一种分光检测装置、分光机和检测校正方法与流程

1.本技术涉及led封装设备技术领域，尤其是涉及一种分光检测装置、分光机和检测校正方法。


背景技术：

2.分光机是发光二极管（简称led）测试分类机的俗称。分光机通常用于led封装后期，分光机在生产线上快速测试led的正向电流、电压、发光强度（或光通量）、色品坐标、色温、色纯度、主波长等参数，并按所测到的参数对led进行分类（bin）。
3.相关技术中，分光机包括有上料装置、检测装置和分料装置，上料装置依次向检测装置传送led，检测装置对led进行电性参数和光学参数检测，并根据所检测的光电参数对被测led进行分类，分料装置根据检测装置的分类结果将被测led进行分类归纳收集。分光机在进行批量化检测分类前需要进行检测校正，检测校正方法为：首先将标准led灯珠在标准分光机检测，标准分光机所测的参数为标准参数，将标准分光机所测的标准参数输入生产线上的分光机，生产线上的分光机将该标准参数作为标准值；然后，将标准led灯珠在生产线上的分光机上进行检测，分光机将检测获得的检测值与标准值进行比较，若比较结果在误差允许范围内，则分光机的检测装置适用于批量化检测生产，若比较结果在误差允许范围外，则需要对分光机的检测装置进行测试条件调整，直至分光机对标准led灯珠的检测比较结果达到误差允许范围内再进行批量化检测生产；最后，在批量化检测生产过程中还需要定时进行标准led灯珠的复测，以检查长期高速分光检测工作后分光机检测装置的检测精度是否符合标准。
4.针对上述中的相关技术，发明人认为在进行标准led灯珠定时复测时，需要在先批量化检测生产检测完成后，在后批量化检测生产还未开始前，由上料装置开始将标准led灯珠放入生产线上的分光机以复测，在标准led灯珠复测完成之前，在后批量化检测生产的led无法进行在线上料，这将使得批量化检测生产过程出现间断，生产连续性低，降低分光分料效率。


技术实现要素：

5.为了改善标准led灯珠复测时的生产间断问题，本技术提供一种分光检测装置、分光机和检测校正方法。
6.第一方面，本技术提供一种分光检测装置，采用如下的技术方案：一种分光检测装置，包括机台、设于机台上的检测转盘、设于机台上驱动检测转盘转动的检测驱动装置、设于机台上用于led灯珠参数检测的检测组件，所述led灯珠包括待测led灯珠和标准led灯珠，所述检测转盘上设有用于放置待测led灯珠的置料位，所述检测转盘上设有用于放置标准led灯珠的校正位。
7.通过采用上述技术方案，分光检测装置上分别设置了待测led灯珠的置料位和标准led灯珠的校正位，待测led灯珠的放置流转和标准led灯珠的放置安装之间互不干涉，在
需要进行标准led灯珠复测时，在先的置料位的待测led灯珠检测完后，只要控制检测转盘使其校正位与检测组件的检测位置对应，即可进行标准led灯珠的复测，复测完成后，再控制检测转盘将在后的置料位的待测led灯珠与检测组件的检测位置对应，即可立即进行在后的批量化检测生产。在检测转盘上实现复测工序的直接切入，实现标准led灯珠的在线复测，在需要复测时，在先待测led灯珠和在后待测led灯珠之间的流转间断性低，提高了待测led灯珠的批量化检测生产的连续性，改善了标准led灯珠复测时的生产间断问题。而且通过所述分光检测装置实时在线复测、校正的检测方式简化了工作人员对于分光机的安装校正调试等人工操作工序，提高校正检测的效率，降低工作人员的工作强度。
8.可选的，所述置料位为开设于检测转盘的圆周边的第一槽口，所述置料位为多个，各置料位沿检测转盘的圆周方向等间距均匀排布；所述校正位为开设于检测转盘的圆周边的第二槽口，所述校正位位于相邻的置料位之间；所述机台上位于检测转盘的下方设有检测位，检测位上设有检测连接孔口；所述检测组件包括检测探针组件和光学检测组件，检测探针组件可升降的安装于检测连接孔口内，所述光学检测组件安装于检测连接孔口的上方并朝向检测连接孔口；检测转盘转动时，校正位、置料位可分别依次与检测连接孔口对位连通，检测组件对校正位、置料位的led灯珠进行参数检测。
9.通过采用上述技术方案，采用检测转盘的圆周边的第一槽口和第二槽口分别作为置料位和校正位，校正位设于置料位之间，结构简单，检测转盘制作方便，而且通过控制检测转盘的转动位置就可进行检测组件对应位置上置料位和校正位的转换，检测对位方式简单，简化生产操作，便于控制，适合批量化生产使用。
10.可选的，所述校正位为多个，各校正位沿检测转盘的圆周方向等间距均匀排布。
