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一种高精度低成本的高频交流阻抗检验电路及方法与流程

2022-11-28 14:19:17 来源:中国专利 TAG:


1.本发明涉及一种阻抗检验方法,特别是一种高精度低成本的高频交流阻抗检验电路及方法。


背景技术:

2.目前市面上有很多公司研发的经颅直流电刺激设备,大多设备最大输出电压
±
18v左右,输出电流在
±
100—
±
5000ua范围。设备内部为恒流源,可在最大输出电压范围内输出一种或多种电流波形。在刺激过程中如果电极与头皮接触不充分,局部电流增大,将会造成皮肤灼伤。因此,经颅电刺激设备中需要实时检测电极与头皮的接触阻抗,如果发现阻抗增大到一定程度,就需要立即切断输出,避免皮肤灼伤。通过计算电极片与皮肤的接触阻抗,检测电极与头皮接触情况。经颅电刺激技术有多种形式的刺激,其中有直流刺激、交流刺激、噪声刺激等,传统的阻抗检测无法满足交流刺激或高频刺激的需求。1、目前阻抗检测主要应用于直流刺激模式,在交流或高频刺激方式下会出现较大误差;2、使用现有的阻抗检测方式,如果想对交流或高频刺激有较高精度的检测效果,只能采用高速高精度的器件,这会导致成本大幅增加。因此,现有的技术存在着无法实现低成本高精度的检测阻抗的问题。


技术实现要素:

3.本发明的目的在于,提供一种高精度低成本的高频交流阻抗检验电路及方法。本发明能够实现低成本高精度的检测阻抗。
4.本发明的技术方案:高精度低成本的高频交流阻抗检验电路,包括依次相连的主控电路、驱动电路、恒流源电路和阻抗检测及保护电路;
5.主控电路包括自动da模块的mcu,利用mcu自带的da模块直接控制输出不同波形;
6.驱动电路:用于对信号的驱动及放大;
7.恒流源电路:用于产生恒流源;
8.阻抗检测及保护电路包括检流电路、模拟开关电路和阻抗检测电路;检流电路用于检测输出电流是否正常;阻抗检测电路用于实时检测输出阻抗值。
9.一种高精度低成本的高频交流阻抗检验方法,分别求得阻抗检测电路中阴极和阳极之间的电压v以及流过阴阳极之间的电流i;然后利用公式

求得阻抗r,
10.r=v/i...................


11.前述的一种高精度低成本的高频交流阻抗检验方法中,阴阳极之间的电流i与检流电路中的检流电阻流过的电流i相同,通过计算检流电路中的检流电阻流过的电流i即可得到流过阴阳极之间的电流i;
12.检流电阻流过的电流的计算方法为:通过mcu分别测得5次检流电阻输入和输出两端的电压,并求平均分别得v1与v2,且已知检流电阻的阻值为1k,利用公式

计算得到i,
13.i=(v1-v2)/1k..........


14.前述的一种高精度低成本的高频交流阻抗检验方法中,阴极和阳极之间的电压v的计算公式如公式

所示,
15.v=v2-(vref)......


