一种残膜回收机防缠绕挑膜装置的制 一种秧草收获机用电力驱动行走机构

基于图中图卷积网络的高光谱图像分类方法与流程

2022-02-22 18:55:44 来源:中国专利 TAG:

技术特征:
1.一种基于图中图卷积网络的高光谱图像分类方法,其特征在于,所述方法包括:获取目标光谱图像,将所述目标光谱图像分割成若干超像素块;确定若干所述超像素块分别对应的局部结构图和所述目标光谱图像对应的全局结构图;根据所述若干所述局部结构图和所述全局结构图,确定所述目标光谱图像对应的目标图像类别。2.根据权利要求1所述的基于图中图卷积网络的高光谱图像分类方法,其特征在于,所述将所述目标光谱图像分割成若干超像素块,包括:将所述目标光谱图像输入超像素分割算法,得到若干所述超像素块,其中,每一所述超像素块对应一个同质区域。3.根据权利要求1所述的基于图中图卷积网络的高光谱图像分类方法,其特征在于,将每一所述超像素块作为一个目标超像素块,所述局部结构图的确定过程,包括:将所述目标超像素块中的每一像素点作为一个第一节点,得到第一节点矩阵;根据全部所述第一节点之间的邻接关系,得到第一邻接矩阵;根据所述第一节点矩阵和所述第一邻接矩阵,生成所述目标超像素块对应的所述局部结构图。4.根据权利要求1所述的基于图中图卷积网络的高光谱图像分类方法,其特征在于,所述全局结构图的确定过程,包括:将每一所述超像素块作为一个第二节点,得到第二节点矩阵;根据全部所述第二节点之间的邻接关系,得到第二邻接矩阵;根据所述第二节点矩阵和所述第二邻接矩阵,生成所述全局结构图。5.根据权利要求1所述的基于图中图卷积网络的高光谱图像分类方法,其特征在于,所述根据所述若干所述局部结构图和所述全局结构图,确定所述目标光谱图像对应的目标图像类别,包括:将若干所述局部结构图嵌入所述全局结构图,得到目标结构图;根据所述目标结构图,确定所述目标图像类别。6.根据权利要求5所述的基于图中图卷积网络的高光谱图像分类方法,其特征在于,所述将若干所述局部结构图嵌入所述全局结构图,得到目标结构图,包括:根据每一所述局部结构图对应的所述超像素块,确定每一所述局部结构图在所述全局结构图中对应的嵌入位置;根据每一所述局部结构图对应的嵌入位置,将每一所述局部结构图嵌入所述全局结构图,得到所述目标结构图。7.根据权利要求5所述的基于图中图卷积网络的高光谱图像分类方法,其特征在于,所述根据所述目标结构图,确定所述目标图像类别,包括:将所述目标结构图输入图像分类模型,得到所述目标图像类别,其中,所述图像分类模型包括第一卷积模块、第二卷积模块、融合模块以及分类模块;所述第一卷积模块,用于根据若干所述局部结构图进行特征提取,得到若干所述超像素块分别对应的第一特征向量,根据全部所述第一特征向量确定第一特征矩阵;所述第二卷积模块,用于根据所述第一特征矩阵和所述全局结构图进行特征提取,得
到若干所述超像素块分别对应的第二特征向量;所述融合模块,用于将每一所述超像素块对应的所述第一特征向量和所述第二特征向量进行融合,得到每一所述超像素块对应的融合特征向量;所述分类模块,用于根据每一所述超像素块对应的融合特征向量,生成概率分布信息,根据所述概率分布信息确定所述目标图像类别。8.根据权利要求7所述的基于图中图卷积网络的高光谱图像分类方法,其特征在于,所述目标结构图包括若干目标结构图,若干所述目标结构图分别对应不同的超参数,所述图像分类模型包括若干图像分类模型,若干所述图像分类模型分别对应不同的所述超参数,所述超参数用于反映单位超像素块的像素点数量,所述将所述目标结构图输入图像分类模型,得到所述目标图像类别,包括:将若干所述目标结构图一一对应地输入若干所述图像分类模型,得到若干分类结果,其中,具有对应关系的一对所述目标结构图与所述图像分类模型对应于相同的所述超参数;根据若干所述分类结果,确定所述目标图像类别,其中,所述目标图像类别为若干所述分类结果中得票数最多的图像类别。9.一种基于图中图卷积网络的高光谱图像分类装置,其特征在于,所述装置包括:图像分割模块,用于获取目标光谱图像,将所述目标光谱图像分割成若干超像素块;结构确定模块,用于确定若干所述超像素块分别对应的局部结构图和所述目标光谱图像对应的全局结构图;图像分类模块,用于根据所述若干所述局部结构图和所述全局结构图,确定所述目标光谱图像对应的目标图像类别。10.一种计算机可读存储介质,其上存储有多条指令,其特征在于,所述指令适用于由处理器加载并执行,以实现上述权利要求1-8任一所述的基于图中图卷积网络的高光谱图像分类方法的步骤。

技术总结
本发明公开了基于图中图卷积网络的高光谱图像分类方法,所述方法包括:获取目标光谱图像,将所述目标光谱图像分割成若干超像素块;确定若干所述超像素块分别对应的局部结构图和所述目标光谱图像对应的全局结构图;根据所述若干所述局部结构图和所述全局结构图,确定所述目标光谱图像对应的目标图像类别。本发明通过确定每一超像素块的局部结构图保留了超像素内极优的同质信息,并将其与目标光谱图像的全局结构图一起综合判定目标光谱图像的图像类别,提高了分类的准确性。解决了现有的基于图卷积的目标光谱图像分类方法在表征超像素时,采用超像素块内的均值或最大值统计变量,严重地忽略了超像素内极优的同质信息,导致分类结果不准确的问题。致分类结果不准确的问题。致分类结果不准确的问题。


技术研发人员:贾森 江树国 邓琳
受保护的技术使用者:深圳大学
技术研发日:2021.12.10
技术公布日:2022/2/8
再多了解一些

本文用于企业家、创业者技术爱好者查询,结果仅供参考。

发表评论 共有条评论
用户名: 密码:
验证码: 匿名发表

相关文献