离子检测器、测定装置及质量分析装置的制作方法

1.本发明涉及离子检测器、测定装置及质量分析装置。


背景技术：

2.具有响应于带电粒子的入射而释放电子的电子倍增部的离子检测器被应用到各种技术领域。例如，具有电子倍增部的离子检测器能够适用于质量分析装置(mass spectrometry)等测定装置，在维持为高真空状态(低于0.1pa)的框体内进行动作。作为这种离子检测器，例如已知有专利文献1～专利文献3中公开的检测器。
3.现有技术文献
4.专利文献
5.专利文献1：日本特开2011-181336号公报
6.专利文献2：日本特开2009-289600号公报
7.专利文献3：日本特开平5-80157号公报


技术实现要素：

8.发明所要解决的问题
9.发明人等对上述的现有技术进行了研究，结果发现以下的问题。即，在如上述的质量分析中，两个极性的离子(带电粒子)可能成为检测对象，但现有的离子检测器除非在维持为高真空状态的框体内，否则无法得到充分的检测精度。即，近年来，为了实现装置的小型化及低成本化，期望低真空状态(0.1pa以上)下的离子检测，但现状是难以维持低真空状态下的检测精度。
10.难以维持检测精度的主要原因是在低真空状态的框体内存在残留的不需要的气体。在框体内进行动作的离子检测器中，对配置于电子倍增部的输入部侧的输入侧电极施加绝对值大的电压(也可以为正或负中的任一者)。当对输入侧电极施加正或负的电压时，陡峭的电位梯度会从该输入侧电极朝向设定为接地电位的框体的内壁扩展。另一方面，电子从相对为负电位的部位向周边释放，且释放的电子与不需要的残留气体分子碰撞而产生离子。通常，电子的平均自由行程在真空度1pa下为25mm，在真空度5pa下为5mm，在真空度10pa下为2.5mm。当以这种机制产生的不需要的离子因上述的电位梯度而被加速并向电子倍增部的输入部入射时，释放新的电子，并且产生成为噪声成分的暗电流。
11.此外，上述专利文献1的离子检测器在电子倍增部的输入部侧配置有网状电极，但没有妨碍由输入侧电极形成的电位梯度的结构。另外，也没有用于将各电极设定为任意电位的配线的包覆。因此，在上述专利文献1的离子检测器中，不能抑制在框体和高电压部间的放电产生的不需要的离子、不能遮断不需要的离子到达向电子倍增部及阳极、并且不能防止配线的放电。另外，在上述专利文献2及3的离子检测器中，施加绝对值大的电压的电极部分及配线部分露出，也不能阻止不需要的离子的产生和不需要的离子到达电子倍增部、阳极等。
12.本发明是为了解决上述问题而开发的，其目的在于，提供具备用于有效地抑制成为噪声成分的暗电流的产生的结构的离子检测器、包含该离子检测器的测定装置、及包含该离子检测器的质量分析装置。
13.用于解决问题的技术方案
14.本实施方式提供一种离子检测器，在减压状态的框体内进行动作，其中，具备电子倍增部、输入侧电极、输出侧电极、屏蔽结构体、网状窗、高电压缆线、以及覆盖高电压缆线的外周面的绝缘包覆。电子倍增部响应于带电粒子的入射而释放电子。另外，电子倍增部具有带电粒子到达的输入部和释放电子的输出部。输入侧电极的至少一部分设置于电子倍增部的输入部。输出侧电极的至少一部分设置于电子倍增部的输出部。屏蔽结构体为了在包含输入电极的被限制的空间内封闭以该输入侧电极为起点全方位地扩展的电位梯度，具有至少包围输入侧电极的结构。另外，屏蔽结构体由1个或1个以上的构件构成。1个或1个以上的构件分别由金属材料或绝缘性材料(包含玻璃、陶瓷、树脂等)构成。网状窗作为由金属材料构成的构件，构成屏蔽结构体的一部分。网状窗以在分开规定距离的状态下不会被使电位梯度变形的结构的要素(例如，金属构件的一部分或绝缘构件的一部分)妨碍而直接面对电子倍增部的输入部的方式配置。由绝缘包覆覆盖外周面的高电压缆线至少包含一端与输入侧电极电连接的输入侧缆线。为了对输入部和/或输出部施加高电压，与各电极连接的缆线以从框体的外部导入到内部(在贯通框体的状态下由该框体保持)的方式配置。另外，绝缘包覆为了限制在屏蔽结构体的内外可能产生的不需要的离子的移动，具有设置于输入侧缆线的外周面上，并且沿着该输入侧缆线的长边方向延伸的包覆结构，且包含从框体的内壁朝向输入侧电极延伸的部分。
15.此外，本发明的各实施方式将通过以下详细的说明及附图能够进一步充分地理解。这些实施例仅为了例示而表示，不应认为是对本发明的限定。
16.另外，本发明的进一步的应用范围通过以下的详细说明变得明确。但是，详细的说明和特定的事例是示出该发明的优选实施方式的例子，仅为了进行例示而示出，显然根据该详细的说明，本发明的范围中的各种变形和改良对于本领域技术人员而言是不言而喻的。
17.发明效果
18.本实施方式的离子检测器在减压状态的框体内具备在包含输入电极的被限制的空间内封闭以该输入侧电极为起点全方位地扩展的电位梯度的屏蔽结构体、和限制不需要的离子的移动的阻挡结构。根据该结构，能够抑制框体与离子检测器的高电压部(例如输入侧电极、输出侧电极、高电压缆线等)之间的放电引起的不需要的离子的产生。另外，即使在框体内产生了不需要的离子的情况下，该不需要的离子也不会朝向电子倍增部加速。即，通过由屏蔽结构体等消除不需要的离子的产生及产生该不需要的离子向电子倍增部的入射的环境(由输入侧电极形成的电位梯度)，有效地抑制成为噪声成分的暗电流的产生。
