一种用于集成电路芯片的测试工装的制作方法

本技术涉及集成电路芯片测试，具体为一种用于集成电路芯片的测试工装。

背景技术：

1、在当今电子科技飞速发展的时代，集成电路芯片作为各类电子设备的核心组件，其质量与性能的把控至关重要。从智能手机、电脑等日常电子产品，到航空航天、医疗设备等对可靠性要求极高的专业领域，集成电路芯片的应用场景广泛且关键。而芯片在生产过程中，由于制造工艺复杂、精度要求极高，不可避免地会存在各种潜在缺陷，如线路短路、断路、元件损坏等，这些缺陷若未被及时检测出来，将严重影响产品的正常运行与使用安全。

2、传统的芯片测试方法往往依赖于大型、昂贵的专业测试设备，这些设备虽然功能强大，但体积庞大、操作复杂，且通常只能在特定的实验室环境下使用，对于一些小型电子生产企业、研发工作室或现场快速检测场景而言，缺乏灵活性与便捷性。同时，传统测试工装在对待测芯片的固定、定位以及测试压力的施加等方面，多采用较为简陋或单一的方式，难以保证测试过程的稳定性与测试结果的准确性，例如，芯片在测试过程中容易因固定不牢而发生位移，导致测试探针接触不良；或者施加的压力不均匀，影响测试数据的真实性。

3、基于此，有必要提出一种用于集成电路芯片的测试工装。

技术实现思路

1、针对现有技术的不足，本实用新型提供了一种用于集成电路芯片的测试工装，具备能够能够适应不同规格芯片测试需求、操作简便、成本较低且能有效保障测试质量的优点，克服背景技术中提到的现有技术缺陷。

2、本实用新型提供如下技术方案：一种用于集成电路芯片的测试工装，包括测试箱、伸缩推杆一、u型座和限位条，所述伸缩推杆一固定连接在测试箱的内顶壁上，所述伸缩推杆一的底端固定连接有安装头，所述安装头的底端固定安装有测试探板，所述u型座设置于测试箱的内部，所述u型座内底固定连接有伸缩推杆二，所述伸缩推杆二的顶端固定连接有承接板，所述承接板位于测试探板的正上方，所述限位条的数量为两个，且分别固定连接在u型座的两侧边壁的顶端，所述限位条的内侧壁开设有滑槽，所述滑槽的内部滑动卡接有滑块，所述滑块的一端固定连接有夹头，所述夹头位于承接板的正上方。

3、优选的，所述测试箱的底端四角处均固定连接有垫脚，所述垫脚为橡胶材质。

4、优选的，所述测试箱的内底固定连接有卡轨，所述u型座的底端开设有卡槽，所述卡槽与卡轨滑动卡接。

5、优选的，所述u型座的两侧边壁均开设有限位槽，所述测试箱的两侧边壁均固定连接有阻尼筒，所述阻尼筒的内部滑动插接有插栓，所述插栓的端头与限位槽的型号规格相吻。

6、优选的，所述u型座的内底固定连接有导杆，所述导杆的顶端与限位条的底端固定连接，所述承接板的边沿滑动套接在导杆的表面。

7、优选的，所述滑块的一侧表面固定连接有螺纹杆，所述螺纹杆与限位条的端头滑动插接，所述螺纹杆的表面活动套接有弹簧，所述弹簧的一端与滑块的侧面抵接，所述弹簧的另一端与滑槽的槽壁抵接，所述螺纹杆的表面螺纹套接有螺母，所述螺母位于限位条的外部。

