1.本实用新型涉及检测器械技术领具，更具体地说，涉及一种硅材平面度检测装置
背景技术：
2.针对大型机具设备，特别是要求平整度的平台(平面度、倾斜度、垂直度)，在使用时都需要进行严格的平面度检测，依据结果对目标平台进行修整或调校。
3.在硅材加工过程中，对硅材表面的抛光平整度要求极高，在抛光完成后都需要采用检测装置进行平整度检测。但是现有的检测装置只能进行单点检测，无法同时检测硅材各个位点上的平整度，导致检测效率低下，对于体积较大的硅材，单点检测很难适用。
技术实现要素：
4.本实用新型的目的在于提供一种硅材平面度检测装置，用以解决上述背景技术中存在的技术问题。
5.本实用新型技术方案一种硅材平面度检测装置，包括固定支架和横向设置在所述固定支架上的若干个深度规；所述固定支架底部设置有滑槽，所述滑槽内设置有滑动安装件，所述深度规可拆卸设置在所述滑动安装件上。
6.在一个优选地实施例中，所述滑动安装件包括安装块和穿过所述安装块伸入所述滑槽的固定件，所述固定件位于所述滑槽内一侧通过所述滑槽限位，且所述固定件与所述安装块螺纹连接。
7.在一个优选地实施例中，所述固定件包括两端均设置有限位块的螺柱，所述螺柱的长度大于所述安装块的高度。
8.在一个优选地实施例中，所述安装块上有插孔和与所述插孔连通的螺纹孔，所述插孔竖直设置，所述螺纹孔水平设置，所述螺纹孔内螺纹固定有固定螺栓，所述深度规由上至下穿过所述插孔。
9.在一个优选地实施例中，所述固定支架底部设置有可调支撑组件，所述可调支撑组件包括支撑块和与所述支撑块螺纹连接的支撑脚。
10.在一个优选地实施例中，所述固定支架的顶部设置有把手。
11.本实用新型技术方案的有益效果是：
12.检测时，将本装置放置到需要检测的硅材表面，然后读取每个深度规的读数，根据读数判断各个位点的平面度。通过本装置可以对硅材各个位点同时检测，提升检测效率，且检测准确率高。
附图说明
13.图1为本实用新型正视图，
14.图2为本实用新型深度规与安装块固定结构拆解正视图，
15.图3为本实用新型侧视图，
16.图4为本实用新型滑槽内限位块向上运动状态图，
17.图5为本实用新型安装块与安装支架底面分离图。
18.附图标记说明：1固定支架、2深度规、3滑槽、4滑动安装件、41安装块、42限位块、43螺柱、44插孔、45螺纹孔、46固定螺栓、5可调支撑组件、51支撑块、52支撑脚、6把手。
具体实施方式
19.下面结合附图和具体实施方式对本实用新型作进一步详细的说明。本实用新型的实施例是为了示例和描述方便起见而给出的，而并不是无遗漏的或者将本实用新型限于所公开的形式。很多修改和变化对于本领域的普通技术人员而言是显而易见的。选择和描述实施例是为了更好说明本实用新型的原理和实际应用，并且使本领域的普通技术人员能够理解本实用新型从而设计适于特定用途的带有各种修改的各种实施例。
20.参照图1-图5，本实用新型技术方案一种硅材平面度检测装置，本装置包括固定支架1和横向设置在所述固定支架1上的若干个深度规2；所述固定支架1底部设置有滑槽3，所述滑槽3内设置有滑动安装件4，所述深度规2 可拆卸设置在所述滑动安装件4上。
21.固定支架1横向设置，深度规2沿固定支架1长度方向成排设置，并通过滑动安装件4固定在固定支架1上。滑动安装件4可以在滑槽3内滑动，以便调整深度规2的安装位置，当滑动到合适位置后再与滑槽3固定。
22.检测前首先对本深度规2进行校准，校准工作在水平的大理时平台上完成，将本装置放置到大理石平台上，稳定后将深度规2的读数归零，即完成深度规2的校准工作。检测时，将本装置放置到需要检测的硅材表面，然后读取每个深度规2的读数，根据读数判断各个位点的平面度。通过本装置可以对硅材各个位点同时检测，提升检测效率，且检测准确率高。
23.滑动安装件4包括安装块41和穿过安装块41伸入所述滑槽3的固定件，所述固定件位于所述滑槽3内一侧通过所述滑槽3限位，且所述固定件与所述安装块41螺纹连接。所述固定件包括两端均设置有限位块42的螺柱43，所述螺柱43的长度大于所述安装块41的高度。
