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高盐样品基体效应校正方法及应用与流程

2022-02-21 03:46:45 来源:中国专利 TAG:

技术特征:
1.一种高盐样品基体效应校正方法,其特征在于包括以下步骤:(1)在包含高盐基体的样品中加入氢化物,通过氢化物反应除去样品中的汞、砷、硒和锑元素,得到第一基体溶液;(2)在第一基体溶液中加入填料,通过填料螯合将第一基体溶液中的其它金属离子除去,得到第二基体溶液;(3)使用第二基体溶液定标曲线,使曲线溶液的基体与样品溶液一致,即完成基体校正。2.根据权利要求1所述的高盐样品基体效应校正方法,其特征在于:步骤(1)中所述氢化物为盐酸 硼氢化钾、硝酸 硼氢化钠和硫酸 硼氢化钾中的任意一种。3.根据权利要求2所述的高盐样品基体效应校正方法,其特征在于:所述盐酸、硝酸或硫酸的浓度为1%~10%。4.根据权利要求3所述的高盐样品基体效应校正方法,其特征在于:所述硼氢化钾或硼氢化钠的浓度为1mmol/l~1mol/l。5.根据权利要求1-4任意一项所述的高盐样品基体效应校正方法,其特征在于:步骤(2)中所述填料是由两种填料混合,分别是:ps-dvb基质的小球上嫁接乙二胺三乙酸和ps-dvb基质的小球上嫁接亚氨基双乙酸。6.根据权利要求5所述的高盐样品基体效应校正方法,其特征在于:所述两种填料的混合比例为ps-dvb基质的小球上嫁接乙二胺三乙酸:ps-dvb基质的小球上嫁接亚氨基双乙酸=1:1-100。7.根据权利要求6所述的高盐样品基体效应校正方法,其特征在于:步骤(2)中所述的总填料的加入量为1l样品溶液中加入0.5g~5g。8.一种基于如权利要求7所述的校正方法的icp-ms基体匹配分析法,包括:采用所述的高盐样品基体效应校正方法制备出待测样品所需基体匹配溶液后定标曲线,采用icp-ms多元素全扫模式依次测试标准曲线和样品。

技术总结
本发明涉及一种高盐样品基体效应校正方法,含步骤:(1)在包含高盐基体的样品中加入氢化物,通过氢化物反应除去样品中的汞、砷、硒和锑元素,得到第一基体溶液;(2)在第一基体溶液中加入填料,通过填料螯合将第一基体溶液中的其它金属离子除去,得到第二基体溶液;(3)使用第二基体溶液定标曲线,使曲线溶液的基体与样品溶液一致。氢化物为盐酸 硼氢化钾、硝酸 硼氢化钠、硫酸 硼氢化钾中的任意一种;填料为PS-DVB基质的小球上嫁接乙二胺三乙酸和PS-DVB基质的小球上嫁接亚氨基双乙酸,混合比例为1%~50%。本发明避免了基体效应干扰的缺陷,保证了高盐样品检测过程中标准曲线和待测样品基体的一致性,最大程度的减少基体效应干扰。扰。


技术研发人员:黄伟雄 胡曙光 黄振波 苏祖俭 范建彬 蔡文华 陈明 邢海涛 许权辉
受保护的技术使用者:广州谱临晟科技有限公司
技术研发日:2021.08.23
技术公布日:2022/1/21
再多了解一些

本文用于企业家、创业者技术爱好者查询,结果仅供参考。

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