用于保护晶体管免于过载的方法和电子电路与流程

技术特征：
1.一种方法，包括：求取第一测量信号(cs1)，所述第一测量信号取决于流过与负载(z)串联连接的第一晶体管(q1)的第一负载电流(i1)；求取第二测量信号(cs2)，所述第二测量信号取决于流过与所述负载(z)串联连接的第二晶体管(q2)的第二负载电流(i2)；比较所述第一测量信号(cs1)和所述第二测量信号(cs2)，以检测故障的存在。2.根据权利要求1所述的方法，其中当所述第一测量信号(cs1)和所述第二测量信号(cs2)中的一个测量信号与所述第一测量信号(cs1)和所述第二测量信号(cs2)中的另一个测量信号相差超过预设值时，检测到故障的存在。3.根据权利要求1或2所述的方法，其中求取所述第一测量信号(cs1)包括获取所述第一晶体管(q1)的负载路径电压(v1)。4.根据权利要求3所述的方法，其中产生所述第一电流测量信号(cs1)包括获取所述负载路径电压(v1)和借助于放大器(31)来放大所述负载路径电压。5.根据权利要求1至4中任一项所述的方法，其中求取所述第二测量信号(cs2)包括测量所述第二晶体管(q2)的负载路径电压(v2)。6.根据权利要求1至4中任一项所述的方法，其中求取所述第二测量信号(cs2)包括产生取决于所述第二负载电流(i2)的测量电流(is)。7.根据权利要求6所述的方法，其中所述第二晶体管(q2)具有负载电流输出端(s11)和测量电流输出端(s12)，并且其中所述测量电流(is2)由耦连到所述负载电流输出端(s11)和所述测量电流输出端(s12)的电流获取电路(35)提供。8.根据权利要求6或7所述的方法，其中产生所述第二测量信号(cs2)包括通过测量电阻(34)传导所述测量电流(is2)，其中所述第二测量信号(cs2)是所述测量电阻(34)两端的电压。9.根据前述权利要求中任一项所述的方法，其中所述第一晶体管(q1)是h桥的低侧晶体管，并且其中所述第二晶体管(q2)是所述h桥的高侧晶体管。10.根据前述权利要求中任一项所述的方法，还包括：在检测到故障时，关断所述第一晶体管(q1)和所述第二晶体管(q2)中的至少一个晶体管。11.根据前述权利要求中任一项所述的方法，还包括：依据取决于所述第二负载电流(i2)的保险特性曲线来驱控所述第二晶体管(q2)。12.根据前述权利要求中任一项所述的方法，还包括：将所述第一测量信号(cs1)与固定预设的阈值进行比较；并且
当所述第一测量信号(cs1)达到或超过所述固定预设的阈值时关断所述第一晶体管(q1)。13.一种电子电路，具有：第一电子开关(q1)，被设计为与负载(z)串联连接；第二电子开关(q2)，被设计为与所述负载(z)串联连接；故障检测电路(3)，被设计为：求取第一测量信号(cs1)，所述第一测量信号取决于流过所述第一晶体管(q1)的第一负载电流(i1)，求取第二测量信号(cs2)，所述第二测量信号取决于流过所述第二晶体管(q2)的第二负载电流(i2)，比较所述第一测量信号(cs1)和所述第二测量信号(cs2)，以检测故障的存在。14.根据权利要求13所述的电子电路，其中所述故障检测电路(3)被设计为：当所述第一测量信号(cs1)和所述第二测量信号(cs2)中的一个测量信号与所述第一测量信号(cs1)和所述第二测量信号(cs2)中的另一个测量信号相差超过预设值时，检测到故障。15.根据权利要求13或14所述的电子电路，其中所述故障检测电路(3)被设计为：获取所述第一电子开关(q1)的负载路径电压(v1)，以求取所述第一测量信号(cs1)。16.根据权利要求15所述的电子电路，其中所述第二晶体管(q2)具有负载电流输出端(s2)和测量电流输出端(s2’)，并且其中所述故障检测电路(3)具有耦连到所述负载电流输出端(s2)和所述测量电流输出端(s2’)的调节器(35)，所述调节器被设计为产生取决于所述第二负载电流(i2)的测量电流(is2)。17.根据权利要求16所述的电子电路，其中所述故障检测电路(3)还具有与所述调节器(35)串联连接的测量电阻(34)，其中所述第二测量信号(cs2)是所述测量电阻(34)两端的电压。18.根据权利要求13至17中任一项所述的电子电路，其中所述故障检测电路(3)具有耦连到所述第一晶体管(q1)的负载路径的放大器(33)，所述放大器提供所述第一电流测量信号(cs1)。19.根据权利要求13至18中任一项所述的电子电路，其中所述第一开关(q1)是h桥的低侧开关，并且其中所述第二开关(q2)是所述h桥的高侧开关。20.根据权利要求13至19中任一项所述的电子电路，还包括：驱控电路(4、5)，被设计为：当通过所述故障检测电路(3)检测到故障的存在时，关断所述第一电子开关(q1)和所述第二电子开关(q2)中的至少一个电子开关。21.根据权利要求13至20中任一项所述的电子电路，其中所述第二电子开关(q2)和所述故障检测电路(3)是共同的集成电路(200)的一部分，并且其中所述第一电子开关(q1)被布置在所述集成电路(200)的外部。

技术总结
本公开的各实施例涉及用于保护晶体管免于过载的方法和电子电路。说明了一种方法。该方法包括：求取第一测量信号(CS1)，该第一测量信号取决于流过与负载(Z)串联连接的第一晶体管(Q1)的第一负载电流(I1)；求取第二测量信号(CS2)，该第二测量信号取决于流过与负载(Z)串联连接的第二晶体管(Q2)的第二负载电流(I2)；以及比较第一测量信号(CS1)和第二测量信号(CS2)，以检测故障的存在。以检测故障的存在。以检测故障的存在。


技术研发人员：M
受保护的技术使用者：英飞凌科技股份有限公司
技术研发日：2021.04.29
技术公布日：2021/11/2