24.安装块41固定时，通过拧动螺柱43使位于滑槽3内的限位块42抵压在滑槽3底面上，此时安装块41与固定支架1底面抵压固定，如图3所示。当需要对安装块41进行位置调整时，拧动安装块41下方的限位块42使滑槽3 内的限位块42向上运动，如图4所示，在重力作用下安装块41向下运动并与固定支架1分离，如图5所示，此时安装块41便可进行水平移动。
25.所述安装块41上有插孔44和与所述插孔44连通的螺纹孔45，所述插孔 44竖直设置，所述螺纹孔45水平设置，所述螺纹孔45内螺纹固定有固定螺栓46，所述深度规2由上至下穿过所述插孔44。固定时，将深度规2底部探头穿过插口，然后拧动螺纹孔45内的固定螺栓46，利用固定螺栓46端部对探头上方的连接部位进行抵压，进而实现深度规2的固定。
26.所述固定支架1底部设置有可调支撑组件5，所述可调支撑组件5包括支撑块51和与所述支撑块51螺纹连接的支撑脚52。支撑角设置为4个，分别位于固定支架1的四个角。通过拧动支撑脚52来调整固定支架1使其处于水平状态。
27.所述固定支架1的顶部设置有把手6。把手6的设置方便对本装置进行转移。
28.显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型的一部分实施例，而不是全部的实施例。
基于本实用新型中的实施例，本领域及相关领域的普通技术人员在没有作出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例，都应属于本实用新型保护的范围。本实用新型中未具体描述和解释说明的结构、装置以及操作方法，如无特别说明和限定，均按照本领域的常规手段进行实施。
技术特征：
1.一种硅材平面度检测装置，其特征在于：包括固定支架和横向设置在所述固定支架上的若干个深度规；所述固定支架底部设置有滑槽，所述滑槽内设置有滑动安装件，所述深度规可拆卸设置在所述滑动安装件上。2.根据权利要求1所述的一种硅材平面度检测装置，其特征在于：所述滑动安装件包括安装块和穿过所述安装块伸入所述滑槽的固定件，所述固定件位于所述滑槽内一侧通过所述滑槽限位，且所述固定件与所述安装块螺纹连接。3.根据权利要求2所述的一种硅材平面度检测装置，其特征在于：所述固定件包括两端均设置有限位块的螺柱，所述螺柱的长度大于所述安装块的高度。4.根据权利要求2所述的一种硅材平面度检测装置，其特征在于：所述安装块上有插孔和与所述插孔连通的螺纹孔，所述插孔竖直设置，所述螺纹孔水平设置，所述螺纹孔内螺纹固定有固定螺栓，所述深度规由上至下穿过所述插孔。5.根据权利要求1所述的一种硅材平面度检测装置，其特征在于：所述固定支架底部设置有可调支撑组件，所述可调支撑组件包括支撑块和与所述支撑块螺纹连接的支撑脚。6.根据权利要求1所述的一种硅材平面度检测装置，其特征在于：所述固定支架的顶部设置有把手。
技术总结
本实用新型公开了一种硅材平面度检测装置，包括固定支架和横向设置在所述固定支架上的若干个深度规；所述固定支架底部设置有滑槽，所述滑槽内设置有滑动安装件，所述深度规可拆卸设置在所述滑动安装件上。所述滑动安装件包括安装块和穿过所述安装块伸入所述滑槽的固定件，所述固定件位于所述滑槽内一侧通过所述滑槽限位，且所述固定件与所述安装块螺纹连接。检测时，将本装置放置到需要检测的硅材表面，然后读取每个深度规的读数，根据读数判断各个位点的平面度。通过本装置可以对硅材各个位点同时检测，提升检测效率，且检测准确率高。高。高。
技术研发人员：郑人豪
受保护的技术使用者：合盟精密工业（合肥）有限公司
技术研发日：2021.10.12
技术公布日：2022/3/16
再多了解一些
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