芯片测试筛选平台的制作方法

1.本实用新型涉及芯片测试领域，尤其涉及芯片测试筛选平台。


背景技术：

2.芯片是电子产品中很重要的一部分，它可以使多种不同的功能可以组合在一起，经过很长一段时间的发展，芯片越来越小但是功能却在逐渐的丰富，从而使电子产品在很小的面积能够实现多种不同功能，芯片的好坏是非常重要的，可以影响一个电子产品个工作效率，坏的芯片会导致电子产品失效，所以检测芯片的好坏是非常重要的，就出现了多种检测芯片的装置。
3.芯片到成品需要对其检测，通常的检测一般不能对不同的芯片进行检测，且结构复杂。


技术实现要素：

4.本实用新型的目的是为了解决现有技术中存在的缺点，而提出的芯片测试筛选平台。
5.为了实现上述目的，本实用新型采用了如下技术方案：芯片测试筛选平台，包括外壳，所述外壳的内底部固定连接有底座，所述底座的内部设置有主板，所述底座的上表面设置有多个夹紧装置，且夹紧装置包括固定块一、支架一、支架二和固定块二，所述固定块一与固定块二的上表面均固定连接有加热块，所述底座的上表面且位于夹紧装置内设置有检测器。
6.作为上述技术方案的进一步描述：
7.所述底座表面开设有滑槽，且滑槽滑动连接有立柱二，所述立柱二的前壁固定连接有横板，所述横板的表面开设有螺纹孔，且螺纹孔螺纹连接有螺纹柱一。
8.作为上述技术方案的进一步描述：
9.所述立柱二的侧壁连接有夹紧装置。
10.作为上述技术方案的进一步描述：
11.所述底座的上表面固定连接有立柱一，所述立柱一的侧壁开设有滑槽，所述支架一固定连接在滑槽内，所述支架二滑动连接在滑槽内，所述立柱一与立柱二的前壁均螺纹连接有螺纹柱二，且螺纹柱二与支架二固定连接。
12.作为上述技术方案的进一步描述：
13.所述支架一远离立柱一的一端与固定块一侧壁固定连接，所述支架二远离立柱一的一端与固定块两侧壁固定连接，所述固定块一与固定块二都紧贴底座。
14.作为上述技术方案的进一步描述：
15.所述检测器的表面开设有若干个孔，所述检测器与主板电性连接。
16.作为上述技术方案的进一步描述：
17.所述外壳的侧壁固定连接有控制器，所述控制器的上表面固定连接有温度传感
器。
18.作为上述技术方案的进一步描述：
19.所述控制器的前壁设置有开关，所述开关一侧设置有声音报警器。
20.本实用新型具有如下有益效果：
21.1、与现有技术相比，该芯片测试筛选平台，可以通过支架二在立柱一的滑槽内移动，使固定块一和固定块二对芯片进行夹紧，通过立柱二在底座上的滑槽移动可以对芯片进行固定，就可以实现对不同大小芯片的固定，可以更换检测器对不同种类芯片的检测。
22.2、与现有技术相比，该芯片测试筛选平台，可以通过温度传感器调节加热块可以对芯片进行加热，从而确定芯片工作范围内的温度。
附图说明
23.图1为本实用新型提出的芯片测试筛选平台的整体结构图；
24.图2为本实用新型提出的芯片测试筛选平台的图1中a处剖视图；
25.图3为本实用新型提出的芯片测试筛选平台的图1中b处剖视图；
26.图4为本实用新型提出的芯片测试筛选平台的图1中c处局部放大图；
27.图5为本实用新型提出的芯片测试筛选平台的图3中d处局部放大图；
28.图6为本实用新型提出的芯片测试筛选平台的图2中e处局部放大图。
29.图例说明：
30.1、外壳；2、底座；3、立柱一；4、控制器；5、开关；6、声音报警器；7、温度传感器；8、固定块一；9、支架一；10、支架二；11、固定块二；12、加热块；13、检测器；14、螺纹柱一；15、螺纹柱二；16、横板；17、立柱二；18、主板。
具体实施方式
31.下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。
32.在本实用新型的描述中，需要说明的是，术语“中心”、“上”、“下”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制；术语“第一”、“第二”、“第三”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性，此外，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义。