11.通过采用上述技术方案，设置多个校正位，则在检测转盘转动的时候，可以使检测组件依次、反复地对各个校正位的标准led灯珠进行检测，实现多个标准led灯珠多重检测的效果，通过对多个标准led灯珠的反复检测，提高对检测组件的检测校正效果。
12.可选的，所述校正位内设有底板，标准led灯珠放置于底板上，所述底板可周向位移地抵于机台表面，底板上设有可与检测连接孔口连通的通孔，通孔与标准led灯珠的电极对应设置。
13.通过采用上述技术方案，在批量化检测生产过程中，标准led灯珠一直放置在检测转盘的校正位上，随着生产的进行，校正位内标准led灯珠的下表面会随着检测转盘的转动不断地与机台表面进行摩擦，容易造成标准led灯珠的电极磨损现象，造成参数误差，因此，在校正位内设有承托标准led灯珠的底板，标准led灯珠的下表面不会随着检测转盘的转动在机台表面上反复摩擦，降低标准led灯珠的电极磨损。检测时，校正位与检测连接孔口对位，检测组件的电检测端在检测连接孔口上升并伸出穿过校正位的底板的通孔，与标准led灯珠的电极对应连接，实现电连接以进行检测。
14.可选的，所述通孔内填充有金属块，金属块与标准led灯珠的电极对应接触连接。
15.通过采用上述技术方案，通孔内填充有金属块，检测时，检测组件的电检测端由检测连接孔口上升伸出后，无需穿过底板的通孔，就可直接与金属块连接，进而与标准led灯珠的电极连接，简化检测组件的检测操作过程，便于控制，适合批量化生产使用。
16.可选的，所述机台上设有环绕于检测转盘圆周外侧的导向板，所述检测转盘的圆周边可转动的与导向板的侧壁抵接，所述导向板的侧壁分别覆盖置料位、校正位的径向开
口；所述导向板上沿圆周方向依次开设有进料的进料口和出料的出料口。
17.通过采用上述技术方案，导向板环绕检测转盘并能够分别覆盖置料位和校正位的径向开口，降低检测转盘转动过程中置料位和校正位内的led灯珠因转动惯性由径向开口移出的脱离现象。
18.可选的，所述机台上位于检测转盘的下方对应导向板的出料口的位置设有吹气通道，所述吹气通道连接有空气压缩机；所述机台上位于检测转盘的下方对应导向板的进料口的位置设有吸气通道，所述吸气通道连接有真空机；所述置料位在径向侧壁上开设有气口，所述置料位转动至出料口时气口与吹气通道连通，所述置料位转动至进料口时气口与吸气通道连通。
19.通过采用上述技术方案，在检测转盘的置料位转动至出料口时，置料位的气口与吹气通道连通，吹气通道通过气口对置料位的待测led灯珠进行吹气，将待测led灯珠向出料口外输出；空余出的置料位转动至进料口，置料位的气口与吸气通道连通，对输送至进料口的待测led灯珠进行吸取，使得待测led灯珠进入置料位以转动至检测组件进行检测，再至出料口输出。置料位的待测led灯珠进料出料操作简单，流转迅速，提高批量化检测生产的生产连续性，提高生产效率。
20.可选的，所述导向板上设有盖板，所述盖板覆盖于所述检测转盘的置料位、校正位上；所述盖板对应机台的检测连接孔口的位置开设有检测窗口，所述导向板上对应检测窗口的位置可拆卸的安装有透光件，所述透光件覆盖检测窗口，所述检测组件的光检测端朝向所述透光件。
21.通过采用上述技术方案，盖板覆盖于置料位、校正位上，盖板和导向板共同结合能够对置料位、校正位进行槽口封闭，使得检测转盘转动过程中，待测led灯珠、标准led灯珠处于封闭环境，降低led灯珠受外界环境的干扰现象，提升检测结果准确性；并且，在进料口、出料口处，盖板的覆盖封闭，使得进料口与置料位之间形成封闭的吸气路径，出料口与置料位之间形成封闭的吹气路径，能够提升进料口的定向吸取作用和出料口的定向吹出作用；盖板上设置可拆卸的检测窗口，将检测窗口拆卸时，位于检测窗口下的置料位或者校正位能够外漏，校正位外漏则能够对校正位内的标准led灯珠进行更换。
22.第二方面，本技术提供一种分光机，采用如下的技术方案：一种分光机，包括上料装置、上述分光检测装置、分料装置和工控主机，所述上料装置的出料端与分光检测装置的进料口连接，所述分光检测装置的出料口与分料装置的进料端连接，所述上料装置、分光检测装置、分料装置分别与所述工控主机连接；上料装置向分光检测装置输送待测led灯珠，分光检测装置对待测led灯珠进行参数检测并输送给分料装置，所述工控主机根据分光检测装置的检测结果对待测led灯珠进行分类，所述工控主机根据分类结果控制分料装置将待测led灯珠进行分类归集。
