。但是，现有显示面板在发光元件打件后进行电性检测，在检测显示面板存在电性缺陷时，无法确定是线路面板异常，还是发光元件打件异常。


技术实现要素：

3.有鉴于此，本发明提供了一种线路面板及其电性检测方法、显示面板及其制作方法和驱动方法，有效解决现有技术存在的技术问题，实现了对线路面板进行电性检测的目的，在拦截不良的线路面板流入后续制程的同时，还避免了打件资源的浪费。
4.为实现上述目的，本发明提供的技术方案如下：
5.一种线路面板，包括：
6.逐行扫描的多行像素电路和多个检测端子，所述像素电路包括驱动单元和检测单元，所述驱动单元包括用于输出驱动信号的信号输出端，所述检测单元的输入端与所述信号输出端电连接，所述检测单元的输出端与所述检测端子电连接，且同行所述像素电路的检测单元电连接的所述检测端子不同，所述检测端子与外接的电性检测电路电连接；
7.其中在电性检测阶段、且所述信号输出端输出所述驱动信号时，所述检测单元用于将所述信号输出端与所述检测端子之间电连接；及在非电性检测阶段，所述检测单元用于将所述信号输出端与所述检测端子之间断开。
8.相应的，本发明还提供了一种线路面板的电性检测方法，用于检测上述的线路面板，所述电性检测方法包括：
9.将电性检测电路与所述检测端子电连接；
10.逐行扫描所述像素电路；其中，在所述信号输出端输出所述驱动信号的同时，所述检测单元将所述信号输出端与所述检测端子之间电连接。
11.相应的，本发明还提供了一种显示面板的制作方法，制作方法包括：
12.提供上述线路面板和多个发光元件；
13.采用上述的电性检测方法对所述线路面板进行电性检测；
14.将所述信号输出端与所述发光元件固定电连接。
15.相应的，本发明还提供了一种显示面板，所述显示面板包括上述线路面板及多个发光元件，所述发光元件与所述信号输出端电连接。
16.相应的，本发明还提供了一种显示面板的驱动方法，用于驱动上述的显示面板，所
述驱动方法包括：
17.逐行扫描所述像素电路；同时，所述检测单元将所述信号输出端与所述检测端子之间保持断开。
18.相较于现有技术，本发明提供的技术方案至少具有以下优点：
19.本发明提供了一种线路面板及其电性检测方法、显示面板及其制作方法和驱动方法，包括：逐行扫描的多行像素电路和多个检测端子，所述像素电路包括驱动单元和检测单元，所述驱动单元包括用于输出驱动信号的信号输出端，所述检测单元的输入端与所述信号输出端电连接，所述检测单元的输出端与所述检测端子电连接，且同行所述像素电路的检测单元电连接的所述检测端子不同，所述检测端子与外接的电性检测电路电连接；其中在电性检测阶段、且所述信号输出端输出所述驱动信号时，所述检测单元用于将所述信号输出端与所述检测端子之间电连接；及在非电性检测阶段，所述检测单元用于将所述信号输出端与所述检测端子之间断开。
20.由上述内容可知，在电性检测阶段，信号输出端与检测端子之间电连接，通过电性检测电路对驱动信号进行检测，以判断线路面板是否有异常，达到对线路面板电性检测的目的。以及，在非电性检测阶段，信号输出端与检测端子之间断开，避免对线路面板的正常工作造成影响。本发明提供的技术方案，实现了对线路面板进行电性检测的目的，在拦截不良的线路面板流入后续制程的同时，还避免了打件资源的浪费。
附图说明
21.为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据提供的附图获得其他的附图。
22.图1为本发明实施例提供的一种线路面板的结构示意图；
23.图2为本发明实施例提供的另一种线路面板的结构示意图；
24.图3为本发明实施例提供的又一种线路面板的结构示意图；
25.图4为本发明实施例提供的又一种线路面板的结构示意图；
26.图5为本发明实施例提供的又一种线路面板的结构示意图；
27.图6为本发明实施例提供的又一种线路面板的结构示意图；
28.图7为本发明实施例提供的一种线路面板中双栅晶体管的结构示意图；
29.图8为本发明实施例提供的一种驱动单元的结构示意图；
30.图9为本发明实施例提供的另一种驱动单元的结构示意图；
31.图10为本发明实施例提供的一种线路面板的电性检测方法的流程图；
