发光器件寿命测试方法、系统、终端设备及存储介质与流程

1.本技术属于发光器件检测领域，尤其涉及一种发光器件寿命测试方法、系统、终端设备及存储介质。


背景技术：

2.通常将物体向外发射出可见光的现象称为发光，而发光器件是具有发光功能的器件，发光器件通过内部的空穴与外部输入的电子进行复合，以释放能量进行发光，使得发光器件可高效地将电能转化为光能，在现代社会具有广泛的用途，例如，照明、平板显示和医疗器件等领域中的使用。
3.由于发光器件是一种电子器件，存在着老化及使用寿命等问题，因此，现有的发光器件制造过程中，均需要在产品出厂前进行寿命测试，以保障发光器件的出厂质量，但现有的发光器件寿命测试过程中，均是仅基于发光器件上发光面的亮度衰减值进行寿命的计算，但当发光器件的发光面不均匀时，使得发光器件上不同发光面对应的亮度衰减值不相同，进而导致发光器件寿命测试准确性低下。


技术实现要素：

4.本技术实施例提供了一种发光器件寿命测试方法、系统、终端设备及存储介质，旨在解决现有的发光器件寿命测试过程中，当发光器件上不同发光面对应的亮度衰减值不相同，所导致的发光器件寿命测试准确性低下的问题。
5.第一方面，本技术实施例提供了一种发光器件寿命测试方法，所述方法包括：
6.对待测试发光器件进行寿命测试，所述寿命测试用于获取所述待测试发光器件的起始亮度随测试时间变化的亮度衰减值；
7.若所述亮度衰减值满足预设衰减条件，则判定所述待测试发光器件上发光面处于均匀发光状态，将所述亮度衰减值对应的亮度值设置为所述待测试发光器件的结束亮度，并对所述待测试发光器件进行亮度检测，得到真实亮度；
8.根据所述起始亮度、所述亮度衰减值和所述结束亮度确定器件寿命曲线，并根据所述真实亮度对所述器件寿命曲线进行曲线校准；
9.获取所述待测试发光器件的额定发光亮度，并根据校准后的所述器件寿命曲线对所述额定发光亮度进行寿命计算，得到所述待测试发光器件的寿命。
10.本技术实施例与现有技术相比存在的有益效果是：若亮度衰减值满足预设衰减条件，则判定待测试发光器件上发光面处于均匀发光状态，通过对待测试发光器件进行亮度检测的设计，以获取表征待测试发光器件上发光面对应的真实亮度值，通过根据真实亮度对器件寿命曲线进行曲线校准的设计，以提高器件寿命曲线的准确性，进而提高了对待测试发光器件寿命计算的准确性。
11.进一步地，所述根据所述起始亮度、所述亮度衰减值和所述结束亮度确定器件寿命曲线，包括：
12.获取所述待测试发光器件在不同所述测试时间对应的所述亮度衰减值，并分别计算不同所述亮度衰减值与所述起始亮度之间的乘积，得到不同所述测试时间对应的亮度显示值；
13.以所述测试时间为横坐标，所述亮度显示值为纵坐标确定所述器件寿命曲线。
14.进一步地，所述根据所述真实亮度对所述器件寿命曲线进行曲线校准，包括：
15.计算所述真实亮度与所述结束亮度之间的亮度比值，并分别计算所述亮度比值与不同所述亮度显示值之间的乘积，得到亮度校准值；
16.根据所述亮度校准值对所述器件寿命曲线中对应所述亮度显示值的坐标点进行纵坐标参数值的替换。
17.进一步地，所述根据校准后的所述器件寿命曲线对所述额定发光亮度进行寿命计算，得到所述待测试发光器件的寿命，包括：
18.获取校准后的所述器件寿命曲线中的最大亮度显示值，并获取所述结束亮度在校准前的所述器件寿命曲线中对应的所述测试时间，得到结束时间；
19.根据所述最大亮度显示值、所述结束时间和所述额定发光亮度进行寿命计算，得到所述器件工作寿命。
20.进一步地，根据所述最大亮度显示值、所述结束时间和所述额定发光亮度进行寿命计算所采用的技术公式为：
21.l
0a
*t0＝l
xa
*t
x
22.其中，l0为所述最大亮度显示值，t0为所述结束时间，l
x
为所述额定发光亮度，t
x
为所述器件工作寿命，a为所述待测试发光器件对应的寿命加速因子。
23.进一步地，所述对所述待测试发光器件进行亮度检测，得到真实亮度，包括：
24.根据亮度计对所述待测试发光器件中的指定区域进行亮度检测，得到区域亮度值；
25.计算所述区域亮度值的平均值，并将所述平均值设置为所述真实亮度。