23.通过采用上述技术方案，分光机通过分光检测装置能够实现在线标准led灯珠复测。在分光机进行标准led灯珠复测时，在先批量检测的待测led灯珠和在后批量检测的待测led灯珠可直接在检测转盘上分别位于校正位的前后位置上，在先批量检测的待测led灯珠检测完后，校正位对位检测，检测完成后可立即对在后批量检测的待测led灯珠的置料位对位检测，进行批量化检测生产。节省了复测完成后在后批量检测的待测led灯珠由上料装置到检测转盘进料口、由检测转盘进料口至检测组件的流转区，在先批量检测的待测led灯
珠和在后批量检测的待测led灯珠之间的流转间断性低，提高了待测led灯珠的批量检测生产的连续性，改善了标准led灯珠复测时的生产间断问题。而且分光机可实时在线复测、校正的检测方式简化了工作人员对于分光机的安装校正调试等人工操作工序，提高校正检测的效率，降低工作人员的工作强度。
24.第三方面，本技术提供一种检测校正方法，采用如下的技术方案：一种检测校正方法，包括如下步骤：制备标准led灯珠；采用标准机对标准led灯珠进行参数检测，标准机检测获得的参数为标准参数；根据待测led灯珠的特性，对分光机进行检测参数设置，同时输入标准参数、允许误差范围值；分光机进入校正模式，分光机对标准led灯珠进行参数检测，分光机对标准led灯珠检测获得的参数为校正参数，分光机将校正参数和标准参数进行比较，以获取校正参数和标准参数之间的偏差值，分光机依据偏差值进行校正使得校正参数和标准参数一致，然后分光机根据校正后的校正参数、预先输入的允许误差范围值自动生成误差区间；分光机进入首测模式，首测模式为分光机对标准led灯珠进行首测，此时分光机对标准led灯珠检测获得的参数为首测参数，将首测参数和误差区间进行比较，判断首测参数是否属于误差区间范围内，若首测参数位于误差区间范围内则可进行批量化生产；若首测参数超出误差区间范围，则分光机重新进入校正模式；和/或首测模式为选取一批待测led灯珠在分光机上进行检测分类，获取分光机对待测led灯珠的检测结果；采用标准机对待测led灯珠进行抽检，判断抽检结果是否与检测结果相符合，若符合则可进行批量化生产；若不符合，分光机重新进入校正模式；批量化生产过程中，分光机定期地对标准led灯珠进行复测，分光机将对标准led灯珠的复测结果与误差区间进行比较，若复测结果位于误差区间内，继续批量化生产；若复测结果超出误差区间，则分光机重新进入校正模式。
25.通过采用上述技术方案，生产线上的分光机考虑了校正参数和标准参数之间的偏差值以进行误差区间的自动生成，相对于相关技术中直接以标准参数生成的标准误差区间而言，经过校正偏差后自动生成的误差区间综合考虑了分光机实际检测生产过程中的检测条件变化因素，提升了误差区间的精度，提高检测精度。
26.综上所述，本技术包括以下至少一种有益技术效果：1.所述分光检测装置在检测转盘上实现复测工序的直接切入，实现标准led灯珠的在线复测，在需要复测时，在先待测led灯珠和在后待测led灯珠之间的流转间断性低，提高了待测led灯珠的批量化检测生产的连续性，改善了标准led灯珠复测时的生产间断问题；而且通过所述分光检测装置实时在线复测、校正的检测方式简化了工作人员对于分光机的安装校正调试等人工操作工序，提高校正检测的效率，降低工作人员的工作强度；2.检测转盘上设置多个校正位，实现多个标准led灯珠多重检测的效果，提高对检测组件的检测校正效果；3.在校正位内设有承托标准led灯珠的底板，标准led灯珠的下表面不会随着检测转盘的转动在机台表面上反复摩擦，降低标准led灯珠的电极磨损；4.底板通孔内填充有金属块，金属块与标准led灯珠的电极对应接触连接，检测组
件的电检测端由检测连接孔口上升伸出后，无需穿过底板的通孔，就可直接与金属块连接，进而与标准led灯珠的电极连接，简化检测组件的检测操作过程，便于控制，适合批量化生产使用；5.分光机通过分光检测装置能够实现在线标准led灯珠复测。节省了复测完成后在后批量检测的待测led灯珠由上料装置到检测转盘进料口、由检测转盘进料口至检测组件的流转区，在先批量检测的待测led灯珠和在后批量检测的待测led灯珠之间的流转间断性低，提高了待测led灯珠的批量检测生产的连续性，改善了标准led灯珠复测时的生产间断问题；而且通过所述分光检测装置实时在线复测、校正的检测方式简化了工作人员对于分光机的安装校正调试等人工操作工序，提高校正检测的效率，降低工作人员的工作强度；6.所述检测校正方法中，生产线上的分光机考虑了校正参数和标准参数之间的偏差值范围以进行误差区间的自动生成，相对于相关技术中仅以标准参数生成的标准误差区间而言，经过校正偏差后自动生成的误差区间综合考虑了分光机实际检测生产过程中的检测条件变化因素，提升了误差区间的精度，提高检测精度。
