一种触头磨损监测装置和接触器的制作方法

1.本技术涉及低压电器技术领域，具体而言，涉及一种触头磨损监测装置和接触器。


背景技术：

2.随着经济的快速发展，人们生活水平的快速提高，对于用电安全有了更高的需求。接触器是一种可快速切断交流与直流主回路且可频繁地接通与关断大电流控制电路的装置，接触器不仅能接通和切断电路，而且还具有低电压释放保护作用。接触器控制容量大，适用于频繁操作和远距离控制，是自动控制系统中的重要元件之一。
3.现有接触器中存在可相互接触或分离的动触头和静触头，但是随着使用时间的增长，动触头和静触头之间的银点会被持续磨损，当磨损过度后，会影响接触器的稳定性和安全性。


技术实现要素：

4.本技术的目的在于，针对上述现有技术中的不足，提供一种触头磨损监测装置和接触器，以实现对触头磨损情况的监测，避免出现触头磨损过度而不自知的现象。
5.为实现上述目的，本技术实施例采用的技术方案如下：
6.本技术实施例的一方面，提供一种触头磨损监测装置，包括基座，在基座上设置有静触头以及受驱与静触头接触或分离的动触头组件，在基座上还设置有与动触头组件驱动配合的位移组件，在基座上还设置有与位移组件相配合的光学检测组件，在动触头组件与静触头的接触位置偏移时，动触头组件驱动位移组件位移，光学检测组件用于检测位移组件的位移量。
7.可选的，光学检测组件包括位于位移组件相对两侧的光束发射器和光束接收器，光束接收器用于接收光束发射器的出射光束，在位移组件上设置有用于通过出射光束的通光部。
8.可选的，光束接收器包括接收电路板以及分布于接收电路板上的多个接收探头，多个接收探头沿位移组件的位移方向依次设置。
9.可选的，在光束发射器的出光侧还设置有匀光片。
10.可选的，在通光部靠近动触头组件的一侧还设置有挡板。
11.可选的，光束发射器为红外发射器，光束接收器为红外接收器。
12.可选的，触头磨损监测装置还包括转动设置于基座的杠杆，杠杆的一端与位移组件连接，杠杆的另一端与光学检测组件对应，杠杆的动力臂小于杠杆的阻力臂。
13.可选的，动触头组件包括第一弹性件以及分别与第一弹性件相对两端连接的动触头支架和动触头，动触头滑动设置于动触头支架，动触头支架受驱带动动触头与静触头接触，且动触头支架继续运动以使第一弹性件储能；位移组件与动触头驱动配合。
14.可选的，位移组件包括第二弹性件和滑动设置于动触头支架的传递组件，第二弹性件与传递组件连接，第二弹性件用于向传递组件提供与动触头抵接的作用力。
15.本技术实施例的另一方面，提供一种接触器，包括上述任一种的触头磨损监测装置。
16.本技术的有益效果包括：
17.本技术提供了一种触头磨损监测装置和接触器，包括基座，在基座上设置有静触头以及受驱与静触头接触或分离的动触头组件，在基座上还设置有与动触头组件驱动配合的位移组件，在基座上还设置有与位移组件相配合的光学检测组件，在动触头组件与静触头的接触位置偏移时，动触头组件驱动位移组件位移，光学检测组件用于检测位移组件的位移量。从而对磨损情况进行监测，方便用户及时掌握触头的磨损情况，实现提前预警。采用光学检测组件检测的方式能够实现非接触式测量，从而有效提高检测的寿命，同时，利用光学检测组件的方式还能够有效简化结构，提高检测的准确度。
附图说明
18.为了更清楚地说明本技术实施例的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，应当理解，以下附图仅示出了本技术的某些实施例，因此不应被看作是对范围的限定，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他相关的附图。
19.图1为本技术实施例提供的一种触头磨损监测装置的结构示意图；
20.图2为本技术实施例提供的一种触头磨损监测装置处于分闸状态的结构示意图；
21.图3为本技术实施例提供的一种触头磨损监测装置处于合闸状态的结构示意图；
22.图4为本技术实施例提供的一种位移组件和光学检测组件配合的结构示意图；
23.图5为本技术实施例提供的一种光束接收器中多个探头的排布示意图；
24.图6为本技术实施例提供的一种光学检测组件对触头磨损量进行检测的示意图之一；
25.图7为本技术实施例提供的一种光学检测组件对触头磨损量进行检测的示意图之二；
26.图8为本技术实施例提供的一种光学检测组件对触头磨损量进行检测的示意图之三；
