样本检测设备及样本检测方法与流程

本技术涉及样本检测，特别是涉及样本检测设备及样本检测方法。

背景技术：

1、为了满足样本检测设备对不同项目组合的检测需求，现有的样本检测设备通常设置有多个检测模式。

2、现有的样本检测设备为了提高检测速度，通常会在同一模式下的样本检测时序中加入叠加段，使得对应的时序叠加逻辑仅在当前样本和下一样本为相同分析模式时才生效。因此，要求用户在使用样本检测设备时需要按照样本的检测模式进行预先筛拣，人工筛拣的效率较低；若随机摆放而不进行筛拣，会导致检测模式不同的样本放一起，只能等当前样本检测完成后才能启动下一样本的检测，样本检测效率低。

技术实现思路

1、为解决上述技术问题，本技术提供了样本检测设备及样本检测方法。

2、为解决上述问题，本技术提供了第一种技术方案：提供一种样本检测设备，包括进样组件、检测组件以及处理器；上述进样组件用于接收当前样本和下一样本；上述检测组件与上述进样组件连接，上述检测组件用于对上述当前样本进行检测；上述处理器分别与上述进样组件和上述检测组件连接，上述进样组件还用于在上述当前样本启动检测后获取上述下一样本的样本信息，上述处理器用于基于上述样本信息判断上述下一样本与上述当前样本的检测模式是否为预设模式组合；处理器还用于在上述下一样本与上述当前样本的检测模式为上述预设模式组合时，获取上述下一样本的模式叠加指令，以在上述模式叠加指令启用时控制上述检测组件在对应的时序叠加通道对上述下一样本进行检测；其中，上述检测组件包括至少两个检测模式，上述时序叠加通道用于在上述当前样本和上述下一样本的检测模式为同一检测模式或不同检测模式时，将上述当前样本和上述下一样本的检测时序进行叠加。

3、可选地，上述进样组件包括采样件，上述采样件与上述处理器连接，上述处理器用于控制上述采样件对上述当前样本进行采样；上述处理器还用于在上述当前样本采样完成后基于上述下一样本的模式叠加指令启动对应的上述时序叠加通道，并控制上述采样件对上述下一样本进行采样，以通过上述时序叠加通道同时对上述当前样本和上述下一样本进行检测。

4、可选地，上述处理器还用于在上述采样件对上述下一样本进行采样后，对上述当前样本的检测模式进行更新，并清空上述下一样本的检测模式。

5、可选地，上述样本检测设备还包括第一存储器，上述进样组件还包括扫描仪，上述处理器分别与上述第一存储器和上述扫描仪连接，上述第一存储器用于存储本地订单，上述处理器用于控制上述扫描仪对上述当前样本进行扫描，以获取上述下一样本的样本编号，上述处理器还用于基于上述样本编号从上述第一存储器中查询上述下一样本的样本信息；和/或，上述进样组件还包括扫描仪，上述处理器分别与外部的第二存储器和上述扫描仪连接，上述第二存储器用于存储网络订单，上述处理器用于控制上述扫描仪对上述当前样本进行扫描，以获取上述下一样本的样本编号，上述处理器还用于基于上述样本编号从上述第二存储器中查询上述下一样本的样本信息。

6、可选地，上述处理器还用于在上述下一样本与上述当前样本的检测模式不属于上述预设模式组合时，等待上述当前样本检测完成后控制上述采样件对上述下一样本进行检测；和/或，上述处理器还用于在上述当前样本的检测过程中未接收到上述下一样本的模式叠加指令时，等待上述当前样本检测完成后控制上述采样件对上述下一样本进行采样。

7、可选地，上述检测组件至少包括第一检测模式和第二检测模式，上述预设模式组合包括第一模式组合、第二模式组合、第三模式组合以及第四模式组合，上述第一模式组合包括上述当前样本为上述第一检测模式和上述下一样本为上述第二检测模式，上述第二模式组合包括上述当前样本为上述第二检测模式和上述下一样本为上述第一检测模式，上述第三模式组合包括上述当前样本和上述下一样本的检测模式为上述第一检测模式，第四模式组合包括上述当前样本和上述下一样本的检测模式为上述第二检测模式。

8、可选地，上述处理器存储有与上述第一检测模式对应的第一时序和与上述第二检测模式对应的第二时序，上述处理器用于在上述下一样本与上述当前样本的检测模式为上述第一模式组合时，将上述下一样本在上述第二时序的至少部分检测流程，叠加至上述当前样本所在的上述第一时序中；上述处理器还用于在上述下一样本与上述当前样本的检测模式为上述第二模式组合时，将上述下一样本在上述第一时序的至少部分检测流程，叠加至上述当前样本所在的上述第二时序中。

9、可选地，上述检测组件包括第一叠加通道、第二叠加通道、第三叠加通道以及第四叠加通道，上述第一叠加通道与上述第一模式组合对应，上述第二叠加通道与第二模式组合对应，上述第三叠加通道与第三模式组合对应，上述第一叠加通道与上述第四模式组合对应；其中，上述第一叠加通道、第二叠加通道、第三叠加通道以及第四叠加通道在对应上述检测时序中的启用时间不同。

10、可选地，上述进样组件还包括第一进样模式，上述进样组件处于上述第一进样模式下，上述进样组件用于在上述当前样本启动检测后自动加载上述下一样本，并对上述下一样本进行扫描，以获取上述下一样本的上述样本信息；和/或，上述进样组件包括第二进样模式，上述样本检测设备还包括交互屏幕，上述交互屏幕与上述处理器连接，上述处理器用于在上述当前样本启动检测后，通过上述交互屏幕获取用户输入的上述下一样本的上述样本信息。

11、为解决上述问题，本技术提供了第二种技术方案：提供一种样本检测方法，包括：接收当前样本，以获取上述当前样本的下一样本的样本信息；基于上述样本信息判断上述下一样本与上述当前样本的检测模式是否为预设模式组合；若是，则获取上述下一样本的模式叠加指令，以在上述模式叠加指令启用时通过对应的时序叠加通道对上述下一样本进行检测；其中，上述样本检测设备包括至少两个检测模式，上述时序叠加通道用于在上述当前样本和上述下一样本的检测模式为同一检测模式或不同检测模式时，将上述当前样本和上述下一样本的检测时序进行叠加。

12、本技术提供了样本检测设备及样本检测方法，该样本检测设备包括进样组件、检测组件以及处理器；进样组件用于接收当前样本和下一样本；检测组件与进样组件连接，检测组件用于对当前样本进行检测；处理器分别与进样组件和检测组件连接，进样组件还用于在当前样本启动检测后获取下一样本的样本信息，处理器用于基于样本信息判断下一样本与当前样本的检测模式是否为预设模式组合；处理器还用于在下一样本与当前样本的检测模式为预设模式组合时，获取下一样本的模式叠加指令，以基于模式叠加指令控制检测组件在对应的时序叠加通道对下一样本进行检测；检测组件包括至少两个检测模式，时序叠加通道用于在当前样本和下一样本的检测模式为同一检测模式或不同检测模式时，将当前样本和下一样本的检测时序进行叠加。因此，处理器可以在下一样本与当前样本的检测模式为预设模式组合时在当前样本的检测过程中叠加下一样本的检测，且预设模式组合可以是同一检测模式或不同检测模式的组合，不限制下一样本的分析模式，减少或避免用户进行人工筛拣，提高样本检测效率并减少样本检测的周转时间。