一种串口芯片测试系统的应用电路的制作方法

1.本实用新型涉及串口芯片测试技术领域，尤其是一种串口芯片测试系统的应用电路。


背景技术：

2.串口芯片在双向通信中，可以接收数据和传输数据，是一类重要的数据通信接口，其本质功能是作为cpu和串行设备间的编码转换器；当数据从cpu经过串行端口发送出去时，字节数据转换为串行的位；在接收数据时，串行的位被转换为字节数据；应用程序要使用串口进行通信，必须在使用之前向操作系统提出资源申请要求(打开串口)，通信完成后必须释放资源(关闭串口)；串口芯片在数据传输中及其重要，因而对串口芯片的性能参数要求也越来越高，需要测试多种参数，但现有串口芯片测试系统的测试通道数量不够，且不能切换测试通道获取对应的测试参数。


技术实现要素：

3.本实用新型的目的在于克服现有技术的不足，提供一种串口芯片测试系统的应用电路。
4.本实用新型解决其技术问题是采取以下技术方案实现的：
5.一种串口芯片测试系统的应用电路，包括连接电路、扩展电路及测试电路；所述连接电路分别与所述扩展电路及所述测试电路连接，通过所述扩展电路切换所述测试电路的测试通道。
6.优选的，所述扩展电路芯片型号为pca9506bs。
7.优选的，还包括控制电路，所述控制电路与所述连接电路连接，所述控制电路通过所述连接电路控制连接所述测试电路。
8.优选的，所述连接电路的型号为tfm
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a。
9.优选的，所述控制电路芯片型号为pxie_6571。
10.优选的，所述测试电路包括测试芯片、开关电路及标准芯片；所述测试芯片连接所述开关电路的输入端，所述开关电路的输出端连接所述标准芯片，将所述测试芯片及所述标准芯片设置成一发一收状态，与所述标准芯片数据进行比对判断所述测试芯片性能，通过所述开关电路控制所述测试电路的工作状态。
11.优选的，所述测试电路还包括滤波电路；所述测试芯片连接所述滤波电路用于对所述测试芯片进行滤波处理。
12.优选的，所述标准芯片型号为max3490；所述测试芯片型号为dg3490。
13.优选的，还包括与所述标准芯片连接的电源滤波电路用于对电源信号进行滤波处理。
14.优选的，还包括与所述测试电路连接的切换电路，用于切换数据通道。
15.本实用新型的优点和积极效果是：
16.1.本实用新型一种串口芯片测试系统的应用电路，包括连接电路、扩展电路及测试电路；所述连接电路分别与所述扩展电路及所述测试电路连接，所述扩展电路芯片型号为pca9506bs，通过所述扩展电路切换所述测试电路的测试通道且增加测试通道传输测试参数。
17.2.本实用新型所述测试电路包括测试芯片、开关电路及标准芯片；所述测试芯片连接所述开关电路的输入端，所述开关电路的输出端连接所述标准芯片，将所述测试芯片及所述标准芯片设置成一发一收状态，与所述标准芯片数据进行比对判断所述测试芯片性能，通过所述开关电路控制所述测试电路的工作状态，将所述测试芯片的数据与所述标准芯片数据进行比对提高测试的准确度。
附图说明
18.图1是本实用新型的连接框图；
19.图2是本实用新型的扩展电路连接图；
20.图3是本实用新型的连接电路连接图；
21.图4是本实用新型的控制电路连接图；
22.图5是本实用新型的测试电路连接图；
23.图6是本实用新型的电源滤波电路连接图；
24.图7是本实用新型的切换电路连接图。
具体实施方式
25.下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。
26.需要说明的是，当组件被称为“固定于”另一个组件，它可以直接在另一个组件上或者也可以存在居中的组件。当一个组件被认为是“连接”另一个组件，它可以是直接连接到另一个组件或者可能同时存在居中组件。当一个组件被认为是“设置于”另一个组件，它可以是直接设置在另一个组件上或者可能同时存在居中组件。本文所使用的术语“垂直的”、“水平的”、“左”、“右”以及类似的表述只是为了说明的目的。
27.除非另有定义，本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本实用新型的技术领域的技术人员通常理解的含义相同。本文中在本实用新型的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施例的目的，不是旨在于限制本实用新型。本文所使用的术语“及/或”包括一个或多个相关的所列项目的任意的和所有的组合。
