一种芯片的自适应测试的方法、系统、装置及存储介质与流程

1.本发明涉及芯片测试技术领域，具体涉及一种芯片的自适应测试的方法、系统、装置及存储介质。


背景技术：

2.目前芯片种类繁多，针对不同种类芯片通信接口不同，传统编程测试设备往往只能满足某一通信协议芯片，因而通常只能对单一种类的芯片编程及测试，使用传统编程测试设备进行编程测试，需要耗费测试人员大量的精力和时间去编写程序，耗费大量的人力成本，测试效率低，传统编程测试设备也无法针对每颗芯片的性能参数去针对性的进行测试，同时测试芯片的种类非常有限，难以覆盖市面上芯片的各品牌各型号。


技术实现要素：

3.针对上述问题，本发明提供了一种芯片的自适应测试的方法、系统、装置及存储介质，其可以自动适配不同的芯片，且可以实现针对待测芯片的性能参数，调整测试程序的参数，减少测试的成本，提升测试效率。
4.其技术方案是这样的：一种芯片的自适应测试方法，其特征在于，包括以下步骤：
5.建立数据库，所述数据库中存储有历史检测的芯片数据；
6.获取待测试的芯片的已知特征，从数据库匹配得到待测试的芯片的特征参数；
7.根据匹配结果，推送与芯片对应的测试程序；
8.采用测试程序进行芯片测试。
9.进一步的，所述的读取待测试的芯片的已知特征，从数据库匹配得到待测试的芯片的特征参数，具体包括：
10.获取待测试的芯片的id，从数据库匹配得到待测试的芯片的特征参数。
11.进一步的，所述的待测试的芯片的特征参数包括通信协议、厂牌、容量、电压、电流、上电时序、加密区域、寄存器、封装尺寸、频率、波特率中的任意一种或多种。
12.进一步的，所述的根据匹配结果，推送与芯片对应的测试程序，包括：
13.推送与待测试的芯片相匹配的测试项目；
14.根据推送的测试项目，从测试程序数据库中调取对应的测试程序模版；
15.在调取的测试程序模版中自动填充待测试的芯片的特征参数，构成所述测试程序。
16.进一步的，当检索到数据库中未收录待测试的芯片的信息时，则在数据库中建立对应芯片的目录，并且在芯片对应目录下设置特征参数的词条，用于录入对应的特征参数。
17.进一步的，通过文本识别录入芯片的设计手册的信息，对文本信息进行特征参数的关键词检索，将检索到的所有的与特征参数相匹配的关键词推送给信息录入人员以供参考。
18.一种芯片测试系统，包括芯片夹具和测试线路板及处理器，所述测试线路板上能
够安装多个所述芯片夹具，其特征在于：所述处理器用于执行如上述的芯片的自适应测试方法。
19.进一步的，所述测试线路板上对应所述芯片的每个引脚分别设置了若干种接口电路，所述接口电路至少包括供电、接地、i/o接口，每种所述接口电路上分别设有可控开关，所述可控开关连接所述处理器和测试回路，所述处理器读取匹配得到的待测试芯片的特征参数中的封装信息，根据待测试芯片的封装信息控制对应接口电路的可控开关闭合，使得测试线路板上的每个引脚的接口电路与所述待测试芯片封装的引脚相对应。
20.一种计算机装置，其特征在于，其包括：包括处理器、存储器以及程序；
21.所述程序存储在所述存储器中，所述处理器调用存储器存储的程序，以执行如上述的一种芯片的自适应测试方法。
22.一种计算机可读存储介质，其特征在于：所述计算机可读存储介质用于存储程序，所述程序用于执行如上述的一种芯片的自适应测试方法。
23.与相关技术相比，本技术技术方案提供的芯片的自适应测试的方法、系统、装置及存储介质，通过设置数据库收录芯片数据，对于已在数据库中的芯片，会根据芯片已知的特征，自动适配其他特征参数，并且会适配测试项目和适配测试程序模版，然后将这些适配到的特征参数自动填充在测试程序模版中，生成测试程序，测试程序可以用于对芯片进行测试，这样的设计减少了测试人员的编程操作，大大降低了人力成本，提高了测试效率；使用这种方式，测试程序可以对每个待测芯片本身的性能参数进行定制的调整和适配，有助于提高测试结果的准确性；本技术提供的芯片测试系统，一个测试电路板可以连接多个测试夹具，可以同时对多个待测芯片进行测试，进一步提高测试效率。
