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一种电子设备主板导通测试装置的制作方法

2021-11-30 01:17:00 来源:中国专利 TAG:


1.本实用新型涉及电子设备测试技术领域,具体而言,涉及一种电子设备主板导通测试装置。


背景技术:

2.主板是电子设备最基本也是最重要的部件之一。在将主板与其他部件进行组装前,需要对主板进行导通测试,传统的测试多采用人工的方式进行,一方面效率低,另一方面测试结果误差大。
3.公开号为cn205280865u的中国专利公开了一种电子设备主板导通测试装置,其包括:上模块,其设置有用于承载待测主板的安装位,且所述安装位上设有通孔,用于使主板测试点从所述通孔露出;下模块,其设置于所述上模块的下方并与所述主板承载结构相距一距离,且所述下模块上设有金属探针,所述金属探针设于所述通孔的正下方;驱动结构,其用于向所述上模块施加向下的压力,并带动所述上模块在压下状态和复位状态间转换。该实用新型可实现电子设备主板的快速检测,能提高测试良率。
4.但是,上述专利在操作时需要将主板放入凹槽内进行限位后测试,但是测试完成后由于主板嵌设在凹槽内,导致其难以取出,从而导致工作效率降低。鉴于此,特提出本技术。


技术实现要素:

5.针对现有技术之不足,本实用新型的目的在于提供一种电子设备主板导通测试装置,其便于主板的取放,可测试不同规格的主板,实用性强。
6.本实用新型的实施例通过以下技术方案实现:
7.一种电子设备主板导通测试装置,包括承载组件和分布于所述承载组件上方的压紧组件;所述承载组件至少包括载物台,所述载物台上贯穿设置有嵌套孔,所述嵌套孔内嵌设有限位台,所述限位台的上表面配置有用于收纳主板的限位槽,所述限位槽的底部贯穿设置有测试孔;所述限位台的上侧外沿配置有凸缘,所述凸缘上配置有拨板;当所述限位台嵌设于所述嵌套孔内时,所述凸缘搭设在所述载物台的上表面。
8.根据一种优选实施方式,所述承载组件还包括底座和探针板,所述底座的上表面配置有测试槽,所述载物台和所述探针板均嵌设于所述测试槽内,所述探针板分布于所述载物台和所述测试槽的底部内侧面之间;所述探针板的上表面配置有与所述测试孔对应的探针。
9.根据一种优选实施方式,所述载物台的下表面配置有至少一个导向柱,所述测试槽的底部设置有与所述导向柱一一对应的伸缩孔,所述伸缩孔内嵌设有弹簧,该弹簧的下端连接至所述伸缩孔的底部;所述导向柱的下端贯穿所述探针板并且嵌设于与其对应的伸缩孔内,并且抵接至所述弹簧的上端。
10.根据一种优选实施方式,所述探针板上贯穿设置有与所述导向柱一一对应的导向
孔,所述导向柱贯穿与其对应的导向孔。
11.根据一种优选实施方式,所述探针板的上表面配置有与所述测试孔对应的延伸块,所述探针设置于所述延伸块的上表面。
12.根据一种优选实施方式,所述压紧组件包括配置于所述限位台上方的伸缩件,所述伸缩件的下端配置有压板。
13.根据一种优选实施方式,所述压板的下表面配置有缓冲垫。
14.本实用新型实施例的技术方案至少具有如下优点和有益效果:
15.(1)本实用新型通过将限位台嵌套于嵌套孔中的结构设计,配合限位台上设置的凸缘以及拨板,便于工作人员将测试完成的主板从限位槽中取出,提高了工作效率。
16.(2)本实用新型设置的限位台可更换,即可对不同规格的主板进行测试,节省了测试成本。
附图说明
17.为了更清楚地说明本实用新型实施例的技术方案,下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍,应当理解,以下附图仅示出了本实用新型的某些实施例,因此不应被看作是对范围的限定,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他相关的附图。
18.图1为本实用新型的正视结构示意图;
19.图2为本实用新型的俯视结构示意图;
20.图3为本实用新型中承载组件的俯视结构示意图;
21.图4为图3中a