26.进一步地，所述获取所述待测试发光器件的起始亮度和所述起始亮度随测试时间变化的亮度衰减值之后，还包括：
27.若所述亮度衰减值小于或等于衰减阈值，则判定所述亮度衰减值满足预设衰减条件。
28.第二方面，本技术实施例提供了一种发光器件寿命测试系统，包括：
29.寿命测试模块，用于对待测试发光器件进行寿命测试，所述寿命测试用于获取所述待测试发光器件的起始亮度随测试时间变化的亮度衰减值；
30.真实亮度获取模块，用于若所述亮度衰减值满足预设衰减条件，则判定所述待测试发光器件上发光面处于均匀发光状态，将所述亮度衰减值对应的亮度值设置为所述待测试发光器件的结束亮度，并对所述待测试发光器件进行亮度检测，得到真实亮度；
31.寿命曲线确定模块，用于根据所述起始亮度、所述亮度衰减值和所述结束亮度确定器件寿命曲线，并根据所述真实亮度对所述器件寿命曲线进行曲线校准；
32.寿命计算模块，用于获取所述待测试发光器件的额定发光亮度，并根据校准后的所述器件寿命曲线对所述额定发光亮度进行寿命计算，得到所述待测试发光器件的寿命。
33.第三方面，本技术实施例提供了一种终端设备，包括存储器、处理器以及存储在所
述存储器中并可在所述处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现如上述的方法。
34.第四方面，本技术实施例提供了一种存储介质，所述存储介质存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如上述的方法。
35.第五方面，本技术实施例提供了一种计算机程序产品，当计算机程序产品在终端设备上运行时，使得终端设备执行上述第一方面中任一项所述的发光器件寿命测试方法。
36.可以理解的是，上述第二方面至第五方面的有益效果可以参见上述第一方面中的相关描述，在此不再赘述。
附图说明
37.为了更清楚地说明本技术实施例中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍。
38.图1是本技术第一实施例提供的发光器件寿命测试方法的流程图；
39.图2是本技术第二实施例提供的发光器件寿命测试方法的流程图；
40.图3是本技术第三实施例提供的发光器件寿命测试方法的流程图；
41.图4是本技术第四实施例提供的发光器件寿命测试系统的结构示意图；
42.图5是本技术第五实施例提供的终端设备的结构示意图。
具体实施方式
43.以下描述中，为了说明而不是为了限定，提出了诸如特定系统结构、技术之类的具体细节，以便透彻理解本技术实施例。然而，本领域的技术人员应当清楚，在没有这些具体细节的其它实施例中也可以实现本技术。在其它情况中，省略对众所周知的系统、装置、电路以及方法的详细说明，以免不必要的细节妨碍本技术的描述。
44.应当理解，当在本技术说明书和所附权利要求书中使用时，术语“包括”指示所描述特征、整体、步骤、操作、元素和/或组件的存在，但并不排除一个或多个其它特征、整体、步骤、操作、元素、组件和/或其集合的存在或添加。
45.还应当理解，在本技术说明书和所附权利要求书中使用的术语“和/或”是指相关联列出的项中的一个或多个的任何组合以及所有可能组合，并且包括这些组合。
46.如在本技术说明书和所附权利要求书中所使用的那样，术语“如果”可以依据上下文被解释为“当...时”或“一旦”或“响应于确定”或“响应于检测到”。类似地，短语“如果确定”或“如果检测到[所描述条件或事件]”可以依据上下文被解释为意指“一旦确定”或“响应于确定”或“一旦检测到[所描述条件或事件]”或“响应于检测到[所描述条件或事件]”。
[0047]
另外，在本技术说明书和所附权利要求书的描述中，术语“第一”、“第二”、“第三”等仅用于区分描述，而不能理解为指示或暗示相对重要性。
[0048]
在本技术说明书中描述的参考“一个实施例”或“一些实施例”等意味着在本技术的一个或多个实施例中包括结合该实施例描述的特定特征、结构或特点。由此，在本说明书中的不同之处出现的语句“在一个实施例中”、“在一些实施例中”、“在其他一些实施例中”、“在另外一些实施例中”等不是必然都参考相同的实施例，而是意味着“一个或多个但不是所有的实施例”，除非是以其他方式另外特别强调。术语“包括”、“包含”、“具有”及它们的变