32.图11为本发明实施例提供的一种时序图；
33.图12为本发明实施例提供的一种电性检测电路的结构示意图；
34.图13为本发明实施例提供的另一种电性检测电路的结构示意图；
35.图14为本发明实施例提供的一种显示面板的制作方法的流程图；
36.图15为本发明实施例提供的一种显示面板的结构示意图；
37.图16为本发明实施例提供的另一种时序图。
具体实施方式
38.下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
39.正如背景技术所述，在显示面板的制造中，一般包括多个制程。例如，显示面板的制造，一般包括线路面板(阵列基板、背板等)制备、发光元件打件以及封装等。在显示面板制程中，通常会在发光元件打件后进行电性测试，确定其是否存在缺陷，进而拦截不良的显示面板流入后续的制程中。但是，现有显示面板在发光元件打件后进行电性检测，在检测显示面板存在电性缺陷时，无法确定是线路面板异常，还是发光元件打件异常。
40.基于此，本发明实施例提供了一种线路面板及其电性检测方法、显示面板及其制作方法和驱动方法，有效解决现有技术存在的技术问题，实现了对线路面板进行电性检测的目的，在拦截不良的线路面板流入后续制程的同时，还避免了打件资源的浪费。
41.为实现上述目的，本发明实施例提供的技术方案如下，具体结合图1至图16对本发明实施例提供的技术方案进行详细的描述。
42.参考图1所示，为本发明实施例提供的一种线路面板的结构示意图，其中，本发明实施例以四行像素电路100为例进行说明，对此像素电路的行数需要根据实际应用进行具体设置，图示仅仅示出本发明所有适用范围中之一者。本发明实施例提供的线路面板包括：
43.逐行扫描的多行像素电路100和多个检测端子200，所述像素电路100包括驱动单元110和检测单元120，所述驱动单元110包括用于输出驱动信号的信号输出端111，所述检测单元120的输入端与所述信号输出端111电连接，所述检测单元120的输出端与所述检测端子200电连接，且同行所述像素电路100的检测单元120电连接的所述检测端子200不同，所述检测端子200与外接的电性检测电路300电连接。
44.其中在电性检测阶段、且所述信号输出端111输出所述驱动信号时，所述检测单元120用于将所述信号输出端111与所述检测端子200之间电连接；及在非电性检测阶段，所述检测单元120用于将所述信号输出端111与所述检测端子200之间断开。
45.本发明实施例提供的线路面板，在电性检测阶段过程中，逐行扫描像素电路100使得像素电路100开始工作，并且在像素电路100的发光控制阶段时信号输出端111输出驱动信号，此时，检测单元120将信号输出端111和检测端子200之间电连接，使得驱动信号传输至检测端子200，而后被与检测端子200电连接的电性检测电路300采集，电性检测电路300响应驱动信号以进行分析判断，确定像素电路100是否有异常，达到对线路面板进行电性检测的目的。以及，在非电性检测阶段，如在显示面板的正常显示过程中，逐行扫描像素电路100使得像素电路100开始工作，像素电路100的信号输出端111正常输出驱动信号，同时，检测单元120将信号输出端111与检测端子200之间保持断开状态，避免驱动信号传输至检测端子200，保证显示面板的正常画面显示。
46.可以理解的，本发明实施例提供的同行所述像素电路100的检测单元120电连接的所述检测端子200不同，进而能够避免同行像素电路100之间由于连接相同检测端子而出现短接情况。如图1所示，本发明实施例提供的同行像素电路100分别连接一个检测端子200；或者，如图2所示，任意一检测端子200电连接有多个像素电路100，但是，检测端子200电连
接的所有像素电路200位于不同行。
47.由上述内容可知，在电性检测阶段，信号输出端与检测端子之间电连接，通过电性检测电路对驱动信号进行检测，以判断线路面板是否有异常，达到对线路面板电性检测的目的。以及，在非电性检测阶段，信号输出端与检测端子之间断开，避免对线路面板的正常工作造成影响。本发明实施例提供的技术方案，实现了对线路面板进行电性检测的目的，在拦截不良的线路面板流入后续制程的同时，还避免了打件资源的浪费。
