自校准光谱传感器模块的制作方法

技术特征：
1.一种系统，包括：第一光源；第二光源；光电检测器；以及电子控制设备，其能够操作以：使所述第一光源向对象发射波长范围内的第一光；使用所述光电检测器测量从所述对象反射的第一光；使所述第二光源发射第二光，所述第二光包括所述波长范围内的多个发射峰；使用所述光电检测器测量所述第二光；以及基于所测量的第一光和所测量的第二光确定关于所述对象的光谱信息。2.根据权利要求1所述的系统，其中所述第一光是宽带光。3.根据权利要求1所述的系统，其中所述多个发射峰的波长均匀分布。4.根据权利要求1所述的系统，其中所述电子控制设备能够操作以通过以下方式确定关于所述对象的所述光谱信息：识别所测量的第二光中的所述多个发射峰中的一个或多个发射峰；以及基于所识别的一个或多个发射峰来变换所测量的第一光的表示。5.根据权利要求4所述的系统，其中所测量的第一光的表示包括指示所测量的第一光的光谱分量的数据记录。6.根据权利要求1所述的系统，其中所述电子控制设备能够操作以通过以下方式确定关于所述对象的光谱信息：确定所测量的第二光和所测量的第一光之间的差；以及基于所述差变换所测量的第一光的表示。7.根据权利要求6所述的系统，其中所测量的第一光的表示包括指示所测量的第一光的光谱分量的数据记录。8.根据权利要求1所述的系统，其中所述电子控制设备能够操作以：使所述第二光源向所述对象发射所述第二光，以及使用所述光电检测器测量从所述对象反射的第二光。9.根据权利要求1所述的系统，其中所述电子控制设备能够操作以：使所述第二光源向光学耦合到所述光电检测器的光导发射所述第二光，以及使用所述光电检测器测量从所述光导发射的第二光。10.根据权利要求1所述的系统，其中所述第二光源包括一个或多个介电涂层滤光器和宽带发光元件。11.根据权利要求10所述的系统，其中所述宽带发光元件包括白炽灯。12.根据权利要求1所述的系统，还包括主机设备，并且其中所述第一光源、所述第二光源、所述光电检测器和所述电子控制设备至少部分地设置在所述主机设备中。13.根据权利要求12所述的系统，其中所述主机设备是智能电话或可穿戴设备中的至少一个。14.一种方法，包括:
向对象发射波长范围内的第一光；测量从所述对象反射的第一光；发射第二光，所述第二光包括所述波长范围内的多个发射峰；测量所述第二光；以及基于所测量的第一光和所测量的第二光确定关于所述对象的光谱信息。15.根据权利要求14所述的方法，其中所述第一光是宽带光。16.根据权利要求14所述的方法，其中所述多个发射峰的波长均匀分布。17.根据权利要求14所述的方法，其中确定关于所述对象的所述光谱信息包括：识别所测量的第二光中的所述多个发射峰中的一个或多个发射峰；以及基于所识别的一个或多个发射峰变换所测量的第一光的表示。18.根据权利要求17所述的方法，其中所测量的第一光的表示包括指示所测量的第一光的光谱分量的数据记录。19.根据权利要求14所述的方法，其中确定关于所述对象的所述光谱信息包括：确定所测量的第二光和所测量的第一光之间的差；以及基于所述差变换所测量的第一光的表示。20.根据权利要求19所述的方法，其中所测量的第一光的表示包括指示所测量的第一光的光谱分量的数据记录。21.根据权利要求14所述的方法，其中发射第二光包括向所述对象发射第二光，并且其中测量所述第二光包括测量从所述对象反射的第二光。22.根据权利要求14所述的方法，其中发射第二光包括向光导发射所述第二光，并且其中测量所述第二光包括测量从所述光导发射的第二光。

技术总结
一种示例系统包括第一光源、第二光源、光电检测器和电子控制设备。电子控制设备可操作以使第一光源向对象发射波长范围内的第一光，以及使用光电检测器测量从对象反射的第一光。电子控制设备还可操作以使第二光源发射包括波长范围内的多个发射峰的第二光，以及使用光电检测器测量第二光。电子控制设备还可操作以基于所测量的第一光和所测量的第二光来确定关于对象的光谱信息。关于对象的光谱信息。关于对象的光谱信息。


技术研发人员：哈维尔.米格尔桑切斯
受保护的技术使用者：ams传感器新加坡私人有限公司
技术研发日：2020.03.25
技术公布日：2021/11/24