形都意味着“包括但不限于”，除非是以其他方式另外特别强调。
[0049]
实施例一
[0050]
请参阅图1，是本技术第一实施例提供的发光器件寿命测试方法的流程图，包括步骤：
[0051]
步骤s10，对待测试发光器件进行寿命测试；
[0052]
其中，该寿命测试用于获取待测试发光器件的起始亮度随测试时间变化的亮度衰减值，该步骤中，可以采用光电二极管的方式进行该待测试发光器件的寿命测试，该光电二极管用于检测待测试发光器件的光信号，将检测到的光信号转换为电信号，并基于该光电二极管输出的电信号随测试时间变化的信号衰减值，以得到该待测试发光器件的起始亮度随测试时间变化的亮度衰减值，例如，当该起始亮度1000nit，该起始亮度随测试时间变化衰减至95nit时，则该测试时间对应的亮度衰减值为95％(t95)。
[0053]
可选的，为了保障该寿命测试的稳定性，可以采用恒定电流的方式对该待测试发光器件进行寿命测试，即通过向待测试发光器件提供恒定电流，以检测该恒定电流下待测试发光器件的起始亮度随测试时间变化的亮度衰减值。
[0054]
该步骤中，恒定电流等于该待测试发光器件上发光面积与预设电流密度之间的乘积，该预设电流密度可以根据需求进行设置，例如，该预设电流密度可以设置为40ma/m2、50ma/m2或60ma/m2等，当该预设电流密度为50ma/m2、待测试发光器件上发光面积为0.04m2时，则对应的恒定电流为2ma。
[0055]
步骤s20，若所述亮度衰减值满足预设衰减条件，则判定所述待测试发光器件上发光面处于均匀发光状态，将所述亮度衰减值对应的亮度值设置为所述待测试发光器件的结束亮度，并对所述待测试发光器件进行亮度检测，得到真实亮度；
[0056]
其中，该预设衰减条件用于判断该待测试发光器件的起始亮度是否衰减至预设亮度状态，该预设衰减条件中的判断条件可以根据需求进行设置，例如，该判断条件可以设置为判断该亮度衰减值是否小于或等于衰减阈值，或判断该亮度衰减值的衰减速率是否大于速率阈值，若亮度衰减值的衰减速率大于速率阈值，则判定该亮度衰减值满足预设衰减条件。
[0057]
具体的，该步骤中，若亮度衰减值满足预设衰减条件，则停止对该待测试发光器件的寿命测试，并将停止测试时的亮度衰减值对应的亮度值设置为待测试发光器件的结束亮度。
[0058]
此外，该步骤中，所述对所述待测试发光器件进行亮度检测，得到真实亮度，包括：
[0059]
根据亮度计对所述待测试发光器件中的指定区域进行亮度检测，得到区域亮度值，并计算所述区域亮度值的平均值，将所述平均值设置为所述真实亮度；
[0060]
其中，发光面不均匀的发光器件均会随着通电时间的增加而逐渐均匀，因此，该步骤中，若亮度衰减值满足预设衰减条件，则判定待测试发光器件上发光面处于均匀发光状态，此时，检测得到的真实亮度值可以表征待测试发光器件上整体发光面对应的亮度值；
[0061]
具体的，针对待测试发光器件可以设置多个不同的指定区域，并通过计算不同指定区域中区域亮度值的平均值，以得到该真实亮度；
[0062]
可选的，在每个指定区域中均设置有至少一个指定检测点，该指定检测点的亮度值用于表征对应指定区域的区域亮度值，具体的，可以通过计算每个指定区域中不同指定
检测点之间亮度值的平均值以得到该区域亮度值。
[0063]
步骤s30，根据所述起始亮度、所述亮度衰减值和所述结束亮度确定器件寿命曲线，并根据所述真实亮度对所述器件寿命曲线进行曲线校准；
[0064]
其中，该器件寿命曲线的横坐标为测试时间，纵坐标为不同测试时间上该起始亮度衰减后的亮度显示值，该亮度显示值等于测试时间上对应亮度衰减值与起始亮度之间的乘积。
[0065]
具体的，当该待检测发光器件的发光面不均匀时，则该器件寿命曲线只能表征该待检测发光器件上被检测发光面的寿命信息，而并不能表征待检测发光器件上整体发光面的寿命信息，因此，通过可以表征待测试发光器件上整体发光面的真实亮度值对所述器件寿命曲线进行曲线校准，以提高器件寿命曲线的准确性，使得校准后的器件寿命曲线能表征待检测发光器件上整体发光面的寿命信息。
[0066]