附图说明
19.图1是作为本实施方式的离子检测器可应用的测定装置的一例表示质量分析装置的代表的结构的图。
20.图2是表示本实施方式的离子检测器的第一结构例的图。
21.图3的(a)及图3的(b)是表示本实施方式的离子检测器的第二及第三结构例的图。
22.图4的(a)～图4的(c)是着眼于动作地将图2及图3的(a)所示的离子检测器200a、200b的内部结构简化的概念图。
23.图5的(a)及图5的(b)是表示真空腔室内压力(真空度)和放电电压的关系的图表。
24.图6是表示电极间距离、真空腔室内压力(真空度)、放电电压的关系(帕邢定律)的图表。
25.图7是表示高真空状态下的施加电压和增益的关系的图表。
26.图8的(a)及图8的(b)是表示真空腔室内压力(真空度)和暗电流的关系、及真空腔室内压力(真空度)和增益的关系的图表。
27.图9是表示能够应用于本实施方式的离子检测器的各种屏蔽结构的图(其1)。
28.图10是表示能够应用于本实施方式的离子检测器的各种屏蔽结构的图(其2)。
29.图11是表示能够应用于本实施方式的离子检测器的各种屏蔽结构的图(其3)。
30.图12的(a)及图12的(b)是表示能够应用于本实施方式的离子检测器的各种屏蔽结构的图(其4)。
31.图13是表示能够应用于本实施方式的离子检测器的各种屏蔽结构的图(其5)。
具体实施方式
32.[本技术发明实施方式的说明]
[0033]
首先，将本技术发明实施方式的内容分别单独举例进行说明。
[0034]
(1)本实施方式的离子检测器为在减压状态的框体内进行动作的检测器，作为其一个方式，至少具备电子倍增部、输入侧电极、输出侧电极、屏蔽结构体、网状窗、高电压缆线、以及覆盖该高电压缆线的外周面的第一绝缘包覆。电子倍增部响应于带电粒子的入射而释放电子。另外，电子倍增部具有带电粒子到达的输入部和释放电子的输出部。输入侧电极的至少一部分设置于电子倍增部的输入部。输出侧电极的至少一部分设置于电子倍增部的输出部。屏蔽结构体为了在包含输入电极的被限制的空间内封闭以该输入侧电极为起点全方位地扩展的电位梯度，具有至少包围输入侧电极的构造。另外，屏蔽结构体由1个或1个以上的构件构成。1个或1个以上的构件分别由金属材料或绝缘性材料(包含玻璃、陶瓷、树脂等)构成。网状窗作为由金属材料构成的构件，构成屏蔽结构体的一部分。网状窗以在分开规定距离的状态下不会被使电位梯度变形的结构的要素(例如，金属构件的一部分及绝缘构件的一部分)妨碍而直接面对电子倍增部的输入部的方式配置。因此，在电子倍增部的输入部与网状窗之间的空间，除输入侧电极的一部分外，不存在金属构件、绝缘物等障碍物。此外，具有网状窗的屏蔽结构体实现抑制在框体内产生不需要的离子，并且限制该不需要的离子的移动的功能。
[0035]
另外，在该离子检测器中，外周面由第一绝缘包覆覆盖的高电压缆线至少包含一端与输入侧电极电连接的输入侧缆线。为了对输入部和/或输出部施加高电压，与各电极连接的缆线以从框体的外部导入到内部(在贯通框体的状态下由该框体保持)的方式配置。另外，第一绝缘包覆为了限制在屏蔽结构体的内外可能产生的不需要的离子(这种不需要的离子或电子可以成为放电的触发)的移动，具有设置于输入侧缆线的外周面上，并且沿着该输入侧缆线的长边方向延伸的包覆结构。另外，第一绝缘包覆包含以框体的内壁为起点，从
该内壁朝向输入侧电极延伸的部分。例如，在上述的屏蔽结构体的一部分由容纳该离子检测器的框体的一部分构成的情况下，从框体的内壁朝向输入侧电极延伸的部分的长度(沿着输入侧缆线的长边方向的长度)优选为框体的内壁和输入侧电极的最短距离的1/2以上。
[0036]
(2)作为本实施方式的一个方式，屏蔽结构体也可以在从框体物理性分离的状态下配置于该框体内。在该情况下，优选第一绝缘包覆的部分(从框体的内壁朝向输入侧电极延伸的部分)覆盖输入侧缆线的外周面中至少从框体的内壁至屏蔽结构体的露出区域整体。另外，作为本实施方式的一个方式，优选第一绝缘包覆例如由特氟纶(注册商标)、环氧树脂、聚酰亚胺树脂等树脂材料构成。
[0037]
(3)作为本实施方式的一个方式，屏蔽结构体也可以包含包围输入侧电极的输入侧屏蔽部、和与输入侧屏蔽部物理性分离并且包围输出侧电极的输出侧屏蔽部。另一方面，作为本实施方式的一个方式，屏蔽结构体也可以具有包围输入侧电极及输出侧电极的双方的结构。另外，作为本实施方式的一个方式，屏蔽结构体也可以包含配置于输入侧电极和输出侧电极之间且由绝缘性材料构成的间隔件。即使在任意的结构中，也能够有效地抑制暗电流的产生。
[0038]
(4)作为本实施方式的一个方式，输入侧电极也可以作为电子倍增部的输入部发挥作用。另外，输出侧电极也可以作为电子倍增部的输出部发挥作用。该情况下，通过由多级倍增极和阳极构成的倍增极单元构成的电子倍增部能够应用于本实施方式的离子检测器。此外，在本方式中，初级倍增极(电极)作为输入部发挥作用，向位于最终级的阳极供给电子的倍增极(电极)作为输出部发挥作用。
