一种用于半导体测试放置已测芯片的工作桌及使用方法与流程

本发明涉及芯片工作桌，尤其涉及一种用于半导体测试放置已测芯片的工作桌及使用方法。

背景技术：

1、通常半导体芯片测试已测品根据不同的bin分类给料盘卡不同标识的bin夹，bin夹盒子放置工作桌面，使得工作桌面的利用空间减少，易发生抖盘现象。bin夹盒子分类少，不满足bin类繁多的需求，bin夹混在一起，用错bin夹造成混料风险。专利公开号为cn120927704a的一种桌面式芯片检测设备专利，提供了图像采集组件设置于芯片托盘的上方，图像采集组件的图像采集部呈朝向芯片托盘设置以能够采集到芯片托盘上待测芯片的图像信息；该发明通过将基座顶部上方设置为敞开式结构，并配合设置运动模块、芯片托盘、图像采集组件等结构，具有提高上料效率、确保整体检测效率和检测结果、降低操作人员劳动强度的优点。

2、由于夹盒子空间有限，夹格子分类少，不满足多需求，容易混一起，夹用错发生混料，夹盒子放置工作桌表面，占用桌面空间，使得桌面利用率减少，易发生抖盘，而且操作时需要用到不同金属标牌条码的绑带进行捆绑使用，但是不同金属标牌条码的绑带需要放置在指定挂钩位置，一旦出现捆绑位置出现错误则难以及时进行自动处理去除，导致工作桌的操作错误率较高。

技术实现思路

1、为了解决上述技术问题得出如下方案：

2、一种用于半导体测试放置已测芯片的工作桌，包括工作桌架，所述工作桌架的内壁固定有工作上台；

3、所述工作桌架的一侧插接有多个挂钩，各所述挂钩用于挂载具有不同金属标牌条码的绑带，所述挂钩的一侧设有检测驱动件；

4、所述检测驱动件上安装有抬升件，所述抬升件上安装有两个上抬板；

5、所述检测驱动件用于检测各所述挂钩上所挂载绑带的金属标牌条码，并在检测到的金属标牌条码与预设参考金属标牌条码不匹配时，所述检测驱动件驱动抬升件，所述抬升件驱动所述上抬板向上运动，以将对应挂钩上金属标牌条码不符的绑带顶起并使其脱离该挂钩。

6、在本实施例优选地，多个所述挂钩从左到右依次排列设置，相邻两个所述挂钩之间均设有间隙。

7、在本实施例优选地，所述检测驱动件包括：

8、所述挂钩的一侧设有与工作桌架固定连接的横框，所述横框的内壁转动安装有螺杆，所述横框的一端部安装有电机，所述电机用于驱动螺杆旋转；

9、所述螺杆的外壁螺纹连接有套接块，所述横框用于导向套接块滑动，所述套接块的一侧嵌入安装有条码识别传感器；

10、所述套接块的一侧且位于条码识别传感器的上方位置处安装有距离传感器，所述距离传感器的一侧设有多个感应块，多个所述感应块分别与多个挂钩一一对应固定连接，每个所述挂钩的内壁一侧均开设有孔体。

11、在本实施例优选地，所述条码识别传感器工作桌架工作桌架之间设有间隙，所述套接块的外壁和横框的内壁均为光滑面。

12、在本实施例优选地，多个所述孔体从左到右依次排列设置，所述感应块与距离传感器之间设有间隙。

13、在本实施例优选地，所述条码识别传感器的输出端电性连接有控制器，所述距离传感器与控制器之间电性连接。

14、在本实施例优选地，所述工作上台的下表面插入有抽屉；

15、所述抽屉的内部开设有多个储物盒，所述抽屉的一端部固定有拉扣；

16、所述工作桌架的内壁底端固定有下工作台。

17、在本实施例优选地，所述抬升件包括：

18、所述套接块的下表面固定有竖框，所述竖框的内壁连接有螺纹套，所述竖框用于导向螺纹套滑动；

19、所述螺纹套的内壁螺纹连接有驱动螺杆，所述竖框的底端安装有驱动电机，所述驱动电机用于驱动螺杆旋转，所述螺纹套与两个上抬板之间固定连接，每个所述上抬板的上倾斜面开设有斜面；