步骤s40，获取所述待测试发光器件的额定发光亮度，并根据校准后的所述器件寿命曲线对所述额定发光亮度进行寿命计算，得到所述待测试发光器件的寿命；
[0067]
本实施例中，若亮度衰减值满足预设衰减条件，则判定待测试发光器件上发光面处于均匀发光状态，通过对待测试发光器件进行亮度检测的设计，以获取表征待测试发光器件上整体发光面对应的真实亮度值，通过根据真实亮度对器件寿命曲线进行曲线校准的设计，以提高器件寿命曲线的准确性，进而提高了对待测试发光器件寿命计算的准确性。
[0068]
实施例二
[0069]
请参阅图2，是本技术第二实施例提供的发光器件寿命测试方法的流程图，该第二实施例用于对第一实施例中步骤s30进行细化，以细化描述如何根据所述起始亮度、所述亮度衰减值和所述结束亮度确定器件寿命曲线，并根据所述真实亮度对所述器件寿命曲线进行曲线校准的步骤，包括步骤：
[0070]
步骤s31，获取所述待测试发光器件在不同所述测试时间对应的所述亮度衰减值，并分别计算不同所述亮度衰减值与所述起始亮度之间的乘积，得到不同所述测试时间对应的亮度显示值；
[0071]
其中，可以根据预设时间间隔对不同测试时间对应的亮度衰减值进行获取，并分别计算获取到的亮度衰减值与起始亮度之间的乘积，得到对应的亮度显示值；
[0072]
例如，总测试时间为1分钟时，以20秒为预设时间间隔进行该亮度衰减值的获取，以得到测试时间l1(20秒)对应的亮度衰减值a1、测试时间l2(40秒)对应的亮度衰减值a2、测试时间l3(60秒)对应的亮度衰减值a3，并分别计算该亮度衰减值a1、亮度衰减值a2和亮度衰减值a3与起始亮度之间的乘积，得到亮度显示值b1、亮度显示值b2和亮度显示值b3。
[0073]
步骤s32，以所述测试时间为横坐标，所述亮度显示值为纵坐标确定所述器件寿命曲线；
[0074]
其中，根据该测试时间l1、测试时间l2、测试时间l3、亮度显示值b1、亮度显示值b2和亮度显示值b3之间的对应关系，以得到寿命坐标c1(20，b1)、寿命坐标c2(40，b2)和寿命坐标c3(60，b3)，并将该寿命坐标c1、寿命坐标c2和寿命坐标c3进行连接，以得到该器件寿命曲线，该器件寿命曲线的横坐标为测试时间，纵坐标为不同测试时间上该起始亮度衰减后的亮度显示值，该亮度显示值等于测试时间上对应亮度衰减值与起始亮度之间的乘积。
[0075]
步骤s33，计算所述真实亮度与所述结束亮度之间的亮度比值，并分别计算所述亮
度比值与不同所述亮度显示值之间的乘积，得到亮度校准值；
[0076]
其中，该亮度校准值用于对对应的亮度显示值进行数值的校准，该步骤中，通过计算真实亮度与结束亮度之间的亮度比值，以计算待测试发光器件寿命测试过程中的误差比例，并通过分别计算亮度比值与不同亮度显示值之间的乘积，以得到不同测试时间对应亮度显示值的亮度校准值；
[0077]
例如，当计算到的亮度比值为k，则针对亮度显示值b1、亮度显示值b2和亮度显示值b3计算得到的亮度校准值对应为：k b1、k b2和k b3。
[0078]
步骤s34，根据所述亮度校准值对所述器件寿命曲线中对应所述亮度显示值的坐标点进行纵坐标参数值的替换；
[0079]
其中，将计算得到的亮度校准值k b1、亮度校准值k b2和亮度校准值k b3，对该寿命坐标c1(20，b1)、寿命坐标c2(40，b2)和寿命坐标c3(60，b3)中的纵坐标参数值进行替换，得到替换后的寿命坐标c1(20，kb1)、寿命坐标c2(40，kb2)和寿命坐标c3(60，kb3)，使得替换后的寿命坐标c1、寿命坐标c2和寿命坐标c3所形成的曲线为曲线校准后的器件寿命曲线。
[0080]
可选的，本实施例中，还可以计算真实亮度与结束亮度之间的亮度差值，并分别计算该亮度差值与不同亮度显示值之间的和，得到该亮度校准值。
[0081]
本实施例中，通过计算真实亮度与结束亮度之间的亮度比值的设计，以计算待测试发光器件寿命测试过程中的误差比例，通过分别计算亮度比值与不同亮度显示值之间的乘积，以得到不同测试时间对应亮度显示值的亮度校准值，并通过根据亮度校准值对器件寿命曲线中对应亮度显示值的坐标点进行纵坐标参数值的替换的设计，以使根据可以表征待测试发光器件上整体发光面的真实亮度值对器件寿命曲线进行曲线校准，以提高器件寿命曲线的准确性。