[0039]
(5)作为本实施方式的一个方式，也可以是，该离子检测器是用于设定输出侧电极的电位的输出侧缆线，还具备：输出侧缆线，其在贯通框体的状态下，一端与输出侧电极电连接；第二绝缘包覆，其设置于输出侧缆线的外周面上，并且，沿着该输出侧缆线的长边方向延伸。设置于输出侧缆线的外周面上的第二绝缘包覆也与上述的第一绝缘包覆同样，包含以框体的内壁为起点从该内壁朝向输出侧电极延伸的部分。优选第二绝缘包覆的部分(从框体的内壁朝向输出侧电极延伸的部分)的长度(沿着输出侧缆线的长边方向的长度)为框体的内壁和输出侧电极的最短距离的1/2以上。在屏蔽结构体从框体物理性分离的状态下配置于该框体内的结构中，优选第二绝缘包覆的部分(从框体的内壁朝向输出侧电极延伸的部分)覆盖输出侧缆线的外周面中至少从框体的内壁至屏蔽结构体的露出区域整体。另外，作为本实施方式的一个方式，第二绝缘包覆也与上述的第一绝缘包覆同样，优选由特氟纶、环氧树脂、聚酰亚胺树脂等树脂材料构成。
[0040]
(6)作为本实施方式的一个方式，优选网状窗设定为接地电位。此外，在本说明书中，“接地电位”是指被纳入-500v～ 500v的范围的电位。另外，在本说明书中，“电压”及“电位差”特别是在没有示出符号的情况下是指绝对值。另外，作为本实施方式的一个方式，优选构成屏蔽结构体的由金属材料构成的构件中的特定的构件以从输入侧电极至该特定的构件的最短距离成为1cm以下的方式配置。
[0041]
(7)具有如上述的结构的离子检测器能够应用于各种装置。例如，本实施方式的测定装置作为其一个方式，具备具有如上述的结构的离子检测器(本实施方式的离子检测器)和至少容纳该离子检测器的框体。此外，框体由1个或1个以上的构件构成，该1个或1个以上的构件分别由金属材料或绝缘性材料构成。另外，上述的屏蔽结构体的至少一部分也可以
由框体构成。另外，上述的屏蔽结构体也可以在与实现离子检测功能的部分(离子检测部)完全或一部分独立的状态下设置于框体内(网状窗构成屏蔽结构体的一部分)。
[0042]
(8)具体而言，本实施方式的离子检测器作为其一个方式，能够应用于质量分析装置。具体而言，质量分析装置具备电离部、分离部、本实施方式的离子检测器、以及框体。电离部将试样电离，将所生成的离子以加速的状态释放。分离部将从电离部释放的离子中的特定的离子分离。离子检测器是检测通过分离部分离的特定的离子的检测器，以网状窗位于分离部与输入侧电极之间的方式配置。另外，框体也可以构成上述的屏蔽结构体的至少一部分，至少容纳电离部、分离部、及离子检测器，并且设定为接地电位(-500v～ 500v)。此外，上述的屏蔽结构体也可以在与实现离子检测功能的部分(离子检测部)完全或一部分独立的状态下设置于框体内(网状窗构成屏蔽结构体的一部分)。
[0043]
以上，在该[本技术发明实施方式的说明]栏中列举的各方式能够应用于其余的全部方式中的每一个、或这些其余的方式的全部的组合。
[0044]
[本技术发明实施方式的详细]
[0045]
以下，参照附图对本技术发明的离子检测器等具体例进行详细说明。此外，本发明不限定于这些示例，由权利要求书表示，并且意图包含与权利要求书均等的意思和范围内的所有变更。另外，附图的说明中，对同一构件标注同一标记，省略重复的说明。
[0046]
图1是作为能够应用本实施方式的离子检测器的测定装置的一例表示质量分析装置的代表的结构的图。图1所示的质量分析装置1具备框体100(真空腔室)、用于将该框体100的内部维持为一定的真空状态的真空泵110、电离部120、分离部130、以及离子检测器200。另外，在框体100上配置有用于对离子检测器200施加电压及输出信号的多个端子140。多个端子140中包含与离子检测器200的输入侧电极连接的输入侧缆线610a，该输入侧缆线610a的外周面在离子检测器200的内外由树脂包覆(绝缘包覆)620覆盖。此外，在图1的例子中，多个端子140中包含的其它缆线的外周面也由树脂包覆(绝缘包覆)覆盖。此外，离子检测器200的电极、包含输入侧缆线610a的高电压缆线等高电压部在框体100的内壁直接露出的结构中，由于该高电压部与框体100的内壁之间的放电而产生不需要的离子的可能性高。另外，这样产生的不需要的离子及电子可能成为放电的触发。因此，树脂包覆620起到防止这种不需要的离子及电子到达高电压部侧、特别是高电压缆线的功能。
[0047]
框体100被设定为接地电位。另外，框体100的内部空间可以调整为高真空状态或低真空状态中的任一种。电离部120将试样电离，并将所生成的离子以加速的状态释放。分离部130将从电离部120释放的离子中的特定的离子分离(图1中示出了离子阱)。离子检测器200是检测被分离部130分离的特定的离子的检测器。
[0048]