附图说明
27.图1是本技术实施例1分光检测装置的结构示意图。
28.图2是本技术实施例1分光检测装置的机台内部结构示意图。
29.图3是本技术实施例1分光检测装置的盖板、检测转盘、导向板的分解结构示意图。
30.图4是本技术实施例1分光检测装置的检测转盘、导向板的组合结构示意图。
31.图5是图4中a处的结构放大图。
32.图6是本技术实施例2分光检测装置的检测转盘的结构示意图。
33.图7是本技术实施例3分光机的结构示意图。
34.图8是本技术实施例3分光机的分料转盘、检测转盘的传动结构示意图。
35.图9是本技术实施例3分光机的机台上表面的结构示意图。
36.图10是本技术实施例4检测校正方法的逻辑示意图。
37.附图标记说明：1、分光检测装置；11、检测转盘；111、置料位；112、校正位；113、气口；114、底板；115、金属块；12、检测驱动装置；13、检测组件；131、检测探针组件；1311、探针基座；1312探针；132、光学检测组件；14、导向板；141、进料口；142、出料口；15、盖板；151、检测窗口；16、透光件；2、机台；21、第一吸气通道；22、第一吹气通道；23、检测连接孔口；24、铰接座；25、限位座；251、限位槽；252、限位导向杆；26、电磁铁组件；27、第二吸气通道；28、第二吹气通道；3、上料装置；4、分料装置；41、分料转盘；411、分料槽口；42、分料导板；421、分料进料口；422、落料口；43、分料盖板；5、第一光纤传感组件；6、第二光纤传感组件。
具体实施方式
38.以下结合附图1
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10对本技术作进一步详细说明。
39.本技术实施例公开一种分光检测装置。
40.实施例1参照图1和图2，一种分光检测装置1包括机台2、检测转盘11、检测驱动装置12和检测组件13。检测驱动装置12包括驱动电机，驱动电机可以为伺服电机也可以为步进电机，只
要能够进行检测转盘11的定位转动即可，本技术实施例中选取步进电机为驱动电机，驱动电机安装于机台2的下表面，驱动电机的输出轴穿出于机台2的上表面；检测转盘11安装于机台2上表面的输出轴上。
41.参考图3和图4，检测转盘11的下表面可转动的与机台2的上表面抵接，检测转盘11上设有用于放置待测led灯珠的置料位111，置料位111为开设于检测转盘11的圆周边上的第一槽口，第一槽口的径向侧壁上开设有气口113，气口113朝向第一槽口的径向开口，多个置料位111沿检测转盘11的圆周方向依次等距离排布；检测转盘11上位于相邻的置料位111之间设有用于放置标准led灯珠的校正位112，校正位112为开设于检测转盘11的圆周边上的第二槽口，校正位112可以是一个也可以是多个，本技术实施例中采用多个校正位112，多个校正位112沿检测转盘11的圆周方向依次等距离排布。检测转盘11转动时，机台2上表面对置料位111的待测led灯珠、校正位112的标准led灯珠进行承托，检测转盘11转动带动置料位111的待测led灯珠、校正位112的标准led灯珠周向位移。
42.参考图3和图4，机台2上位于检测转盘11的圆周外侧设有导向板14，导向板14环绕检测转盘11，导向板14与检测转盘11的圆周边转动抵接，导向板14覆盖检测转盘11的置料位111、校正位112的径向开口；导向板14上开有用于进料的进料口141和出料的出料口142，检测转盘11转动带动置料位111、校正位112由导向板14的进料口141向导向板14的出料口142位移，在导向板进料口141，置料位111的径向开口与进料口141连通可用于待测led灯珠上料，在导向板14出料口142，置料位111的径向开口与出料口142连通可用于待测led灯珠出料，其中，校正位112内的标准led灯珠随着检测转盘11转动位移时不进行出料。导向板14上还安装有盖板15，盖板15可用螺栓件固定安装。盖板15覆盖于检测转盘11的置料位111、校正位112上，盖板15和导向板14共同结合能够对置料位111、校正位112进行槽口封闭（参见图1）。盖板15位于进料口141和出料口142之间的最大位移路径上开设有检测窗口151，导向板14上对应检测窗口151的位置通过螺栓件可拆卸的安装有透光件16，透光件16覆盖检测窗口151。