[0082]
实施例三
[0083]
请参阅图3，是本技术第三实施例提供的发光器件寿命测试方法的流程图，该第三实施例用于对第一实施例中步骤s40进行细化，以细化描述如何根据校准后的所述器件寿命曲线对所述额定发光亮度进行寿命计算，得到所述待测试发光器件的寿命的步骤，包括步骤：
[0084]
步骤s41，获取校准后的所述器件寿命曲线中的最大亮度显示值，并获取所述结束亮度在校准前的所述器件寿命曲线中对应的所述测试时间，得到结束时间；
[0085]
其中，发光器件的寿命测试的指标包括两个参数：1、测试起始亮度l；2、衰减时间t，测试起始亮度是指在恒流下，开始计算待测试发光器件寿命时的亮度，衰减时间是指在预设起始条件下，待测试发光器件的亮度衰减至预设百分比下测试起始亮度所用的时间，寿命测试中，一般用到100nit和1000nit作为测试起始亮度，t50和t95一般作为衰减时间的参考标准(tn所代表的含义为：器件亮度在衰减至l0的n％时所用的时间t，单位为：h)。
[0086]
具体的，由于待测试发光器件在恒定电流控制下刚开始发光时并不能达到最大显示亮度，因此，该步骤通过获取校准后器件寿命曲线中的最大亮度显示值，并将该最大亮度显示值设置为待测试发光器件的测试起始亮度，进而提高了待测试发光器寿命测试的准确性。
[0087]
步骤s42，根据所述最大亮度显示值、所述结束时间和所述额定发光亮度进行寿命计算，得到所述器件工作寿命；
[0088]
其中，根据所述最大亮度显示值、所述结束时间和所述额定发光亮度进行寿命计算所采用的技术公式为：
[0089]
l
0a
*t0＝l
xa
*t
x
[0090]
其中，l0为所述最大亮度显示值，t0为所述结束时间，l
x
为所述额定发光亮度，t
x
为所述器件工作寿命，a为所述待测试发光器件对应的寿命加速因子。
[0091]
可选的，该额定发光亮度可以根据需求进行设置，例如，该额定发光亮度设置为100nit或1000nit等，且本地预存储有不同器件标识与对应寿命加速因子之间的对应关系，该步骤中，通过获取该测试发光器件的器件标识，以进行对应寿命加速因子的查询。
[0092]
本实施例中，通过获取校准后器件寿命曲线中的最大亮度显示值，并将该最大亮度显示值设置为待测试发光器件的测试起始亮度，进而提高了待测试发光器寿命测试的准确性。
[0093]
实施例四
[0094]
对应于上文实施例所述的发光器件寿命测试方法，图4示出了本技术第四实施例提供的发光器件寿命测试系统100的结构示意图，为了便于说明，仅示出了与本技术实施例相关的部分。
[0095]
参照图4，该系统包括：寿命测试模块10、真实亮度获取模块11、寿命曲线确定模块12和寿命计算模块13，其中：
[0096]
寿命测试模块10，用于对待测试发光器件进行寿命测试，所述寿命测试用于获取所述待测试发光器件的起始亮度随测试时间变化的亮度衰减值。
[0097]
其中，所述寿命测试模块10还用于：若所述亮度衰减值小于或等于衰减阈值，则判定所述亮度衰减值满足预设衰减条件。
[0098]
真实亮度获取模块11，用于若所述亮度衰减值满足预设衰减条件，则判定所述待测试发光器件上发光面处于均匀发光状态，将所述亮度衰减值对应的亮度值设置为所述待测试发光器件的结束亮度，并对所述待测试发光器件进行亮度检测，得到真实亮度。
[0099]
其中，所述真实亮度获取模块11还用于：根据亮度计对所述待测试发光器件中的指定区域进行亮度检测，得到区域亮度值；
[0100]
计算所述区域亮度值的平均值，并将所述平均值设置为所述真实亮度。
[0101]
寿命曲线确定模块12，用于根据所述起始亮度、所述亮度衰减值和所述结束亮度确定器件寿命曲线，并根据所述真实亮度对所述器件寿命曲线进行曲线校准。
[0102]
其中，所述寿命曲线确定模块12还用于：获取所述待测试发光器件在不同所述测试时间对应的所述亮度衰减值，并分别计算不同所述亮度衰减值与所述起始亮度之间的乘积，得到不同所述测试时间对应的亮度显示值；
[0103]
以所述测试时间为横坐标，所述亮度显示值为纵坐标确定所述器件寿命曲线。