48.在本发明一实施例中，本发明提供的线路面板可以为阵列基板，或者可以为液晶显示装置的背光板等，对此本发明不做具体限制。其中，线路面板为阵列基板时，阵列基板可以划分为显示区域和位于显示区域外围的非显示区域，其中像素电路可以位于显示区域，而检测端子可以位于非显示区域；以及，本发明实施例提供的非显示区域可以呈环绕显示区域设置。
49.在本发明一实施例中，可以对线路面板的布线结构进行优化，而使得线路面板的线路结构简化。如图2所示，为本发明实施例提供的另一种线路面板的结构示意图，其中，至少一个所述检测端子200电连接多个所述检测单元120。其中，本发明实施例提供的检测端子200电连接的多个检测单元120可以为同列像素电路100中至少部分单元，或者为不同列像素电路100中的单元，或者为部分为同列像素电路100中单元而部分为不同列像素电路100中单元。
50.可以理解的，本发明实施例提供的像素电路采用逐行扫描方式进行控制工作，因此，同行的像素电路同时工作输出驱动信号，而不同行的像素电路并非同时工作。本发明实施例提供的技术方案，将同行像素电路的检测单元电连接的检测端子设置为不同，能够避免同行像素点路的检测单元由于电连接同一检测端子，而出现在工作过程中相互短接的情况。进一步的，本发明实施例提供的至少一个检测端子设计为电连接多个检测单元，能够减少检测端子的数量，优化线路面板的线路结构。
51.可选的，本发明实施例提供的线路面板中，更多的检测端子各自电连接多个检测单元，进一步减少检测端子的数量。如图3所示，本发明实施例提供的像素电路100可以呈阵列排布，如所述像素电路100呈多列排布，且同时呈多行排列，其中，至少一列所述像素电路100的检测单元120电连接同一所述检测端子200。
52.需要说明的是，本发明实施例提供的像素电路并不局限于多列排列，其还可以呈其他方式排列，其中，在像素电路呈其他方式排列时，同行的像素电路的检测单元电连接的检测端子不同。
53.在本发明一实施例中，本发明提供的检测单元用于在电性检测阶段、且信号输出端输出驱动信号时，将信号输出端与检测端子之间电连接；以及在非电性检测阶段，检测单元用于将信号输出端与检测端子之间断开。亦即，本发明实施例提供的检测单元可以包括有一可控开关器件，可控开关器件能够根据信号的控制实现信号输出端和检测端子之间电连接或断开的功能。
54.具体如图4所示，为本发明实施例提供的又一种线路面板的结构示意图，其中，本发明实施例提供的所述检测单元120包括第一晶体管121，所述第一晶体管121的第一端与所述信号输出端111电连接，所述第一晶体管121的第二端与所述检测端子200电连接，所述第一晶体管121的控制端接入电性检测控制信号gx；其中在电性检测阶段、且所述信号输出
端111输出所述驱动信号时，所述电性检测信号gx控制所述第一晶体管121导通；及在非电性检测阶段，所述电性检测信号gx控制所述第一晶体管121断开。
55.可以理解的，本发明实施例提供的检测单元包括第一晶体管时，通过第一晶体管的导通或关断，来实现信号输出端和检测端子之间的电连接或断开目的。在电性检测阶段，当信号输出端输出驱动信号时，电性检测信号则控制第一晶体管导通，实现信号输出端和检测端子之间的电连接的目的；而在信号输出端并未输出驱动信号时，电性检测信号则控制第一晶体管关断，实现信号输出端和检测端子之间断开的目的。以及，在非电性检测阶段，如线路面板应用于显示面板时，显示面板处于显示过程中，电性检测信号则控制第一晶体管关断，实现信号输出端和检测端子之间断开的目的，保证显示面板的正常显示。
56.可选的，本发明实施例提供的第一晶体管可以为n型晶体管，进而，在电性检测阶段且信号输出端输出驱动信号时，电性检测信号为高电平信号以控制第一晶体管导通；而在非电性检测阶段，电性检测信号为低电平信号以控制第一晶体管关断。或者，本发明实施例提供的第一晶体管可以为p型晶体管，进而，在电性检测阶段且信号输出端输出驱动信号时，电性检测信号为低电平信号以控制第一晶体管导通；而在非电性检测阶段，电性检测信号为高电平信号以控制第一晶体管关断。