43.参考图3和图4，机台2上位于检测转盘11的下方设有通气结构，通气结构包括有第一吹气通道22和第一吸气通道21，第一吹气通道22贯穿机台2的上下表面，第一吹气通道22的出气口113位于机台2上表面并位于检测转盘11的下方，第一吹气通道22的出气口113的位置与导向板14的出料口142的位置对应设置，第一吹气通道22的出气口113朝向导向板14的出料口142方向，置料位111随着检测转盘11转动位移至出料口142处时，第一吹气通道22的出气口113与置料位111的气口113连通，第一吹气通道22通过气口113对置料位111的待测led灯珠进行吹气，将待测led灯珠向出料口142外输出；第一吹气通道22的进气口113位于机台2的下表面，第一吹气通道22的进气口113通过管道连接有空气压缩机。第一吸气通道21的吸气口113位于机台2上表面并位于检测转盘11的下方，第一吸气通道21的吸气口113的位置与导向板14的进料口141的位置对应设置，第一吸气通道21的吸气口113朝向导向板14的进料口141方向，置料位111随着检测转盘11转动位移至进料口141处时，第一吸气通道21的吸气口113与置料位111的气口113连通，对输送至进料口141的待测led灯珠进行吸取，使得待测led灯珠进入置料位111；第一吸气通道21的抽气口113位于机台2的下表面，第一吸气通道21的抽气口113通过管道连接有真空机。
44.参考图4和图5，机台2上位于检测转盘11的下方、位于导向板14的进料口至出料口
142的最大位移路径上设有检测位，检测位与检测窗口151的位置相对应，检测窗口151位于检测位上方，即透光件16位于检测位上方；检测位上开设有检测连接孔口23，检测连接孔口23成对设置，检测转盘11转动时，校正位112、置料位111可分别依次与检测连接孔口23对位连通。
45.参考图2和图4，机台2对应检测位的位置上安装检测组件13。机台2对应检测位的下表面上设有铰接座24和与铰接座24相对设置的限位座25，限位座25上开设有限位槽251，限位座25上设有连通限位槽251的侧安装开口，限位槽251内设有限位导向杆252，机台2上位于铰接座24和限位座25之间设有有电磁铁组件26，电磁铁组件26磁吸方向远离机台2表面。
46.参考图2，检测组件13包括检测探针组件131和光学检测组件132。检测探针组件131包括有安装于机台2检测位的下表面的探针基座1311和安装于探针基座1311上的探针1312，探针基座1311的一端与铰接座24进行铰接安装，探针基座1311的另一端上设有导向穿孔，探针基座1311远离铰接座24的一端通过限位柱侧安装开口置入限位座25的限位槽251内，限位导向杆252穿于探针基座1311的导向穿孔内，探针基座1311能够沿着限位导向杆252在限位槽251内上下位移，探针1312成对设置并安装于探针基座1311远离铰接座24的一端，同时探针1312对应的可升降的穿于机台2的检测连接孔口23内的。探针基座1311上位于铰接座24和限位座25之间的位置上设有金属件，金属件与机台2上的电磁铁组件26相对设置，电磁铁组件26通电后产生磁性，能够对金属件吸附，使得探针基座1311远离铰接座24的一端能够沿着限位导向杆252在限位槽251内向机台2表面移动，带动探针基座1311上的探针1312由检测连接孔口23向上伸出，电磁铁组件26断电后消磁，不再有吸附性，探针基座1311远离铰接座24的一端在重力作用下，沿着限位导向杆252在限位槽251内下沉，带动探针基座1311上的探针1312由检测连接孔口23向下下降缩起。光学检测组件132可以为积分球组件也可以为光纤光谱仪组件等，只要能够实现所需光学参数检测即可，本技术实施例中采用积分球组件。积分球组件安装于机台2的上表面，积分球组件的光接收口位于机台2的透光件16的上方并朝向透光件16即可。
47.实施例1的实施原理为：在盖板通过螺栓固定安装前，先将标准led灯珠安装于检测转盘11的校正位112内，同时，分光检测装置1工作时，校正位112未设置气口113，第一吹气通道22不能够对校正位112的标准led灯珠进行吹气出料，校正位112内的标准led灯珠不从出料口142输出流转，一直位于检测转盘11上，当然校正位112上也可以开设气口113，此时则需要通过控制空气压缩机的工作状态，在校正位112位移至出料口142时，空气压缩机不工作，第一吹气通道22无气流输出，不能够对校正位112内的标准led灯珠进行吹气出料。
