一种芯片性能验证方法及装置、电子设备、存储介质与流程

技术特征：
1.一种芯片性能验证方法，其特征在于，包括：通过性能统计管理平台，从待验证芯片的预设模型环境接收模型状态信息；其中，所述性能统计管理平台与所述预设模型环境之间通过预设接口通信，所述预设模型环境包括以下至少一种：功能验证环境、硬件模拟环境、性能模型环境；触发所述性能统计管理平台根据所述模型状态信息生成验证控制信号；在所述验证控制信号的控制下，通过预设的性能统计组件，从所述预设模型环境接收所述待验证芯片的模型运行数据，并对所述模型运行数据进行性能统计，得到对应的性能统计结果，其中，所述性能统计管理平台所基于的编程语言与所述预设模型环境所基于的编程语言以及所述性能统计组件所基于的编程语言彼此兼容。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述触发所述性能统计管理平台根据所述模型状态信息生成验证控制信号包括：根据所述模型状态信息中的开始运行信号，触发所述性能统计管理平台生成开始统计信号；或者根据所述模型状态信息中的停止运行信号，触发所述性能统计管理平台生成停止统计信号。3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述在所述验证控制信号的控制下，通过预设的性能统计组件，从所述预设模型环境接收所述待验证芯片的模型运行数据之前，所述方法还包括：按照预设的组件隶属关系，将所述性能统计组件的指针添加到所述性能统计管理平台预设的组件指针索引中，或者添加到所述性能统计管理平台的下级子平台预设的组件指针索引中；和/或按照预设的平台隶属关系，将各所述下级子平台的指针添加到对应的上一级子平台预设的子平台指针索引中，或者添加到所述性能统计管理平台预设的子平台指针索引中。4.根据权利要求1至3中任一项所述的方法，其特征在于，所述在所述验证控制信号的控制下，通过预设的性能统计组件，从所述预设模型环境接收所述待验证芯片的模型运行数据，并对所述模型运行数据进行性能统计包括：所述性能统计管理平台，将所述验证控制信号下发到各所述性能统计组件，其中，所述性能统计组件直接处于所述性能统计管理平台的管理下，或者处于所述性能统计管理平台的下级子平台的管理下；各所述性能统计组件，根据所述验证控制信号，分别接收各自对应的所述模型运行数据；各所述性能统计组件，根据各自的统计属性，分别对所述模型运行数据进行性能统计。5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述性能统计管理平台，将所述验证控制信号下发到各所述性能统计组件包括：若所述性能统计组件直接处于所述性能统计管理平台的管理下，则所述性能管理平台从所述性能管理平台预设的组件指针索引中获取所述性能统计组件的指针，根据所述性能统计组件的指针，将所述验证控制信号分别下发到所述性能统计组件；
若所述性能统计组件处于所述性能统计管理平台的下级子平台的管理下，则所述性能管理平台从所述性能管理平台预设的子平台指针索引中获取所述性能统计组件所在的第一子平台的指针；根据所述第一子平台的指针得到所述第一子平台，并从所述第一子平台预设的组件指针索引中获取所述性能统计组件的指针，根据所述性能统计组件的指针，将所述验证控制信号分别下发到所述性能统计组件。6.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述各所述性能统计组件，根据所述验证控制信号，分别接收各自对应的所述模型运行数据包括：各所述性能统计组件，根据所述验证控制信号确定各自统计任务的开启或结束；响应于所述统计任务开启，各所述性能统计组件，分别接收各自对应的所述模型运行数据；响应于所述统计任务结束，各所述性能统计组件，分别停止接收各自对应的所述模型运行数据。7.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述各所述性能统计组件，根据各自的统计属性，分别对所述模型运行数据进行性能统计包括：各所述性能统计组件，根据各自的统计属性，分别确定所述统计任务的生命周期中的各统计窗口以及所述统计任务的统计类别，其中，各所述统计窗口按照时间先后顺序首尾相接，组成所述统计任务的所述生命周期；各所述性能统计组件，分别根据所述验证控制信号、所述统计窗口和所述统计类别，记录所述模型运行数据的阶段统计量和总体统计量，其中，所述阶段统计量的统计时间为一个所述统计窗口，所述总体统计量的统计时间为从所述统计任务开始运行至当前时刻；各所述性能统计组件，根据所述阶段统计量确定所述待验证芯片的各统计窗口的阶段性能，并根据所述总体统计量确定所述待验证芯片的总体性能。