20、其中一个所述上抬板的一侧安装有减速舵机，所述减速舵机的输出端固定有转轴，所述减速舵机用于驱动转轴在上抬板的内部旋转；

21、所述转轴的外壁且靠近其顶端位置处固定有挡板。

22、在本实施例优选地，所述挡板与转轴之间垂直设置，所述挡板的竖截面形状为矩形

23、一种使用方法，该方法包括以下步骤：

24、步骤一、将多种金属标牌条码的绑带分别挂载至工作桌架一侧的各挂钩上，使绑带覆盖孔体，相邻挂钩保持间隙；

25、步骤二、控制器启动电机驱动套接块滑动，距离传感器对齐感应块时电机暂停，条码识别传感器经孔体检测绑带金属标牌条码并传至控制器；

26、步骤三、控制器比对金属标牌条码与预设值，不匹配时启动驱动电机，驱动螺纹套上滑，带动上抬板上升，经斜面将绑带从挂钩顶起脱离；

27、步骤四、控制器启动减速舵机驱动转轴旋转，挡板解除阻挡，绑带沿斜面侧滑排出，复位后移至下一挂钩重复校验。

28、本发明具有以下技术效果：

29、1、本发明通过设置多个挂钩与检测驱动件，实现了对绑带金属标牌条码的自动识别与校验，有效避免了因绑带挂错位置而导致的混料风险，降低了工作桌操作的错误率。

30、2、本发明通过抬升件在检测到金属标牌条码不符时自动抬升上抬板，将错误绑带从挂钩上顶起并使其脱离，实现了错误挂载的自动处理与剔除，无需人工干预，提高了自动化处理效率。

31、3、本发明通过在工作上台下方设置带有多个储物盒的抽屉，并在工作桌架上设置多层工作台面，实现了芯片物料、辅料及多种bin夹的分类存储与合理布局，提升了桌面空间利用率，并有效减少了抖盘现象。

32、4、本发明通过本发明的已测工作桌，自带抽屉且内部设有多个储物盒，可分类放置多种bin夹及标签，实现一格一类，满足多样需求，同时增加挂钩悬挂金属标牌条码的绑带，配合检测驱动件自动校验金属标牌条码，有效避免bin夹与绑带使用错误，减少混料风险。该设计淘汰了传统bin夹盒子，释放桌面空间，提升桌面使用率，并显著减少因桌面杂乱导致的抖盘及摔料风险。

1.一种用于半导体测试放置已测芯片的工作桌，包括工作桌架（1），其特征在于：所述工作桌架（1）的内壁固定有工作上台（2）；

2.根据权利要求1所述的一种用于半导体测试放置已测芯片的工作桌，其特征在于：多个所述挂钩（3）从左到右依次排列设置，相邻两个所述挂钩（3）之间均设有间隙。

3.根据权利要求2所述的一种用于半导体测试放置已测芯片的工作桌，其特征在于：所述检测驱动件包括：

4.根据权利要求3所述的一种用于半导体测试放置已测芯片的工作桌，其特征在于：所述条码识别传感器（10）工作桌架（1）工作桌架（1）之间设有间隙，所述套接块（8）的外壁和横框（5）的内壁均为光滑面。

5.根据权利要求4所述的一种用于半导体测试放置已测芯片的工作桌，其特征在于：多个所述孔体（9）从左到右依次排列设置，所述感应块（12）与距离传感器（11）之间设有间隙。

6.根据权利要求5所述的一种用于半导体测试放置已测芯片的工作桌，其特征在于：所述条码识别传感器（10）的输出端电性连接有控制器（21），所述距离传感器（11）与控制器（21）之间电性连接。

7.根据权利要求6所述的一种用于半导体测试放置已测芯片的工作桌，其特征在于：所述工作上台（2）的下表面插入有抽屉（13）；

8.根据权利要求7所述的一种用于半导体测试放置已测芯片的工作桌，其特征在于：所述抬升件包括：

9.根据权利要求8所述的一种用于半导体测试放置已测芯片的工作桌，其特征在于：所述挡板（25）与转轴（24）之间垂直设置，所述挡板（25）的竖截面形状为矩形。

10.一种使用方法，使用权利要求9所述的用于半导体测试放置已测芯片的工作桌，其特征在于：该方法包括以下步骤：