图2表示本实施方式的离子检测器的第一结构例。即，图2所示的第一结构例为用于检测阳离子的离子检测器200a，作为电子倍增部具备沟道型电子增倍管(cem：channel electron multiplier)210a。具体而言，离子检测器200a具备cem210a、设置于cem210a的输入部的输入侧电极220a、设置于cem210a的输出侧的输出侧电极220b、阳极230、用于阻挡由输入侧电极220a形成的电位梯度的扩展的屏蔽结构体、向各电极施加电压的结构(高电压缆线等)。输入侧电极220a的至少一部分与cem210a的输入部接触，经由输入侧缆线610a将输入部设定为规定电位。此外，在图2的例子中，输入侧缆线610a的外周面由用于防止可能成为放电的触发的要素(不需要的离子及电子)的到达的树脂包覆620覆盖。输出侧电极
220b的至少一部分与cem210a的输出部接触，将输出部设定为规定电位(例如接地电位)。阳极230为捕获来自cem210a的输出部的电子的电极，经由缆线610b(参照图4的(a)及图4的(b))设定为规定电位。屏蔽结构体由输入侧屏蔽部300和从该输入侧屏蔽部300物理性分离的输出侧屏蔽部400构成。
[0049]
输入侧屏蔽部300由覆盖输入侧电极220a的金属罩构成。但是，输入侧屏蔽部300除金属罩外，也可以为由绝缘性材料构成的绝缘罩。另外，输入侧屏蔽部300也可以通过组合金属构件和绝缘构件而构成。输入侧屏蔽部300也可以通过组合金属构件、绝缘构件、框体100的一部分而构成。另外，输入侧屏蔽部300具有网状窗300a。在cem210a的输入部与网状窗300a之间没有配置金属构件或绝缘构件等障碍物。
[0050]
另外，输出侧屏蔽部400由金属罩构成。但是，输出侧屏蔽部400除金属罩外也可以为由绝缘性材料构成的绝缘罩。另外，输出侧屏蔽部400也可以通过组合金属构件和绝缘构件而构成。输出侧屏蔽部400也可以通过组合金属构件、绝缘构件、框体100的一部分而构成。此外，在输入侧屏蔽部300及输出侧屏蔽部400的任一方中，在一部分或整体通过由玻璃、陶瓷等绝缘材料构成的构件构成的情况下，由这些绝缘材料构成的构件也起到限制可能成为放电的触发的要素(在框体100内产生的不需要的离子及电子)的移动的功能。
[0051]
图3的(a)是表示本实施方式的离子检测器的第二结构例的图，图3的(b)是表示本实施方式的离子检测器的第三结构例的图。图3的(a)所示的第二结构例的离子检测器200b除屏蔽结构外，主要部分的结构与图2的离子检测器200a相同。另外，图3的(b)所示的第三结构例的离子检测器200c中，实现屏蔽结构的材料、构成主要部分的电子倍增部的结构与图2及图3的(a)的离子检测器200a、200b不同。
[0052]
图3的(a)的离子检测器200b具备cem210a、设置于cem210a的输入部的输入侧电极220a、设置于cem210a的输出侧的输出侧电极220b、由绝缘材料构成的间隔件240、阳极230、用于阻挡由输入侧电极220a形成的电位梯度的扩展的屏蔽结构体500a。输入侧电极220a的至少一部分与cem210a的输入部接触，经由输入侧缆线610a将输入部设定为规定电位。此外，为了防止在屏蔽结构体500a的内外产生的不需要的离子的到达，输入侧缆线610a的外周面由树脂包覆620覆盖，该树脂包覆620从屏蔽结构体500a的内部延伸至框体100的内壁。输出侧电极220b的至少一部分与cem210a的输出部接触，将输出部设定为规定电位(例如接地电位)。阳极230为捕获来自cem210a的输出部的电子的电极，经由缆线610b(参照图4的(a)及图4的(b))设定为规定电位。间隔件240由玻璃、陶瓷、树脂等绝缘性材料构成，配置于输入侧电极220a与输出侧电极220b之间。屏蔽结构体500a与图2的离子检测器不同，由容纳输入侧电极220a及输出侧电极220b双方的金属罩510和作为轴杆发挥作用的金属板520构成。金属罩510具有网状窗300a。此外，屏蔽结构体500a可以由绝缘性材料构成，另外，也可以通过分别由金属材料或绝缘性材料构成的多个构件构成。
[0053]
另一方面，图3的(b)所示的离子检测器200c具有由绝缘性材料构成的屏蔽结构体500b。此外，屏蔽结构体500b也由金属材料构成，另外，也可以通过分别由绝缘性材料或金属材料构成的多个构件构成。作为电子倍增部，具有多个倍增极(电极)的倍增极单元210b容纳于屏蔽结构体500b。倍增极单元210b的初级倍增极221a作为电子倍增部的输入部发挥作用。在倍增极单元210b的最终级配置有阳极221b，向该阳极221b供给电子的前级倍增极作为电子倍增部的输出部发挥作用。通过分压器电路700设定包含初级倍增极221a(输入
部)的多级倍增极和阳极221b各自的电位。另外，为了防止在框体100内产生的不需要的离子的到达，输入侧缆线610a的外周面由树脂包覆620覆盖。分压器电路700也可以通过浇注树脂固定于屏蔽结构体500b。
[0054]
图4的(a)～图4的(c)是作为以下的说明中参照的附图所示的检测器结构的样品，着眼于动作地将图2及图3的(a)所示的离子检测器200a、200b的内部结构简化的概念图。
[0055]
