一种便于芯片快速更替的测试设备的制作方法

1.本实用新型涉及芯片生产技术领域，具体涉及一种便于芯片快速更替的测试设备。


背景技术：

2.芯片测试设备是用来对生产生的芯片进行检测，从而检测出芯片的质量问题，并同时对芯片的性能进先检测，从而准确的得到芯片的性能数据，以便研究人员根据测试数据来进行后续的研发，且及时发现并剔除不合格的产品，提高了芯片生产的良品率。
3.现有技术中，现有的测试设备在进行芯片测试时，需要将一个芯片单独放置在检测设备上，然后进行芯片测试，但是此种方式检测芯片的效率较低，只能单个进行检测，在更换另一个芯片时需要消耗大量的时间，增加了芯片检测的时间。


技术实现要素：

4.针对背景技术中提到的问题，本实用新型的目的是提供一种便于芯片快速更替的测试设备，以解决背景技术中提到的问题。
5.本实用新型的上述技术目的是通过以下技术方案得以实现的：
6.一种便于芯片快速更替的测试设备，包括主体机构、活动件、活动槽和芯片放置槽，所述主体机构的顶部活动连接有活动件，所述活动件的底面设有芯片放置槽，所述活动槽设置在主体机构的内部，所述活动槽的内壁与活动件的外壁滑动连接。
7.通过采用上述技术方案，使得本实用新型在进行芯片检测前，将待检测的芯片放置在芯片放置槽的内部，然后通过活动件在活动槽内的移动，从而将芯片放置槽内放置的芯片送到芯片检测板的上方，然后通过芯片吸盘的按压使芯片与芯片检测板接触，启动设备开始检测，检测完成后可以将活动件上放置的另一个芯片继续移动到芯片检测板的上方进行检测，提高了芯片更换的效率，节省了芯片测试的时间。
8.较佳的，所述主体机构的正面设有操控板，所述操控板的背面转动连接有连接件，所述连接件远离操控板的一端与主体机构的外壁固定连接，所述主体机构的两侧设有散热孔。
9.通过采用上述技术方案，使得使用者在通过操控板对本实用新型进行控制时可以在连接件上进行任意角度的转动，方便了使用者的使用，可以更好对操控板进行操控。
10.较佳的，所述主体机构的上方设有顶盖，所述顶盖的底面固定连接有转动件，所述转动件的底面与主体机构的背面固定连接，所述顶盖通过转动件与主体机构活动连接。
11.通过采用上述技术方案，使得本实用新型在进行芯片检测的过程中，可以将顶盖翻转，使主体机构的顶部被顶盖盖住，对检测过程中芯片进行一定的保护，避免检测过程中受到外物的干扰。
12.较佳的，活动槽的内部设有压板，所述压板的一侧与活动槽的内部活动连接。
13.通过采用上述技术方案，使得活动件在受到按压时，使其与压板接触，从而令压板
向下移动，复位弹簧受到压力进行压缩，当活动件受到的力消失时，利用复位弹簧的弹性形变使压板向上移动推动复位弹簧复位，方便复位弹簧进行移动对下一个芯片进行检测。
14.较佳的，压板的一侧设有芯片检测板，所述芯片检测板的底面与主体机构的顶部固定连接，所述芯片检测板的两侧固定连接有针脚。
15.通过采用上述技术方案，使得本实用新型能够在芯片放置在芯片检测板上时，直接利用针脚对芯片进行检测方便使用。
16.较佳的，所述活动件的顶部活动安装有相互对称的转动板，所述转动板的顶部设有贯穿的活动孔，所述活动件的两侧设有限位槽。
17.通过采用上述技术方案，通过转动板的设置，使得芯片在检测完成后拿出时，通过芯片吸盘将芯片吸住，然后随着顶盖的打开向上移动，进而将转动板从中间打开，方便使用者在芯片检测完成后及时将芯片取出，方便了使用者的使用。
18.较佳的，所述压板的底面固定连接有复位弹簧，所述复位弹簧的地面与主体机构的顶部固定连接
19.通过采用上述技术方案，该设计使得本实用新型可以利用复位弹簧将压板进行复位处理，方便活动件在活动槽内继续移动，提高了本实用新型的稳定性。
20.较佳的，所述芯片放置槽的数量设置有五个且等距分布，所述芯片放置槽的面积与芯片检测板的面积相同。
21.通过采用上述技术方案，该设计可以使芯片放置槽内放置的芯片与芯片检测板所能够检测的芯片保持一致，避免芯片检测时产生错误。
22.综上所述，本实用新型主要具有以下有益效果：
23.通过设置活动件和活动槽，使得本实用新型在进行芯片检测前，将待检测的芯片放置在芯片放置槽的内部，然后通过活动件在活动槽内的移动，从而将芯片放置槽内放置的芯片送到芯片检测板的上方，然后通过芯片吸盘的按压使芯片与芯片检测板接触，启动设备开始检测，检测完成后可以将活动件上放置的另一个芯片继续移动到芯片检测板的上方进行检测，提高了芯片更换的效率，节省了芯片测试的时间，通过转动板的设置，使得芯片在检测完成后拿出时，通过芯片吸盘将芯片吸住，然后随着顶盖的打开向上移动，进而将转动板从中间打开，方便使用者在芯片检测完成后及时将芯片取出，方便了使用者的使用。