57.在本发明一实施例中，本发明提供的所有第一晶体管的导通类型可以相同，进而，同行像素电路中第一晶体管的控制端接入的检测控制信号可以通过同一信号端子提供，简化线路结构。或者，本发明实施例提供的所有第一晶体管中至少一个第一晶体管的导通类型与其余第一晶体管的导通类型不同，对此本发明不做具体限制。
58.在本发明一实施例中，本发明提供的电性检测信号，其可以通过线路面板上的驱动芯片提供，或者，还可以通过线路面板上其他线路结构来提供，如独立于驱动芯片的线路结构等，对此本发明不做具体限制。如图5所示，为本发明实施例提供的又一种线路面板的结构示意图，其中，线路面板包括有驱动芯片400，第一晶体管121的控制端与驱动芯片400电连接，驱动芯片400根据电性检测阶段和非电性检测阶段的状态，输出电性检测信号gx来控制第一晶体管121的导通或关断。
59.结合图5所示，以本发明实施例提供的第一晶体管121的导通类型相同为例，对线路面板的工作原理进行详细说明。本发明实施例提供的像素电路100可以呈多行和多列的阵列排布，所有第一晶体管121的导通类型可以相同，并且同一列的像素电路100的检测单元120均连接同一检测端子200。以及，本发明实施例提供的驱动芯片400包括有多个输出端口，驱动芯片400的输出端口用于输出电性检测信号。其中，同一行的像素电路100的第一晶体管121的控制端连接驱动芯片400的同一输出端口。在电性检测阶段，逐行扫描像素电路100，当扫描至某一行像素电路100且信号输出端111输出驱动信号时，驱动芯片400输出的电性检测信号gx控制该行像素电路100的第一晶体管121导通，实现信号输出端111和检测端子200之间电连接，以将驱动信号通过检测端子200传输至电性检测电路300进行检测分析。以及，在非电性检测阶段，逐行扫描像素电路100；此时，驱动芯片400输出的电性检测信号gx则保持控制像素电路100的第一晶体管121处于关断状态，实现信号输出端111和检测端子200之间的断开。
60.如图6所示，为本发明实施例提供的又一种线路面板的结构示意图，其中，本发明实施例提供的所述第一晶体管121可以为双栅晶体管，双栅晶体管121的第一端与所述信号
输出端111电连接，双栅晶体管121的第二端与所述检测端子200电连接，双栅晶体管121的控制端接入电性检测控制信号gx。其中，将第一晶体管121设置为双栅晶体管，进而能够降低第一晶体管121漏电流对信号输出端111的影响，提高线路面板的性能。
61.需要说明的是，本发明实施例提供的信号输出端111、检测端子200和传输电性检测控制信号gx的线路(信号输出端111、检测端子200和传输电性检测控制信号gx的线路统称为连接线路)所在膜层不做具体限制，若双栅晶体管121的端子与连接线路位于同层，则双栅晶体管121的端子可以与连接线路直接相连；若双栅晶体管121的端子与连接线路异层设置，则双栅晶体管121的端子可以与连接线路通过过孔相连，对此需要根据实际应用进行具体设计。
62.如图7所示，为本发明实施例提供的一种线路面板中双栅晶体管的结构示意图，其中，线路面板包括：基板10。位于基板10一侧的半导体层20，半导体层20包括有双栅晶体管121的有源区。位于半导体层20背离基板10一侧的栅极绝缘层30。位于栅极绝缘层30背离所述基板10一侧的栅极层，栅极层包括双栅晶体管121的第一栅极41和第二栅极42，其中第一栅极41和第二栅极42相连为双栅晶体管121的控制端。位于栅极层背离基板10一侧的层间绝缘层50。位于层间绝缘层50背离基板10一侧的源漏层，源漏层包括有源极61和漏极62，源极61和漏极62均通过各自的过孔与双栅晶体管121的有源区相连，其中源极61和漏极62中之一为双栅晶体管121的第一端，另一个为双栅晶体管121的第二端。