27.图9为本技术实施例提供的一种光学检测组件对触头磨损量进行检测的示意图之四；
28.图10为本技术实施例提供的一种光学检测组件对触头磨损量进行检测的示意图之五；
29.图11为本技术实施例提供的一种位移组件和杠杆匹配的示意图；
30.图12为本技术实施例提供的一种触头磨损监测装置未磨损的状态示意图；
31.图13为本技术实施例提供的一种触头磨损监测装置磨损后的状态示意图。
32.图标：100-基座；101-定位凸部；110-动触头；111-动触头的银点；120-静触头；121-静触头的银点；130-位移组件；131-通光部；132-传递组件；133-第二弹性件；140-光束发射器；141-发光源；142-出射光束；150-光束接收器；151-接收探头；160-光学检测组件；170-杠杆；180-动触头支架；181-滑孔；190-第一弹性件。
具体实施方式
33.为使本技术实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。需要说明的是，在不冲突的情况下，本技术的实施例中的各个特征可以相互结合，结合后的实施例依然在本技术的保护范围内。
34.在本技术的描述中，需要说明的是，术语“中心”、“上”、“下”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“内”、“外”等仅是为了便于描述本技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本技术的限制。此外，术语“第一”、“第二”、“第三”等仅用于区分描述，而不能理解为指示或暗示相对重要性。
35.在本技术的描述中，还需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“设置”、“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本技术中的具体含义。
36.本技术实施例的一方面，提供一种触头磨损监测装置，如图1所示，包括基座100、动触头组件、静触头120、位移组件130和光学检测组件160，其中，静触头120固定设置于基座100，动触头组件则活动设置于基座100。在对电路进行控制时，可以由外力驱动动触头组件相对基座100运动，从而使得动触头组件与静触头120接触或分离，以此实现电路的接通和切断。例如：当需要进行电路的接通时，可以由外力驱动动触头组件朝向静触头120运动，直至动触头组件与静触头120接触(如图3所示状态)，以完成合闸，此时电路接通；当需要对电路进行切断时，可以使得动触头组件朝向远离静触头120的方向运动，即使得动触头组件与静触头120分离，直至动触头组件复位(如图2所示状态)，从而完成分闸，此时电路切断。
37.应当理解的是，动触头组件的合闸和分闸可以由电磁铁加弹性件实现，例如动触头组件与电磁铁的动铁芯驱动连接，由此，在电磁铁通电时，由动铁芯带动动触头组件与静触头120接触从而完成合闸，弹性件与动触头组件连接，在合闸过程中，可以使弹性件进行储能；在需要分闸时，可以使得电磁铁失电，此时，弹性件释能，从而带动动触头组件和动铁芯复位。
38.为了保证动静触头120的良好接触，在动触头组件和静触头120上分别对应设置有银点，由此，如图3所示，在动触头组件和静触头120接触时，动触头组件中动触头的银点111会与静触头的银点121接触。在长期使用中，随着合分闸的次数增多以及电弧影响，会对动触头组件和静触头120上的银点产生磨损，由此，本技术加入了位移组件130和光学检测组件160，从而对磨损情况进行监测，方便用户及时掌握触头的磨损情况，实现提前预警。
39.具体的，如图1所示，在基座100上还设置有与动触头组件驱动配合的位移组件130，在触头未被磨损前，如图3所示，当动触头组件和静触头120接触时，位移组件130和动触头组件抵接。随着触头的磨损加剧，动触头组件与静触头120接触的位置会逐渐发生偏移，即动触头组件与静触头120接触的位置逐渐由动触头110朝向静触头120的方向移动，换言之，动触头组件每次合闸的路径也逐渐增长(增长量即为磨损量)，在此过程中，动触头组件在每次合闸时会同步驱动位移组件130产生位移，位移组件130产生的位移即为动触头组
