一种实验室检测设备精度控制的控制限的设定方法及装置与流程

技术特征：
1.一种实验室检测设备精度控制的控制限的设定方法，其特征在于，包括：获取历史n组同一控制方法对应的测量数据偏差值，n为正整数，所述控制方法用于判断检测设备的稳定性和精度；基于所述测量数据偏差值，确定所述测量数据偏差值中存在测量波动原因不明的数据的概率水平；基于所述测量数据偏差值，确定所述测量数据偏差值的标准偏差；基于所述概率水平和所述标准偏差，确定试验的控制限。2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于所述试验数据偏差值，确定所述测量数据偏差值中存在测量波动原因不明的数据的概率水平，包括：基于所述试验数据偏差值，确定存在测量波动原因不明的数据的第一数量，以及存在测量波动原因明确的数据的第二数量；基于所述第一数量和所述第二数量，确定存在测量波动原因不明的数据的概率；至少基于所述概率，确定所述测量数据偏差值中存在测量波动原因不明的数据的概率水平。3.如权利要求2所述的方法，其特征在于，所述至少基于所述概率，确定所述测量数据偏差值中存在测量波动原因不明的数据的概率水平，包括：基于所述概率，按照如下公式一，确定所述测量数据偏差值中存在测量波动原因不明的数据的概率水平：其中，k为所述概率水平，p为常数，α为所述概率。4.如权利要求2所述的方法，其特征在于，所述至少基于所述概率，确定所述测量数据偏差值中存在测量波动原因不明的数据的概率水平，包括：确定所述历史n组同一控制方法的测量数据偏差值的不确定因素；基于所述概率和所述不确定因素，确定所述测量数据偏差值中存在测量波动原因不明的数据的概率水平。5.如权利要求1所述的方法，其特征在于，基于所述测量数据偏差值，确定所述测量数据偏差值的标准偏差，包括：基于所述测量数据偏差值，按照如下公式二，确定所述测量数据偏差值的标准偏差：其中，s为所述标准偏差，x
i
为每组测量数据偏差值，为所述历史n组同一控制方法对应的测量数据偏差值的平均值。6.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于所述概率水平和所述标准偏差，确定试验的控制限，包括：基于所述概率水平和所述标准偏差，按照如下公式三，确定试验的控制限：d＝k
×
s
其中，d为所述控制限，k为所述概率水平，s为所述标准偏差。7.如权利要求1～6中任一所述的方法，其特征在于，所述控制方法，包括：对同一试样进行的多次重复检测的第一控制方法、采用标准物质或者参考样本对检测设备进行检测的第二控制方法、采用不同方法对同一试样进行检测的第三控制方法。8.一种实验室检测设备精度控制的控制限的设定装置，其特征在于，包括：获取模块，用于获取历史n组同一控制方法对应的测量数据偏差值，n为正整数，所述控制方法用于判断检测设备的稳定性和精度；第一确定模块，用于基于所述试验数据偏差值，确定所述测量数据偏差值中存在测量波动原因不明的数据的概率水平；第二确定模块，用于基于所述测量数据偏差值，确定所述测量数据偏差值的标准偏差；第三确定模块，用于基于所述概率水平和所述标准偏差，确定试验的控制限。9.一种计算机设备，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述程序时实现如权利要求1-7中任一权利要求所述的方法步骤。10.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，该程序被处理器执行时实现如权利要求1-7中任一权利要求所述的方法步骤。

技术总结
本发明涉及检测设备技术领域，尤其涉及一种实验室检测设备精度控制的控制限的设定方法及装置，该方法包括：获取历史N组同一控制方法对应的测量数据偏差值，N为正整数；至少基于试验数据偏差值，确定测量数据偏差值中存在测量波动原因不明的数据的概率水平，基于该测量数据偏差值，确定测量数据偏差值的标准偏差；基于概率水平和标准偏差，确定试验的控制限，通过统计学的方式，准确获得控制限，提高实验室质量控制的管理效率。室质量控制的管理效率。室质量控制的管理效率。


技术研发人员：向前 甄瑞斌 古兵平
受保护的技术使用者：武汉钢铁有限公司
技术研发日：2021.09.29
技术公布日：2022/1/28