63.下面结合附图对本发明实施例提供的像素电路的电路结构进行更具体的描述。参考图8所示，为本发明实施例提供的一种驱动单元的结构示意图，其中，所述驱动单元包括第一复位模块1101、数据写入模块1102、发光控制模块1103、存储电容c及驱动晶体管t0。所述第一复位模块1101用于响应第一控制信号s1，以将所述驱动晶体管t0的控制端与第一复位电压端vref1连通。所述数据写入模块1102用于响应第二控制信号s2，以将所述驱动晶体管t0的第一端与数据电压端vdata连通，同时将所述驱动晶体管t0的控制端与所述驱动晶体管t0的第二端连通。所述发光控制模块1103用于响应第三控制信号s3，以将所述驱动晶体管t0的第一端与第一电源电压端pvdd连通，同时将所述驱动晶体管t0的第二端与所述信号输出端111连通。所述存储电容c的第一端与所述第一电源电压端pvdd电连接，所述存储电容c的第二端与所述驱动晶体管t0的控制端电连接，所述驱动晶体管t0用于输出所述驱动信号。
64.具体的，本发明实施例提供的第一复位模块1101包括第二晶体管t2，第二晶体管t2的第一端与第一复位电压端vref1电连接，第二晶体管t2的第二端与驱动晶体管t0的控制端电连接，及第二晶体管t2的控制端接入第一控制信号s1。数据写入模块1102包括第三晶体管t3和第四晶体管t4，第三晶体管t3的第一端与数据电压端vdata电连接，第三晶体管t3的第二端与驱动晶体管t0的第一端电连接，第三晶体管t3的控制端接入第二控制信号s2，第四晶体管t4的第一端与驱动晶体管t0的控制端电连接，第四晶体管t4的第二端与驱动晶体管t0的第二端电连接，第四晶体管t4的控制端接入第二控制信号s2。发光控制模块1103包括第五晶体管t5和第六晶体管t6，第五晶体管t5的第一端与第一电源电压端pvdd电连接，第五晶体管t5的第二端与驱动晶体管t0的第一端电连接，第五晶体管t5的控制端接入第三控制信号s3，第六晶体管t6的第一端与驱动晶体管t0的第二端电连接，第六晶体管t6的第二端与信号输出端111电连接，第六晶体管t6的控制端接入第三控制信号s3。
65.进一步的，本发明实施例还可以对像素电路进行优化。如图9所示，为本发明实施例提供的另一种驱动单元的结构示意图，其中，所述驱动单元还包括第二复位模块1104，所述第二复位模块1104用于响应所述第二控制信号s2，以将所述信号输出端111与第二复位电压端vref2连通。进而，通过第二控制信号s2对第二复位模块1104的控制，以通过第二复位电压端vref2的电压对信号输出端111处电位进行复位。具体的，本发明实施例提供的第二复位模块1104包括第七晶体管t7，第七晶体管t7的第一端与第二复位电压端vref2连通，第七晶体管t7的第二端与信号输出端111电连接，第七晶体管t7的控制端接入第二控制信号s2。
66.在本发明一实施例中，本发明提供的驱动晶体管t0、第一晶体管121、第二晶体管t2、第三晶体管t3、第四晶体管t4、第五晶体管t5、第六晶体管t6和第七晶体管t7的导通类型可以相同，如均为p型晶体管或均为n型晶体管，进而便于线路结构的制备。或者，本发明实施例提供的驱动晶体管t0、第一晶体管121、第二晶体管t2、第三晶体管t3、第四晶体管t4、第五晶体管t5、第六晶体管t6和第七晶体管t7中至少之一者与其他晶体管的导通类型不同，对此本发明不做具体限制。
67.相应的，本发明实施例还提供了一种线路面板的电性检测方法，用于检测上述任意一实施例提供的线路面板。参考图10所示，为本发明实施例提供的一种线路面板的电性检测方法的流程图，其中，所述电性检测方法包括：
68.s1、将电性检测电路与所述检测端子电连接。
69.s2、逐行扫描所述像素电路；其中，在所述信号输出端输出所述驱动信号的同时，所述检测单元将所述信号输出端与所述检测端子之间电连接。
70.可以理解的，本发明实施例提供的电性检测方法，在电性检测阶段时，将外接的电性检测电路与检测端子电连接一起。而后，对线路面板进行上电，以逐行扫描像素电路而使像素电路开始工作，驱动单元按照时序以在发光控制阶段，使其信号输出端输出驱动信号，同时，检测单元将信号输出端与检测端子之间电连接，以保证电性检测电路能够采集驱动信号而进行分析判断，进而确定像素电路是否存在异常，达到判断线路面板是否有异常的目的。
71.下面结合相关附图对本发明实施例提供的电性检测过程进行更详细的描述。如图8所示，本发明实施例提供的所述驱动单元包括所述第一复位模块1101、所述数据写入模块1102、所述发光控制模块1103、所述存储电容c及所述驱动晶体管t0，对任意一所述像素电路的扫描包括复位阶段、数据写入阶段和发光控制阶段。