[0104]
可选的，所述寿命曲线确定模块12还用于：计算所述真实亮度与所述结束亮度之间的亮度比值，并分别计算所述亮度比值与不同所述亮度显示值之间的乘积，得到亮度校准值；
[0105]
根据所述亮度校准值对所述器件寿命曲线中对应所述亮度显示值的坐标点进行纵坐标参数值的替换。
[0106]
寿命计算模块13，用于获取所述待测试发光器件的额定发光亮度，并根据校准后
的所述器件寿命曲线对所述额定发光亮度进行寿命计算，得到所述待测试发光器件的寿命。
[0107]
其中，所述寿命计算模块13还用于：获取校准后的所述器件寿命曲线中的最大亮度显示值，并获取所述结束亮度在校准前的所述器件寿命曲线中对应的所述测试时间，得到结束时间；
[0108]
根据所述最大亮度显示值、所述结束时间和所述额定发光亮度进行寿命计算，得到所述器件工作寿命。
[0109]
可选的，根据所述最大亮度显示值、所述结束时间和所述额定发光亮度进行寿命计算所采用的技术公式为：
[0110]
l
0a
*t0＝l
xa
*t
x
[0111]
其中，l0为所述最大亮度显示值，t0为所述结束时间，l
x
为所述额定发光亮度，t
x
为所述器件工作寿命，a为所述待测试发光器件对应的寿命加速因子。
[0112]
本实施例中，若亮度衰减值满足预设衰减条件，则判定待测试发光器件上发光面处于均匀发光状态，通过对待测试发光器件进行亮度检测的设计，以获取表征待测试发光器件上发光面对应的真实亮度值，通过根据真实亮度对器件寿命曲线进行曲线校准的设计，以提高器件寿命曲线的准确性，进而提高了对待测试发光器件寿命计算的准确性。
[0113]
需要说明的是，上述装置/模块之间的信息交互、执行过程等内容，由于与本技术方法实施例基于同一构思，其具体功能及带来的技术效果，具体可参见方法实施例部分，此处不再赘述。
[0114]
图5为本技术第五实施例提供的终端设备2的结构示意图。如图5所示，该实施例的终端设备2包括：至少一个处理器20(图5中仅示出一个处理器)、存储器21以及存储在所述存储器21中并可在所述至少一个处理器20上运行的计算机程序22，所述处理器20执行所述计算机程序22时实现上述任意各个方法实施例中的步骤。
[0115]
所述终端设备2可以是桌上型计算机、笔记本、掌上电脑及云端服务器等计算设备。该终端设备可包括，但不仅限于，处理器20、存储器21。本领域技术人员可以理解，图5仅仅是终端设备2的举例，并不构成对终端设备2的限定，可以包括比图示更多或更少的部件，或者组合某些部件，或者不同的部件，例如还可以包括输入输出设备、网络接入设备等。
[0116]
所称处理器20可以是中央处理单元(central processing unit，cpu)，该处理器20还可以是其他通用处理器、数字信号处理器(digital signal processor，dsp)、专用集成电路(application specific integrated circuit，asic)、现场可编程门阵列(field-programmable gate array，fpga)或者其他可编程逻辑器件、分立门或者晶体管逻辑器件、分立硬件组件等。通用处理器可以是微处理器或者该处理器也可以是任何常规的处理器等。
[0117]
所述存储器21在一些实施例中可以是所述终端设备2的内部存储单元，例如终端设备2的硬盘或内存。所述存储器21在另一些实施例中也可以是所述终端设备2的外部存储设备，例如所述终端设备2上配备的插接式硬盘，智能存储卡(smart media card，smc)，安全数字(secure digital，sd)卡，闪存卡(flash card)等。进一步地，所述存储器21还可以既包括所述终端设备2的内部存储单元也包括外部存储设备。所述存储器21用于存储操作系统、应用进程、引导装载程序(bootloader)、数据以及其他程序等，例如所述计算机程序
的程序代码等。所述存储器21还可以用于暂时地存储已经输出或者将要输出的数据。
[0118]