件和静触头120之间的磨损量，换言之，可以由位移组件130产生的位移量来直接表征触头的磨损量。如图3所示，还可以设置有检测位移组件130位移量的光学检测组件160，采用光学检测组件160检测的方式能够实现非接触式测量，从而有效提高检测的寿命，同时，利用光学检测组件160的方式还能够有效简化结构，提高检测的准确度。
40.在一些实施方式中，为了提高检测的准确度，应当在动触头组件完成合闸后，再由光学检测组件160对产生位移后的位移组件130进行测量。此外，在动触头组件和静触头120未发生磨损前，可以先进行初始标定，即使得动触头组件和静触头120初次接触时，对位移组件130的初始位置进行标定，将此时位移组件130的初始位置作为基准，与后续触头发生磨损后且动触头组件在合闸位置时位移组件130的实际位置进行比较，实现位移组件130位移量的检测，由此，能够有效提高检测的准确度。
41.在一些实施方式中，光学检测组件160可以是激光测距仪，激光测距仪可以固定设置于基座100，通过激光测距仪可以检测与位移组件130之间的距离，从而通过与初始标定的距离进行比较，从而得出位移组件130的位移量。
42.在一些实施方式中，如图1所示，光学检测组件160还包括位于位移组件130相对两侧的光束发射器140和光束接收器150，光束发射器140和光束接收器150可以分别固定设置于基座100，光束发射器140会对应发出出射光束142，如图4所示，位移组件130本身不透光，在位移组件130上还设置有通光部131，出射光束142可以在需要时通过位移组件130上的通光部131被光束接收器150接收。由此，在触头发生磨损后，动触头组件会驱动位移组件130产生位移，在位移组件130产生位移的同时也会改变通光部131的位置，由此，随着通光部131位置的变化，能够使得光束接收器150所接收到的出射光束142的范围或位置发生变化，由此，表征出位移组件130的位移量。
43.在一些实施方式中，如图4和图6所示，光束发射器140包括发射电路板和设置于发射电路板上的发光源141，发射电路板可以驱动发光源141发出出射光束142，对应的，光束接收器150包括接收电路板以及分布于接收电路板上的多个接收探头151，通过将多个接收探头151沿位移组件130的位移方向依次设置，由此，便可以根据能够接收到出射光束142的接收探头151的位置，对位移组件130的位移量进行量化，从而实现位移组件130位移量的检测。
44.在一些实施方式中，当多个接收探头151分布于接收电路板上时，在满足沿位移组件130位移方向依次设置的前提下，可以呈一字型、折线形等多种形式分布，以4个接收探头151为例：如图5中的(a)所示，4个接收探头151首先沿位移组件130的位移方向x依次排布，且4个接收探头151依次相接呈一字型排布，由此，能够减少对接收电路板面积的占用，有利于光束接收器150的小型化；如图5中的(b)所示，4个接收探头151首先沿位移组件130的位移方向x依次排布，且4个接收探头151依次间隔呈一字型排布，由此，通过间距能够有效降低相邻两个接收探头151之间可能受到的反射等影响，提高每个接收探头151所表征的位移量的准确度；如图5中的(c)所示，4个接收探头151首先沿位移组件130的位移方向x依次排布，且4个接收探头151呈折线形排布，即呈2列交错排布，由此，能够利用交错排布的形式降低两个接收探头151之间在接收光束时可能发生的相互干涉。
45.当然，沿位移组件130的位移方向排布的接收探头151越多，所能够表征的位移组件130位移量的档位就更加精细，对应的，检测的触头磨损量也就更加精细。例如当接收探
头151仅具有4个且沿位移方向均匀分布时，可以将触头磨损量划分为4档，分别为100％、75％、50％和25％；当接收探头151具有100个且沿位移方向均匀分布时，便可以将触头磨损量划分为100档，每档代表1％的磨损量。
46.为了便于理解，以下将以4个接收探头151为例进行多个实施例的描述，应当理解的是在其它实施方式中，还可以对接收探头151的数量进行变化，本技术对其不做具体限制。
47.在一种实施方式中，如图6中的(a)所示，当光束发射器140和光束接收器150对准时，光束发射器140的视场角可以覆盖多个接收探头151，即在两者之间没有遮挡时，每个接收探头151都能够顺利接收到发光源141出射的出射光束142。