48.驱动电机控制输出轴转动，带动输出轴上的检测转盘11转动，通过控制驱动电机的角位移，可以使得检测转盘11转动时各个校正位112沿转动方向分别依次与机台2的检测位对位，此角位移可设定为校正角位移；各校正位112与检测位对位，通过检测位上的检测组件13对各个校正位112内的标准led灯珠进行光电参数检测，检测过程具体为：校正位112与检测位对位时，校正位112与检测连接孔口23连通，校正位112内的标准led灯珠位于检测连接孔口23上，检测窗口151上的透光件16覆盖于校正位112上，覆盖于标准led灯珠上。检测组件13的电磁铁组件26通电产生磁力，电磁铁组件26对探针基座1311进行吸附，吸附力使得探针基座1311远离铰接座24的一端在限位槽251内顺着限位导向杆252上移，进而带动
探针1312沿着检测连接孔口23上升伸入校正位112内，并与标准led灯珠的电极电连接，形成电回路，点亮标准led灯珠，同时进行电参数检测；标准led灯珠发光产生的光能够通过校正位112上的检测窗口151、透光件16被积分球组件的光接收口获取，积分球组件进行光参数检测。检测完成后，电磁铁组件26断电消磁，电磁铁组件26对探针基座1311的吸附消失，探针基座1311远离铰接座24的一端在限位槽251内在重力作用下顺着限位导向杆252下降，进而带动探针1312沿着检测连接孔口23下降缩起脱离校正位112，标准led灯珠熄灭，驱动电机驱动检测转盘11转动，校正位112离开检测位，同时位于该校正位112后侧的校正位112与检测位对位，检测组件13重复在前的检测动作，如此循环往复，实现多个校正位112的标准led灯珠的检测。
49.校正位112检测后，若要进行待测led灯珠的批量化检测生产，控制驱动电机调整变换角位移转动，调整为置料位111与机台2的检测位的对位，此角位移设定为置料角位移；当置料位111与机台2的检测位对位时，检测组件13对置料位111的待测led灯珠的检测动作与检测组件13对校正位112的标准led灯珠的检测动作相同。另外，分光检测装置1的置料位111的待测led灯珠的流转过程为：在导向板14的进料口，置料位111的气口113与第一吸气通道21连通，将位于进料口的待测led灯珠吸取入置料位111内，然后随着检测转盘11的转动，放置有待测led灯珠的置料位111位移至检测位，检测组件13对待测led灯珠进行光电参数检测，经过检测的待测led灯珠随着置料位111位移至导向板14的出料口142，置料位111的气口113与第一吹气通道22连通，将置料位111内的待测led灯珠向出料口142吹出以流转，置料位111空余，并随着检测转盘11的转动位移至导向板14的进料口，重复前述检测流转过程，如此实现待测led灯珠的批量化生产检测。
50.在批量化生产检测过程中需要进行标准led灯珠复测的时候，在先置料位111的待测led灯珠检测完成后，驱动电机控制由置料角位移切换为校正角位移，由在先置料位111与检测位的对位切换为位于在先置料位111和在后置料位111之间的校正位112与机台2的检测位的对位，进行标准led灯珠复测，复测合格后，驱动电机直接控制校正角位移切换为置料角位移，在后置料位111直接与机台2的检测位对位，进行下一批量化生产检测。若复测不合格，驱动电机保持校正角位移转动，使得各个校正位112依次与检测位对位，进行多个校正位112的标准led灯珠的校正检测，直至检测结果合格。其中，通过控制检测转盘11的转动圈数，可以保证多圈复测后位于检测位上的校正位112即复测开始时的校正位112，则复测结束后，控制驱动电机切换为置料角位移转动时，是原在后置料位111与检测位对位，顺利进行下一批量化生产检测。
51.实施例2参照图6，本实施例与实施例1的不同之处在于，检测转盘11上校正位112内设有承托标准led灯珠的底板114，底板114上开设有能与检测位的检测连接孔口23对应连通的通孔，通孔对应检测连接孔口23成对设置，各通孔内均填充有金属块115，底板114上标准led灯珠的电极分别与各金属块115接触连接。
