一种射频芯片以及测试系统的制作方法

1.本实用新型涉及射频芯片的技术领域，特别涉及一种射频芯片以及测试系统。


背景技术：

2.现有技术中，射频芯片的信号传输效率作为一个比较重要的研发指标一直用来指导研发的射频芯片的性能，但是随着射频芯片的不断研发，对其进行性能的测试也成了相当重要的一环。
3.在现有技术中，为了测试射频芯片的信号传输能力，一般是采用通过射频芯片的天线发送测试信号，然后接受设备根据接受到的信号与原始测试信号的比值来确定射频芯片的信号传输能力，这样会因为天线传输的距离，也即接受设备与射频芯片的距离会严重影响到测试结果，


技术实现要素：

4.本实用新型的目的在于提供一种射频芯片，解决现有技术中射频芯片在进行性能检测时测试结果容易被影响的技术问题。
5.为了实现上述目的，本实用新型提出一种射频芯片，所述射频芯片包括：
6.基板；
7.天线，所述天线固设于所述基板；
8.测试点，所述测试点与所述天线电连接，并通过测试线连接至测试设备；
9.所测试点还包括从外至内依次设置的屏蔽区、净空区以及测试区；
10.所述屏蔽区、所述净空区以及所述测试区均为封闭图形区域。
11.可选地，所测试点还包括从外至内依次设置的屏蔽区、净空区以及测试区。
12.可选地，所述天线包括第一环形部、第二环形部以及第三环形部，所述第一环形部、所述第二环形部以及所述第三环形部依次连接。
13.可选地，所述第一环形部包括顺次首尾连接的第一枝节、第二枝节、第三枝节以及第四枝节，所述第一枝节与所述第三枝节平行，所述第二枝节与所述第四枝节平行。
14.可选地，所述第二环形部包括顺次首尾连接的第五枝节、第六枝节、第七枝节以及第八枝节，所述第五枝节与所述第七枝节平行，所述第六枝节与所述第八枝节平行。
15.可选地，所述第三环形部包括第九枝节、第十枝节、第十一枝节以及第十二枝节，所述第九枝节、所述第十枝节、所述第十一枝节首尾连接，所述第十二枝节的第一端设于所述第十枝节中部，所述第九枝节、所述第十一枝节以及所述第十二枝节平行。
16.可选地，所述屏蔽区、所述净空区以及所述测试区设于所述第七枝节与所述第十一枝节的延伸区之间。
17.为了实现上述目的，本实用新型提出一种测试系统，所述测试系统包括测试设备、测试头以及如上所述的射频芯片，所述测试设备通过测试头与所述射频芯片抵接。
18.可选地，所述测试头包括弹性抵接部、环绕所述弹性抵接部设置的隔离部以及覆
盖于所述隔离部上的屏蔽部。
19.本实用新型射频芯片包括射频芯片包括基板、天线以及测试点，所述天线固设于所述基板；所述测试点与所述天线电连接，并通过测试线连接至测试设备。所测试点还包括从外至内依次设置的屏蔽区、净空区以及测试区；所述屏蔽区、所述净空区以及所述测试区均为封闭图形区域。通过上述方案可以将测试设备通过设置好的测试点直接对天线的性能进行测试，避免射频信号在空气中的传播损耗，从而以解决现有技术中射频芯片在进行性能检测时测试结果容易被影响的技术问题。
附图说明
20.下面结合附图和实施例对本实用新型进一步地说明；
21.图1为一个实施例中射频芯片的结构示意图。
22.图2为一个实施例中射频芯片的结构示意图。
23.图3为一个实施例中测试系统中测试头的结构示意图。
具体实施方式
24.本部分将详细描述本实用新型的具体实施例，本实用新型之较佳实施例在附图中示出，附图的作用在于用图形补充说明书文字部分的描述，使人能够直观地、形象地理解本实用新型的每个技术特征和整体技术方案，但其不能理解为对本实用新型保护范围的限制。
25.为了解决现有技术中射频芯片在进行性能检测时测试结果容易被影响的技术问题，本实用新型提出一种射频芯片。
26.在一实施例中，参考图1所示，所述射频芯片包括基板10、天线以及测试点，所述天线固设于所述基板10；所述测试点与所述天线电连接，并通过测试线连接至测试设备。
27.其中，所测试点还包括从外至内依次设置的屏蔽区1013、净空区1012以及测试区1011；所述屏蔽区1013、所述净空区1012以及所述测试区1011均为封闭图形区域。上述方案可以将测试设备通过设置好的测试点直接对天线的性能进行测试，避免射频信号在空气中的传播损耗，从而以解决现有技术中射频芯片在进行性能检测时测试结果容易被影响的技术问题。
28.需要说明的是，封闭图形区域是指图形具有类似圆环等的封闭效果，从而保证测试区1011设于里面，所述净空区1012可以保证此时检测的效果的独立性，隔离屏蔽区1013以及测试区1011，另外设置有屏蔽区1013也能保证测试时信号的更少外溢，从而进一步提升测试效果。
29.可选地，所述天线包括第一环形部102、第二环形部103以及第三环形部104，所述第一环形部102、所述第二环形部103以及所述第三环形部104依次连接。
30.其中，通过将天线设置为第一环形部102、第二环形部103以及第三环形部104，可以形成多个辐射面，通过辐射面的叠加可以增强天线的信号发送以及接收效率。
