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尘埃行星热真空模拟舱的制作方法

2023-04-05 15:17:38 来源:中国专利 TAG:

技术特征:
1.一种尘埃行星热真空模拟舱,其特征在于,包括:舱体,所述舱体内部设置有样品台;真空系统,所述真空系统用于对所述舱体的内部进行抽真空;温度控制系统,所述温度控制系统设于所述舱体上,所述温度控制系统用于控制所述舱体内的温度;光照模拟系统,所述光照模拟系统设于所述舱体上,所述光照模拟系统用于照射所述样品台;粉尘分配系统,所述粉尘分配系统设于所述舱体内,所述粉尘配系统用于在所述舱体内喷洒粉尘;以及控制系统,所述真空系统、所述光照模拟系统、所述温度控制系统及所述粉尘分配系统均与所述控制系统电连接。2.根据权利要求1所述的尘埃行星热真空模拟舱,其特征在于,所述真空系统包括粗抽真空泵、分子泵及低温泵,所述粗抽真空泵用于对所述舱体进行粗抽真空;所述分子泵用于对所述舱体进行细抽真空;所述低温泵用于在低温状态下对所述舱体进行抽真空。3.根据权利要求1所述的尘埃行星热真空模拟舱,其特征在于,所述光照模拟系统包括光照模拟器,所述光照模拟器向所述样品台提供辐照度为800w/m2的光源。4.根据权利要求1所述的尘埃行星热真空模拟舱,其特征在于,所述舱体包括主舱体、前盖及锁紧装置,所述主舱体设置有开口,所述前盖封设于所述开口,所述前盖通过所述锁紧装置与所述主舱体密封连接。5.根据权利要求4所述的尘埃行星热真空模拟舱,其特征在于,所述温度控制系统包括热沉机构,所述热沉机构包括热沉罩、前热沉板、后热沉板及红外辐射器,所述热沉罩设于所述主舱体内,所述热沉罩罩设于所述样品台外,所述前热沉板与所述后热沉板封设于所述热沉罩的两端,所述前热沉板设于所述前盖上,所述后热沉板设于所述主舱体远离所述前盖的端部,所述红外辐射器固定装设于所述热沉罩面向所述样品台的一侧,所述热沉罩面向所述样品台的端面、所述前热沉板朝向所述样品台的端面以及所述后热沉板朝向所述样品台的端面均涂布有黑色涂层,所述主舱体与所述热沉罩之间设置有隔热层。6.根据权利要求5所述的尘埃行星热真空模拟舱,其特征在于,所述温度控制系统还包括温度控制机构,所述温度控制机构包括主管道、前管道、后管道、下管道及液氮供应组件,所述主管道套装于所述热沉罩外,所述前管道设于所述前盖与所述前热沉板之间,所述后管道设于所述主舱体与所述后热沉板之间,所述后管道与所述主管道连通,所述下管道设于所述样品台,所述液氮供应组件的数量为两组,一组所述液氮供应组件为所述后管道及所述主管道供应液氮,另一组所述液氮供应组件为所述前管道及所述下管道供应液氮;所述液氮供应组件包括液氮供应罐及连接所述液氮供应罐的循环温度控制器。7.根据权利要求1所述的尘埃行星热真空模拟舱,其特征在于,所述粉尘分配系统包括导电板及连接所述导电板的粉尘分配组件,所述粉尘分配组件为多组,多组所述粉尘分配组件呈阵列排列设置于所述导电板上,所述导电板用于对所述粉尘分配组件内的粉尘进行充电。8.根据权利要求7所述的尘埃行星热真空模拟舱,其特征在于,所述粉尘分配组件包括粉尘盒、设于所述粉尘盒内的粉尘搅拌装置及设于所述粉尘盒内的粉尘分散器,所述粉尘
搅拌装置设于所述粉尘盒内,所述粉尘搅拌装置用于对所述粉尘盒内的粉尘进行搅拌以使粉尘产生速率,所述粉尘分散器用于将具有速率的粉尘分散出去。9.根据权利要求4所述的尘埃行星热真空模拟舱,其特征在于,还包括移动机构,所述移动机构包括安装架、滚轮、连接轴、外导轨、内导轨及移动驱动器,所述前盖与所述安装架固定连接,所述前盖通过所述滚轮滑动连接所述外导轨,所述滚轮成对间隔设置于所述安装架上,每对所述滚轮之间通过所述连接轴同步连接,所述移动驱动器固定连接所述安装架,连接其中一对所述滚轮的所述连接轴与所述移动驱动器传动连接;所述样品台与所述前盖固定连接,所述内导轨固定设置于所述主舱体内,所述样品台通过所述滚轮滑动连接所述内导轨。10.根据权利要求1所述的尘埃行星热真空模拟舱,其特征在于,还包括温度检测机构,所述温度检测机构设于所述舱体内,所述温度检测机构与所述控制系统电连接,所述温度检测机构包括k型热电偶及t型热电偶。

技术总结
本发明涉及一种尘埃行星热真空模拟舱,包括舱体、真空系统、温度控制系统、光照模拟系统、粉尘分配系统以及控制系统;舱体内部设置有样品台;真空系统用于对舱体的内部进行抽真空;温度控制系统设于舱体上,温度控制系统用于控制舱体内的温度;光照模拟系统设于舱体上,光照模拟系统用于照射样品台;粉尘分配系统设于舱体内,粉尘配系统用于在舱体内喷洒粉尘;真空系统、光照模拟系统、温度控制系统及粉尘分配系统均与控制系统电连接,控制系统用于控制真空系统、光照模拟系统、温度控制系统以及粉尘分配系统工作。本发明能持续运行21个地球日,更接近尘埃行星的实际环境,从而有效提高行星表面探测器件的测试准确性。高行星表面探测器件的测试准确性。高行星表面探测器件的测试准确性。


技术研发人员:赵昌勤
受保护的技术使用者:广东宏阔试验设备有限公司
技术研发日:2022.12.14
技术公布日:2023/3/10
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