一种残膜回收机防缠绕挑膜装置的制 一种秧草收获机用电力驱动行走机构

锥体外周密封面检测工具的制作方法

2022-02-24 06:16:58 来源:中国专利 TAG:


1.本实用新型涉及零件轮廓的计量领域,特别是一种锥体外周密封面检测工具。


背景技术:

2.在一些机械密封结构中,会使用锥体类零件与锥孔类零件相配合来实现,因此在锥体类零件的外周面设置密封面,而具体形成可靠密封关系的,是密封面上的密封线,锥体类零件外周密封面上的密封线会与锥孔类零件锥孔壁上的密封线相配合紧贴。因此对于密封线的加工精度要求比较高。由于锥体类零件的外周面的尺寸在不同的高度位上互不相等,想要检测密封线是否满足加工精度的要求时,难以直接将测量工具精准定位到密封线所在的位置,因此难以获得准确的测量结果。


技术实现要素:

3.本实用新型所要达到的目的就是提供一种锥体外周密封面检测工具,可以快速检测、判断密封面上的密封线的加工精度是否满足要求。
4.为了达到上述目的,本实用新型采用如下技术方案:锥体外周密封面检测工具,包括通规和止规,待测锥体外周密封面的密封线到待测锥体的底面的高度为h,通规包括第一检测环和第一支撑脚,第一检测环的内圈设有与待测锥体外周密封面的密封线形状适配的第一基准线,第一支撑脚在第一检测环上至少分布有三个,所有第一支撑脚的底端到第一基准线的距离均为h,止规包括第二检测环和第二支撑脚,第二检测环的内圈设有与待测锥体外周密封面形状适配的第二基准线,第二支撑脚在第二检测环上至少分布有三个,所有第二支撑脚的底端到第二基准线的距离均为h,第一基准线的轮廓大于待测锥体外周密封面的密封线的设计轮廓且两者之间具有第一公差,第二基准线的轮廓小于待测锥体外周密封面的密封线的设计轮廓且两者之间具有第二公差。
5.作为优选的方案,所述待测锥体为圆锥体,待测锥体外周密封面的密封线、第一基准线和第二基准线均为圆形。
6.作为优选的方案,所述待测锥体为棱锥,待测锥体外周密封面的密封线、第一基准线和第二基准线均为多边形。
7.作为优选的方案,所述第一支撑脚的底端面为平面,所有第一支撑脚的底端面均位于第一平面上,第一基准线平行于第一平面。
8.作为优选的方案,所述第二支撑脚的底端面为平面,所有第二支撑脚的底端面均位于第二平面上,第二基准线平行于第二平面。
9.作为优选的方案,所述第一公差与第二公差的数值相等。
10.作为优选的方案,所述第一支撑脚活动连接于第一检测环,使第一支撑脚的底端可相对第一基准线调节高度;或者,所述第一支撑脚为伸缩结构,使第一支撑脚的底端可相对第一基准线调节高度。
11.作为优选的方案,所述第一支撑脚与第一检测环可拆卸连接,第一支撑脚具有多
个型号,不同型号的第一支撑脚的长度尺寸不同。
12.作为优选的方案,所述第二支撑脚活动连接于第二检测环使第二支撑脚的底端可相对第二基准线调节高度;或者,所述第二支撑脚为伸缩结构,使第二支撑脚的底端可相对第二基准线调节高度。
13.作为优选的方案,所述第二支撑脚与第二检测环可拆卸连接,第二支撑脚具有多个型号,不同型号的第二支撑脚的长度尺寸不同。
14.采用上述技术方案后,本实用新型具有如下优点:将待测锥体正置于测量平台上,将通规套在待测锥体上,鉴于待测锥体外周密封面的密封线到待测锥体的底面的高度为h,而所有第一支撑脚的底端到第一基准线的距离也均为h,因此第一基准线会与待测锥体外周密封面的密封线相配合。由于第一基准线的轮廓大于待测锥体外周密封面的密封线的轮廓且两者之间具有第一公差,相当于说第一基准线与待测锥体外周密封面的密封线之间形成了间隙配合,如果所有第一支撑脚的底端都落到测量平台上与测量平台接触,则说明待测锥体外周密封面的密封线的加工精度满足通规要求,如果至少有一个第一支撑脚的底端未落到测量平台上,即第一支撑脚的底端与测量平台之间有间隙,则说明待测锥体外周密封面的密封线的加工精度不满足通规要求,至此通规检测结束。再使用止规对密封线进行测量,将止规套在待测锥体上,由于所有第二支撑脚的底端到第二基准线的距离均为h,同时第二基准线的轮廓小于待测锥体外周密封面的密封线的轮廓且两者之间具有第二公差,相当于第二基准线与与待测锥体外周密封面的密封线之间形成了过盈配合,第二基准线受到密封线的支撑,如果至少有一个第二支撑脚的底端未落到测量平台上,即第二支撑脚的底端与测量平台之间有间隙,则说明待测锥体外周密封面的密封线的加工精度满足止规要求,如果所有第二支撑脚的底端都落到测量平台上与测量平台接触,则说明待测锥体外周密封面的密封线的加工精度不满足止规要求,至此止规检测结束。可见整个检测过程方便快捷,而且可以在检测过程中直接判断待测锥体外周密封面的密封线的加工精度是否满足要求,大大提高检测效率。