16.其中,vref为阴极电极端的电压值,初始值为-15v,随后每次上电都进行一次vref的电压检测。
17.前述的一种高精度低成本的高频交流阻抗检验方法中,vref的电压检测方法为:
18.关闭恒流源;mcu控制引脚(mcu_control)一直为低电平,使得4路模拟开关d2-s2、d3-s3处于闭合,d1-s1、d4-s4断开,通路上的所有电压都相等,此时的vref=v20,v20为在关闭恒流源时检流电阻输出端的电压;通过mcu检测v20的电压值,取5次求平均值,即得到vref值。
19.前述的一种高精度低成本的高频交流阻抗检验方法中,在恒流源刺激下,v1与v2的检测过程:
20.1)mcu控制恒流源产生周期性交流半波,在阴、阳极之间产生双向交流波形,mcu采用双缓存 dma方式,控制恒流源产生第一个半波,而且mcu_control端为低电平,在阴、阳极之间产生一个正向交流半波电流;当第一个半波输出完成,mcu_control端反转成高电平,同时mcu控制恒流源生成第二个半波;周期性反复,在阴、阳极之间会产生连续的正弦波;
21.2)mcu产生半波数据时,dac通过dma方式在timer的驱动下一个点一个点输出到dac引脚,来控制恒流源输出,当dma输出数据到一半时,也就是100个点时,半波处于最大值,此时会自动产生一个半波完成中断,mcu在此中断处理函数中会开启adc的双通道dma方式循环检测v1、v2值,最终得到v1值和v2值。
22.前述的一种高精度低成本的高频交流阻抗检验方法中,mcu采用双缓存 dma方式是指:通过mcu模块控制恒流源产生周期性的交流半波,并将生成的交流半波周期内的200个点的数据存入静态内存中;dac模块通过dma通道获取静态内存中的缓存数据,通过数模转换并在定时器的驱动下将200个点的缓存数据一个点一个点的依次输出到dac引脚,生成相应的正弦波波形。
23.前述的一种高精度低成本的高频交流阻抗检验方法中,每个缓存数据点的输出时间为25us。
24.与现有技术相比,本发明通过合理优化阻抗校验的电路,将其设置成由主控电路、驱动电路、恒流源电路和阻抗检测及保护电路依次相连而成的电路,并配以特定的阻抗检测方法,从而能够在交流高频刺激方式下的低成本高精度的阻抗检测,阻抗误差小(精度能达到5%以内),成本可以减少到30%。在整个检测过程中,全程采用dma方式,中断方法,可以减少mcu资源开销,且不会影响计算速度以及半波的生成;与此同时,本发明通过在半波处检测v1和v2的值,并通过公式来计算得到交流阻抗,从而可以有效的减小误差,提高检测精度。综上所述,本发明能够实现低成本高精度的检测阻抗。
附图说明
25.图1是本发明的原理框图;
26.图2是恒流源电路和阻抗检测及保护电路的具体电路原理图。
具体实施方式
27.下面结合附图和实施例对本发明作进一步的说明,但并不作为对本发明限制的依据。
28.实施例。高精度低成本的高频交流阻抗检验电路,构成如图1和2所示,包括依次相连的主控电路、驱动电路、恒流源电路和阻抗检测及保护电路;
29.主控电路包括自动da模块的mcu,利用mcu自带的da模块直接控制输出不同波形;
30.驱动电路:用于对信号的驱动及放大;
31.恒流源电路:用于产生恒流源;
32.阻抗检测及保护电路包括检流电路、模拟开关电路和阻抗检测电路;检流电路用于检测输出电流是否正常;阻抗检测电路用于实时检测输出阻抗值。阻抗位于经颅电刺激设备的阴极和阳极之间,当阴极和阳极分别作用于人体上时,阴极和阳极之间会形成阻抗。
33.一种高精度低成本的高频交流阻抗检验方法,分别求得阻抗检测电路的阻抗两端的阴极和阳极之间的电压v以及流过阴阳极之间阻抗的电流i;然后利用公式

求得阻抗r,
34.r=v/i...................


35.阴阳极之间的电流i与检流电路中的检流电阻流过的电流i相同,通过计算检流电路中的检流电阻流过的电流i即可得到流过阴、阳极之间的电流i;
36.检流电阻流过的电流的计算方法为:通过mcu分别测得5次检流电阻输入和输出两端的电压,并求平均分别得v1与v2,且已知检流电阻的阻值为1k,利用公式

计算得到i,
37.i=(v1-v2)/1k..........


38.阻抗两端阴极和阳极之间的电压v的计算公式如公式

所示,
39.v=v2-(vref)......