33.参照图1
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6，本实用新型提供的芯片测试筛选平台：包括外壳1，外壳1的内底部固定连接有底座2，内部可以放置主板18，表面可以放置检测器13等多个装置，底座2的内部设置有主板18，可以把检测器13收集到的数据传送到主板18上，底座2的上表面设置有多个夹
紧装置，且夹紧装置包括固定块一8、支架一9、支架二10和固定块二11，可以把放在检测器13上的芯片固定住，支架一9远离立柱一3的一端与固定块一8侧壁固定连接，把支架一9和固定块一8连接起来，支架二10远离立柱一3的一端与固定块二11侧壁固定连接，固定块一8与固定块二11都紧贴底座2，可以使固定块一8和固定块二11可以在底座2上滑动，固定块一8与固定块二11的上表面均固定连接有加热块12，可以对芯片周围的温度升高，从而确定芯片可以在多少度下工作，底座2的上表面且位于夹紧装置内设置有检测器13，检测器13内部有多个孔可以让芯片插进去对芯片进行检测，检测器13可以拆卸下来，然后更换不同的检测器13，来对不同种类芯片进行检测，检测器13的表面开设有若干个孔，检测器13与主板18电性连接，可以让检测器13所检测到的数据传送到主板18上。
34.底座2表面开设有滑槽，且滑槽滑动连接有立柱二17，立柱二17可以移动的同时带动夹紧装置移动，从而对芯片夹紧，立柱二17的前壁固定连接有横板16，可以放置螺纹柱一14，横板16的表面开设有螺纹孔，且螺纹孔螺纹连接有螺纹柱一14，通过拧紧螺纹柱一14与底座2固定，从而使立柱二17固定，立柱二17的侧壁连接有夹紧装置。
35.底座2的上表面固定连接有立柱一3，可以对支架一9固定的同时可以让支架二10在滑槽内移动，立柱一3的侧壁开设有滑槽，支架一9固定连接在滑槽内，支架二10滑动连接在滑槽内，可以使支架二10靠近和远离支架一9，从而使固定块一8与固定块二11对芯片的前后夹紧，立柱一3与立柱二17的前壁均螺纹连接有螺纹柱二15，且螺纹柱二15与支架二10固定连接，可以让滑槽内的支架二10不会随便移动。
36.外壳1的侧壁固定连接有控制器4，可以控制主板18的开启和关闭，控制器4的上表面固定连接有温度传感器7，可以调节加热块12的温度，从而可以确定芯片的工作范围内的温度，控制器4的前壁设置有开关5，开关5一侧设置有声音报警器6，当声音报警器6发出滴的一声就说明检测合格，发出不间断声音就说明检测不合格。
37.工作原理：先把芯片放在检测器13上，使芯片的针脚插入检测器13的孔内，检测器13可以拆卸更换不同种类的检测器13来对不同种类芯片进行检测，在通过拧螺纹柱二15使支架二10靠近和远离支架一9，由于支架二10和固定块二11固定连接，可以使固定块一8和固定块二11前后加紧芯片，立柱二17可以在底座2上的滑槽内移动，由于立柱二17与立柱一3都连接有夹紧装置，固定块一8和固定块二11可以在底座2上移动，就可以使立柱二17连接的夹紧装置移动，在通过拧紧螺纹柱一14把立柱二17固住，从而使芯片把左右方向上固定住，主板18与检测器13连接，在通过启动开关5对芯片进行检测，当声音报警器6发出滴的一声就说明检测合格，发出不间断声音就说明检测不合格，可以通过温度传感器7调节加热块12温度对芯片进行升温，可以确定芯片可以在多少度下可以使用。
38.最后应说明的是：以上所述仅为本实用新型的优选实施例而已，并不用于限制本实用新型，尽管参照前述实施例对本实用新型进行了详细的说明，对于本领域的技术人员来说，其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换，凡在本实用新型的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。