附图说明
24.图1是本实用新型的立体结构示意图；
25.图2是本实用新型的立体侧视示意图；
26.图3是本实用新型的俯视结构示意图；
27.图4是本实用新型的仰视结构示意图。
28.附图标记：1、主体机构；2、顶盖；3、活动件；4、操控板；5、芯片吸盘；6、散热孔；7、限位槽；8、活动孔；9、转动板；10、连接件；11、压板；12、活动槽；13、复位弹簧；14、转动件；15、固定杆；16、芯片检测板；17、针脚；18、芯片放置槽。
具体实施方式
29.下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行
清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。
30.参考图1、图2、图3和图4，一种便于芯片快速更替的测试设备，包括主体机构1、活动件3和活动槽12，主体机构1的顶部设有活动槽12，活动槽12的内部滑动连接有活动件3，活动件3的顶部设有转动板9，转动板9的两侧与活动件3的外壁转动连接，转动板9的下方设有芯片放置槽18，芯片放置槽18的顶部中心设有活动孔8，使得本实用新型在进行芯片检测前，将待检测的芯片放置在芯片放置槽18的内部，然后通过活动件3在活动槽12内的移动，从而将芯片放置槽18内放置的芯片送到芯片检测板16的上方，然后通过芯片吸盘5的按压使芯片与芯片检测板16接触，启动设备开始检测，检测完成后可以将活动件3上放置的另一个芯片继续移动到芯片检测板16的上方进行检测，提高了芯片更换的效率，节省了芯片测试的时间，转动板9的两侧设有限位槽7，活动件3的下方设有压板11，压板11的一侧与活动槽12的内壁活动连接，压板11与主体机构1之间固定连接有复位弹簧13，使得活动件3在受到按压时，使其与压板11接触，从而令压板11向下移动，复位弹簧13受到压力进行压缩，当活动件3受到的力消失时，利用复位弹簧13的弹性形变使压板11向上移动推动复位弹簧13复位，方便复位弹簧13进行移动对下一个芯片进行检测，主体机构1的顶部中心固定安装有芯片检测板16，芯片检测板16的两侧设有针脚17，针脚17的底面与主体机构1的顶部固定连接，活动件3的下方设有散热孔6，散热孔6固定安装在主体机构1的两侧。
31.参考图2和图3，主体机构1的一侧固定连接有转动件14，转动件14的顶部固定连接有顶盖2，使得本实用新型在进行芯片检测的过程中，可以将顶盖2翻转，使主体机构1的顶部被顶盖2盖住，对检测过程中芯片进行一定的保护，避免检测过程中受到外物的干扰，顶盖2靠近主体机构1的一侧固定连接有固定杆15，固定杆15的一端活动连接有芯片吸盘5，芯片吸盘5的直径小于活动孔8的直径，使得芯片在检测完成后拿出时，通过芯片吸盘5将芯片吸住，然后随着顶盖2的打开芯片吸盘5将芯片向上移动，进而将转动板9从中间打开，方便使用者在芯片检测完成后及时将芯片取出，方便了使用者的使用，主体机构1远离顶盖2的一侧固定连接有连接件10，连接件10的一端转动连接有操控板4，使得使用者在通过操控板4对本实用新型进行控制时可以在连接件10上进行任意角度的转动，方便了使用者的使用，可以更好对操控板4进行操控。
32.工作原理：请参考图1、图2、图3和图4所示，使用时，使用者将芯片放置在芯片放置槽18的内部，然后通过活动件3在活动槽12内的移动，从而将芯片放置槽18内放置的芯片送到芯片检测板16的上方，然后通过芯片吸盘5的按压使芯片与芯片检测板16接触，启动设备开始检测，检测完成后可以将活动件3上放置的另一个芯片继续移动到芯片检测板16的上方进行检测，提高了芯片更换的效率，节省了芯片测试的时间，使用者在通过操控板4对本实用新型进行控制时可以在连接件10上进行任意角度的转动，方便了使用者的使用，可以更好对操控板4进行操控，在进行芯片检测的过程中，可以将顶盖2翻转，使主体机构1的顶部被顶盖2盖住，对检测过程中芯片进行一定的保护，避免检测过程中受到外物的干扰，芯片在检测完成后拿出时，通过芯片吸盘5将芯片吸住，然后随着顶盖2的打开向上移动，进而将转动板9从中间打开，方便使用者在芯片检测完成后及时将芯片取出，方便了使用者的使用。
33.尽管已经示出和描述了本实用新型的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本实用新型的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本实用新型的范围由所附权利要求及其等同物限定。