48.如图6所示，4个接收探头151沿位移组件130的位移方向x依次设置第一探头、第二探头、第三探头和第四探头，对应将触头磨损量划分为四挡，结合图3和图6中的(a)所示，在未发生磨损时，动触头组件与静触头120接触合闸，此时，位移组件130处于初始位置，对应的，通光部131在接收电路板上的正投影覆盖所有接收探头151，也即，此时所有接收探头151均能够接收到出射光束142，故，可以由4个接收探头151均能够接收到出射光束142表征触头磨损量处于未磨损或磨损较为轻微的第一档。当触头发生磨损时，动触头组件驱动位移组件130产生位移，对应的同步带动通光部131运动，如图6中的(b)所示，直至位移组件130不透光的部分遮挡第一探头，此时，通过通光部131的出射光束142的比例下降，第一探头无法接收到出射光束142，剩余3个接收探头151依然能够接收到出射光束142，由此，便可以由第二至第四探头均能够接收到出射光束142表征触头磨损量处于磨损轻微的第二档。同理，随着磨损的加剧，如图6中的(c)所示，第一和第二探头无法接收到出射光束142，可以由第三至第四探头均能够接收到出射光束142表征触头磨损量处于磨损较为严重的第三档。同理，随着磨损的加剧，如图6中的(d)所示，第一至第三探头均无法接收到出射光束142，可以由第四探头能够接收到出射光束142表征触头磨损量处于磨损严重的第四档，当到达此档位时，代表触头磨损已达到上限，及时提醒用户检修或更换。即在本实施例中，由接收探头151所不能接收到出射光束142的数量来表征触头的磨损量。
49.在一种实施方式中，如图7所示，4个接收探头151依旧包括沿位移组件130的位移方向x依次设置第一探头、第二探头、第三探头和第四探头，与上一实施例的区别为本技术由接收探头151所能接收到出射光束142的数量来表征触头的磨损量。具体的：如图7中的(a)所示，此时，仅有第一探头能够接收到出射光束142，故，可以由仅第一探头接收到出射光束142表征触头磨损量处于未磨损或磨损较为轻微的第一档；随着磨损的进一步加剧，如图7中的(b)所示，此时，仅有第一探头和第二探头能够接收到出射光束142，故，可以由仅第一探头和第二探头接收到出射光束142表征触头磨损量处于磨损轻微的第二档；随着磨损的进一步加剧，如图7中的(c)所示，此时，仅有第一探头至第三探头能够接收到出射光束142，故，可以由仅第一探头、第二探头和第三探头接收到出射光束142表征触头磨损量处于磨损较为严重的第三档；随着磨损的进一步加剧，如图7中的(d)所示，此时，4个接收探头151均能够接收到出射光束142，即通光部131此时在接收电路板上的正投影完全覆盖4个接收探头151，故，可以由4个接收探头151均能够接收到出射光束142表征触头磨损量处于磨损严重的第四档。
50.在一种实施方式中，如图8所示，4个接收探头151沿位移组件130的位移方向x依次
设置第一探头、第二探头、第三探头和第四探头，与前述实施例的区别之一为通光部131的面积缩小，仅能够使得4个探头中的一个接收到出射光束142。结合图3和图8中的(a)所示，在未发生磨损时，动触头组件与静触头120接触合闸，此时，位移组件130处于初始位置，也即，此时仅有第一探头均能够接收到出射光束142，故，可以由仅第一探头能够接收到出射光束142表征触头磨损量处于未磨损或磨损较为轻微的第一档。当触头发生磨损时，动触头组件驱动位移组件130产生位移，对应的同步带动通光部131运动，如图8中的(b)所示，直至通光部131与第二探头对准，此时，仅第二探头能够接收到出射光束142，由此，便可以由仅第二探头能够接收到出射光束142表征触头磨损量处于磨损轻微的第二档。同理，随着磨损的进一步加剧，如图8中的(c)所示，可以由仅第三探头能够接收到出射光束142表征触头磨损量处于磨损较为严重的第三档。同理，随着磨损的进一步加剧，如图8中的(d)所示，可以由仅第四探头能够接收到出射光束142表征触头磨损量处于磨损严重的第四档，当到达此档位时，代表触头磨损已达到上限，及时提醒用户检修或更换。
51.在一些实施方式中，光束发射器140还可以设置于位移组件130，即随着触头磨损的加剧，动触头组件在驱动位移组件130位移的同时，也带动光束发射器140运动，由此，便可以通过以下实施例实现触头磨损的检测：