31.可选地，所述第一环形部102包括顺次首尾连接的第一枝节1021、第二枝节1022、第三枝节1023以及第四枝节1024，所述第一枝节1021与所述第三枝节1023平行，所述第二枝节1022与所述第四枝节1024平行。
32.其中，参考图2所示，第一枝节1021、第二枝节1022、第三枝节1023以及第四枝节1024共同构成第一环形部102，依据射频芯片的形状对天线的各个枝节进行设计，从而保证天线在占据面积较小的情况下，也能实现较好的传输性能。
33.需要说明的是，第一枝节1021以及第三枝节1023为辐射部，第二枝节1022与第四枝节1024为导线部。
34.可选地，所述第一枝节1021长于第三枝节1023，从而使得边缘的辐射部所形成的辐射面具有较好的全向性，能保证射频芯片上的天线的辐射面覆盖范围较广，能实现多个方向上均具有良好的辐射性能。
35.可选地，第一枝节1021、第二枝节1022、第三枝节1023以及第四枝节1024的宽度均为0.8mm，第一枝节1021的长度为5mm，第二枝节1022、第三枝节1023以及第四枝节1024的长度为4mm。
36.可选地，所述第二环形部103包括顺次首尾连接的第五枝节1031、第六枝节1032、第七枝节1033以及第八枝节1034，所述第五枝节1031与所述第七枝节1033平行，所述第六枝节1032与所述第八枝节1034平行。
37.其中，第五枝节1031、第六枝节1032、第七枝节1033以及第八枝节1034构成第二环形部103，依据射频芯片的形状对天线的各个枝节进行设计，从而保证天线在占据面积较小的情况下，也能实现较好的传输性能。
38.可选地，第五枝节1031、第六枝节1032、第七枝节1033以及第八枝节1034的宽度均为0.8mm，第五枝节1031、第六枝节1032、第七枝节1033以及第八枝节1034的长度为4mm。
39.需要说明的是，第五枝节1031与所述第七枝节1033为辐射部，第六枝节1032与所述第八枝节1034为导线部。
40.可选地，所述第五枝节1031与第七枝节1033等长，从而能进一步实现中间辐射面的叠加，均匀每一方向的辐射面，使得中间的辐射部具有较好的全向性，能保证射频芯片上的天线的辐射面覆盖范围较广，能实现多个方向上均具有良好的辐射性能。
41.可选地，所述第三环形部104包括第九枝节1041、第十枝节1042、第十一枝节1043以及第十二枝节1044，所述第九枝节1041、所述第十枝节1042、所述第十一枝节1043首尾连接，所述第十二枝节1044的第一端设于所述第十枝节1042中部，所述第九枝节1041、所述第十一枝节1043以及所述第十二枝节1044平行。
42.其中，第九枝节1041、第十枝节1042、第十一枝节1043以及第十二枝节1044构成第三环形部104，依据射频芯片的形状对天线的各个枝节进行设计，从而保证天线在占据面积较小的情况下，也能实现较好的传输性能。
43.可选地，第九枝节1041、所述第十一枝节1043以及所述第十二枝节1044均为辐射部，第九枝节1041的长度小于第十一枝节1043，所述第十一枝节1043的长度小于第十二枝节1044。所述第十二枝节1044的宽度大于其余所述辐射部的宽度。通过上述设置，能在提升天线传输性能的同时，还能减少天线贴片的难度，保证每一枝节的净空区1012的距离。
44.可选地，所示第十二枝节1044的宽度为1mm，所示第九枝节1041、第十枝节1042、第十一枝节1043的宽度为0.8mm。第十一枝节1043以及所述第十二枝节1044为6mm，第十枝节1042的长度为5mm，第九枝节1041长度为4mm。
45.需要说明的是，天线整体的材质为铜制天线。
46.可选地，所述屏蔽区1013、所述净空区1012以及所述测试区1011设于所述第七枝节1033与所述第十一枝节1043的延伸区之间。
47.通过上述设置，可以使得测试点处于第七枝节1033与所述第十一枝节1043组成的辐射区中，减少无线传输对测试结果的影响。
48.为了实现上述目的，本实用新型提出一种测试系统，所述测试系统包括测试设备以及如上所述的射频芯片，所述测试设备通过测试头20与所述射频芯片抵接。
49.需要说明的是，由于本技术的测试系统包含上述射频芯片的所有步骤，因此，测试系统也可以实现射频芯片的所有方案，并具有同样的有益效果，在此不再赘述。
50.可选地，参照图3所示，所述测试头20包括弹性抵接部203、环绕所述弹性抵接部203设置的隔离部202以及覆盖于所述隔离部202上的屏蔽部201。
51.其中，环绕所述弹性抵接部203设置的隔离部202可以保证此时的测试信号的损耗减小，而屏蔽部201的设置能减少外部环境对测试结果的影响，弹性抵接部203能够直接与测试点的测试区1011，通过弹性抵接可以保证充分接触，避免接触不良造成的检测结果的偏差。需要说明的是，弹性抵接部203为具有弹性伸缩功能的抵接探针。
52.以上实施例的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。