a截面的剖视图;
22.图5为本实用新型中探针板的俯视结构示意图。
23.图标:1

底座,2

载物台,3

凸缘,4

拨板,5

缓冲垫,6

压板,7

伸缩件,8

限位槽,9

测试孔,10

限位台,11

探针,12

延伸块,13

探针板,14

嵌套孔,15

测试槽,16

导向柱,17

伸缩孔,18

弹簧,19

导向孔。
具体实施方式
24.为使本实用新型实施例的目的、技术方案和优点更加清楚,下面将结合本实用新型实施例中的附图,对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例是本实用新型一部分实施例,而不是全部的实施例。通常在此处附图中描述和示出的本实用新型实施例的组件可以以各种不同的配置来布置和设计。
25.因此,以下对在附图中提供的本实用新型的实施例的详细描述并非旨在限制要求保护的本实用新型的范围,而是仅仅表示本实用新型的选定实施例。基于本实用新型中的实施例,本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本实用新型保护的范围。
26.应注意到:相似的标号和字母在下面的附图中表示类似项,因此,一旦某一项在一个附图中被定义,则在随后的附图中不需要对其进行进一步定义和解释。
27.在本实用新型的描述中,需要说明的是,若出现术语“中心”、“上”、“下”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置
关系,或者是该实用新型产品使用时惯常摆放的方位或位置关系,仅是为了便于描述本实用新型和简化描述,而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作,因此不能理解为对本实用新型的限制。
28.在本实用新型的描述中,还需要说明的是,除非另有明确的规定和限定,若出现术语“设置”、“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解,例如,可以是固定连接,也可以是可拆卸连接,或一体地连接;可以是机械连接,也可以是电连接;可以是直接相连,也可以通过中间媒介间接相连,可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言,可以具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义。
29.请参照图1至图5,一种电子设备主板导通测试装置,包括承载组件和分布于承载组件上方的压紧组件。承载组件至少包括载物台2,载物台2上贯穿设置有嵌套孔14,嵌套孔14内嵌设有限位台10,限位台10的上表面配置有用于收纳主板的限位槽8,限位槽8的底部贯穿设置有测试孔9。限位台10的上侧外沿配置有凸缘3,凸缘3上配置有拨板4。当限位台10嵌设于嵌套孔14内时,凸缘3搭设在载物台2的上表面。具体的,如图3和图4所示,在使用时,工作人员将主板放置在限位槽8内,其检测点透过测试孔9,并在压紧组件的作用下压紧主板使其完成相关测试,随后压紧组件脱离主板,工作人员通过拨板4将限位台10从嵌套孔14中取出,翻转限位台10将主板从限位槽8中倒出即可。本实施例中,限位台10可更换,即可对不同规格的主板进行测试,其要求是不同限位台10上开设的限位槽8轮廓对应不同规格的待测主板,节省了测试成本。
30.如图4所示,承载组件还包括底座1和探针11板,底座1的上表面配置有测试槽15,载物台2和探针11板均嵌设于测试槽15内,探针11板分布于载物台2和测试槽15的底部内侧面之间。探针11板的上表面配置有与测试孔9对应的探针11。这里的测试槽15对载物台2形成限位,使得其在测试时保证探针11与主板上测试点的位置对应。进一步地,载物台2的下表面配置有至少一个导向柱16,测试槽15的底部设置有与导向柱16一一对应的伸缩孔17,伸缩孔17内嵌设有弹簧18,该弹簧18的下端连接至伸缩孔17的底部。导向柱16的下端贯穿探针11板并且嵌设于与其对应的伸缩孔17内,并且抵接至弹簧18的上端。在使用时,压紧组件对主板施加压力,使得主板连同载物台2在纵向靠近探针11板,即探针11与测试点相互靠近,与此同时,导向柱16压缩弹簧18,载物台2在导向柱16和伸缩孔17的配合作用下,在横向无位移,即可保证主板测试点与探针11位置的对应,提高了测试结果的可靠性。在完成测试后,压紧组件脱离主板,载物台2在弹簧18的作用下复位,主板脱离探针11。优选的,导向柱16的数量为两个。
31.如图5所示,探针11板上贯穿设置有与导向柱16一一对应的导向孔19,导向柱16贯穿与其对应的导向孔19。本实施例中,探针11板和限位台10配套使用,针对不同规格的主板,只需更换上与其对应的探针11板和限位台10即可。
32.本实施例中,探针11板的上表面配置有与测试孔9对应的延伸块12,探针11设置于延伸块12的上表面。该延伸块12与测试孔9相匹配。
33.如图1所示,压紧组件包括配置于限位台10上方的伸缩件7,伸缩件7的下端配置有压板6。进一步地,压板6的下表面配置有缓冲垫5。本实施例中,伸缩件7为液压缸,缓冲垫5为软质橡胶制成,以防止主板被压伤损坏。本实施例中,伸缩件7和底座1均设置于机架上。
34.以上仅为本实用新型的优选实施例而已,并不用于限制本实用新型,对于本领域
的技术人员来说,本实用新型可以有各种更改和变化。凡在本实用新型的精神和原则之内,所作的任何修改、等同替换、改进等,均应包含在本实用新型的保护范围之内。
再多了解一些

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