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一种用于混合料粒度分析的取样系统的制作方法

2021-12-04 13:06:00 来源:中国专利 TAG:


1.本技术涉及冶金技术领域,尤其涉及一种用于混合料粒度分析的取样系统。


背景技术:

2.在钢铁冶金领域的烧结工艺中,需要将铁矿粉、焦炭、熔剂、生石灰等物料按照一定比例进行配料,并加水混合后,经过制粒机进行制粒,从而获得具有一定粒度分布的混合料,制粒后的混合料再经主抽风机的抽风作用及烧结机高温烧结,最终获得高炉炼铁所需的烧结矿。
3.烧结矿的产质量除了受到烧结工艺的影响之外,还直接受到混合料的制粒效果的影响,混合料的制粒效果越好,其在烧结过程的透气性越好,越有利于烧结矿产质量的提升,同时整个烧结过程越节能。
4.现有技术中,通常难以在制粒机后皮带上直接分辨出粒度效果的好坏,为了能够实时检测出混合料的制粒效果,也有通过在制粒机排料口直接接料,并对接收的混合料采用机器视觉技术进行图片拍摄,但是由于混合机和制粒机的排料速度、频率或排料量不规律,导致无法稳定获得混合料料量,难以采集能用于粒度分析的图片,从而无法得到的制粒效果数据。


技术实现要素:

5.为了在检测混合料制粒效果的过程中,能够保证检测系统能够稳定、连续的采集图像,从而进行混合料制粒效果的分析,获得有效的粒度数据,本技术提供一种用于混合料粒度分析的取样系统。
6.本技术提供一种用于混合料粒度分析的取样系统,包括整平装置、连续取样装置和抛料装置;
7.所述整平装置连接输送混合料的传输带,以从所述传输带上获取混合料,并将获取的混合料整平;
8.所述连续取样装置包括抬升装置以及均匀设置在所述抬升装置上的多个取样器;所述抬升装置处于所述整平装置上方,且抬升装置的抬升起始端的高度低于整平装置的混合料高度,所述抬升装置的抬升末端连接所述抛料装置,通过多个取样器从所述整平装置均匀获得混合料,并通过抬升装置运输至所述抛料装置中;
9.所述抛料装置用于将混合料均匀转移回传输带,且转移路径的一部分连续区域为图像采集器的采集区域,所述转移路径是指混合料从所述抛料装置转移回传输带的路径,所述图像采集器用于采集经过所述采集区域的混合料图像。
10.可选的,所述整平装置包括整平板,整平板设置在所述整平装置的起始端,以限制通过所述整平板的混合料高度。
11.可选的,所述整平装置包括水平输送带,所述水平输送带的起始端与终止端均连通所述传输带,以将经过整平的混合料水平转运回所述传输带。
12.可选的,所述抬升装置为板链输送机,所述取样器均匀固定在所述板链输送机的链板上。
13.可选的,还包括用于对所述图像采集器的采集区域进行补光的光源。
14.可选的,还包括自动升降调节装置,所述连续取样装置和抛料装置均设置在所述自动升降调节装置上,以实现连续取样装置和抛料装置的同步升降。
15.可选的,还包括控制器,所述控制器连接所述抬升装置,以控制所述抬升装置带动所述取样器升降。
16.可选的,所述抛料装置至传输带的水平落差为400

800mm。
17.可选的,所述取样器的数量为12

26个。
18.可选的,所述整平板的宽度为200

400mm。
19.本技术提供的一种用于混合料粒度分析的取样系统,包括整平装置、连续取样装置和抛料装置;所述整平装置连接输送混合料的传输带,所述连续取样装置包括抬升装置以及均匀设置在所述抬升装置上的多个取样器;所述抬升装置处于所述整平装置上方,所述抬升装置的抬升末端连接所述抛料装置。
20.在实际应用过程中,通过整平装置对运输的混合料进行整平,获得整平区域,利用多个取样器从所述整平区域连续均匀的获取混合料,获得多次取样混合料;通过抬升装置将多次取样混合料连续均匀抬升到预设的高度,通过抛料装置使处于预设高度的取样混合料均匀下落,形成转移路径,在所述转移路径上,通过图像采集器采集经过所述采集区域的混合料图像。本技术实施例提供的一种用于混合料粒度分析的取样系统及方法,在检测混合料制粒效果的过程中,能够连续均匀的获取混合料,保证检测结果的连续性,保证检测系统稳定的获得混合料的制粒效果。
附图说明
21.为了更清楚地说明本技术的技术方案,下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,对于本领域普通技术人员而言,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
22.图1为本技术实施例提供的一种用于混合料粒度分析的取样系统整体结构示意图;
23.图2为本技术实施例提供的一种用于混合料粒度分析的取样系统局部结构示意图;
24.图3为本技术实施例提供的一种用于混合料粒度分析的取样方法流程示意图。
25.其中,1

