一种电源探针测试单元的制作方法

技术特征：
1.一种电源探针测试单元，包括基座，其特征在于：所述基座包括上基座(1)、下基座(2)，所述上基座(1)上开设有上下贯通的上腔体(3)，所述下基座(2)上开设有与上腔体(3)对应的上下贯通的下腔体(4)，所述上腔体(3)内设有上型芯(6)，所述下腔体(4)内设有下型芯(7)，所述上型芯(6)和下型芯(7)上均开设有上下贯通的通孔，其内安装有电源探针(5)。2.根据权利要求1所述的一种电源探针测试单元，其特征在于：所述上型芯(6)和下型芯(7)均采用绝缘材质制成，且均为大小径圆柱型结构。3.根据权利要求1所述的一种电源探针测试单元，其特征在于：所述上腔体(3)为上小下大形圆孔结构，所述下腔体(4)为上大下小形圆孔结构。4.根据权利要求1所述的一种电源探针测试单元，其特征在于：所述上型芯(6)的外径尺寸小于上腔体(3)的内径尺寸，所述下型芯(7)的外径尺寸小于下腔体(4)的内径尺寸，所述上型芯(6)与上腔体(3)、下型芯(7)与下腔体(4)之间均设有胶粘层(8)。5.根据权利要求1所述的一种电源探针测试单元，其特征在于：所述上型芯(6)与上腔体(3)的高度尺寸相同，所述下型芯(7)与下腔体(4)的高度尺寸相同。6.根据权利要求1所述的一种电源探针测试单元，其特征在于：所述上型芯(6)和下型芯(7)的通孔均带有导向锥角。7.根据权利要求1所述的一种电源探针测试单元，其特征在于：所述电源探针(5)包含套筒(51)、弹簧(52)、上柱塞(53)和下柱塞(54)，所述弹簧(52)设置于套筒(51)内，所述上柱塞(53)和下柱塞(54)分设于套筒(51)的上下两端，且均与弹簧(52)抵接。8.根据权利要求7所述的一种电源探针测试单元，其特征在于：所述上柱塞(53)与套筒(51)压接连接，所述下柱塞(54)穿设于套筒(51)上且活动连接。

技术总结
本实用新型公开了一种电源探针测试单元，包括基座，所述基座包括上基座、下基座，所述上基座上开设有上下贯通的上腔体，所述下基座上开设有与上腔体对应的上下贯通的下腔体，所述上腔体内设有上型芯，所述下腔体内设有下型芯，所述上型芯和下型芯上均开设有上下贯通的通孔，其内安装有电源探针。本实用新型的有益效果是：通过上型芯、下型芯的配合，保证电源探针的绝缘效果，功率损耗低，测试效果好，更好的满足了5G及AI时代对高速图像处理等高速芯片测试的更高要求，且电源探针固定牢固，结构简单，易于组装。易于组装。易于组装。


技术研发人员：钱晓晨 蔡泓羿
受保护的技术使用者：苏州和林微纳科技股份有限公司
技术研发日：2020.12.23
技术公布日：2021/11/23