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一种双光路检测装置及系统的制作方法

2023-03-06 11:59:44 来源:中国专利 TAG:

技术特征:
1.一种双光路检测装置,其特征在于,用于对一被测表面进行检测,包括:光源组件,包括用于发出第一检测光线的第一光源(11),以及用于发出第二检测光线的第二光源(12),所述第一光源(11)和所述第二光源(12)为不同类型的光源;光路分离组件,包括第一分光器件(21)、第二分光器件(22)和第三分光器件(23);所述第一检测光线经过所述第一分光器件(21)透射后,部分的所述第一检测光线被第二分光器件(22)反射至一被测表面,并在由所述被测表面反射后,经过第二分光器件(22)的透射和第三分光器件(23)的反射,沿第一路径射出,形成第一出射光线;所述第二检测光线经过所述第一分光器件(21)的反射后射入所述第二分光器件(22),部分的所述第二检测光线由所述第二分光器件(22)的反射后,射入所述被测表面,并在由所述被测表面反射后,经过所述第三分光器件(23)的透射,沿第二路径射出,形成第二出射光线。2.根据权利要求1所述的双光路检测装置,其特征在于,还包括用于接收所述第一出射光线的第一相机(31),以及用于接收所述第二出射光线的第二相机(32)。3.根据权利要求2所述的双光路检测装置,其特征在于,还包括反射器件(24),所述反射器件(24)设于所述第一路径上,包括用于将所述第一出射光线反射至所述第一相机(31)内的反射面。4.根据权利要求2所述的双光路检测装置,其特征在于,所述第一检测光线射入所述第一分光器件(21)的第一入射面(211),所述第一入射面(211)上设有第一镀膜,能够完全透过所述第一检测光线。5.根据权利要求2所述的双光路检测装置,其特征在于,所述第二检测光线射入所述第一分光器件(21)的第二入射面(212),所述第二入射面(212)上设有第二镀膜,能够完全反射所述第二检测光线。6.根据权利要求2所述的双光路检测装置,其特征在于,所述第一检测光线和所述第二检测光线均射入所述第二分光器件(22)的第三入射面(221);所述第三入射面(221)上设有第三镀膜,能够同时透过部分的所述第一检测光线和所述第二检测光线,以及同时反射部分的所述第一检测光线和所述第二检测光线。7.根据权利要求2所述的双光路检测装置,其特征在于,所述第一检测光线和所述第二检测光线均射入所述第三分光器件(23)的第四入射面(231);所述第四入射面(231)上设有第四镀膜,能够仅透过所述第二检测光线。8.根据权利要求2所述的双光路检测装置,其特征在于,所述第一光源(11)为红外光源,所述第一相机(31)为红外相机。9.根据权利要求2所述的双光路检测装置,其特征在于,所述第二光源(12)为红光光源,所述第二相机(32)为红光相机。10.一种双光路检测系统,其特征在于,包括如权利要求1至9任一项所述的双光路检测装置。

技术总结
本实用新型涉及机器视觉技术领域,公开了一种双光路检测装置及系统。双光路检测装置包括:发出第一检测光线的第一光源、发出第二检测光线的第二光源和光路分离组件,光路分离组件包括第一分光器件、第二分光器件、第三分光器件,第一光源和第二光源为不同类型的光源;第一检测光线经过第一分光器件和第二分光器件射入被测表面后由被测表面反射,经第二分光器件和第三分光器件后,沿第一路径射出;第二检测光线经第一分光器件和第二分光器件射入被测表面后由被测表面反射,经第三分光器件沿第二路径射出。通过设置光路分离组件实现了检测光路的分离,从而能够同时实现两个检测光路的同时成像,有利于在控制检测成本的同时提高检测效率。检测效率。检测效率。


技术研发人员:左明耀
受保护的技术使用者:广东奥普特科技股份有限公司
技术研发日:2022.09.28
技术公布日:2023/2/13
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