附图说明
15.下面结合附图对本实用新型作进一步说明:
16.图1为本实用新型锥体外周密封面检测工具中通规的结构示意图;
17.图2为本实用新型锥体外周密封面检测工具中止规的结构示意图;
18.图3为本实用新型锥体外周密封面检测工具的使用状态图;
19.图4为实施例一中通规的使用状态图;
20.图5为实施例一中止规的使用状态图;
21.图6为实施例二中通规的结构示意图(第一支撑脚通过螺纹与第一检测环连接);
22.图7为实施例二中通规的结构示意图(第一支撑脚为伸缩结构);
23.图8为实施例三中通规的结构示意图;
24.图中,1、通规;10、第一检测环;11、第一支撑脚;12、第一基准线;2、止规;20、第二检测环;21、第二支撑脚;22、第二基准线;3、待测锥体;4、测量平台。
具体实施方式
25.实施例一:
26.本实用新型提供一种锥体外周密封面检测工具,如图1至图5所示,包括通规1和止规2,待测锥体3外周密封面的密封线到待测锥体3的底面的高度为h,通规1包括第一检测环10和第一支撑脚11,第一检测环10的内圈设有与待测锥体3外周密封面的密封线形状适配的第一基准线12,第一支撑脚11在第一检测环10上分布有四个,所有第一支撑脚11的底端到第一基准线12的距离均为h,止规2包括第二检测环20和第二支撑脚21,第二检测环20的内圈设有与待测锥体3外周密封面形状适配的第二基准线22,第二支撑脚21在第二检测环20上分布有四个,所有第二支撑脚21的底端到第二基准线22的距离均为h,第一基准线12的轮廓大于待测锥体3外周密封面的密封线的设计轮廓且两者之间具有第一公差,第二基准线22的轮廓小于待测锥体3外周密封面的密封线的设计轮廓且两者之间具有第二公差。
27.在检测过程中,可以先使用通规1对待测锥体3外周密封面的密封线进行测量,将待测锥体3正置于测量平台4上,将通规1套在待测锥体上,鉴于待测锥体3外周密封面的密封线到待测锥体3的底面的高度为h,而所有第一支撑脚11的底端到第一基准线12的距离也均为h,因此第一基准线12会与待测锥体3外周密封面的密封线相配合。由于第一基准线12的轮廓大于待测锥体3外周密封面的密封线的设计轮廓且两者之间具有第一公差,相当于说第一基准线12与待测锥体3外周密封面的密封线之间形成了间隙配合,如图4,所有第一支撑脚11的底端都落到测量平台4上与测量平台4接触,则说明待测锥体3外周密封面的密封线的加工精度满足通规1要求,如果至少有一个第一支撑脚11的底端未落到测量平台4上,即第一支撑脚11的底端与测量平台4之间有间隙,则说明待测锥体3外周密封面的密封线的加工精度不满足通规1要求,至此通规1检测结束。再使用止规2对密封线进行测量,将止规2套在待测锥体3上,由于所有第二支撑脚21的底端到第二基准线22的距离均为h,同时第二基准线22的轮廓小于待测锥体3外周密封面的密封线的设计轮廓且两者之间具有第二公差,相当于第二基准线22与待测锥体3外周密封面的密封线之间形成了过盈配合,第二基准线22受到密封线的支撑,如图5,有一个第二支撑脚21的底端未落到测量平台4上,即第二支撑脚21的底端与测量平台4之间有间隙,则说明待测锥体3外周密封面的密封线的加工精度满足止规2要求,如果所有第二支撑脚21的底端都落到测量平台4上与测量平台4接触,则说明待测锥体3外周密封面的密封线的加工精度不满足止规2要求,至此止规2检测结束。可见整个检测过程方便快捷,而且可以在检测过程中直接判断待测锥体3外周密封面的密封线的加工精度是否满足要求,大大提高检测效率,例如特别适用于滚筒洗衣机的机门上的窗玻璃。上述待测锥体外周密封面的密封线的设计轮廓,是通过待测锥体外周密封面的密封线的设计图纸来确定的,与之相对的是实际轮廓,而需要检测的就是实际轮廓。
