离子迁移谱的数据处理方法及装置、电子设备与流程

技术特征：
1.一种离子迁移谱的数据处理方法，其特征在于，包括：将目标谱图中的伪特征峰剔除，得到目标特征峰，其中，所述目标谱图中包括多个伪特征峰和多个目标特征峰；根据所述目标特征峰进行区域生长，确定多个序列，其中，同一序列中的多个目标特征峰同属于同一物质，一个目标特征峰对应归属于一个序列。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，将目标谱图中的伪特征峰剔除，得到目标特征峰包括：确定所述目标谱图中所有特征峰的强度和峰宽；根据所述强度和峰宽，对所有的特征峰进行聚类，确定多个类别的特征峰，其中，多个类别分别属于所述伪特征峰或所述目标特征峰；将属于所述伪特征峰的类别的特征峰剔除，保留属于所述目标特征峰的至少一个类别的特征峰。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，确定所述目标谱图中所有特征峰的强度和峰宽包括：获取离子迁移谱检测仪检测的离子迁移谱图为所述目标谱图；对所述目标谱图进行预处理和校正后，得到中间谱图；根据所述中间谱图，确定所有特征峰的参数，其中，所述参数包括所述强度和峰宽。4.根据权利要求1述的方法，其特征在于，根据所述目标特征峰进行区域生长，确定多个序列包括：从多个目标特征峰中选取一个特征峰的所在位置作为起始点；根据所述起始点和预设的掩模进行区域生长，确定与选取的所述特征峰同属于同一物质的多个目标特征峰，组成所述物质对应的序列；将组成序列的目标特征峰剔除，从剩余的目标特征峰中继续选取特征作为起始点进行区域生长，直至多个目标特征峰均组成对应的序列，得到多个序列。5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，根据所述起始点和预设的掩模进行区域生长，确定与选取的所述特征峰同属于同一物质的多个目标特征峰，组成所述物质对应的序列包括：确定所述起始点的像素坐标；将所述掩模的设定位置与所述像素坐标对齐，向上或向下进行区域生长，确定所述掩模是否覆盖到其他的目标特征峰的所在位置；将所述掩模覆盖到的目标特征峰加入所述序列中对应位置；将所述掩模的设定位置与加入到所述序列的目标特征峰的像素位置对齐，继续进行区域生长，直至所述掩模没有覆盖到其他的目标特征峰的位置，得到所述起始点对应的目标特征峰所属的序列。6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，将所述掩模覆盖到的目标特征峰加入所述序列中对应位置包括：在所述掩模覆盖到的目标特征峰的数量为一个的情况下，将覆盖到的所述目标特征峰直接添加到所述序列中；在所述掩模覆盖到的目标特征峰的数量为多个的情况下，按照预设优先级，将多个目
标特征峰中优先级最高的一个目标特征峰添加到所述序列中；其中，所述优先级包括下列至少之一：目标特征峰的类别，目标特征峰的峰型，目标特征峰与所述起始点的欧氏距离。7.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，确定所述起始点的像素坐标包括：对所述目标谱图中的目标特征峰的离子迁移时间和离子保留时间进行二值化，得到二值谱图；根据所述二值谱图确定所述起始点的像素坐标，其中，所述像素坐标的横坐标为所述离子迁移时间，所述像素坐标的纵坐标为离子保留时间。8.根据权利要求1至7中任一项所述的方法，其特征在于，根据所述目标特征峰进行区域生长，确定多个序列之后，所述方法还包括；根据每个所述序列中的目标特征峰对应的离子迁移时间，得到离子迁移时间数组；根据所述离子迁移时间数组中某一当前位置之前相邻的预设数量的离子迁移时间，确定所述当前位置的预测离子迁移时间；确定所述预测离子迁移时间与所述当前位置在所述离子迁移时间数组中的实际离子迁移时间之间的偏差；在所述偏差超过预设阈值的情况下，将所述当前位置的实际离子迁移时间从所述离子迁移时间数组中剔除。9.一种离子迁移谱的数据处理装置，其特征在于，包括：剔除模块，用于将目标谱图中的伪特征峰剔除，得到目标特征峰，其中，所述目标谱图中包括多个伪特征峰和多个目标特征峰；生长模块，用于根据所述目标特征峰进行区域生长，确定多个序列，其中，同一序列中的多个目标特征峰同属于同一物质，一个目标特征峰对应归属于一个序列。10.一种电子设备，其特征在于，包括一个或多个处理器和存储器，所述存储器用于存储一个或多个程序，其中，当所述一个或多个程序被所述一个或多个处理器执行时，使得所述一个或多个处理器实现权利要求1至8中任意一项所述的离子迁移谱的数据处理方法。

技术总结
本申请公开了一种离子迁移谱的数据处理方法及装置、电子设备。该方法包括：将目标谱图中的伪特征峰剔除，得到目标特征峰，其中，目标谱图中包括多个伪特征峰和多个目标特征峰；根据目标特征峰进行区域生长，确定多个序列，其中，同一序列中的多个目标特征峰同属于同一物质，一个目标特征峰对应归属于一个序列。解决了相关技术中利用离子迁移谱进行物质识别时，依赖人为识别的经验，不仅效率低，而且准确率差的问题。差的问题。差的问题。


技术研发人员：吴峰 胡杨昌 马漫利 沈沐曈
受保护的技术使用者：苏州微木智能系统有限公司
技术研发日：2022.08.31
技术公布日：2022/12/1