图4的(a)是将图2及图3的(a)的主要部分简化的、检测阳离子的离子检测器的概念图。在电子倍增部(cem)的输入部设置有输入侧电极220a，在电子倍增部的输出侧设置有输出侧电极220b。在输入侧电极220a与输出侧电极220b之间也可以设置有由绝缘性材料构成的间隔件240。另外，在输入侧电极220a连接有输入侧缆线610a，在输出侧电极220b连接有输出侧缆线610c。在阳极230连接有缆线610b。此外，图4的(a)中，为了防止不需要的离子的到达，仅输入侧缆线610a由树脂包覆620覆盖，但其它缆线610b、610c也可以由树脂包覆覆盖。另外，经由输入侧缆线610a向输入侧电极220a供给电压的电源800也可以以容纳于屏蔽结构体的方式配置。
[0056]
图4的(b)是将能够检测两个极性的离子的双极型的离子检测器的主要部分简化的概念图。该双极型的离子检测器在从阳极230伸出的信号线上配置有电容器c1。另外，在经由电阻r与信号线连接的返回路径(噪声除去用线)上配置有电容器c2。其它结构与图4的(a)所示的离子检测器同样。
[0057]
图4的(c)是将上述的离子检测器(图4的(a)及图4的(b))的结构进一步简化的图，该简单结构适用于呈现后述的图9～图11、图12的(a)、图12的(b)及图13中分别表示的各种屏蔽结构。
[0058]
接着，对真空度和放电的关系进行说明。图5的(a)是表示用于说明真空腔室内压力(真空度)和放电电压的关系的准备的实验装置的结构的图。图5的(b)是通过图5的(a)所示的装置得到的图表。此外，在图5的(b)中，纵轴的放电电压是以gnd(0v)为基准的电位差(绝对值)。
[0059]
如图5的(a)所示，实验装置具备直径150mm、长度300mm的圆筒状的真空腔室500c和容纳于该真空腔室500c内的2个电极222a、222b。一个电极222a的电位设定为gnd(0v)，另一个电极222b设定为负电位(-hv)。另外，2个电极222a、222b的间隔为2mm。通常，为了检测阳离子而设定的输入侧电极的电位为-2kv(绝对值2kv)，但从图5的(b)也可以看出，认为在1pa以上的低真空状态下难以得到106左右的增益。即，在现有的离子检测器中，可知无法得到低真空状态下的充分的检测精度。
[0060]
图6是表示电极间距离、真空腔室内压力(真空度)、放电电压的关系(帕邢定律)的图表。图6的横轴由压力和距离的积表示。因此，如果压力为一定的状态，则能够确定放电距离。此外，在图6中，图表g610表示在真空腔室内残留h2气体时的计算结果，图表g620表示在真空腔室内残留he气体时的计算结果，图表g630表示在真空腔室内残留n2气体时的计算结果，图表g640表在真空腔室内残留ne气体时的计算结果，图表g650表示在真空腔室内残留ar气体时的测定结果。此外，由图表g610～图表g650分别以锐角夹持的区域为放电区域。此外，假定的真空腔室的结构与图5的(a)所示的结构相同。
[0061]
(第一条件)
[0062]
第一条件是真空腔室内压力被设定为大气压，输入侧电位(in电极电位)被设定
为-2kv(绝对值2kv)的条件。大气压为7.5
×
102torr(1
×
105pa)。图6中，在线p1设定为表示大气压的线的情况下，该线p1和表示in电极电位的线的交点w1约为1cm。即，在残留各种气体的状态下，只要为1cm左右的电极间间隔，就不会引起放电。另一方面，交点w2表示电极间距离1mm，在电极间距离低于1mm的情况下，表示因残留气体的种类而引起放电。
[0063]
(第二条件)
[0064]
在第二条件中，真空腔室内压力被设定为使现有的离子检测器进行动作的一般的真空度(高真空度)。此外，设定的真空度为7.5
×
10-7
torr(1
×
10-4
pa)，将图6中的线p2设为表示高真空度的线。在该第二条件下，交点w3并不实际，但表示产生放电的界限的电极间距离为10km。
[0065]
(第三条件)
[0066]
在第三条件中，真空腔室内压力被设定为低真空度。此外，设定的真空度为7.5
×
10-3
torr(1pa)，将图6中的线p2设为不表示低真空度的线。在该第三条件下，交点w3表示产生放电的界限的电极间距离为30cm。
[0067]
此外，图7表示高真空状态(0.0023pa)下的施加电压和增益的关系。从图7也可以看出，为了得到106左右的增益，输入侧电极的电位需要设定为2100v(绝对值)。这样，图8的(a)及图8的(b)表示在以高真空状态得到充分的增益的电位(设定为输入侧电极的电位的绝对值)中，图2所示的本实施方式的离子检测器200a的动作结果。
[0068]
图8的(a)是表示真空腔室内压力(真空度)和暗电流的关系的图表，图8的(b)是表示真空腔室内压力(真空度)和增益的关系的图表。从图8的(a)可以看出，从真空腔室内压力超过16pa时开始暗电流急剧增加，真空腔室内压力为17pa时产生放电。另外，从图8的(b)可以看出，确认到真空腔室内压力达到10pa左右时得到106左右的增益(在10.7pa下产生放电)。由此，根据本实施方式，证实了即使真空腔室压力为1pa以上，只要为直到10pa左右的低真空状态，则也能够充分进行高精度的离子检测。