40.其中,vref为阴极电极端的电压值,初始值为-15v,随后每次上电都进行一次vref的电压检测。
41.vref的电压检测方法为:
42.关闭恒流源;mcu控制引脚(mcu_control)一直为低电平,使得4路模拟开关d2-s2、d3-s3处于闭合,d1-s1、d4-s4断开,如图2所示,通路为浅色箭头方向,通路上的所有电压都相等,此时的vref=v20,v20为在关闭恒流源时检流电阻输出端的电压;通过mcu检测v20的电压值,取5次求平均值,即得到vref值。mcu通过在flash中预先存储200点的半波数据,
43.在恒流源刺激下,v1与v2的检测过程:
44.1)mcu控制恒流源产生周期性交流半波,在阴阳极之间产生双向交流波形,mcu采用双缓存(半波数据200个点) dma方式(提高速度),控制恒流源产生第一个半波,而且mcu_control端为低电平,电流方向见原理图浅色箭头,在阴阳极之间产生一个正向交流半波电流;当第一个半波输出完成,mcu_control端反转成高电平,同时mcu控制恒流源生成第二个半波,电流通路方向为深色箭头的指向;周期性反复,在阴阳极之间会产生连续的正弦波;
45.2)mcu产生半波数据(200个点)时,dac通过dma方式在timer的驱动下一个点一个点输出到dac引脚,来控制恒流源输出,当dma输出数据到一半时,也就是100个点时,半波处于最大值,如图2交流波形t1、t2、t3 t4 t5 t6、t7、t8时刻,此时会自动产生一个半波完成中断,mcu在此中断处理函数中会开启adc的双通道dma方式循环检测v1、v2值,最终得到v1值和v2值;检测完成会产生一个adc检测完成中断,在此中断函数中会根据公式
①②③
计算
处r的值;在整个检测过程中,全程采用dma方式,中断方法,目的是减少mcu资源开销,并不影响计算速度,及半波生成;
46.mcu采用双缓存 dma方式是指:通过mcu模块控制恒流源产生周期性的交流半波,并将生成的交流半波周期内的200个点的数据存入静态内存中;dac模块通过dma通道获取静态内存中的缓存数据,通过数模转换并在定时器的驱动下将200个点的缓存数据一个点一个点的依次输出到dac引脚,生成相应的正弦波波形。
47.每个缓存数据点的输出时间为25us。
48.所诉主控电路部分:包括da模块(mcu自带),mcu单元,mcu单元主要用于通过接收用户设定的不同波形参数,及输出相应波形和根据反馈的不同状态进行相应控制,为了提高输出波形采样率,本发明采用mcu自带的da模块直接控制输出不同波形;
49.所诉驱动电路,主要包括功率运算放大器及相关电路;其主要用于对信号的驱动及放大;
50.所诉恒流源电路部分,主要包括产生恒流源的驱动电路,控制电路及相关外围电路;
51.所述阻抗检测保护电路,主要包括模拟开关电路、检流电路和阻抗检测电路;检流电路主要用于检测输出电流是否正常,如果检测到输出电流异常大于设定值,设备立即断开电路,发出过流提醒;阻抗检测电路,主要是实时检测输出阻抗值,当检测到异常阻抗值,立即断开电路,发出阻抗异常提醒;
52.一般阻抗计算频率为1hz,即1s一次,最大交流频率200hz,只要交流波形》=0.5hz,就可以使用此方法满足要求,高频交流波形非常适合本发明的检测方法,完全满足1hz的阻抗计算频率;
53.在高频交流模式下,在半波处时刻的电压采集时间满足要求,具体计算过程如下所示;
54.以最大频率200hz为例,一个周期需要打点400个,平均每个点的时间是(1*1000000/200)/400=12us,即每个点的时间是12us,半波处的电压稳定时间为12us,adc采集v1,v2时,每采集一次需要15adcclk周期,adcclk=21mhz,完成一个通道的时间是15/21m=0.714us,2个通道为1.428us,各个通道连续采集5次,求平均值,需要的时间为7.14us,完全满足采集速度要求。
再多了解一些

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