芯片自动测试机的制作方法

1.本实用新型涉及检测设备技术领域，尤其涉及一种芯片自动测试机。


背景技术：

2.芯片出厂前需要进行电气测试，目前市面上并没有专门用于实现芯片电气测试的测试系统，因此，操作工人只能通过小车等工具将芯片依次送去各个工位执行相应的操作，测试效率较低。
3.因此，需要研发一种芯片测试系统，用于实现芯片电气测试的流水线作业，进而提高测试效率。


技术实现要素：

4.本实用新型的一个目的在于，提供一种芯片自动测试机，能实现芯片电气测试的流水线作业，进而提高测试效率。
5.为达以上目的，本实用新型提供一种芯片自动测试机，包括待测件存储机构、取料机械手、送测输送带、送测载具、送测机械手、测试机构和合格件存储机构；
6.所述待测件存储机构用于存放装载有待测试的芯片的待测料盘；
7.所述合格件存储机构用于存放合格料盘；
8.所述取料机械手用于将所述待测料盘上的芯片放入所述送测载具和将所述送测载具上测试合格的芯片放入所述合格料盘；
9.所述送测输送带用于进行所述取料机械手和送测机械手之间的送测载具转移；
10.所述送测机械手用于进行所述送测载具和测试机构之间的芯片转移。
11.可选的，还包括ng件存储机构；
12.所述ng件存储机构用于存放ng料盘，所述取料机械手还用于将所述送测载具上测试不合格的芯片放入所述ng料盘。
13.可选的，还包括待复测件存储机构；
14.所述待复测件存储机构用于存放待复测料盘，所述取料机械手还用于将所述送测载具上需要进行重新测试的的芯片放入所述待复测料盘。
15.可选的，还包括空盘存储机构；
16.所述空盘存储机构用于存放空载的空载料盘，所述取料机械手还用于将所述空盘存储机构上的空载料盘转移至所述合格件存储机构、ng件存储机构和待复测件存储机构。
17.可选的，空盘存储机构、待测件存储机构、合格件存储机构、ng件存储机构和待复测件存储机构并列设置。
18.可选的，所述空盘存储机构、待测件存储机构、合格件存储机构、ng件存储机构和待复测件存储机构均包括升降平台和用于驱使所述升降平台上下运动的直线驱动机构。
19.可选的，所述送测载具包括待测区域和已测区域；
20.所述取料机械手用于将所述待测料盘上的芯片转移至所述送测载具的待测区域；
21.所述送测机械手用于将所述测试机构处的芯片转移至所述已测区域。
22.可选的，每一所述取料机械手对应设置两所述送测输送带；
23.每一所述送测输送带对应设置一所述送测载具和一所述送测机械手；
24.每一所述送测机械手对应设置四沿所述送测输送带的送料方向排布的所述测试机构。
25.可选的，所述取料机械手的数量为两台。
26.本实用新型的有益效果在于：提供一种芯片自动测试机，使用待测件存储机构、取料机械手、送测输送带、送测载具、送测机械手、测试机构和合格件存储机构实现芯片送测时的上下料同源设置，极大的缩减了设备体积，还能实现芯片测试的流水线作业，进而提高测试效率。
附图说明
27.为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其它的附图。
28.图1为实施例提供的芯片自动测试机的俯视示意图；
29.图2为实施例提供的送测载具的俯视示意图。
30.图中：
31.101、空盘存储机构；102、待测件存储机构；103、合格件存储机构；104、ng件存储机构；105、待复测件存储机构；
32.201、空载料盘；202、待测料盘；203、合格料盘；204、ng料盘；205、待复测料盘；
33.3、取料机械手；
34.4、送测输送带；
35.5、送测载具；501、待测区域；502、已测区域；
36.6、送测机械手；
37.7、测试机构。
具体实施方式
38.为使得本实用新型的目的、特征、优点能够更加的明显和易懂，下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，下面所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而非全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例，都属于本实用新型保护的范围。
39.在本实用新型的描述中，需要理解的是，当一个组件被认为是“连接”另一个组件，它可以是直接连接到另一个组件或者可能同时存在居中设置的组件。当一个组件被认为是“设置在”另一个组件，它可以是直接设置在另一个组件上或者可能同时存在居中设置的组件。
40.此外，术语“长”“短”“内”“外”等指示方位或位置关系为基于附图所展示的方位或
者位置关系，仅是为了便于描述本实用新型，而不是指示或暗示所指的装置或原件必须具有此特定的方位、以特定的方位构造进行操作，以此不能理解为本实用新型的限制。
41.下面结合附图并通过具体实施方式来进一步说明本实用新型的技术方案。
42.参见图1，本实施例提供一种芯片自动测试机，包括空盘存储机构101、待测件存储机构102、合格件存储机构103、ng件存储机构104、待复测件存储机构105、取料机械手3、送测输送带4、送测载具5、送测机械手6和测试机构7。
43.所述空盘存储机构101用于存放空载的空载料盘201，所述待测件存储机构102用于存放装载有待测试的芯片的待测料盘202，所述合格件存储机构103用于存放合格料盘203，所述ng件存储机构104用于存放ng料盘204，所述待复测件存储机构105用于存放待复测料盘205。