8.根据权利要求7所述的方法，其特征在于，所述统计类别包括：包速统计；所述阶段统计量包括：阶段数据包个数；所述总体统计量包括：总体数据包个数；所述根据所述阶段统计量确定各统计窗口的阶段性能，并根据所述总体统计量确定所述总体性能，包括：根据所述阶段数据包个数以及所述阶段统计量的统计时间，确定阶段平均包速，并根据所述总体数据包个数以及所述总体统计量的统计时间，确定总体平均包速。9.根据权利要求7所述的方法，其特征在于，所述统计类别包括：吞吐率统计；所述阶段统计量包括：阶段吞吐量；所述总体统计量包括：总体吞吐量；所述根据所述阶段统计量确定各统计窗口的阶段性能，并根据所述总体统计量确定所述总体性能，包括：根据所述阶段吞吐量以及所述阶段统计量的统计时间，确定阶段平均吞吐率，并根据所述总体吞吐量以及所述总体统计量的统计时间，确定总体平均吞吐率。10.根据权利要求7所述的方法，其特征在于，所述统计类别包括：数值统计；所述阶段统计量包括：阶段累加值；所述总体统计量包括：总体累加值；所述根据所述阶段统计量确定各统计窗口的阶段性能，并根据所述总体统计量确定所述总体性能，包括：根据所述阶段累加值以及所述阶段统计量的统计时间，确定阶段平均值，并根据所述
总体累加值以及所述总体统计量的统计时间，确定总体平均值。11.根据权利要求10所述的方法，其特征在于，所述阶段统计量还包括：阶段最大值、阶段最小值，所述总体统计量还包括：总体最大值、总体最小值。12.根据权利要求1至3中任一项所述的方法，其特征在于，所述得到对应的性能统计结果之后，所述方法还包括：将所述性能统计结果写入日志文件；解析所述日志文件并将解析结果写入预设文件，所述预设文件包括：逗号分隔文件和/或数据表格文件；利用所述预设文件中的解析结果，生成所述待验证芯片的性能图表和/或曲线。13.一种芯片性能验证装置，其特征在于，包括：接收单元，用于通过性能统计管理平台，从待验证芯片的预设模型环境接收模型状态信息；其中，所述性能统计管理平台与所述预设模型环境之间通过预设接口通信，所述预设模型环境包括以下至少一种：功能验证环境、硬件模拟环境、性能模型环境；触发单元，用于触发所述性能统计管理平台根据所述模型状态信息生成验证控制信号；统计单元，用于在所述验证控制信号的控制下，通过预设的性能统计组件，从所述预设模型环境接收所述待验证芯片的模型运行数据，并对所述模型运行数据进行性能统计，得到对应的性能统计结果，其中，所述性能统计管理平台所基于的编程语言与所述预设模型环境所基于的编程语言以及所述性能统计组件所基于的编程语言彼此兼容。14.根据权利要求13所述的装置，其特征在于，所述触发单元，具体用于：根据所述模型状态信息中的开始运行信号，触发所述性能统计管理平台生成开始统计信号；或者根据所述模型状态信息中的停止运行信号，触发所述性能统计管理平台生成停止统计信号。15.根据权利要求13所述的装置，其特征在于，还包括：组件添加单元，用于在所述验证控制信号的控制下，通过预设的性能统计组件，从所述预设模型环境接收所述待验证芯片的模型运行数据之前，按照预设的组件隶属关系，将所述性能统计组件的指针添加到所述性能统计管理平台预设的组件指针索引中，或者添加到所述性能统计管理平台的下级子平台预设的组件指针索引中；和/或子平台添加单元，用于在所述验证控制信号的控制下，通过预设的性能统计组件，从所述预设模型环境接收所述待验证芯片的模型运行数据之前，按照预设的平台隶属关系，将各所述下级子平台的指针添加到对应的上一级子平台预设的子平台指针索引中，或者添加到所述性能统计管理平台预设的子平台指针索引中。16.根据权利要求13至15中任一项所述的装置，其特征在于，所述统计单元包括：信号下发模块，用于所述性能统计管理平台，将所述验证控制信号下发到各所述性能统计组件，其中，所述性能统计组件直接处于所述性能统计管理平台的管理下，或者处于所述性能统计管理平台的下级子平台的管理下；
数据接收模块，用于各所述性能统计组件，根据所述验证控制信号，分别接收各自对应的所述模型运行数据；数据统计模块，用于各所述性能统计组件，根据各自的统计属性，分别对所述模型运行数据进行性能统计。17.根据权利要求16所述的装置，其特征在于，所述信号下发模块，具体用于：若所述性能统计组件直接处于所述性能统计管理平台的管理下，则所述性能管理平台从所述性能管理平台预设的组件指针索引中获取所述性能统计组件的指针，根据所述性能统计组件的指针，将所述验证控制信号分别下发到所述性能统计组件；若所述性能统计组件处于所述性能统计管理平台的下级子平台的管理下，则所述性能管理平台从所述性能管理平台预设的子平台指针索引中获取所述性能统计组件所在的第一子平台的指针；根据所述第一子平台的指针得到所述第一子平台，并从所述第一子平台预设的组件指针索引中获取所述性能统计组件的指针，根据所述性能统计组件的指针，将所述验证控制信号分别下发到所述性能统计组件。