52.实施例2的实施原理为：在检测转盘11转动过程中，校正位112的底板114的承托作用能够使得标准led灯珠的电极不会长期与机台2表面摩擦，电极不会磨损；当校正位112与检测位对位的时候，检测组件13的探针与底板114的金属块115连接，进而与标准led灯珠的电极连接。
53.优选的，为了减少标准led灯珠随着检测转盘的长时间转动而移出校正位的情况，还可以在底板上设置限位台，所述限位台位于校正位的径向开口上，通过限位台可限制标准led灯珠在校正位上的径向位移，降低标准led灯珠移出校正位的情况。
54.本技术实施例还公开一种分光机。
55.实施例3参照图7，一种分光机，包括上料装置3、上述分光检测装置1、分料装置4和工控主机，上料装置3为盛放有待测led灯珠的振动盘，振动盘的输出通道的出料端与分光检测装置1的进料口连接，振动盘向分光检测装置1振动输送待测led灯珠；上料装置3的出料端和分光检测装置1的进料口之间还设有第一光纤传感组件5，第一光纤传感组件5用于上料装置3和分光检测装置1之间的待测led灯珠的检测计数。
56.参照图8和图9，分料装置4设于分光检测装置1的机台2上，分料装置4位于分光检测装置1的出料口142的一侧，分料装置4和分光检测装置1之间设有第二光纤传感组件6，第二光纤传感组件6用于分料装置4和分光检测装置1之间led灯珠的检测计数。分料装置4包括分料转盘41和驱动分料转盘41转动的分料驱动装置，分料驱动装置安装于机台2下表面，分料驱动装置的驱动轴穿出机台2的上表面，分料转盘41安装于机台2的上表面的驱动轴上，分料转盘41可转动的抵于机台2的上表面，分料转盘41的圆周边上还设有容纳led灯珠的分料槽口411，机台2上设有环绕分料转盘41的分料导板42，分料转盘41的圆周边可转动的与分料导板42抵接，分料导板42上对应分光检测装置1的出料口142的位置开设分料进料口421，分料导板42上沿圆周方向均匀开设有多个落料口422，各个落料口422分别对应一个分类区间，机台2上位于分料导板42的下方开设有多个落料通道，各落料通道与分料导板42的落料口422一一对应设置，机台2下表面安装有多个物料盒，各个物料盒分别与各落料通道一一对应连接。经过分光检测装置1检测的led灯珠由分光检测装置1的出料口142输出，经由分料装置4的分料进料口421进入分料转盘41的分料槽口411，工控机根据分光检测装置1的检测结果进行led灯珠的分类区间的确定，同时控制分料转盘41带动led灯珠转动至对应分类区间的落料口422处，进行led灯珠落料归集。
57.参照图8和图9，机台2上位于分料转盘41的下方还开设有第二吸气通道27和多个第二吹气通道28，各个第二吹气通道28与分料导板42的落料口422一一对应设置，第二吹气通道28的吹气口113朝向落料口422，第二吹气通道28的进气口113位于机台2的下表面，进气口113上安装有电磁阀，各个第二吹气通道28的进气口113通过多通接头共同与空气压缩机连接，通过控制各个第二吹气通道28的进气口113的电磁阀的启闭可控制各个第二吹气通道28的吹气状态。分料转盘41的分料槽口411的径向侧壁上开设有分料气孔，当分料槽口411与落料口422对应时，分料气孔与该落料口422对应的第二吹气通道28连通，第二吹气通道28的吹气口113通过分料气孔将分料槽口411内的led灯珠吹入对应的落料口422内。第二吸气通道27与导向分料导板42的分料进料口421对应设置，第二吸气通道27的吸气口113朝向分料进料口421，第二吸气通道27的抽气口113位于机台2的下表面，抽气口113通过气管与真空机连接。分料转盘41的分料槽口411与分料进料口421对应时，分料气孔与第二吸气通道27连通。
58.参照图7，分料导板42上还安装有分料盖板43，分料盖板43覆盖分料转盘41的分料槽口411。
59.本技术实施例一种分光机的实施原理为：上料装置3、分光检测装置1、分料装置4分别与工控主机连接；上料装置3向分光检测装置1输送待测led灯珠，分光检测装置1对待测led灯珠进行参数检测并输送给分料装置4，工控主机根据分光检测装置1的检测结果对待测led灯珠进行分类，工控主机根据分类结果控制分料装置4将待测led灯珠进行分类归集。分光机通过分光检测装置1能够实现在线标准led灯珠复测。在分光机进行标准led灯珠复测时，在先批量检测的待测led灯珠和在后批量检测的待测led灯珠可直接在检测转盘11上分别位于校正位112前后的在前置料位111和在后置料位111上，在先批量检测的待测led灯珠检测完后，控制校正位112对位检测，检测完成后可立即对在后批量检测的待测led灯珠的置料位111对位检测，进行批量化检测生产。节省了复测完成后在后批量检测的待测led灯珠由上料装置3到检测转盘11进料口、由检测转盘11进料口至检测组件13的流转区，在先批量检测的待测led灯珠和在后批量检测的待测led灯珠之间的流转间断性低，提高了待测led灯珠的批量检测生产的连续性，改善了标准led灯珠复测时的生产间断问题。