44.可选的，所述空盘存储机构101、待测件存储机构102、合格件存储机构103、ng件存储机构104和待复测件存储机构105均包括升降平台和用于驱使所述升降平台上下运动的直线驱动机构。
45.可选的，所述直线驱动机构为气缸、液压缸或者电机丝杆组件等。
46.参见图2，所述送测载具5包括待测区域501和已测区域502。
47.本实施例提供的芯片自动测试机工作过程如下：
48.(1)待测件存储机构102的直线驱动机构驱使升降平台下降至最低点，手动或者使用设备将堆叠放置的待测料盘202放入待测件存储机构102的升降平台中，然后待测件存储机构102的升降平台往上升起；同时，空盘存储机构101的直线驱动机构驱使升降平台下降至最低点，手动或者使用设备将堆叠放置的空载料盘201放入空盘存储机构101的升降平台中，然后空盘存储机构101的升降平台往上升起；
49.(2)取料机械手3将所述空盘存储机构101上的空载料盘201转移至所述合格件存储机构103、ng件存储机构104和待复测件存储机构105；因此，操作工人只需一次性将堆叠放置的若干空盘批量放入空盘存储机构101，取料机械手3即可自动将各空盘送去各位置，进而得到合格料盘203、ng料盘204和待复测料盘205等；无需逐一向合格件存储机构103、ng件存储机构104和待复测件存储机构105放入空载的料盘，进而提高测试效率；
50.(3)取料机械手3将所述待测料盘202上的芯片放入所述送测载具5的待测区域501中，所述送测输送带4正向将送测载具5连同待测的芯片输送至送测机械手6处，送测机械手6将待测区域501内的芯片送入测试机构7进行电气测试；
51.(4)测试完毕，送测机械手6将已完成测试的芯片从测试机构7转移至送测载具5的已测区域502，进一步地，控制系统在后台自动记录已测区域502中的哪个位置对应的芯片是测试合格的，哪个位置的芯片是测试不合格的，哪个位置的芯片是需要进行重新测试的；例如，已测区域502一共有四个放料槽，第一个是测试不合格的，第二个是需要进行重新测试的，第三个和第四个是合格的，这些信息均在控制系统进行记录，以便取料机械手3在后续的步骤中将各放料槽中的芯片放入不同的存储机构中；为方便记录测试信息，还可以设置扫码设备对芯片上的二维码等标识信息进行扫码操作；
52.(5)送料输送带反向将送测载具5送至取料机械手3处，取料机械手3根据后台记录将各芯片送至合适的料盘处，例如，将已测区域502中测试合格的芯片放入合格料盘203、将已测区域502中测试不合格的芯片放入ng料盘204、将已测区域502中需要重新测试的芯片
放入待复测料盘205；可选的，可设置两待复测料盘205，每一待复测料盘205对应设置一待复测件存储机构105，第一次测试不合格的放入一待复测料盘205，第二次测试不合格的放入另一待复测料盘205，三次测试均不合格就送入ng料盘204；
53.(6)至此，完成一次测试循环，重复执行(1)～(5)即可完成所有待测的芯片的测试。
54.需要说明的是，本实施例中，当待测件存储机构102的直线驱动机构驱使升降平台下降至最低点，即可将堆叠放置的待测料盘202放入待测件存储机构102的升降平台中；同理，当空盘存储机构101的直线驱动机构驱使升降平台下降至最低点，即可将堆叠放置的空载料盘201放入空盘存储机构101的升降平台中。
55.当合格料盘203上放满合格的芯片后，合格件存储机构103往下降一点，取料机械手3将新的空载料盘201放到合格件存储机构103上，即可就继续存放合格的测试芯片；当合格件存储机构103的升降平台下降至最低位置，即可将堆叠放置的合格料盘203批量取出。ng件存储机构104和待复测件存储机构105二者的工作原理与合格件存储机构103相同，此处不再赘述。
56.可选的，空盘存储机构101、待测件存储机构102、合格件存储机构103、ng件存储机构104和待复测件存储机构105并列设置，以缩短取料机械手3的送料行程，提高测试效率和缩减设备体积。
57.可选的，为了进一步提高测试效率，每一所述取料机械手3对应设置一待测件存储机构102、一合格件存储机构103和两所述送测输送带4。每一所述送测输送带4对应设置一所述送测载具5和一所述送测机械手6。所述送测载具5设有八个放料槽，四个处于待测区域501，另外四个处于已测区域502。每一所述送测机械手6对应设置四台沿所述送测输送带4的送料方向排布的所述测试机构7。
58.可选的，所述取料机械手3的数量为两台。两台取料机械手3对应设置一空盘存储机构101、一ng件存储机构104和一待复测件存储机构105。当然，于一些其它实施例中，每一取料机械手3也可以对应设置其它数量的送测输送带4和送测机械手6等，本实施例对此不进行限定。
59.本实施例提供的芯片自动测试机，通过后台记录测试结果的方式，实现上下料同源设置，极大的缩减了设备体积，进一步地，双取料机械手配合四送测输送带进行工作，进一步提高了芯片的测试效率，具有较大的推广价值。
60.以上实施例仅用以说明本实用新型的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述实施例对本实用新型进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本实用新型各实施例技术方案的精神和范围。