整平装置,11

整平板,12

水平输送带,2

连续取样装置,21

抬升装置,22

取样器,3

抛料装置,4

传输带,5

图像采集器,6

光源,7

自动升降调节装置。
具体实施方式
26.为了在检测混合料制粒效果的过程中,能够保证检测系统稳定、连续的采集图像,从而进行混合料制粒效果的分析,获得有效的粒度数据。如图1所示,为本技术实施例提供的一种用于混合料粒度分析的取样系统整体结构示意图,如图2所示,为本技术实施例提供的一种用于混合料粒度分析的取样系统局部结构示意图,本技术实施例第一方面提供的一
种用于混合料粒度分析的取样系统,包括整平装置1、连续取样装置2和抛料装置3;所述整平装置1连接输送混合料的传输带4,以从所述传输带4上获取混合料,并将获取的混合料整平;需要说明的是,在实际应用过程中,所述整平装置1可以为连接传输带4的独立结构,也可以为对所述传输带4的一部分进行改造,形成整平装置1。
27.在本技术实施例中,所述整平装置1为传输带4的一部分,包括整平板11和水平输送带12,所述水平输送带12的起始端与终止端均连通所述传输带4,以将经过整平的混合料水平转运回所述传输带4,即将所述传输带4的一端设置为水平状态,并在起始位置设置整平板11,通过整平板11将经过水平输送带12的混合料整平。所述整平板11的高度可调,以便于将水平输送带12上的混合料控制在一定高度范围内,保证取样器22的取料量控制。
28.在本技术实施例中,所述整平板11的高度高于取样器22最低位20

80mm;整平板11与水平输送带12底料的间距不作要求,混合料料量越大则该间距越大。整平板11在水平输送带12上的宽度不宜过宽,通常在200

400mm,具体可根据水平输送带12宽度进行调整,原则是保证将过高的物料挡至水平输送带12外侧,且不溢出水平输送带12而洒料,在本技术实施例中,所述整平板的宽度为200

400mm。
29.所述连续取样装置2包括抬升装置21以及均匀设置在所述抬升装置21上的多个取样器22;所述抬升装置21处于所述整平装置1上方,通过所述抬升装置21带动所述取样器22运动,由于所述抬升装置21的抬升起始端的高度低于整平装置1的混合料高度,且所述整平装置1上的混合料已经经过整平,所述取样器22能够匀速从所述整平装置1上获取混合料,且每一个取样器22获取的相同质量的混合料,从而实现连续均匀的稳定取料。
30.所述抬升装置21的抬升末端连接所述抛料装置3,通过多个取样器22从所述整平装置1均匀获得混合料,并通过抬升装置21运输至所述抛料装置3中。具体的,所述取样器22的数量为12

26个。需要说明的是,所述抬升装置21的抬升起始端是指所述抬升装置21上取样器22的最低位置,所述抬升装置21的抬升末端是指所述抬升装置21上取样器22达到的最高位置,抬升末端连接所述抛料装置3是指混合料转移上的连接,即在该位置上,取样器22中的混合料被倒入抛料装置。
31.通过所述抛料装置3将混合料均匀转移回传输带4,例如,将所述抛料装置3设置在所述传输带4的正上方,混合料从所述抛料装置3匀速落回所述传输带4,且转移路径的一部分连续区域为图像采集器5的采集区域,所述转移路径是指混合料从所述抛料装置3转移回传输带4的路径,即,混合料从所述抛料装置3落下后,需要经过所述图像采集器5的采集区域,才会到达所述传输带4,所述图像采集器5用于采集经过所述采集区域的混合料图像。
32.本技术实施例提供的一种用于混合料粒度分析的取样系统,包括整平装置1、连续取样装置2和抛料装置3;所述整平装置1连接输送混合料的传输带4,所述连续取样装置2包括抬升装置21以及均匀设置在所述抬升装置21上的多个取样器22;所述抬升装置21处于所述整平装置1上方,所述抬升装置21的抬升末端连接所述抛料装置3。
33.在实际应用过程中,通过整平装置1对运输的混合料进行整平,获得整平区域,利用多个取样器22从所述整平区域连续均匀的获取混合料,获得多次取样混合料;通过抬升装置21将多次取样混合料连续均匀抬升到预设的高度,通过抛料装置3使处于预设高度的取样混合料均匀下落,形成转移路径,在所述转移路径上,通过图像采集器5采集经过所述采集区域的混合料图像。本技术实施例提供的一种用于混合料粒度分析的取样系统,在检
测混合料制粒效果的过程中,能够连续均匀的获取混合料,保证检测结果的连续性,保证检测系统稳定的获得混合料的制粒效果。
34.所述图像采集器5包含高度可调的安装支架、图像采集装置及防护罩。高度可调的安装支架是为了调整合适的取像高度,图像采集装置用于拍照采集图像,混合料会产生一定的灰尘,尤其是外部温度较低时,混合料有高温烟气,防护罩内会通入一定的经过虑的压缩空气,用于对图像采集装置相机镜头进行防护。
35.进一步的,所述抛料装置3至传输带4的水平落差为400