28.第一公差为第一检测环10的第一基准线12到待测锥体3外周密封面的密封线之间的尺寸差值范围,第二公差为第二检测环20的第二基准线22到待测锥体3外周密封面的密封线的尺寸差值范围。
29.可以理解的,先使用止规2对待测锥体3外周密封面的密封线进行测量也是可行的。
30.可以理解的,第一支撑脚11在第一检测环10上分布有三个、五个等合理的个数。
31.同样的道理,第二支撑脚21在第二检测环20上分布有三个、五个等合理的个数。
32.本实用新型可以适用于各种锥体类零件的检测,例如待测锥体3为圆锥体,待测锥体3外周密封面的密封线、第一基准线12和第二基准线22均为圆形。又例如待测锥体3为棱锥,待测锥体3外周密封面的密封线、第一基准线12和第二基准线22均为多边形。棱锥可以是正棱锥,例如方锥,也可以是底面不等边的其它棱锥。本实用新型所说的锥体,也包括了圆台、锥台等类似结构。
33.第一支撑脚11的底端可以是尖端结构,也可以是面结构,例如本实施例中的第一支撑脚11的底端面为平面,所有第一支撑脚11的底端面均位于第一平面上,第一基准线12平行于第一平面。第一支撑脚11的底端面采用平面结构,不仅整体耐磨性较好,长期使用后仍然具有较好的检测基准,而且可以增加第一支撑脚11与测量平台4的接触稳定性。第一支撑脚11的底端面也可以采用弧面或球面等类型的面结构。
34.同样的道理,本实施例中的第二支撑脚21的底端面为平面,所有第二支撑脚21的底端面均位于第二平面上,第二基准线22平行于第二平面。具体效果可以参考上述第一支撑脚11。
35.在一个实施例中,可以选择第一公差与第二公差的数值相等。而在另一个实施例中,第一公差与第二公差的数值也可以不相等。
36.实施例二:
37.第一支撑脚11可以固定在第一检测环10上,保证长期使用的精准,而为了让通规1能够适用于不同尺寸的锥体类零件,第一支撑脚11也可以活动连接于第一检测环10,使第一支撑脚11的底端可相对第一基准线12调节高度,例如,如图6所示,第一支撑脚11通过螺纹与第一检测环10连接,旋转第一支撑脚11即可调节第一支撑脚11的底端到第一基准线12的高度。
38.又或者,如图7所示,可以将第一支撑脚11设计为伸缩结构,使第一支撑脚11的底端可相对第一基准线12调节高度。
39.同样的道理,第二支撑脚21可以固定在第二检测环20上,保证长期使用的精准,而为了让止规2能够适用于不同尺寸的锥体类零件,第二支撑脚21也可以活动连接于第二检测环20使第二支撑脚21的底端可相对第二基准线22调节高度,例如,第一支撑脚11通过螺纹与第一检测环10连接,旋转第一支撑脚11即可调节第一支撑脚11的底端到第一基准线12的高度
40.又或者,可以将第二支撑脚21设计为伸缩结构,使第二支撑脚21的底端可相对第二基准线22调节高度。
41.本实施例未描述的内容可以参考实施例一。
42.实施例三:
43.为了让通规1能够适用于不同尺寸的锥体类零件,除了将第一支撑脚11活动连接于第一检测环10或设计成伸缩结构,也可以选择第一支撑脚11与第一检测环10可拆卸连接,如图8,第一支撑脚11具有多个型号,不同型号的第一支撑脚11的长度尺寸不同。工人可以实际需要来更换不同型号的第一支撑脚11。
44.同样的道理,为了让止规2能够适用于不同尺寸的锥体类零件,除了将第二支撑脚21活动连接于第二检测环20或设计成伸缩结构,也可以选择第二支撑脚21与第二检测环20可拆卸连接,第二支撑脚21具有多个型号,不同型号的第二支撑脚21的长度尺寸不同。工人
可以实际需要来更换不同型号的第二支撑脚21。
45.本实施例未描述的内容可以参考上述实施例。
46.除上述优选实施例外,本实用新型还有其他的实施方式,本领域技术人员可以根据本实用新型作出各种改变和变形,只要不脱离本实用新型的精神,均应属于本实用新型权利要求书中所定义的范围。
再多了解一些

本文用于企业家、创业者技术爱好者查询,结果仅供参考。

发表评论 共有条评论
用户名: 密码:
验证码: 匿名发表

相关文献