52.在一种实施方式中，如图9所示，多个接收探头151为4个，4个接收探头151沿位移组件130的位移方向x依次设置第一探头、第二探头、第三探头和第四探头，对应将触头磨损量划分为四挡，发光源141的视场角仅能够同时覆盖一个接收探头151，结合图3和图9中的(a)所示，在未发生磨损时，动触头组件与静触头120接触合闸，此时，位移组件130处于初始位置，也即，此时仅有第一探头均能够接收到出射光束142，故，可以由仅第一探头能够接收到出射光束142表征触头磨损量处于未磨损或磨损较为轻微的第一档。当触头发生磨损时，动触头组件驱动位移组件130产生位移，对应的同步带动光束发射器140运动，如图9中的(b)所示，直至发光源141与第二探头对准，此时，仅第二探头能够接收到出射光束142，由此，便可以由仅第二探头能够接收到出射光束142表征触头磨损量处于磨损轻微的第二档。同理，随着磨损的进一步加剧，如图9中的(c)所示，可以由仅第三探头能够接收到出射光束142表征触头磨损量处于磨损较为严重的第三档。同理，随着磨损的进一步加剧，如图9中的(d)所示，可以由仅第四探头能够接收到出射光束142表征触头磨损量处于磨损严重的第四档，当到达此档位时，代表触头磨损已达到上限，及时提醒用户检修或更换。
53.在一种实施方式中，如图10所示，多个接收探头151为4个，4个接收探头151沿位移组件130的位移方向x依次设置第一探头、第二探头、第三探头和第四探头，对应将触头磨损量划分为四挡，发光源141的视场角能够同时覆盖4个接收探头151，结合图3和图10中的(a)所示，在未发生磨损时，动触头组件与静触头120接触合闸，此时，位移组件130处于初始位置，也即，此时所有探头均能够接收到出射光束142，故，可以由所有探头均能够接收到出射光束142表征触头磨损量处于未磨损或磨损较为轻微的第一档。当触头发生磨损时，动触头组件驱动位移组件130产生位移，对应的同步带动光束发射器140运动，如图10中的(b)所示，随着光束反射器的运动，第一探头不再处于发光源141的视场角内，即此时，仅第二至第四探头能够接收到出射光束142，由此，便可以由仅第二至第四探头能够接收到出射光束142表征触头磨损量处于磨损轻微的第二档。同理，随着磨损的进一步加剧，如图10中的(c)所示，可以由仅第三至第四探头能够接收到出射光束142表征触头磨损量处于磨损较为严
重的第三档。同理，随着磨损的进一步加剧，如图10中的(d)所示，可以由仅第四探头能够接收到出射光束142表征触头磨损量处于磨损严重的第四档，当到达此档位时，代表触头磨损已达到上限，及时提醒用户检修或更换。
54.在其它实施方式中，还可以将光束接收器150固定设置于位移组件130，光束发射器140则固定设置于基座100。
55.可选的，在光束发射器140的出光侧还设置有匀光片，由此，能够使得出射光束142经过匀光片后以近似平行光出射，由此，能够实现光束的匀化，使得光束在视场范围内分布较为均匀，便于多个接收探头151的准确接收。
56.可选的，在通光部131靠近动触头组件的一侧还设置有挡板，由此，可以通过挡板对触头磨损时可能掉落的残渣或灰尘进行阻挡，避免其影响通光部131进而导致检测的准确度下降的问题。
57.可选的，光束发射器140为红外发射器，光束接收器150为红外接收器，由此，能够有效的提高出射和接收的匹配度，提高检测的准确度。
58.可选的，如图11所示，触头磨损监测装置还包括转动设置于基座100的杠杆170，杠杆170的一端与位移组件130连接，杠杆170的另一端与光学检测组件160对应，杠杆170的动力臂小于杠杆170的阻力臂，由此，便可以将位移组件130的位移量通过杠杆170进行放大，方便提高光学检测组件160检测的精准度。应当理解的是，在实际连接时，当位移组件130为平动时，由于杠杆170为转动，可以在位移组件130和杠杆170之间增加转化传动机构，由此避免运动方式不同所导致的干涉，同时，为了便于检测，也可以在杠杆170和光学检测组件160之间设置转化传动机构和平动件，由此，光学检测组件160便可以通过测量平动件的平动量的方式实现触头磨损量的检测。
