用于电荷耦合元件检测机的检测水准检验装置及检验方法与流程

技术特征：
1.一种用于电荷耦合元件检测机的检测水准检验装置，其能设于一电荷耦合元件检测机上，该电荷耦合元件检测机包含多个电荷耦合元件及一光源；其特征在于，该用于电荷耦合元件检测机的检测水准检验装置包含：一架设组件，其能设于该电荷耦合元件检测机；一驱动装置，其固设于该架设组件，且包含：一转动轴，其平行于任一该电荷耦合元件与该光源的连线；一转盘，其设于该转动轴上，且能随着该转动轴转动，并且能位于其中一该电荷耦合元件与该光源之间；该转盘为不透光材质，且包含：至少一针孔，该针孔能通过该转盘随着该转动轴转动而移动至该其中一电荷耦合元件与该光源的连线上。2.一种用于电荷耦合元件检测机的检测水准检验装置，其能设于一电荷耦合元件检测机上，该电荷耦合元件检测机包含多个电荷耦合元件及一光源；其特征在于，该用于电荷耦合元件检测机的检测水准检验装置包含：一架设组件，其能设于该电荷耦合元件检测机；一驱动装置，其固设于该架设组件，且包含：一转动轴，其平行于任一该电荷耦合元件与该光源的连线；一转盘，其设于该转动轴上，且能随着该转动轴转动，并且能位于其中一该电荷耦合元件与该光源之间；该转盘为不透光材质，且包含：至少一安装孔，该安装孔能通过该转盘随着该转动轴转动而移动至该其中一电荷耦合元件与该光源的连线上；至少一样片，该样片能分离地设于该安装孔内；各该样片为不透光材质，且包含一针孔。3.如权利要求2所述的用于电荷耦合元件检测机的检测水准检验装置，其特征在于，该样片的数量为一；该安装孔的数量为一；该样片能分离地设于该安装孔内。4.如权利要求2所述的用于电荷耦合元件检测机的检测水准检验装置，其特征在于，该样片的数量为多个，各该样片的该针孔的孔径不相同；该安装孔的数量为一；该安装孔内安装有任一所述样片。5.如权利要求2所述的用于电荷耦合元件检测机的检测水准检验装置，其特征在于，该样片的数量为多个；该安装孔的数量为多个，且所述安装孔的数量等于所述样片的数量；各所述样片分别能分离地设于各所述安装孔内。6.如权利要求2所述的用于电荷耦合元件检测机的检测水准检验装置，其特征在于，该安装孔的数量大于该样片的数量；该转盘进一步包含：至少一遮光片，该遮光片不透光；该遮光片的数量与该样片的数量的总和等于该安装孔的数量；该遮光片与该样片分别能分离地设于该安装孔内。7.如权利要求2至6中任一项所述的用于电荷耦合元件检测机的检测水准检验装置，其特征在于，该电荷耦合元件检测机的检测水准检验装置进一步包含：
一遮光板，其固设于该架设组件，且能位于该转盘与该光源之间；该遮光板为不透光材质且包含一透光孔；该样片的该针孔能通过该转盘转动而通过该其中一电荷耦合元件与该透光孔的连线上。8.如权利要求2至6中任一项所述的用于电荷耦合元件检测机的检测水准检验装置，其特征在于，该架设组件进一步包含：一滑轨，其能设于该电荷耦合元件检测机；一座体，该驱动装置固设于该座体；一滚轮组件，其设于该座体，且连接于该滑轨；该座体通过该滚轮组件能移动的设于该滑轨上。9.一种电荷耦合元件检测机的检测水准检验方法，其特征在于，该检验方法包括，将一如权利要求1所述的用于电荷耦合元件检测机的检测水准检验装置设于一电荷耦合元件检测机上，并使转盘位于该电荷耦合元件检测机的一电荷耦合元件及一光源之间；启动该电荷耦合元件检测机，并启动该用于电荷耦合元件检测机的检测水准检验装置的该驱动装置，并且使该转盘旋转多圈；停止该驱动装置，并且判断该转盘转动的圈数乘以该转盘的该针孔的数量，是否与该电荷耦合元件检测机所检测出的针孔数量相同。10.一种电荷耦合元件检测机的检测水准检验方法，其特征在于，该检验方法包括，将一如权利要求2至8中任一项所述的用于电荷耦合元件检测机的检测水准检验装置设于一电荷耦合元件检测机上，并使转盘位于该电荷耦合元件检测机的一电荷耦合元件及一光源之间；将该样片设于该安装孔内；启动该电荷耦合元件检测机，并启动该用于电荷耦合元件检测机的检测水准检验装置的该驱动装置，并且使该转盘旋转多圈；停止该驱动装置，并且判断该转盘转动的圈数乘以该转盘上的该针孔的数量，是否与该电荷耦合元件检测机所检测出的针孔数量相同。

技术总结
本发明是关于用于电荷耦合元件检测机的检测水准检验装置及检验方法，其中用于电荷耦合元件检测机的检测水准检验装置包含一架设组件、一驱动装置及一转盘；驱动装置通过架设组件固设于电荷耦合元件检测机上，且包含一转动轴；转盘设于转动轴上，并且位于电荷耦合元件与光源之间；转盘为不透光材质且包含一针孔。借此，当驱动装置的转动轴带动转盘转动时，针孔能通过转盘转动而移动至电荷耦合元件与光源的连线上，于是电荷耦合元件能通过针孔感应到光线。针孔的数量乘以转盘转动的圈数，即为通过的针孔总量，借此本发明能提供精确的针孔数量作为判断的标准，故能精确的检验电荷耦合元件检测机的检测水准。合元件检测机的检测水准。合元件检测机的检测水准。


技术研发人员：李志雄
受保护的技术使用者：捷将科技有限公司
技术研发日：2020.07.17
技术公布日：2022/1/17