60.本技术实施例还公开一种检测校正方法。
61.实施例4参照图10，一种检测校正方法，包括如下步骤：制备标准led灯珠；采用标准机对标准led灯珠进行参数检测，标准机检测获得的参数为标准参数；其中，标准机可以为标准分光机也可以为标准检测机；将标准led灯珠置于前述实施例3的分光机的校正位上，同时在工控主机上根据待测led灯珠的特性，对分光机进行检测参数设置，同时输入标准参数、允许误差范围值；检测参数设置包括有检测条件、分类条件；分光机进入校正模式，控制检测组件对校正位上的标准led灯珠进行参数检测，分光机对标准led灯珠检测获得的参数为校正参数，分光机将校正参数和标准参数进行比较，以获取校正参数和标准参数之间的偏差值，分光机依据偏差值进行校正使得校正参数和标准参数一致，然后分光机根据校正后的校正参数、预先输入的允许误差范围值自动生成误差区间；其中，校正时，检测组件可以是以一个校正位上的标准led灯珠的校正参数直接作为校正标准；也可以是依次对多个校正位上的标准led灯珠进行检测校正，实现多次的校正调试，并且通过设置检测转盘的转动周次以确定校正终点，通过校正调试的次数增加能够有利于缩小偏差，提高校正效果；分光机进入首测模式，控制检测组件依次对多个校正位上的标准led灯珠进行首测，此时分光机对标准led灯珠检测获得的参数为首测参数，将首测参数和误差区间进行比较，判断首测参数是否属于误差区间范围内，若首测参数位于误差区间范围内则可进行批量化生产；若首测参数超出误差区间范围，则分光机重新进入校正模式；其中，可通过设定检测转盘的转动周次以限定首测时分光机对校正位的标准led灯珠的检测数；批量化生产过程中，分光机根据预设的时间阈值或者预设的检测数量阈值，定期地对标准led灯珠进行复测，本技术实施例中，分光机可根据分光检测装置的检测转盘的转动圈数进行定期复测的周期限定。分光机复测时，控制检测组件对校正位上的标准led灯珠进行参数检测，分光机将对标准led灯珠的复测结果与误差区间进行比较，若复测结果在误差区间内，继续批量化生产；若复测结果超出误差区间，则分光机重新进入校正模式，而且，
分光机也可以进行声光报警警示工作人员。
62.通过采用上述技术方案，标准led灯珠设于检测转盘上，分光机可以直接在线控制检测转盘的校正位和检测组件之间的检测对位，通过校正位上标准led灯珠的在线检测自动进行检测校正，简化了工作人员对于分光机的安装校正调试等人工操作工序，提高校正检测的效率，降低工作人员的工作强度。
63.实施例5实施例5和实施例4的区别在于，实施例5的检测校正方法中分光机的首测模式为：选一批待测led灯珠在分光机上进行检测分类流转，该过程中，分光机控制检测组件对置料位上的待测led灯珠进行参数检测；待测led灯珠批量检测完成后，采用标准分光机对待测led灯珠进行抽检，判断抽检结果是否与检测分类结果相符合，若符合则可进行批量化生产；若不符合，重新进入校正模式。该批待测led灯珠的个数可以为100也可以为500也可以为1000，具体的个数可以根据使用需求进行选择设定。
64.实施例6实施例6和实施例4的区别在于，实施例6的检测校正方法中分光机的首测模式为：分光机先控制检测转盘的校正位与检测组件对位检测，先对校正位上的标准led灯珠进行首测，若首测参数位于误差区间范围内则可进行首批待测led灯珠的首测；若首测参数超出误差区间范围，则分光机重新进入校正模式。其中，首批待测led灯珠的首测：分光机控制检测转盘的置料位与检测组件对位检测，选一批待测led灯珠在分光机上进行检测分类流转，该过程中，分光机控制检测组件对置料位上的待测led灯珠进行参数检测；待测led灯珠批量检测完成后，采用标准分光机对待测led灯珠进行抽检，判断抽检结果是否与检测分类结果相符合，若符合则可进行批量化生产；若不符合，重新进入校正模式。
65.以上均为本技术的较佳实施例，并非依此限制本技术的保护范围，故：凡依本技术的结构、形状、原理所做的等效变化，均应涵盖于本技术的保护范围之内。