18.根据权利要求16所述的装置，其特征在于，所述数据接收模块包括：第一确定子模块，用于各所述性能统计组件，根据所述验证控制信号确定各自统计任务的开启或结束；接收子模块，用于响应于所述统计任务开启，各所述性能统计组件，分别接收各自对应的所述模型运行数据；停止子模块，用于响应于所述统计任务结束，各所述性能统计组件，分别停止接收各自对应的所述模型运行数据。19.根据权利要求16所述的装置，其特征在于，所述数据统计模块包括：第二确定子模块，用于各所述性能统计组件，根据各自的统计属性，分别确定所述统计任务的生命周期中的各统计窗口以及所述统计任务的统计类别，其中，各所述统计窗口按照时间先后顺序首尾相接，组成所述统计任务的所述生命周期；记录子模块，用于各所述性能统计组件，分别根据所述验证控制信号、所述统计窗口和所述统计类别，记录所述模型运行数据的阶段统计量和总体统计量，其中，所述阶段统计量的统计时间为一个所述统计窗口，所述总体统计量的统计时间为从所述统计任务开始运行至当前时刻；第三确定子模块，用于各所述性能统计组件，根据所述阶段统计量确定所述待验证芯片的各统计窗口的阶段性能，并根据所述总体统计量确定所述待验证芯片的总体性能。20.根据权利要求19所述的装置，其特征在于，所述统计类别包括：包速统计；所述阶段统计量包括：阶段数据包个数；所述总体统计量包括：总体数据包个数；所述第三统计子模块，具体用于：根据所述阶段数据包个数以及所述阶段统计量的统计时间，确定阶段平均包速，并根据所述总体数据包个数以及所述总体统计量的统计时间，确定总体平均包速。21.根据权利要求19所述的装置，其特征在于，所述统计类别包括：吞吐率统计；所述阶段统计量包括：阶段吞吐量；所述总体统计量包括：总体吞吐量；所述第三统计子模块，具体用于：根据所述阶段吞吐量以及所述阶段统计量的统计时间，确定阶段平均吞吐率，并根据
所述总体吞吐量以及所述总体统计量的统计时间，确定总体平均吞吐率。22.根据权利要求19所述的装置，其特征在于，所述统计类别包括：数值统计；所述阶段统计量包括：阶段累加值；所述总体统计量包括：总体累加值；所述第三统计子模块，具体用于：根据所述阶段累加值以及所述阶段统计量的统计时间，确定阶段平均值，并根据所述总体累加值以及所述总体统计量的统计时间，确定总体平均值。23.根据权利要求22所述的装置，其特征在于，所述阶段统计量还包括：阶段最大值、阶段最小值，所述总体统计量还包括：总体最大值、总体最小值。24.根据权利要求13至15中任一项所述的装置，其特征在于，还包括：写入单元，用于得到对应的性能统计结果之后，将所述性能统计结果写入日志文件；解析单元，用于解析所述日志文件并将解析结果写入预设文件，所述预设文件包括：逗号分隔文件和/或数据表格文件；生成单元，用于利用所述预设文件中的解析结果，生成所述待验证芯片的性能图表和/或曲线。25.一种电子设备，其特征在于，包括：壳体、至少一个处理器、存储器、电路板和电源电路，其中，电路板安置在壳体围成的空间内部，处理器和存储器设置在电路板上；电源电路，用于为上述电子设备的各个电路或器件供电；存储器用于存储可执行程序代码；所述至少一个处理器通过读取存储器中存储的可执行程序代码来运行与可执行程序代码对应的程序，用于执行前述权利要求1-12中任一项所述的方法。26.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质存储有一个或者多个程序，所述一个或者多个程序可被一个或者多个处理器执行，以实现前述权利要求1-12中任一项所述的方法。

技术总结
本发明实施例公开一种芯片性能验证方法及装置、电子设备、存储介质，涉及电子设计自动化领域，能够有效提高芯片性能验证效率。所述方法包括：通过性能统计管理平台，从待验证芯片的预设模型环境接收模型状态信息；其中，所述性能统计管理平台与所述预设模型环境之间通过预设接口通信，所述预设模型环境包括以下至少一种：功能验证环境、硬件模拟环境、性能模型环境；触发所述性能统计管理平台根据所述模型状态信息生成验证控制信号；在所述验证控制信号的控制下，通过预设的性能统计组件，从所述预设模型环境接收所述待验证芯片的模型运行数据，并对所述模型运行数据进行性能统计，得到对应的性能统计结果。本发明适用于芯片性能验证中。能验证中。能验证中。


技术研发人员：鄢其力
受保护的技术使用者：海光信息技术股份有限公司
技术研发日：2021.11.30
技术公布日：2022/3/18