一种平板探测器、其驱动方法及装置与流程

技术特征：
1.一种平板探测器，其特征在于，包括：衬底基板，所述衬底基板包括显示区以及包围所述显示区的非显示区，所述非显示区包括位于所述显示区一侧的绑定区；所述显示区包括呈阵列排布的多个探测单元以及与各所述探测单元耦接的偏压电极走线；所述绑定区包括至少一个偏压电极；所述非显示区设置有分别与所述偏压电极走线和各所述偏压电极耦接的开关控制器；其中，各所述开关控制器用于在各所述偏压电极未绑定电路板时，处于浮空状态。2.如权利要求1所述的平板探测器，其特征在于，所述开关控制器包括开关晶体管，所述绑定区包括至少一个开关电极，所述开关晶体管的栅极与相应的所述开关电极耦接，其第一极与所述偏压电极走线耦接，其第二极与相应的所述偏压电极耦接。3.如权利要求2所述的平板探测器，其特征在于，所述开关晶体管的设置个数与所述偏压电极的设置个数相等。4.如权利要求2所述的平板探测器，其特征在于，所述开关电极的设置个数与所述开关晶体管的设置个数相等。5.如权利要求1-4任一项所述的平板探测器，其特征在于，各所述探测单元包括光敏采集器和采集控制器，所述采集控制器和所述开关控制器均位于所述衬底基板和所述光敏采集器之间。6.如权利要求5所述的平板探测器，其特征在于，所述采集控制器包括采集晶体管，所述采集晶体管的栅极与采集控制端耦接，其第一极与所述光敏采集器的第一极耦接，其第二极与信号读出端耦接，所述光敏采集器的第二极与所述偏压电极总线耦接。7.如权利要求6所述的平板探测器，其特征在于，所述偏压电极走线位于所述光敏采集器背离所述衬底基板的一侧。8.一种平板探测装置，其特征在于，包括：如权利要求1-7任一项所述的平板探测器，以及通过各所述偏压电极与所述平板探测器绑定的电路板；其中：所述电路板用于向所述开关控制器发送控制信号，导通所述开关控制器，以将偏压信号经所述偏压电极走线施加至各所述探测单元。9.一种如权利要求1-7任一项所述的平板探测器的驱动方法，其特征在于，包括：在各所述偏压电极与电路板处于绑定状态时，向所述开关控制器发送控制信号，导通所述开关控制器，以将偏压信号经所述偏压电极走线施加至各所述探测单元，其中，在各所述偏压电极未绑定所述电路板时，所述开关控制器处于浮空状态。10.如权利要求9所述的驱动方法，其特征在于，若所述开关控制器包括开关晶体管，则所述在各所述偏压电极与电路板处于绑定状态时，向所述开关控制器发送控制信号，导通所述开关控制器，包括：在各所述偏压电极与电路板处于绑定状态时，向所述开关晶体管的栅极加载控制信号；在所述控制信号的作用下，导通所述开关晶体管，将偏压信号经所述开关晶体管和所述偏压电极走线施加至各所述探测单元。

技术总结
本发明提供了一种平板探测器、其驱动方法及装置，其中，所述平板探测器包括：衬底基板，所述衬底基板包括显示区以及包围所述显示区的非显示区，所述非显示区包括位于所述显示区一侧的绑定区；所述显示区包括呈阵列排布的多个探测单元以及与各所述探测单元耦接的偏压电极走线；所述绑定区包括至少一个偏压电极；所述非显示区设置有分别与所述偏压电极走线和各所述偏压电极耦接的开关控制器；其中，各所述开关控制器用于在各所述偏压电极未绑定电路板时，处于浮空状态。用于防止偏压电极发生腐蚀，提高平板探测器的光电检测性能。提高平板探测器的光电检测性能。提高平板探测器的光电检测性能。


技术研发人员：庞凤春 侯学成
受保护的技术使用者：北京京东方传感技术有限公司
技术研发日：2021.11.25
技术公布日：2022/3/15