[0069]
接着，使用图9～图11、图12的(a)、图12的(b)及图13对能够应用于本实施方式的离子检测器的各种屏蔽结构进行说明。此外，图9～图11、图12的(a)、图12的(b)及图13所示的离子检测器的主要部分(以下，简记为“主要部分”)均被统一为图4的(c)所示的结构。
[0070]
具体而言，图9及图10中公开有容纳输入侧电极220a和输出侧电极220b双方的各种屏蔽结构(图案1～图案11)。此外，在图9及图10所示的各屏蔽结构中，用于限制屏蔽结构体内产生的不需要的离子的移动的间隔件(参照图3的(a)等)也可以设置于输入侧电极与输出侧电极之间。
[0071]
图9中，图案1的屏蔽结构通过容纳包含输入侧电极及输出侧电极的主要部分整体的屏蔽结构体500d来实现。屏蔽结构体500d由1个金属罩构成，该金属罩在面对cem的输入部的位置具有网状窗300a。图案2的屏蔽结构通过容纳包含输入侧电极及输出侧电极的主要部分整体的屏蔽结构体500e来实现。屏蔽结构体500e由1个金属网构成，该金属网分一部分作为网状窗300a发挥作用。图案3的屏蔽结构通过屏蔽结构体500f来实现。屏蔽结构体500f实际上与上述的屏蔽结构体500d相同，但在具备具有曲率的角部这一点上，与该屏蔽结构体500d不同。图案4的屏蔽结构通过容纳包含输入侧电极及输出侧电极的主要部分整体的屏蔽结构体500g来实现。屏蔽结构体500g实际上具有与上述的屏蔽结构体500b(图3的(b))同样的结构。即，通过由绝缘性材料构成的绝缘罩和具有网状窗300a的金属膜310(或
金属板)构成。
[0072]
另外，图9中，图案5的屏蔽结构通过容纳包含输入侧电极及输出侧电极的主要部分整体的屏蔽结构体来实现。图案5的屏蔽结构体d由容纳主要部分整体并且具有网状窗300a的金属罩311和堵塞金属罩311的开口部的金属罩411构成。图案6的屏蔽结构具有实际上与图3的(a)所示的屏蔽结构体500a同样的结构。即，图案6的屏蔽结构体由容纳主要部分整体并且具有网状窗300a的金属罩312和堵塞金属罩312的开口部的金属罩411构成。此外，图案6的屏蔽结构在金属罩312具有凸缘这一点上与图案5的屏蔽结构体不同。图案7的屏蔽结构通过容纳包含输入侧电极及输出侧电极的主要部分整体的屏蔽结构体来实现。图案7的屏蔽结构体由具有网状窗300a并且从输入侧电极一方容纳主要部分的一部分的金属罩313和从输出侧电极的与方容纳主要部分的一部分的金属罩412构成。在该图案7的屏蔽结构体中，金属罩412的开口部被金属罩313堵塞。图案8的屏蔽结构通过容纳包含输入侧电极及输出侧电极的主要部分整体的屏蔽结构体来实现。图案8的屏蔽结构体由具有网状窗300a并且从输入侧电极一方容纳主要部分的一部分的金属罩314和从输出侧电极的一方容纳主要部分的一部分的金属罩413构成。在该图案8的屏蔽结构体中，金属罩314的开口部被金属罩413堵塞。
[0073]
在图10中，图案9的屏蔽结构通过容纳包含输入侧电极及输出侧电极的主要部分整体的屏蔽结构体来实现。图案9的屏蔽结构体由具有网状窗300a并且从输入侧电极的一方容纳主要部分的一部分的金属罩313和从输出侧电极的一方容纳主要部分的一部分的绝缘罩451构成。在该图案9的屏蔽结构体中，绝缘罩451的开口部被金属罩313堵塞。此外，也可以应用具有配置网状窗300a的开口的绝缘罩替换金属罩313。图案10的屏蔽结构通过容纳包含输入侧电极及输出侧电极的主要部分整体的屏蔽结构体来实现。图案10的屏蔽结构体由从输出侧电极的一方容纳主要部分整体的绝缘罩452和具有网状窗300a的金属板315构成。在该图案10的屏蔽结构体中，绝缘罩452的开口部被金属板315堵塞。图案11的屏蔽结构通过容纳包含输入侧电极及输出侧电极的主要部分整体的屏蔽结构体来实现。图案11的屏蔽结构体由从输入侧电极的一方容纳主要部分整体的绝缘罩351、具有网状窗300a的金属膜310、以及绝缘罩453构成。在该图案11的屏蔽结构体中，金属膜310以网状窗300a覆盖绝缘罩351的2个开口部中、靠近输入侧电极的一方的开口部的方式配置。另外，绝缘罩351的另一个开口部被绝缘罩453堵塞。
[0074]
图11及图12的(a)公开了容纳输入侧电极220a的各种屏蔽结构(图案1～图案10)。
[0075]
图11中，图案1的屏蔽结构通过容纳包含输入侧电极的主要部分的一部分的屏蔽结构体来实现。图案1的屏蔽结构体由以支撑输入侧电极的绝缘板352和容纳输入侧电极和绝缘板352双方的金属罩316构成的方式配置。该情况下，绝缘板352被设置为保持金属罩316。网状窗300a设置于金属罩316。图案2的屏蔽结构通过容纳包含输入侧电极的主要部分的一部分的屏蔽结构体来实现。图案2的屏蔽结构体由分别具有网状结构的多个金属罩316a～316c构成。金属罩316a～316c的电位优选形成具有在罩间不产生放电的程度(例如400v)的电位差的电位渐变。通过这些金属罩316a～316c的网状结构构成网状窗300a。另外，在图案2的屏蔽结构中，金属罩316a容纳于金属罩316b，金属罩316a、316b双方容纳于金属罩316c。图案3的屏蔽结构通过容纳包含输入侧电极的主要部分的一部分的屏蔽结构体来实现。图案3的屏蔽结构体由以支撑输入侧电极的绝缘板352和在容纳输入侧电极的状态