28.如图1
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3所示，本实用新型所述一种串口芯片测试系统的应用电路，其特征在于：包括连接电路、扩展电路及测试电路；所述连接电路分别与所述扩展电路及所述测试电路连接，通过所述扩展电路切换所述测试电路的测试通道；
29.具体的，所述扩展电路芯片型号为pca9506bs；所述连接电路的型号为tfm
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a；所述连接电路的s0_io引脚分别对应连接所述扩展电路的s0_io引脚；所述连接电路的s0_dio引脚分别对应连接所述测试电路的s0_dio引脚。
30.进一步地，如图4所示，还包括控制电路，所述控制电路与所述连接电路连接，所述控制电路通过所述连接电路控制连接所述测试电路；具体的，所述控制电路芯片型号为pxie_6571；所述连接电路的s0_dio引脚分别对应连接所述控制电路的s0_dio引脚。
31.进一步地，如图5所示，所述测试电路包括测试芯片、开关电路及标准芯片；所述测试芯片连接所述开关电路的输入端，所述开关电路的输出端连接所述标准芯片，将所述测试芯片及所述标准芯片设置成一发一收状态，与所述标准芯片数据进行比对判断所述测试芯片性能，通过所述开关电路控制所述测试电路的工作状态；
32.具体的，所述标准芯片型号为max3490；所述测试芯片型号为dg3490；所述开关电路包括开关继电器rly18b及开关继电器rly19b；所述测试芯片通过所述开关电路连接所述标准芯片，可将所述测试芯片设置成发送数据模式且将所述标准芯片设置成接收数据模式，通过将所述测试芯片发送数据与所述标准芯片接收数据进行比对判断所述测试芯片性能是否良好；可将所述测试芯片设置成接收数据模式且将所述标准芯片设置成发送数据模式，通过将所述测试芯片接收数据与所述标准芯片发送数据进行比对判断所述测试芯片性能是否良好，且所述开关电路控制所述测试电路的工作状态。
33.进一步地，所述测试电路还包括滤波电路；所述测试芯片连接所述滤波电路用于对所述测试芯片进行滤波处理；具体的，所述滤波电路包括电容c1及电容c2。
34.进一步地，如图6所示，还包括与所述标准芯片连接的电源滤波电路用于对电源信号进行滤波处理；具体的，所述电源滤波电路包括开关继电器rly17b、跳线开关j3；所述电源滤波电路的vcc_max3490引脚与所述标准芯片的vcc_max3490引脚连接。
35.进一步地，如图7所示，还包括与所述测试电路连接的切换电路，用于切换数据通道；具体的，所述切换电路的s0_io引脚及pmv引脚分别对应连接所述连接电路的s0_io引脚及pmv引脚；所述切换电路的s0_a引脚至s0_z引脚分别对应连接所述测试电路的s0_a引脚至s0_z引脚。
36.工作原理：
37.1.通过所述扩展电路切换所述测试电路的测试通道且增加测试通道传输测试参数；
38.2.所述测试芯片连接所述开关电路的输入端，所述开关电路的输出端连接所述标准芯片，将所述测试芯片及所述标准芯片设置成一发一收状态，与所述标准芯片数据进行比对判断所述测试芯片性能；
39.3.通过所述开关电路控制所述测试电路的工作状态，将所述测试芯片的数据与所述标准芯片数据进行比对提高测试的准确度；
40.4.与所述标准芯片连接的电源滤波电路用于对电源信号进行滤波处理；所述测试芯片连接所述滤波电路用于对所述测试芯片进行滤波处理；
41.5.与所述测试电路连接的切换电路，用于切换数据通道。
42.本实用新型一种串口芯片测试系统的应用电路，包括连接电路、扩展电路及测试电路；所述连接电路分别与所述扩展电路及所述测试电路连接，所述扩展电路芯片型号为pca9506bs，通过所述扩展电路切换所述测试电路的测试通道且增加测试通道传输测试参数；所述测试电路包括测试芯片、开关电路及标准芯片；所述测试芯片连接所述开关电路的输入端，所述开关电路的输出端连接所述标准芯片，将所述测试芯片及所述标准芯片设置
成一发一收状态，与所述标准芯片数据进行比对判断所述测试芯片性能，通过所述开关电路控制所述测试电路的工作状态，将所述测试芯片的数据与所述标准芯片数据进行比对提高测试的准确度。
43.上述说明是针对本实用新型较佳可行实施例的详细说明，但实施例并非用以限定本实用新型的专利申请范围，凡本实用新型所提示的技术精神下所完成的同等变化或修饰变更，均应属于本实用新型所涵盖专利范围。