锥体外周密封面检测工具的制作方法

技术特征：
1.锥体外周密封面检测工具，包括通规和止规，待测锥体外周密封面的密封线到待测锥体的底面的高度为h，其特征在于，所述通规包括第一检测环和第一支撑脚，第一检测环的内圈设有与待测锥体外周密封面的密封线形状适配的第一基准线，第一支撑脚在第一检测环上至少分布有三个，所有第一支撑脚的底端到第一基准线的距离均为h，止规包括第二检测环和第二支撑脚，第二检测环的内圈设有与待测锥体外周密封面形状适配的第二基准线，第二支撑脚在第二检测环上至少分布有三个，所有第二支撑脚的底端到第二基准线的距离均为h，第一基准线的轮廓大于待测锥体外周密封面的密封线的设计轮廓且两者之间具有第一公差，第二基准线的轮廓小于待测锥体外周密封面的密封线的设计轮廓且两者之间具有第二公差。2.根据权利要求1所述的锥体外周密封面检测工具，其特征在于，所述待测锥体为圆锥体，待测锥体外周密封面的密封线、第一基准线和第二基准线均为圆形。3.根据权利要求1所述的锥体外周密封面检测工具，其特征在于，所述待测锥体为棱锥，待测锥体外周密封面的密封线、第一基准线和第二基准线均为多边形。4.根据权利要求1所述的锥体外周密封面检测工具，其特征在于，所述第一支撑脚的底端面为平面，所有第一支撑脚的底端面均位于第一平面上，第一基准线平行于第一平面。5.根据权利要求1所述的锥体外周密封面检测工具，其特征在于，所述第二支撑脚的底端面为平面，所有第二支撑脚的底端面均位于第二平面上，第二基准线平行于第二平面。6.根据权利要求1所述的锥体外周密封面检测工具，其特征在于，所述第一公差与第二公差的数值相等。7.根据权利要求1所述的锥体外周密封面检测工具，其特征在于，所述第一支撑脚活动连接于第一检测环，使第一支撑脚的底端可相对第一基准线调节高度；或者，所述第一支撑脚为伸缩结构，使第一支撑脚的底端可相对第一基准线调节高度。8.根据权利要求1所述的锥体外周密封面检测工具，其特征在于，所述第一支撑脚与第一检测环可拆卸连接，第一支撑脚具有多个型号，不同型号的第一支撑脚的长度尺寸不同。9.根据权利要求1所述的锥体外周密封面检测工具，其特征在于，所述第二支撑脚活动连接于第二检测环使第二支撑脚的底端可相对第二基准线调节高度；或者，所述第二支撑脚为伸缩结构，使第二支撑脚的底端可相对第二基准线调节高度。10.根据权利要求1所述的锥体外周密封面检测工具，其特征在于，所述第二支撑脚与第二检测环可拆卸连接，第二支撑脚具有多个型号，不同型号的第二支撑脚的长度尺寸不同。

技术总结
本实用新型公开了一种锥体外周密封面检测工具，属于零件轮廓的计量领域，解决了现有技术中难以将测量工具精准定位到密封线所在的位置获得准确测量结果的问题，解决该问题的技术方案主要是通规包括第一检测环和第一支撑脚，第一检测环的内圈设有与待测锥体外周密封面的密封线形状适配的第一基准线，第一支撑脚在第一检测环上至少分布有三个，止规包括第二检测环和第二支撑脚，第二检测环的内圈设有与待测锥体外周密封面形状适配的第二基准线，第二支撑脚在第二检测环上至少分布有三个。本实用新型主要用于可以快速检测、判断密封面上的密封线的加工精度是否满足要求。的密封线的加工精度是否满足要求。的密封线的加工精度是否满足要求。


技术研发人员：李战军 郑荣良 吴志钢
受保护的技术使用者：杭州松下家用电器有限公司
技术研发日：2022.01.17
技术公布日：2022/2/22