8、与现有技术对比，本实用新型具备以下有益效果：

9、该种用于集成电路芯片的测试工装，测试箱作为承载主体，为内部组件提供稳定安装空间与防护环境，避免外部干扰；其底端四角的橡胶垫脚可吸收测试振动，降低设备与放置面的刚性碰撞，既保护结构稳定性，又减少外界振动对测试结果的影响。测试箱内底的卡轨与u型座底端的卡槽滑动卡接，使u型座能沿卡轨方向平稳移动，便于根据芯片尺寸或测试需求调整位置，提升工装通用性；当u型座移动至目标位置时，其两侧的限位槽与测试箱侧边的阻尼筒、插栓配合，通过插入插栓快速锁定位置，避免测试过程中意外晃动导致偏移，阻尼筒则为插栓操作提供缓冲，降低难度并保护部件。u型座内底设置的导杆与承接板边沿滑动套接，为承接板的垂直运动提供精准导向，确保其仅沿竖直方向移动，避免偏移导致的测试误差，配合伸缩推杆二驱动的承接板可对被测芯片进行辅助支撑，与伸缩推杆一驱动的测试探板协同完成双向压力测试，增强测试全面性。限位条通过两侧滑槽与滑块滑动连接，为夹头提供水平导向，确保夹头精准贴合芯片边缘；滑块一侧的螺纹杆与限位条端头滑动插接，表面套设的弹簧一端抵接滑块、另一端抵接滑槽槽壁，配合外部螺母调节螺纹杆伸出长度，可灵活调整弹簧压缩程度，进而控制夹头的夹持力——弹簧的弹性缓冲避免过度挤压损坏芯片，同时保证对不同尺寸芯片的适配性，提升固定可靠性。

1.一种用于集成电路芯片的测试工装，包括测试箱(100)、伸缩推杆一(200)、u型座(300)和限位条(400)，其特征在于：所述伸缩推杆一(200)固定连接在测试箱(100)的内顶壁上，所述伸缩推杆一(200)的底端固定连接有安装头(201)，所述安装头(201)的底端固定安装有测试探板(202)，所述u型座(300)设置于测试箱(100)的内部，所述u型座(300)内底固定连接有伸缩推杆二(304)，所述伸缩推杆二(304)的顶端固定连接有承接板(305)，所述承接板(305)位于测试探板(202)的正上方，所述限位条(400)的数量为两个，且分别固定连接在u型座(300)的两侧边壁的顶端，所述限位条(400)的内侧壁开设有滑槽(401)，所述滑槽(401)的内部滑动卡接有滑块(402)，所述滑块(402)的一端固定连接有夹头(403)，所述夹头(403)位于承接板(305)的正上方。

2.根据权利要求1所述的一种用于集成电路芯片的测试工装，其特征在于：所述测试箱(100)的底端四角处均固定连接有垫脚(101)，所述垫脚(101)为橡胶材质。

3.根据权利要求1所述的一种用于集成电路芯片的测试工装，其特征在于：所述测试箱(100)的内底固定连接有卡轨(102)，所述u型座(300)的底端开设有卡槽(301)，所述卡槽(301)与卡轨(102)滑动卡接。

4.根据权利要求1所述的一种用于集成电路芯片的测试工装，其特征在于：所述u型座(300)的两侧边壁均开设有限位槽(302)，所述测试箱(100)的两侧边壁均固定连接有阻尼筒(103)，所述阻尼筒(103)的内部滑动插接有插栓(104)，所述插栓(104)的端头与限位槽(302)的型号规格相吻。

5.根据权利要求1所述的一种用于集成电路芯片的测试工装，其特征在于：所述u型座(300)的内底固定连接有导杆(303)，所述导杆(303)的顶端与限位条(400)的底端固定连接，所述承接板(305)的边沿滑动套接在导杆(303)的表面。

6.根据权利要求1所述的一种用于集成电路芯片的测试工装，其特征在于：所述滑块(402)的一侧表面固定连接有螺纹杆(404)，所述螺纹杆(404)与限位条(400)的端头滑动插接，所述螺纹杆(404)的表面活动套接有弹簧(405)，所述弹簧(405)的一端与滑块(402)的侧面抵接，所述弹簧(405)的另一端与滑槽(401)的槽壁抵接，所述螺纹杆(404)的表面螺纹套接有螺母(406)，所述螺母(406)位于限位条(400)的外部。