59.可选的，如图1所示，动触头组件包括第一弹性件190以及分别与第一弹性件190相对两端连接的动触头支架180和动触头110，动触头110滑动设置于动触头支架180，由此，在动触头110与静触头120分离时，第一弹性件190可以驱动动触头110和动触头支架180相互抵接，在动触头支架180受驱带动动触头110与静触头120接触时，动触头支架180可以继续运动以便于实现超程，具体的：如图2所示，动触头支架180和动触头110在第一弹性件190的作用下相互抵接以形成整体结构，且整体结构处于分闸位置，当需要合闸时，外力驱动动触头支架180朝向静触头120运动，在动触头110与动触头支架180接触之前，动触头110和动触头支架180保持同步运动。在动触头110和静触头120刚接触时，开始进行超程，即动触头支架180继续同向运动，由于动触头110被静触头120阻挡，故，动触头110和动触头支架180发生相对滑动，两者原本的抵接面分开，并且随着两者的相对滑动使得第一弹性件190储能，当动触头支架180运动到超程位置后(图12中所示的状态，此时，动触头110和动触头支架180的两个抵接面之间相距距离t)，超程结束，此时第一弹性件190对动触头110施加作用力，该作用力能够促使动触头110与静触头120保持压紧，从而提高接触的可靠性。同时，随着触头磨损的加剧，动触头110与静触头120的接触位置会逐渐由动触头110朝向静触头120的方向偏移，即动触头110和动触头支架180的两个抵接面之间的距离t会逐渐变小，第一弹性件190每次超程所存储的弹性能也会逐步降低，故，还可以利用超程来补偿触头磨损量，使得在一定磨损量内，依然可以使得动触头110与静触头120可靠接触。如图13所示，当触头磨损达到极限时，位于动触头110和静触头120上的银点全部被磨损，此时，动触头110对应
驱动位移组件130产生最大位移量，最大位移量即为触头磨损量的极限。
60.在每次超程结束后，位移组件130均与动触头110抵接，由此，如图12至图13，随着动触头110与静触头120的接触位置会逐渐由动触头110朝向静触头120的方向偏移，动触头110也会逐渐驱动位移组件130产生更大的位移量。如图13所示，由于动触头110的偏移量等同于触头的磨损量，因此，由位移组件130的位移量来表示触头的磨损量更加直接和准确。
61.在一些实施方式中，如图1所示，动触头支架180具有一滑孔181，动触头110安装于通孔，如图12所示，在通孔的内壁上设置有相对的两条凸轨，对应的在动触头110的相对两侧分别设置有滑槽，滑槽和凸轨一一对应，由此，实现动触头110与动触头支架180的相对滑动，第一弹性件190的一端与动触头110抵接，另一端则与滑孔181的一端壁抵接，由此，在第一弹性件190的作用下，动触头110具有与滑孔181另一端壁抵接的趋势。
62.可选的，如图12所示，位移组件130包括第二弹性件133和传递组件132，其中，在动触头支架180靠近静触头120的端部开设滑孔181，传递组件132滑动设置于滑孔181内，且传递组件132远离动触头110的一端则延伸于滑孔181外部，方便光学检测组件160检测，在传递组件132下方的基座上设置有定位凸部101，第二弹性件133一端套设于定位凸部101，另一端则套设于传递组件132靠近定位凸部101的端部，并且第二弹性件133的相对两端分别与传递组件132和基座100抵接，由此，通过第二弹性件133对传递组件132提供向上的作用力，通过该作用力使得传递组件132与动触头110抵接，从而使得传递组件132的位移量能够准确表示触头的磨损量。
63.当然，在其它实施方式中，还可以使得第二弹性件位于滑孔181内，并且第二弹性件的相对两端分别与传递组件132和动触头支架180连接，第二弹性件133用于向传递组件132提供与动触头110抵接的作用力，由此，保证传递组件132与动触头110的抵接，从而使得传递组件132的位移量能够准确表示触头的磨损量。
64.本技术实施例的另一方面，提供一种接触器，包括上述任一种的触头磨损监测装置。通过在接触器中增加触头磨损监测装置，能够对触头的磨损量进行有效监测，以此方便用户及时掌握接触器中触头的磨损情况，实现提前预警。
65.以上所述仅为本技术的优选实施例而已，并不用于限制本技术，对于本领域的技术人员来说，本技术可以有各种更改和变化。凡在本技术的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本技术的保护范围之内。