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一种双反射面天线系统高效高精度校准方法与流程

2021-11-05 22:33:00 来源:中国专利 TAG:

技术特征:
1.一种双反射面天线系统高效高精度校准方法,其特征在于,包括步骤如下:步骤1,采用摄影测量的方法对发射天线和接收天线的型面精度和基准孔位置进行测试;步骤2,拟合双反射面天线系统电场切面,建立场地坐标系,对发射天线和接收天线反射器进行场地校准,使得发射天线反射器中心坐标系与场地坐标系之间的转角偏差、接收天线反射器中心坐标系与场地坐标系之间的转角偏差均小于设定的指标要求,将发射天线和接收天线调整至初始预设位置;步骤3,当发射天线和接收天线反射器初始校准达到校准要求精度后,分别对发射天线和接收天线进行反射器和馈源组件的校准,使发射天线反射器和发射馈源之间、接收天线反射器和接收馈源之间达到预设精度要求;步骤4,分别模拟发射天线电场切面和接收天线电场切面,进行发射天线反射器中心坐标系与场地坐标系之间的转角偏差校准、接收天线反射器中心坐标系与场地坐标系之间的转角偏差校准;步骤5,进行发射天线电场切面与场地坐标系之间、接收天线电场切面与场地坐标系之间的位移校准;步骤6,对双反射面天线系统与场地坐标系之间进行x位移参数校准,使双反射面天线系统的焦点对准;步骤7,对双反射面天线系统进行方向图测试,根据方向图测试结果对双反射面天线系统的转角偏差和x、y、z方向的位移偏差进行调整。2.根据权利要求1所述的一种双反射面天线系统高效高精度校准方法,其特征在于,场地坐标系的定义为:原点位于两个反射器连线中心,z轴与天线传输方向一致,x轴垂直于地面,y轴与x、z轴遵循右手定则。3.根据权利要求2所述的一种双反射面天线系统高效高精度校准方法,其特征在于,步骤2中,拟合双反射面天线系统电场切面的方法为:将发射天线反射器上的第一校准孔和第五校准孔之间的连线作为切面方向,将第一校准孔、第五校准孔和发射天线反射器中心三点连线所围成的面作为切面;第一校准孔和第五校准孔位于发射天线反射器上,两个点的连线与地面垂直;将接收天线反射器上的第一校准孔和第五校准孔之间的连线作为切面方向,将第一校准孔、第五校准孔和接收天线反射器中心三点连线所围成的面作为切面;第一校准孔和第五校准孔位于接收天线反射器上,两个点的连线与地面垂直。4.根据权利要求3所述的一种双反射面天线系统高效高精度校准方法,其特征在于,步骤4中的校准精度要求高于步骤2中的校准精度要求。

技术总结
本发明提供了一种双反射面天线系统高效高精度校准方法,解决如何在无法进行电轴对准的情况下,高效高精度的进行较远距离(20~50米)双反射面天线系统校准的问题。采用纯机械的方式校准,在双反射面天线系统中心焦点处建立中心坐标系,增加切面对准参数,减少场地对波束辐射的影响,降低后续系统联调难度,实现20~50米远距离的高效微波能量传输。20~50米远距离的高效微波能量传输。20~50米远距离的高效微波能量传输。


技术研发人员:禹旭敏 赵颖 任俊毅 施锦文 吕鹏 董亚洲 刘硕
受保护的技术使用者:西安空间无线电技术研究所
技术研发日:2021.06.30
技术公布日:2021/11/4
再多了解一些

本文用于企业家、创业者技术爱好者查询,结果仅供参考。

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