72.在所述复位阶段，所述第一复位模块1101响应所述第一控制信号s1，将所述驱动晶体管t0的控制端与第一复位电压端vref1连通；所述数据写入模块1102和所述发光控制模块1103响应各自控制信号停止工作，所述检测单元120将所述信号输出端111与所述检测端子200之间断开。
73.在所述数据写入阶段，所述数据写入模块1102响应所述第二控制信号s2，将所述驱动晶体管t0的第一端与数据电压端vdata连通，同时将所述驱动晶体管t0的控制端与所述驱动晶体管t0第二端连通；所述第一复位模块1101和所述发光控制模块1103响应各自控制信号停止工作，所述检测单元120将所述信号输出端111与所述检测端子200之间断开。
74.在所述发光控制阶段，所述发光控制模块1103响应所述第三控制信号s3，将所述
驱动晶体管t0的第一端与第一电源电压端pvdd连通，同时将所述驱动晶体管t0的第二端与所述信号输出端111连通，所述检测单元120将所述信号输出端111与所述检测端子200之间连通；所述第一复位模块1101和所述数据写入模块1102响应各自控制信号停止工作。
75.进一步结合图8和图11对本发明实施例提供的像素电路在电性检测阶段中的工作过程进行更详细的描述。图11为本发明实施例提供的一种时序图。需要说明的是，本发明实施例以图8中驱动晶体管t0、第一晶体管121、第二晶体管t2、第三晶体管t3、第四晶体管t4、第五晶体管t5和第六晶体管t6均为p型晶体管为例进行说明；亦即，晶体管的控制端接入的控制信号为低电平信号时该晶体管导通，晶体管的控制接入的控制信号为高电平信号时该晶体管关断。其中，在电性检测阶段，对任意一所述像素电路的扫描包括复位阶段m1、数据写入阶段m2和发光控制阶段m3。
76.在复位阶段m1，第一控制信号s1为低电平信号，第二晶体管t2响应低电平信号的控制而导通，以将第一复位电压端vref1与驱动晶体管t0的控制端电连接，进而对驱动晶体管t0进行复位。而第二控制信号s2、第三控制信号s3和电性检测控制信号gx均为高电平信号，第一晶体管121、第三晶体管t3、第四晶体管t4、第五晶体管t5和第六晶体管t6均响应高电平信号的控制而关断。
77.在数据写入阶段m2，第二控制信号s2为低电平信号，第三晶体管t3和第四晶体管t4均响应低电平信号而导通，以将数据电压端vdata的数据电压传输至驱动晶体管t0。而第一控制信号s1、第三控制信号s3和电性检测控制信号gx均为高电平信号，第一晶体管121、第二晶体管t2、第五晶体管t5和第六晶体管t6均响应高电平信号的控制而关断。
78.在发光控制阶段m3，第三控制信号s3和电性检测控制信号gx均为低电平信号，第五晶体管t5和第六晶体管t6响应高电平信号而导通，使得驱动晶体管t0生成的驱动信号能够传输至信号输出端111；同时，第一晶体管121响应高电平信号而导通，能够将驱动信号传输至检测端子200，进而通过电性检测电路对驱动信号进行分析判断。而第一控制信号s1和第二控制信号s2均为高电平信号，第二晶体管t2、第三晶体管t3和第四晶体管t4均响应高电平信号的控制而关断。
79.进一步的，本发明实施例还可以对像素电路进行优化。如图9所示，所述驱动单元还包括所述第二复位模块1104，在所述数据写入阶段，所述第二复位模块1104响应所述第二控制信号s2，将所述信号输出端111与第二复位电压端vref2连通。进而，通过第二控制信号s2对第二复位模块1104的控制，以通过第二复位电压端vref2的电压对信号输出端111处电位进行复位。
80.参考图12所示，为本发明实施例提供的一种电性检测电路的结构示意图，其中，所述电性检测电路300包括检测发光元件310，所述检测发光元件310的第一端与所述检测端子200电连接，所述检测发光元件310的第二端与参考电源电压端vt电连接。
81.可以理解的，本发明实施例提供的检测发光元件能够通过是否发光，以对驱动信号进行分析判断，进而确定像素电路是否有异常。如检测发光元件采集驱动信号后，可以根据检测发光元件的发光与否，来分析判断像素电路是否有异常。或者，检测发光元件采集驱动信号后，可以根据检测发光元件的亮度等参数，来分析判断像素电路是否有异常，对此本发明不做具体限制。