24.本发明的其它特征和优点将在随后的说明书中阐述，并且，部分地从说明书中变得显而易见，或者通过实施本发明而了解。本发明的目的和其他优点可通过在说明书、权利要求书以及附图中所特别指出的内容来实现和获得。
附图说明
25.附图用来提供对本发明技术方案的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与本技术的实施例一起用于解释本发明的技术方案，并不构成对本发明技术方案的限制。
26.图1为实施例中的一种芯片的自适应测试方法的步骤示意图；
27.图2为实施例中的一种芯片夹具的示意图；
28.图3为实施例中的线路测试板的示意图；
29.图4为实施例中的线路测试板的其中一个芯片的引脚的接口电路的示意图；
30.图5为一个实施例中计算机装置的内部结构图。
具体实施方式
31.以下描述中，参考构成本发明的一部分的附图，这些附图通过说明的方式示出本发明实施例的特定方面或可以使用本发明实施例的特定方面。应理解，本发明的实施例可以用于其它方面，并且包括在附图中未描绘的结构上或逻辑上的变化。因此，以下详细描述不作为限制意义，并且本发明的范围由所附权利要求限定。
32.应当理解，尽管在本公开实施例为了便于理解而编号的方式对步骤进行了说明，
但是这些编号并不代表步骤的执行顺序，也并不代表采用顺序编号的步骤必须在一起执行。应当理解，采用顺序编号的多个步骤中的一个或几个步骤可以单独执行以解决相应的技术问题并达到预定的技术方案。即使是在附图中被示例性的列在一起的多个步骤，并不代表这些步骤必须被一起执行；附图只是为了便于理解而示例性的将这些步骤列在了一起。
33.如图1所示，本发明的一种芯片的自适应测试方法，至少包括以下步骤：
34.步骤1：建立数据库，数据库中存储有历史检测的芯片数据；
35.步骤2：获取待测试的芯片的已知特征，从数据库匹配得到待测试的芯片的特征参数；
36.步骤3：根据匹配结果，推送与芯片对应的测试程序；
37.步骤4：采用测试程序进行芯片测试。
38.具体在本发明的一个实施例中，在步骤1中，建立数据库，数据库中存储有历史检测的芯片数据，具体在本实施例中，数据库中保持的待测试的芯片的特征参数包括通信协议、厂牌、容量、电压、电流、上电时序、加密区域、寄存器、封装尺寸、频率、波特率。
39.以通信协议为例，就可以包括基于eeprom的芯片、基于swd协议的芯片、基于i2c协议的芯片、基于spi协议的芯片、基于jatag协议的芯片、lvds接口显示屏芯片等等。
40.在步骤2中，会获取待测试的芯片的id，根据待测试的芯片的id，从数据库匹配得到待测试的芯片的特征参数，获取的特征参数，可以是通信协议、厂牌、容量、电压、电流、上电时序、加密区域、寄存器、封装尺寸、频率、波特率中的任意一种或多种，具体根据芯片的测试项目所决定
41.在步骤3中，根据匹配结果，推送与芯片对应的测试程序，包括：
42.推送与待测试的芯片相匹配的测试项目；
43.根据推送的测试项目，从测试程序数据库中调取对应的测试程序模版；
44.在调取的测试程序模版中自动填充待测试的芯片的特征参数，构成测试程序。
45.随后在步骤4中，采用测试程序进行芯片测试。
46.上述实施例是针对数据库中已经存储有待检测的芯片数据，而当检索到数据库中未收录待测试的芯片的信息时，则在数据库中建立对应芯片的目录，并且在芯片对应目录下设置特征参数的词条，用于录入对应的特征参数，对于录入芯片的特征参数，可以是测试人员阅读芯片的设计手册，人工添加特征参数，这样添加完待检测的芯片数据后，则可以执行上述实施例中步骤1至步骤4的方法，得到测试程序进行测试。
47.在本发明的另一个实施例中，会基于文本识别的功能，直接录入整个芯片的设计手册的信息，对于所需填写的特征参数的条目，会对文本信息进行特征参数的关键词检索，将检索到的所有的与特征参数相匹配的关键词推送给信息录入人员以供参考，同时还会将关键词的出处页码推送给录入人员，以供录入人员确定是否是需要的特征信息。
48.上述实施例的方法中，通过设置数据库收录芯片数据，对于已在数据库中的芯片，会根据芯片已知的特征，自动适配其他特征参数，并且会适配测试项目和适配测试程序模版，然后将这些适配到的特征参数自动填充在测试程序模版中，生成测试程序，测试程序可以用于对芯片进行测试，这样的设计减少了测试人员的编程操作，大大降低了人力成本，提高了测试效率，并且对于数据库中没有数据的芯片，也可以进行新芯片数据的录入，能够不
