一种电光调制器频响参数测试方法

技术特征：
1.一种电光调制器频响参数测试方法，其特征在于包括以下步骤：步骤1：激光器输出的直流光信号通过光分路器分为两路，一路经过待测电光调制器被信号源输出的正弦信号调制形成调制光信号，另一路经过移频量为f
s
的移频器后形成移频光信号，上下两路光信号通过光合路器形成合路光信号，再送入光电探测器进行光电转换产生拍频电信号，利用频谱分析模块测量拍频电信号的幅度，该拍频电信号的幅度具有如下形式：步骤2：利用控制及数据处理模块设置直流源，使待测电光调制器偏置相位工作在设置信号源输出频率为f
m
、幅度为v1的正弦信号加载到待测电光调制器，利用频谱分析模块测量光电探测器输出频率为f
s
的拍频电信号的幅度，记为步骤3：保持步骤2中电源设置，利用控制及数据处理模块设置信号源输出频率为f
m
、幅度为v2的正弦信号加载到待测电光调制器，利用频谱分析模块测量光电探测器输出频率为f
s
的拍频电信号的幅度，记为步骤4：利用控制及数据处理模块设置直流源，使待测电光调制器偏置相位工作在设置信号源输出频率为f
m
、幅度为v1的正弦信号加载到待测电光调制器，利用频谱分析模块测量光电探测器输出频率为f
s
的拍频电信号的幅度，记为步骤5：保持步骤4中电源设置，利用控制及数据处理模块设置信号源输出频率为f
m
、幅度为v2的正弦信号加载到待测电光调制器，利用频谱分析模块测量光电探测器输出频率为f
s
的拍频电信号的幅度，记为步骤6：利用控制及数据处理模块设置直流源，使待测电光调制器偏置相位工作在设置信号源输出频率为f
m
、幅度为v1的正弦信号加载到待测电光调制器，利用频谱分析模块测量光电探测器输出频率为f
s
的拍频电信号的幅度，记为步骤7：保持步骤6中电源设置，利用控制及数据处理模块设置信号源输出频率为f
m
、幅度为v2的正弦信号加载到待测电光调制器，利用频谱分析模块测量光电探测器输出频率为f
s
的拍频电信号的幅度，记为步骤8：利用步骤2、3、4、5、6、7中测得的数据，按照如下公式进行计算，可以分别获得待测电光调制器在调制频率为f
m
的调制系数m
u1
(f
m
)、m
u2
(f
m
)和m
l1
(f
m
)、m
l2
(f
m
)：
其中，j0(
·
)为0阶第一类贝塞尔函数；步骤9：利用步骤2、3、4、5、6、7的信号源输出正弦信号的幅度v1、v2和步骤8中获得的待测电光调制器在调制频率f
m
处的调制系数m
u1
(f
m
)、m
u2
(f
m
)和m
l1
(f
m
)、m
l2
(f
m
)，按照如下公式可以计算得到待测电光调制器在调制频率f
m
处的半波电压v
π,u
(f
m
)和v
π,l
(f
m
)：或或或步骤10：利用控制及数据处理模块设置信号源输出正弦信号的频率f
m
，重复步骤2、3、4、5、6、7、8、9可得到待测电光调制器在不同调制频率f
m
处的调制系数m
u
(f
m
)和m
l
(f
m
)与半波电压v
π,u
(f
m
)和v
π,l
(f
m
)，即该电光调制器的频响参数。2.根据权利要求1所述的一种电光调制器频响参数测试方法，其特征在于：所述待测电光调制器包含电光强度调制器、电光相位调制器。3.根据权利要求1所述的一种电光调制器频响参数测试方法，其特征在于：当γ1＝γ2＝0时，所述待测电光调制器为单驱或双驱电光强度调制器，步骤8中公式简化为＝0时，所述待测电光调制器为单驱或双驱电光强度调制器，步骤8中公式简化为4.根据权利要求1所述的一种电光调制器频响参数测试方法，其特征在于：当γ2＝γ3＝0时，所述待测电光调制器为推挽电光强度调制器，步骤8中公式简化为＝0时，所述待测电光调制器为推挽电光强度调制器，步骤8中公式简化为＝0时，所述待测电光调制器为推挽电光强度调制器，步骤8中公式简化为5.根据权利要求1所述的一种电光调制器频响参数测试方法，其特征在于：当γ1＝γ2＝γ3＝0时，所述待测电光调制器为电光相位调制器，步骤8中公式简化为

技术总结
本发明公开了一种电光调制器频响参数测试方法，将激光器输出的直流光信号通过光分路器分为两路，一路经过待测电光调制器，另一路经过移频器，两路光信号通过光合路器送入光电探测器；信号源与待测电光调制器电连接，光电探测器与频谱分析模块电连接；控制及数据处理模块分别与信号源、频谱分析模块进行数据连接。本发明提供了一种电光调制器频响参数测试方法，利用控制及数据处理模块设置信号源输出正弦信号频率和幅度，并控制频谱分析模块测量移频频率处的信号幅度，通过分析计算可获得电光强度调制器或电光相位调制器的频响参数。光强度调制器或电光相位调制器的频响参数。光强度调制器或电光相位调制器的频响参数。


技术研发人员：张尚剑 徐映 张雅丽
受保护的技术使用者：电子科技大学
技术研发日：2022.10.21
技术公布日：2023/1/31