下固定于绝缘板352的金属罩317构成的方式配置。即使在该图案3中，绝缘板352也设置为保持金属罩317。网状窗300a设置于金属罩317。另外，为了使对绝缘板352的固定容易，在金属罩317上设置有凸缘。图案4的屏蔽结构通过容纳包含输入侧电极的主要部分的一部分的屏蔽结构体来实现。图案4的屏蔽结构体由容纳包含输入侧电极的主要部分的一部分的绝缘罩353和以夹着该绝缘罩353的金属板315a、315b构成的方式配置。网状窗300a设置于一个金属板315a。
[0076]
另外，在图11中，图案5的屏蔽结构通过容纳包含输入侧电极的主要部分的一部分的屏蔽结构体来实现。图案5的屏蔽结构体由以支撑输入侧电极的绝缘板352和在容纳输入侧电极的状态下固定于绝缘板352的金属罩318构成的方式配置。网状窗300a设置于金属罩318。在该图案5的屏蔽结构中，绝缘板352起到保持金属罩318的功能，但在未容纳于金属罩318这一点上，与图案5和图案1的屏蔽结构不同。图案6的屏蔽结构通过容纳包含输入侧电极的主要部分的一部分的屏蔽结构体来实现。图案6的屏蔽结构体由容纳输入侧电极的绝缘罩353与容纳输入侧电极和绝缘罩353双方的金属罩316(与图案1相同)构成。金属罩316具有网状窗300a，该网状窗300a以覆盖绝缘罩353的开口的方式配置。此外，绝缘罩353也可以为涂布于金属罩316的内壁面的绝缘膜。图案7的屏蔽结构通过容纳包含输入侧电极的主要部分的一部分的屏蔽结构体来实现，其一部分由输出侧电极构成一部分。图案7的屏蔽结构体由容纳输入侧电极的金属罩319和输出侧电极构成。金属罩319具有网状窗300a，并且开口部固定于输出侧电极。图案8的屏蔽结构通过容纳包含输入侧电极的主要部分的一部分的屏蔽结构体来实现，构成为固定于输出侧电极本身。图案8的屏蔽结构体由固定于输出侧电极的、容纳输入侧电极的金属罩320构成。金属罩320具有网状窗300a，并且开口部固定于输出侧电极。
[0077]
在图12的(a)中，图案9的屏蔽结构通过容纳包含输入侧电极的主要部分的一部分的屏蔽结构体来实现。图案9的屏蔽结构体由容纳输入侧电极的绝缘罩353(与图案6相同)和具有网状窗300a的金属膜310构成。金属膜310固定于绝缘罩353，以使绝缘罩353的开口部由网状窗300a覆盖。此外，为了防止由输入侧电极形成的电位梯度的产生，也可以通过导电膜涂布绝缘罩353的外周面。图案10的屏蔽结构通过容纳包含输入侧电极的主要部分的一部分的屏蔽结构体来实现。图案10的屏蔽结构体由容纳输入侧电极的绝缘罩354和具有网状窗300a的金属板315(与图10的图案10相同)构成。金属板315以覆盖绝缘罩354的开口的方式配置。此外，为了防止由输入侧电极形成的电位梯度的产生，也可以通过导电膜涂布绝缘罩354的外周面。
[0078]
图12的(b)表示容纳输入侧电极220a的输入侧屏蔽部(相当于图2的输入侧屏蔽部300)和容纳输出侧电极220b的输出侧屏蔽部(相当于图2的输出侧屏蔽部400)在物理性分离的状态下构成的各种屏蔽结构(图案1～图案3)。
[0079]
在图12的(b)中，图案1的屏蔽结构由将主要部分的一部分与输入侧电极一起容纳的输入侧屏蔽部和将主要部分的一部分与输出侧电极一起容纳的输出侧屏蔽部来实现。在图案1的屏蔽结构体中，输入侧屏蔽部由容纳输入侧电极的金属罩316(与图11的图案6相同)构成，在该金属罩316上设置有网状窗300a。输出侧屏蔽部由容纳输出侧电极的金属罩414构成，该金属罩414和金属罩316物理性且电分离。图案2的屏蔽结构由将主要部分的一部分与输入侧电极一起容纳的输入侧屏蔽部和将主要部分的一部分与输出侧电极一起容
纳的输出侧屏蔽部实现。在图案2的屏蔽结构体中，输入侧屏蔽部由容纳输入侧电极的绝缘罩353(与图12的(a)的图案10相同)和具有网状窗300a的金属膜310构成。金属膜310固定于该绝缘罩353，以使网状窗300a堵塞绝缘罩353的开口部。输出侧屏蔽部由容纳输出侧电极的绝缘罩454构成。图案3的屏蔽结构通过将主要部分的一部分与输入侧电极一起容纳的输入侧屏蔽部和将主要部分的一部分与输出侧电极一起容纳的输出侧屏蔽部来实现。在图案3的屏蔽结构体中，输入侧屏蔽部由容纳输入侧电极的金属罩316(与图11的图案6相同)构成，在该金属罩316上设置有网状窗300a。输出侧屏蔽部由容纳输出侧电极的绝缘罩454(与图案2相同)构成。此外，金属罩316也可以具有如虚线所示，还将输出侧屏蔽部与输入侧电极一起容纳的结构。
[0080]
