一种聚氨酯胶接剂超声校准试块及校准方法

技术特征：
1.一种聚氨酯胶接剂超声校准试块，其特征在于，包含试块基体，聚氨酯材料、多个模拟缺陷、刻度尺；试块基体中空且上下表面开口，形成试块基体槽，聚氨酯材料填充在试块基体槽内，聚氨酯材料上下表面均可作为检测区域；聚氨酯材料上设置多个模拟缺陷，模拟缺陷位于槽内靠近槽面的地方；试块基体槽面的外表面设置有刻度尺，记录缺陷实际位置；在聚氨酯胶接剂超声检测校准时，获得聚氨酯材料的缺陷波，根据缺陷波中缺陷的位置和缺陷的实际位置，实现声速校准。2.根据权利要求1所述的，其特征在于，试块基体为长方体，长方体试块基体中空且上下表面开口，形成长方体试块基体槽。3.根据权利要求1所述的聚氨酯胶接剂超声校准试块，其特征在于，槽面为试块基体长方体的前后侧面，槽面由玻璃制成。4.根据权利要求1所述的聚氨酯胶接剂超声校准试块，其特征在于，试块基体为玻璃。5.根据权利要求1所述的聚氨酯胶接剂超声校准试块，其特征在于，聚氨酯材料的上下表面的粗糙程度与待检测工件一致。6.根据权利要求1所述的聚氨酯胶接剂超声校准试块，其特征在于，设置不同深度的模拟缺陷梯度，模拟缺陷按一定距离和深度放置于聚氨酯材料内部。7.一种聚氨酯胶接剂超声校准方法，其特征在于，利用权利要求1-6所述的任一聚氨酯胶接剂超声校准试块进行校准，具体包括步骤：(1)选择超声检测仪并进行参数设置，超声探头连接超声检测仪，超声检测仪连接上位机；(2)将超声探头通过耦合剂耦合于聚氨酯胶接剂的上表面或下表面；(3)将超声探头横向移动进行探伤找到缺陷位置，记录超声检测仪显示屏上缺陷波出现位置，调整声速使实际位置和超声检测仪显示的位置匹配；(4)根据设置好的声速，依次扫查不同位置的模拟缺陷，验证参数正确性，实现超声检测仪声速校准。8.根据权利要求1所述的聚氨酯胶接剂超声校准方法，其特征在于，采用sf580型超声检测仪，采用cg-98型超声波耦合剂。9.根据权利要求1所述的聚氨酯胶接剂超声校准方法，其特征在于，查阅资料获取聚氨酯材料的声速为1333m/s，设置初始超声检测仪声速。

技术总结
本发明公开了一种聚氨酯胶接剂超声校准试块及校准方法，包含试块基体，聚氨酯材料、多个模拟缺陷、刻度尺；试块基体中空且上下表面开口，形成试块基体槽，聚氨酯材料填充在试块基体槽内，聚氨酯材料上下表面均可作为检测区域；聚氨酯材料上设置多个模拟缺陷，模拟缺陷位于槽内靠近槽面的地方；试块基体槽面的外表面设置有刻度尺，记录缺陷实际位置；在聚氨酯胶接剂超声检测校准时，获得聚氨酯材料的缺陷波，根据缺陷波中缺陷的位置和缺陷的实际位置，实现声速校准。本发明利用缺陷回波代替试块底波来进行定位，实现聚氨酯材料超声检测声速的快速校准，提高超声检测仪检测的效率。提高超声检测仪检测的效率。提高超声检测仪检测的效率。


技术研发人员：龚德安 王海涛 曾强 王钰清
受保护的技术使用者：南京航空航天大学
技术研发日：2022.09.26
技术公布日：2022/12/30