所属领域的技术人员可以清楚地了解到，为了描述的方便和简洁，仅以上述各功能单元、模块的划分进行举例说明，实际应用中，可以根据需要而将上述功能分配由不同的功能单元、模块完成，即将所述装置的内部结构划分成不同的功能单元或模块，以完成以上描述的全部或者部分功能。实施例中的各功能单元、模块可以集成在一个处理单元中，也可以是各个单元单独物理存在，也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中，上述集成的单元既可以采用硬件的形式实现，也可以采用软件功能单元的形式实现。另外，各功能单元、模块的具体名称也只是为了便于相互区分，并不用于限制本技术的保护范围。上述系统中单元、模块的具体工作过程，可以参考前述方法实施例中的对应过程，在此不再赘述。
[0119]
本技术实施例还提供了一种网络设备，该网络设备包括：至少一个处理器、存储器以及存储在所述存储器中并可在所述至少一个处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现上述任意各个方法实施例中的步骤。
[0120]
本技术实施例还提供了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现可实现上述各个方法实施例中的步骤。
[0121]
本技术实施例提供了一种计算机程序产品，当计算机程序产品在移动终端上运行时，使得移动终端执行时实现可实现上述各个方法实施例中的步骤。
[0122]
所述集成的单元如果以软件功能单元的形式实现并作为独立的产品销售或使用时，可以存储在一个计算机可读取存储介质中。基于这样的理解，本技术实现上述实施例方法中的全部或部分流程，可以通过计算机程序来指令相关的硬件来完成，所述的计算机程序可存储于一计算机可读存储介质中，该计算机程序在被处理器执行时，可实现上述各个方法实施例的步骤。其中，所述计算机程序包括计算机程序代码，所述计算机程序代码可以为源代码形式、对象代码形式、可执行文件或某些中间形式等。所述计算机可读介质至少可以包括：能够将计算机程序代码携带到拍照装置/终端设备的任何实体或装置、记录介质、计算机存储器、只读存储器(rom，read-only memory)、随机存取存储器(ram，random access memory)、电载波信号、电信信号以及软件分发介质。例如u盘、移动硬盘、磁碟或者光盘等。在某些司法管辖区，根据立法和专利实践，计算机可读介质不可以是电载波信号和电信信号。
[0123]
在上述实施例中，对各个实施例的描述都各有侧重，某个实施例中没有详述或记载的部分，可以参见其它实施例的相关描述。
[0124]
本领域普通技术人员可以意识到，结合本文中所公开的实施例描述的各示例的单元及算法步骤，能够以电子硬件、或者计算机软件和电子硬件的结合来实现。这些功能究竟以硬件还是软件方式来执行，取决于技术方案的特定应用和设计约束条件。专业技术人员可以对每个特定的应用来使用不同方法来实现所描述的功能，但是这种实现不应认为超出本技术的范围。
[0125]
在本技术所提供的实施例中，应该理解到，所揭露的装置/网络设备和方法，可以通过其它的方式实现。例如，以上所描述的装置/网络设备实施例仅仅是示意性的，例如，所述模块或单元的划分，仅仅为一种逻辑功能划分，实际实现时可以有另外的划分方式，例如多个单元或组件可以结合或者可以集成到另一个系统，或一些特征可以忽略，或不执行。另
一点，所显示或讨论的相互之间的耦合或直接耦合或通讯连接可以是通过一些接口，装置或单元的间接耦合或通讯连接，可以是电性，机械或其它的形式。
[0126]
所述作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的，作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部单元来实现本实施例方案的目的。
[0127]
以上所述实施例仅用以说明本技术的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述实施例对本技术进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本技术各实施例技术方案的精神和范围，均应包含在本技术的保护范围之内。