显示装置的制作方法
本公开的实施例涉及显示装置,并且更具体地,涉及能够解决显示面板检查过程期间的晶片与透镜之间的碰撞问题并简化检查过程的显示装置、电子装置、显示装置的图像检查装置和显示装置的图像检查方法。
背景技术:
1、头戴式显示器(hmd)是以眼镜或头盔的形式佩戴在用户的头部以在用户的眼睛前面的近距离处形成焦点的图像显示装置。头戴式显示器可以实现虚拟现实(vr)或增强现实(ar)。
2、头戴式显示器可以通过使用多个透镜来放大在小型显示装置上显示的图像,并且显示放大的图像。因此,应用于头戴式显示器的显示装置需要提供例如具有3000每英寸像素(ppi)或更高的分辨率的图像的高分辨率图像。为此,为高分辨率小型有机发光显示装置的硅上有机发光二极管(oledos)被用作应用于头戴式显示器的显示装置。oledos是其中有机发光二极管(oled)设置在半导体晶片基板上的图像显示装置,在该半导体晶片基板上设置互补金属氧化物半导体(cmos)。
技术实现思路
1、本公开的方面提供能够解决显示面板检查过程期间的晶片与透镜之间的碰撞问题并简化检查过程的显示装置、电子装置、显示装置的图像检查装置和显示装置的图像检查方法。
2、根据本公开的一个实施例,提供显示装置,其包括:显示面板,具有在其中设置多个像素的显示区域;测试元件组部分,设置在显示面板的非显示区域中,并且包括多个虚设像素;以及透镜,设置在显示面板上,其中,透镜与显示区域重叠并且不与测试元件组部分重叠。
3、根据本公开的一个实施例,提供包括提供屏幕的显示装置的电子装置,其中,显示装置包括:显示面板,具有在其中设置多个像素的显示区域;测试元件组部分,设置在显示面板的非显示区域中,并且包括多个虚设像素;以及透镜,设置在显示面板上,其中,透镜与显示区域重叠并且不与测试元件组部分重叠。
4、根据本公开的一个实施例,提供显示装置的图像检查装置,其包括:半透镜;微镜阵列透镜模块,用于通过半透镜接收来自显示面板的光;成像模块,用于接收从微镜阵列透镜模块反射的光,并且基于接收到的光生成图像;以及控制器,用于基于根据显示面板的类型预设的主光线角控制微镜阵列透镜模块的反射镜透镜,其中,反射镜透镜包括被设置为围绕反射镜透镜的中心的多个微镜,并且控制器基于根据显示面板的类型预设的主光线角控制多个微镜的位置和角度。
5、根据本公开的一个实施例,提供显示装置的图像检查方法,其包括:准备晶片,晶片具有多个显示面板以及被设置为分别与多个显示面板相对应的多个测试元件组部分;在测试元件组部分中的每一个上设置图像检查装置;基于根据多个显示面板中的与测试元件组部分中的每一个相对应的显示面板的类型预设的主光线角,控制图像检查装置的反射镜透镜;在反射镜透镜被控制的情况下,使用图像检查装置对测试元件组部分中的每一个进行成像;以及基于由图像检查装置捕获的图像,确定显示面板是否有缺陷。
6、按照根据一个实施例的显示装置、电子装置、显示装置的图像检查装置和显示装置的图像检查方法,解决显示面板检查过程期间的晶片与透镜之间的碰撞问题并且简化检查过程是可能的。
7、例如,由于一个实施例的图像检查装置包括与薄饼透镜相对应的微镜阵列透镜模块,因此可以在没有透镜(例如,薄饼透镜)的情况下执行显示面板的图像检查。在这种情况下,图像检查装置可以对显示面板的测试元件组部分的虚设像素进行成像。相应地,可以不需要显示面板与透镜之间的对准操作,并且可以解决在显示面板与透镜之间的对准操作期间可能发生的显示面板与透镜之间的碰撞问题。
8、另外,由于一个实施例的图像检查装置的微镜阵列透镜模块包括可以基于根据显示面板的类型设定的主光线角控制的反射镜透镜,因此可以在不需要为每种类型的显示面板准备各种透镜的情况下,执行显示面板的图像检查。
9、本公开的效果不限于上述效果,并且本文中未描述的其他效果将通过以下描述而对本领域技术人员来说变得显而易见。
1.一种显示装置,包括:
2.根据权利要求1所述的显示装置,其中,所述多个像素中的每一个包括多个子像素,
3.根据权利要求2所述的显示装置,其中,所述子光学层包括:
4.根据权利要求2所述的显示装置,其中,在所述平面图中,所述透镜与所述多个子像素的多个子光学层重叠。
5.根据权利要求3所述的显示装置,其中,所述子透镜包括微透镜。
6.根据权利要求2所述的显示装置,其中,所述多个虚设像素中的每一个包括多个虚设子像素,
7.根据权利要求6所述的显示装置,其中,所述虚设子光学层包括:
8.根据权利要求6所述的显示装置,其中,在所述平面图中,所述透镜不与所述多个虚设子像素的多个虚设子光学层重叠。
9.根据权利要求1所述的显示装置,其中,所述测试元件组部分的所述虚设像素以矩阵形式设置在所述非显示区域中。
10.根据权利要求1至9中任一项所述的显示装置,其中,所述显示面板进一步包括焊盘部分,并且
版权声明:本站专利文献数据主要来源于国家知识产权局等公开渠道,由 技术新讯 进行整理汇编。页面设计及数据汇编的著作权归本站所有。全部内容仅供个人学习、科研评估与技术交流参考,严禁用于任何商业用途(包括但不限于直接生产制造、技术转让、倒卖数据等)。
免责条款:专利技术具有时效性,本站不对资料的绝对准确性、完整性和可实施性提供任何明示或暗示的担保。因参考本站内容造成的直接或间接损失,本站不承担相关法律责任。若您认为本站内容有侵权问题,请及时提供权属证明与我们联系,本站将在核实后依法处理。反馈意见:yyfuon@163.com