82.在本发明一实施例中，本发明提供的检测发光元件可以为发光二极管或其他类型
发光器件，对此本发明不做具体限制。
83.参考图13所示，为本发明实施例提供的另一种电性检测电路的结构示意图，其中，本发明实施例提供的所述电性检测电路包括运算放大器321、采样电路322、模数转换器323及处理器324。所述运算放大器321的第一输入端(第一输入端可以为同相端)与所述检测端子200电连接，所述运算放大器321的第二输入端(第二输入端可以为反相端)与运算放大器321的输出端电连接，所述运算放大器321的输出端与所述采样电路322的输入端电连接，所述采样电路322的输出端与所述模数转换器323的输入端电连接，所述模数转换器323的输出端与所述处理器324电连接。
84.可以理解的，本发明实施例提供的电性检测电路采集驱动信号时，驱动信号通过运算放大器缓冲后输出给采样电路，其中，采样电路可以为相关双采样电路cds(correlated double samplin)；采样电路将驱动信号进行锁存与逻辑运算后输出给模数转换器；模数转换器侦测驱动信号并进行数字量化后发送给处理器，处理器对接收的信号进行分析，来判断像素电路是否有异常。例如，处理器可以将驱动信号(如驱动电压)与标准信号(如标准电压)进行比较，当驱动信号超出标准信号时，则判断像素电路有异常；而当驱动信号在标准信号范围内时，则判断像素电路正常。
85.相应的，本发明实施例还提供了一种显示面板的制作方法。参考图14所示，为本发明实施例提供的一种显示面板的制作方法的流程图，其中，制作方法包括：
86.s10、提供上述任意一实施例提供的线路面板和多个发光元件。
87.s20、采用上述任意一实施例提供的电性检测方法对所述线路面板进行电性检测。
88.s30、将所述信号输出端与所述发光元件固定电连接。
89.可以理解的，本发明实施例提供的制作方法，需要在对线路面板进行电性检测且确定合格后，再进行打件工艺(即将信号输出端与发光元件进行固定电连接)，进而能够避免损坏的线路面板流入打件流程，避免了打件资源的浪费。
90.在本发明一实施例中，本发明提供的发光元件可以为发光二极管，如发光元件具体可以为mini-led。
91.相应的，本发明实施例还提供了一种显示面板，显示面板采用上述任意一实施例提供的制备方法制作而成。参考图15所示，为本发明实施例提供的一种显示面板的结构示意图，其中，所述显示面板包括上述任意一实施例提供的线路面板及多个发光元件500，所述发光元件500与所述信号输出端111电连接。
92.在本发明一实施例中，本发明提供的显示面板可以应用于移动终端、笔记本、平板电脑、电脑、可穿戴设备等，对此本发明不做具体限制。以及，本发明提供的发光元件可以为发光二极管，如发光元件具体可以为mini-led。
93.相应的，本发明实施例还提供了一种显示面板的驱动方法，用于驱动上述任意一实施例提供的显示面板，所述驱动方法包括：
94.逐行扫描所述像素电路；同时，所述检测单元将所述信号输出端与所述检测端子之间保持断开。
95.可以理解的，本发明实施例提供的显示面板在进行驱动显示时，为了防止像素电路之间通过检测端子短接，检测单元将信号输出端和检测端子之间断开，进而保证显示面板的正常显示。
96.下面结合附图对本发明实施例提供的显示面板的驱动过程进行更详细的描述。参考图8所示，本发明实施例提供的所述驱动单元包括所述第一复位模块1101、所述数据写入模块1102、所述发光控制模块1103、所述存储电容c及所述驱动晶体管t0，对任意一所述像素电路的扫描包括复位阶段、数据写入阶段和发光控制阶段。
97.在所述复位阶段，所述第一复位模块1101响应所述第一控制信号s1，将所述驱动晶体管t0的控制端与第一复位电压端vref1连通；所述数据写入模块1102和所述发光控制模块1103响应各自控制信号停止工作，所述检测单元120将所述信号输出端111与所述检测端子200之间断开。