图13表示利用容纳该离子检测器的装置的框体的一部分的各种屏蔽结构(图案1～图案8)。此外，在图13所示的各屏蔽结构中，也可以将放电措施用间隔件(参照图3的(a)等)设置于输入侧电极与输出侧电极之间。
[0081]
在图13中，图案1的屏蔽结构通过容纳包含输入侧电极及输出侧电极的主要部分整体的屏蔽结构体来实现，该屏蔽结构体的一部分由容纳本实施方式的离子检测器的装置的框体的一部分(例如图1所示的框体100的一部分)构成。图案1的屏蔽结构体由设置于框体100的凹部(depressed portion)(容纳主要部分整体)构成。具有网状窗300a的金属膜310以堵塞设置于框体100的凹部的开口部的方式配置。此外，框体100被设定为接地电位(-500v～ 500v)。图案2的屏蔽结构通过容纳包含输入侧电极及输出侧电极的主要部分整体的屏蔽结构体来实现，该屏蔽结构体的一部分由容纳本实施方式的离子检测器的装置的框体的一部分构成。图案2的屏蔽结构体由框体100的一部分、固定于框体的一部分的绝缘罩455、具有网状窗300a的金属板315(与图10的图案10相同)构成。在绝缘罩455的一个开口部固定有具有网状窗300a的金属板315，该绝缘罩455的另一个开口部被框体100的一部分堵塞。图案3的屏蔽结构通过容纳包含输入侧电极及输出侧电极的主要部分整体的屏蔽结构体来实现，该屏蔽结构体的一部分由容纳本实施方式的离子检测器的装置的分离部130构成。图案3的屏蔽结构体由固定于分离部130的绝缘罩455(与图案2相同)、配置有阳极的印刷配线基板456、以及网状窗300a构成。绝缘罩455的一个开口部固定于分离部130，在分离部130与输入侧电极之间配置有网状窗300a。另外，绝缘罩455的另一个开口部被印刷配线基板456堵塞。图案4的屏蔽结构通过容纳包含输入侧电极及输出侧电极的主要部分整体的屏蔽结构体来实现，该屏蔽结构体的一部分由容纳本实施方式的离子检测器的装置的分离部130构成。图案4的屏蔽结构体实际上与上述的图案3相同，但在配置在设定为接地电位的框体100的附近这一点上，与图案3不同。
[0082]
另外，在图13中，图案5的屏蔽结构通过容纳包含输入侧电极及输出侧电极的主要部分整体的屏蔽结构体来实现，该屏蔽结构体的一部分由容纳本实施方式的离子检测器的装置的框体的一部分构成。图案5的屏蔽结构体由框体100的一部分、固定于框体的一部分的金属罩321a、以及具有网状窗300a的金属板321b构成。在金属罩321a的一个开口部附近，该金属罩321a以容纳金属板321b的状态保持。金属罩321a的另一个开口部被框体100的一部分堵塞。图案6的屏蔽结构通过容纳包含输入侧电极及输出侧电极的主要部分整体的屏蔽结构体来实现，该屏蔽结构体的一部分由容纳本实施方式的离子检测器的装置的框体的一部分构成。图案6的屏蔽结构体由框体100的一部分、固定于框体的一部分的金属罩322a、
以及具有网状窗300a的金属板322b构成。金属板322b嵌入金属罩322a的一个开口部。另外，金属罩322a的另一个开口部被框体100的一部分堵塞。图案7的屏蔽结构通过容纳包含输入侧电极及输出侧电极的主要部分整体的屏蔽结构体来实现，该离子检测器的一部分具有由绝缘材料构成的凸缘。此外，屏蔽结构体的一部分也可以由容纳本实施方式的离子检测器的装置的框体的一部分(由绝缘性材料构成)构成。图案7的屏蔽结构体由带凸缘的绝缘板150的一部分、固定于绝缘板150的一部分的绝缘罩455(与图案2相同)、以及具有网状窗300a的金属膜310构成。绝缘罩455的一个开口部由具有网状窗300a的金属膜310覆盖。绝缘罩455的另一个开口部由配置有o型环151的绝缘板150的一部分堵塞。图案8的屏蔽结构通过容纳包含输入侧电极及输出侧电极的主要部分整体的屏蔽结构体来实现，该屏蔽结构体的一部分由容纳本实施方式的离子检测器的装置的框体的一部分构成。此外，在该图案8中，框体由绝缘性材料构成。图案8的屏蔽结构体由绝缘框体的一部分151(实际上与绝缘板150相同)、固定于绝缘框体的一部分151的绝缘罩455(与图案2相同)、具有网状窗300a的金属膜310、以及设置于绝缘罩455的外周面的导电层323构成。绝缘罩455的一个开口部由具有网状窗300a的金属膜310覆盖。绝缘罩455的另一个开口部由绝缘框体的一部分151堵塞。为了阻挡电磁噪声，通过导电层323涂布绝缘罩455的外周面。
[0083]
根据以上的本发明的说明，显然能够对本发明进行各种变形。不能认为这样的变形脱离本发明的思想和范围，所有对于本领域技术人员来说显而易见的改良包含于权利要求的范围内。
[0084]
符号说明
[0085]1……
质量分析装置(测定装置)、200a、200b、200c
……
离子检测器、210a
……
cem(电子倍增部)、210b
……
倍增极单元(电子倍增部)、220a
……
输入侧电极、220b
……
输出侧电极、300a
……
网状窗、300
……
输入侧屏蔽部、400
……
输出侧屏蔽部、500a、500b、500d～500g
……
屏蔽结构体、610a
……
输入侧缆线、610c
……
输出侧缆线、620
……
树脂包覆。