电极小孔斜度检测方法与流程

1.本发明属于电极检测技术领域，具体涉及电极小孔斜度检测方法。


背景技术：

2.不同电极上的小孔数量大概300-1000不等，小孔的倾斜程度是影响电极质量的重要因素之一，现有技术中对小孔的检测，往往采用在每个孔插pin棒目视判别，手动导致时间繁琐，(1个孔大概用时10秒)插pin过程对产品呈在崩裂风险，且插pin棒后的目视判别，无法精确得知孔的倾斜程度，不便做品质判别。


技术实现要素：

3.有鉴于此，本发明公开了电极小孔斜度检测方法，其目的在于解决现有技术对电极小孔倾斜程度的检测时间繁琐、精确率低，不便做品质判定的问题。
4.为达到上述目的，本发明提供如下技术方案：
5.电极小孔斜度检测方法，包括如下步骤：
6.1)、电极上端检测：通过影像设备检测电极上端面形成影像图，影像图中各小孔上孔的中心到电极外圆中心形成第一线段；
7.2)、电极下端检测：通过影像设备检测电极上端面形成影像图，影像图中各小孔上孔的中心到电极外圆中心形成第二线段；
8.3)、检测电极厚度：通过影像设备检测电极厚度；
9.4)、通过以下公式计算小孔倾斜角度a：
10.其中，l1为第一线段的长度值，l2为第二线段的长度值，d为电极厚度值；
11.5)、判断小孔的倾斜度是否合格。
12.进一步，步骤5中的合格标准如下：
13.当0.9848《cosa《1；则小孔倾斜角度为0
°
～10
°
；则该孔倾斜度优良；
14.当cosa《0.9848；则小孔倾斜角度大于10
°
，则该小孔倾斜度较差。
15.本发明的有益效果在于：通过数据化快速呈现小孔实际斜度，便于判别产品品质状态，杜绝产品崩裂风险；相对于采用pin棒目视判别的方法来说，极大节省电极检查时间，同时检测结果更加精准，更有利于判别产品品质。
16.本发明的其他优点、目标和特征将在随后的说明书中进行阐述，并且在某种程度上对本领域技术人员而言是显而易见的，或者本领域技术人员可以从本发明的实践中得到教导。本发明的目标和其他优点可以通过下面的说明书来实现和获得。
附图说明
17.为了使本发明的目的、技术方案和有益效果更加清楚，本发明提供如下附图进行说明：
18.图1为本发明实施例的示意图。
具体实施方式
19.如图1所示：
20.电极小孔斜度检测方法，包括如下步骤：
21.1)、电极上端检测：通过影像设备检测电极上端面形成影像图，影像图中各小孔上孔的中心到电极外圆中心形成第一线段；
22.2)、电极下端检测：通过影像设备检测电极上端面形成影像图，影像图中各小孔上孔的中心到电极外圆中心形成第二线段；
23.3)、检测电极厚度：通过影像设备检测电极厚度；
24.4)、通过以下公式计算小孔倾斜角度a：
25.其中，l1为第一线段的长度值，l2为第二线段的长度值，d为电极厚度值；
26.5)、判断小孔的倾斜度是否合格。
27.进一步，步骤5中的合格标准如下：
28.当0.9848《cosa《1；则小孔倾斜角度为0
°
～10
°
；则该孔倾斜度优良；
29.当cosa《0.9848；则小孔倾斜角度大于10
°
，则该小孔倾斜度较差。
30.判断结果如下所示：
[0031][0032][0033]
最后说明的是，以上优选实施例仅用以说明本发明的技术方案而非限制，尽管通过上述优选实施例已经对本发明进行了详细的描述，但本领域技术人员应当理解，可以在形式上和细节上对其作出各种各样的改变，而不偏离本发明权利要求书所限定的范围。


技术特征：
1.一种电极小孔斜度检测方法，其特征在于，包括如下步骤：1)、电极上端检测：通过影像设备检测电极上端面形成影像图，影像图中各小孔上孔的中心到电极外圆中心形成第一线段；2)、电极下端检测：通过影像设备检测电极上端面形成影像图，影像图中各小孔上孔的中心到电极外圆中心形成第二线段；3)、检测电极厚度：通过影像设备检测电极厚度；4)、通过以下公式计算小孔倾斜角度a：其中，l1为第一线段的长度值，l2为第二线段的长度值，d为电极厚度值；5)、判断小孔的倾斜度是否合格。2.根据权利要求1所述的电极小孔斜度检测方法，其特征在于，步骤5中的合格标准如下：当0.9848<cosa<1；则小孔倾斜角度为0
°
～10
°
；则该孔倾斜度合格；当cosa<0.9848；则小孔倾斜角度大于10
°
，则该小孔倾斜度不合格。

技术总结
本发明公开了电极小孔斜度检测方法，属于电极检测技术领域，电极小孔斜度检测方法，包括如下步骤：1)、电极上端检测：通过影像设备检测电极上端面形成影像图，影像图中各小孔上孔的中心到电极外圆中心形成第一线段；2)、电极下端检测：通过影像设备检测电极上端面形成影像图，影像图中各小孔上孔的中心到电极外圆中心形成第二线段；3)、检测电极厚度：通过影像设备检测电极厚度；4)、通过以下公式计算小孔倾斜角度A：其中，L1为第一线段的长度值，L2为第二线段的长度值，D为电极厚度值；5)、判断小孔的倾斜度是否合格；本发明的目的在于解决现有技术对电极小孔倾斜程度的检测时间繁琐、精确率低，不便做品质判定的问题。的问题。的问题。


技术研发人员：王家安 杨佐东 田陈
受保护的技术使用者：重庆臻宝实业有限公司
技术研发日：2022.08.30
技术公布日：2022/11/25