98.在所述数据写入阶段，所述数据写入模块1102响应所述第二控制信号s2，将所述驱动晶体管t0的第一端与数据电压端vdata连通，同时将所述驱动晶体管t0的控制端与所述驱动晶体管t0第二端连通；所述第一复位模块1101和所述发光控制模块1103响应各自控制信号停止工作，所述检测单元120将所述信号输出端111与所述检测端子200之间断开。
99.在所述发光控制阶段，所述发光控制模块1103响应所述第三控制信号s3，将所述驱动晶体管t0的第一端与第一电源电压端pvdd连通，同时将所述驱动晶体管t0的第二端与所述信号输出端111连通；所述第一复位模块1101和所述数据写入模块1102响应各自控制信号停止工作，所述检测单元120将所述信号输出端111与所述检测端子200之间断开。
100.进一步结合图8和图16对本发明实施例提供的显示面板的驱动方法进行更详细的描述，亦即对像素电路在非电性检测阶段的工作过程进行更详细的描述。图16为本发明实施例提供的另一种时序图。需要说明的是，本发明实施例以图8中驱动晶体管t0、第一晶体管121、第二晶体管t2、第三晶体管t3、第四晶体管t4、第五晶体管t5和第六晶体管t6均为p型晶体管为例进行说明；亦即，晶体管的控制端接入的控制信号为低电平信号时该晶体管导通，晶体管的控制接入的控制信号为高电平信号时该晶体管关断。其中，在显示面板的驱动过程中，亦即在非电性检测阶段，对任意一所述像素电路的扫描包括复位阶段m1、数据写入阶段m2和发光控制阶段m3。
101.在复位阶段m1，第一控制信号s1为低电平信号，第二晶体管t2响应低电平信号的控制而导通，以将第一复位电压端vref1与驱动晶体管t0的控制端电连接，进而对驱动晶体管t0进行复位。而第二控制信号s2、第三控制信号s3和电性检测控制信号gx均为高电平信号，第一晶体管121、第三晶体管t3、第四晶体管t4、第五晶体管t5和第六晶体管t6均响应高电平信号的控制而关断。
102.在数据写入阶段m2，第二控制信号s2为低电平信号，第三晶体管t3和第四晶体管t4均响应低电平信号而导通，以将数据电压端vdata的数据电压传输至驱动晶体管t0。而第一控制信号s1、第三控制信号s3和电性检测控制信号gx均为高电平信号，第一晶体管121、第二晶体管t2、第五晶体管t5和第六晶体管t6均响应高电平信号的控制而关断。
103.在发光控制阶段m3，第三控制信号s3为低电平信号，第五晶体管t5和第六晶体管t6响应高电平信号而导通，使得驱动晶体管t0生成的驱动信号能够传输至信号输出端111。而第一控制信号s1、第二控制信号s2和电性检测控制信号gx均为高电平信号，第一晶体管121、第二晶体管t2、第三晶体管t3和第四晶体管t4均响应高电平信号的控制而关断。
104.本发明实施例提供了一种线路面板及其电性检测方法、显示面板及其制作方法和驱动方法，包括：逐行扫描的多行像素电路和多个检测端子，所述像素电路包括驱动单元和
检测单元，所述驱动单元包括用于输出驱动信号的信号输出端，所述检测单元的输入端与所述信号输出端电连接，所述检测单元的输出端与所述检测端子电连接，且同行所述像素电路的检测单元电连接的所述检测端子不同，所述检测端子与外接的电性检测电路电连接；其中在电性检测阶段、且所述信号输出端输出所述驱动信号时，所述检测单元用于将所述信号输出端与所述检测端子之间电连接；及在非电性检测阶段，所述检测单元用于将所述信号输出端与所述检测端子之间断开。
105.由上述内容可知，在电性检测阶段，信号输出端与检测端子之间电连接，通过电性检测电路对驱动信号进行检测，以判断线路面板是否有异常，达到对线路面板电性检测的目的。以及，在非电性检测阶段，信号输出端与检测端子之间断开，避免对线路面板的正常工作造成影响。本发明实施例提供的技术方案，实现了对线路面板进行电性检测的目的，在拦截不良的线路面板流入后续制程的同时，还避免了打件资源的浪费。
106.对所公开的实施例的上述说明，使本领域专业技术人员能够实现或使用本发明。对这些实施例的多种修改对本领域的专业技术人员来说将是显而易见的，本文中所定义的一般原理可以在不脱离本发明的精神或范围的情况下，在其它实施例中实现。因此，本发明将不会被限制于本文所示的这些实施例，而是要符合与本文所公开的原理和新颖特点相一致的最宽的范围。