800mm。在本技术实施例中,所述抛料装置3为溜槽。混合料从取样器22上落下后,经溜槽分离并自由落体下落,高度需保证经溜槽底部与传输带4的间距为400

800mm,以确保混合料落下时的图像获取高度空间。需要说明的是,所述抛料装置3不局限于设置在所述传输带4的正上方,还可以设置在侧上方,或者高度相同的侧方,若抛料装置3设置在所述传输带4的侧上方或着高度相同的侧方,则所述抛料装置3抛料时,对混合料施加一定的水平作用里,或者斜向上的作用力,利用抛物线原理,将混合料转移至传输带4上。
36.进一步的,所述,所述抬升装置21为板链输送机,所述取样器22均匀固定在所述板链输送机的链板上,以保证所有取样器22的取料角度一致,以及,保证所有取样器22的弃料角度一致,所述取料角度是指取样器22从所述整平装置1获取混合料时的倾斜角度,所述弃料角度是指取样器22向所述抛料装置3混合料时的倾斜角度。
37.进一步的,在本技术的部分实施例中,所述一种用于混合料粒度分析的取样系统还包括用于对所述图像采集器5的采集区域进行补光的光源6。用于向混合料落下方向打光,主要是形成背光式打光效果,光源6的发光面如果存在沾料情况,会对后续的检测造成较大的误差,为防止混合料落料时落入至光源6上表面,可以在光源6上方安置一块挡灰板。
38.进一步的,如果传输带4上的混合料较少,会导致取样器22的高度比传输带4上的混合料高度更高,则取样器无法正常获取混合料;如果传输带4上的混合料过多,会导致取样器22整体被埋入混合料,与混合料产生较大的接触冲击力,易发生危险,或者取样器22装入过多且经过挤压的混合料,影响混合料的自然分离,从而影响混合料粒度检测的准确性。为了克服上述问题,在本技术实施例中,所述一种用于混合料粒度分析的取样系统还包括自动升降调节装置7,所述连续取样装置2和抛料装置3均设置在所述自动升降调节装置7上,以实现同步升降。所述自动升降调节装置7为一种多支点同步调节机构如涡轮涡杆机构,能够使所述连续取样装置2和抛料装置3同步升降,自动升降调节装置7带有高度位置检测传感器。特别当皮带混合料的料量量发生变化时,实现连续取样装置2和抛料装置3的高度调节。
39.进一步的,在本技术部分实施例中,所述一种用于混合料粒度分析的取样系统还包括控制器,所述控制器连接所述抬升装置21,以控制所述抬升装置21带动所述取样器22升降。
40.本技术实施例第二方面提供的一种用于混合料粒度分析的取样方法,所述一种用于混合料粒度分析的取样方法由本技术实施例第一方面提供的一种用于混合料粒度分析的取样系统执行,对于本技术实施例第二方面提供取样方法中未公开的细节,请参照申请实施例第一方面提供的取样系统,如图3所示,为本技术实施例提供的一种用于混合料粒度分析的取样方法流程示意图所述取样方法包括:
41.步骤s301,对传输带上运输的混合料进行整平,获得整平区域。
42.步骤s302,从所述整平区域连续均匀的获取混合料,获得多次取样混合料。
43.步骤s303,将多次取样混合料连续均匀抬升到预设高度后,所述预设高度大于图像采集器采集区域的高度。
44.步骤s304,使处于预设高度的取样混合料均匀下落,形成转移路径,所述转移路径的一部分连续区域为图像采集器的采集区域。
45.本技术实施例提供的一种用于混合料粒度分析的取样系统,所述取样系统包括整平装置1、连续取样装置2和抛料装置3;所述整平装置1连接输送混合料的传输带4,所述连续取样装置2包括抬升装置21以及均匀设置在所述抬升装置21上的多个取样器22;所述抬升装置21处于所述整平装置1上方,所述抬升装置21的抬升末端连接所述抛料装置3。
46.在实际应用过程中,通过整平装置1对运输的混合料进行整平,获得整平区域,利用多个取样器22从所述整平区域连续均匀的获取混合料,获得多次取样混合料;通过抬升装置21将多次取样混合料连续均匀抬升到预设的高度,通过抛料装置3使处于预设高度的取样混合料均匀下落,形成转移路径,在所述转移路径上,通过图像采集器5采集经过所述采集区域的混合料图像。本技术实施例提供的一种用于混合料粒度分析的取样系统及方法,在检测混合料制粒效果的过程中,能够连续均匀的获取混合料,保证检测结果的连续性,保证检测系统稳定的获得混合料的制粒效果。
47.以上结合具体实施方式和范例性实例对本技术进行了详细说明,不过这些说明并不能理解为对本技术的限制。本领域技术人员理解,在不偏离本技术精神和范围的情况下,可以对本技术技术方案及其实施方式进行多种等价替换、修饰或改进,这些均落入本技术的范围内。本技术的保护范围以所附权利要求为准
48.以上结合具体实施方式和范例性实例对本技术进行了详细说明,不过这些说明并不能理解为对本技术的限制。本领域技术人员理解,在不偏离本技术精神和范围的情况下,可以对本技术技术方案及其实施方式进行多种等价替换、修饰或改进,这些均落入本技术的范围内。本技术的保护范围以所附权利要求为准。
再多了解一些

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