升降翻转装置的制作方法

技术特征：
1.一种升降翻转装置，用于将一测试头移载至一针测机上，以使该测试头对该针测机上的半导体元件进行测试，其特征在于，包含：一基座；一翻转模块，配置成可相对该基座移动，所述翻转模块包括一翻转臂，用以承载该测试头及被驱动来翻转所述的测试头；及一升降模块，包括：一螺旋升降机，设置于所述的基座上，所述螺旋升降机包括一升降螺杆，所述升降螺杆支撑该翻转模块，用以当一驱动力输入时使所述翻转模块上升或下降；及一驱动马达，设置于所述的基座上，用以对该螺旋升降机输入该驱动力。2.如权利要求1所述的升降翻转装置，其特征在于，所述的升降模块包含复数个导引杆，所述导引杆的一端固设于所述基座，所述的翻转模块可移动地组装于所述导引杆上，藉由所述的升降螺杆的支撑使所述翻转模块沿着该导引杆上升或下降。3.如权利要求2所述的升降翻转装置，其特征在于，所述的升降模块的所述螺旋升降机为二个，且所述二螺旋升降机之间是藉由一传动轴来连接以传送所述驱动马达的驱动力至另一螺旋升降机，所述螺旋升降机是对称配置在该翻转模块的两侧。4.如权利要求3所述的升降翻转装置，其特征在于，各螺旋升降机是配置在二个导引杆之间的位置。5.如权利要求4所述的升降翻转装置，其特征在于，所述的翻转模块包含一翻转轴及一减速机，所述减速机连接至所述翻转轴以提供转矩，且所述翻转臂是设置在所述翻转轴上以基于所述翻转轴的旋转而被驱动。6.如权利要求2-5中之一所述的升降翻转装置，其特征在于，所述的翻转模块包含复数个线性滑块，所述线性滑块使该翻转模块被导引，以沿着该导引杆上升或下降。7.如权利要求6所述的升降翻转装置，其特征在于，进一步包含一位置感测件，所述的位置感测件设置于所述基座或所述升降模块上，以感测所述的翻转模块升降过程中的位置。8.如权利要求7所述的升降翻转装置，其特征在于，所述的位置感测件包括二极限开关，于该翻转模块上升或下降的过程中，配置在所述的翻转模块上的一极限开关挡板是活动在所述二极限开关之间，以于所述极限开关挡板接触任一所述极限开关时产生使所述驱动马达停止输出所述驱动力的一控制讯号。

技术总结
本实用新型公开了一种升降翻转装置，包含基座、翻转模块及升降模块；翻转模块配置成可相对基座移动，翻转模块包括翻转臂，用以承载测试头及被驱动来翻转测试头；升降模块包括螺旋升降机及驱动马达，螺旋升降机设置于基座上，螺旋升降机包括升降螺杆，升降螺杆支撑翻转模块，用以当驱动力输入时使翻转模块上升或下降；驱动马达设置于基座上，用以对螺旋升降机输入驱动力。本实用新型的升降翻转装置是用于将测试头移载至针测机上，使测试头被翻转及升降而对位于针测机上的半导体元件，借以完成半导体测试程序。半导体测试程序。半导体测试程序。


技术研发人员：林景立 杨高山 陈昶荣
受保护的技术使用者：致茂电子(苏州)有限公司
技术研发日：2022.07.27
技术公布日：2022/12/30