断扩充的数据库，使得本发明的方法适用性更佳；使用本发明这种方式，测试程序可以对每个待测芯片本身的性能参数进行定制的调整和适配，有助于提高测试结果的准确性；
49.在本发明的一个实施例中，还提供了一种芯片测试系统，包括芯片夹具100和测试线路板200及处理器，芯片夹具100如图2所示，可以用于固定芯片，芯片夹具100可以安装到测试线路板200上，然后接入测试回路运行测试程序；
50.图3所示，展示了实施例上的一种测试线路板200，测试线路板200上能够安装多个芯片夹具100，接入测试回路后，处理器用于执行如上述的芯片的自适应测试方法。
51.芯片测试系统进行测试的一种典型测试场景是：运行获得的测试程序，从而使得产生任何类型的信号，多个信号一起组成测试模式或测试向量，向芯片施加一个测试向量，将芯片产生的输出反馈输入系统器中测量其参数，把测量结果与存储的经验值进行比较，如果测量结果在可接受范围内，认为通过该测试。
52.见图4，在本发明的一个实施例中，测试线路板上对应芯片的每个引脚分别设置了若干种接口电路，接口电路至少包括供电201、接地202、i/o接口203，每种接口电路上分别设有可控开关204，可控开关204连接处理器和测试回路，处理器读取匹配得到的待测试芯片的特征参数中的封装信息，根据待测试芯片的封装信息控制对应接口电路的可控开关闭合，使得测试线路板上的每个引脚的接口电路与待测试芯片封装的引脚相对应。
53.供电201分3档电源输出控制，分别适应不同类型芯片，第一路电源适配低功耗芯片。每路电源独立控制输出0-5v、0-500ma的可编程电源输出，第二档输出5-12v、1a任意可编程电源输出，适配mcu电源管理芯片，功率芯片，第三档输出12-21v 1a区间的电压与电流可编程电源输出。
54.在本实施例中，可以通过读取特征参数中的封装信息，建立测试电路板的接口电路与确定的待测试芯片的封装的引脚的对应关系。本发明的该实施例实现了待测试芯片封装的引脚的位置确定，从而无需针对一种型号的芯片设置测试线路板，测试线路板可以兼容多种型号的芯片测试，通用性好，降低测试设备开发的成本和时间，降低芯片测试的成本。
55.本实施例提供的芯片测试系统可以实现待测芯片的测试，测试线路板与芯片夹具的连接简单且容易实现，可以一次实现多个芯片的测试，提高测试效率。
56.在本发明的实施例中，还提供了一种计算机装置，其包括：包括处理器、存储器以及程序；
57.程序存储在存储器中，处理器调用存储器存储的程序，以执行如上述的一种芯片的自适应测试方法。
58.该计算机装置可以是终端，其内部结构图可以如图5所示。该计算机装置包括通过总线连接的处理器、存储器、网络接口、显示屏和输入装置。其中，该计算机装置的处理器用于提供计算和控制能力。该计算机装置的存储器包括非易失性存储介质、内存储器。该非易失性存储介质存储有操作系统和计算机程序。该内存储器为非易失性存储介质中的操作系统和计算机程序的运行提供环境。该计算机装置的网络接口用于与外部的终端通过网络连接通信。该计算机程序被处理器执行时以实现芯片的自适应测试方法。该计算机装置的显示屏可以是液晶显示屏或者电子墨水显示屏，该计算机装置的输入装置可以是显示屏上覆盖的触摸层，也可以是计算机装置外壳上设置的按键、轨迹球或触控板，还可以是外接的键
盘、触控板或鼠标等。
59.存储器可以是，但不限于，随机存取存储器(random access memory，简称：ram)，只读存储器(read only memory，简称：rom)，可编程只读存储器(programmable read-only memory，简称：prom)，可擦除只读存储器(erasable programmable read-only memory，简称：eprom)，电可擦除只读存储器(electric erasable programmable read-only memory，简称：eeprom)等。其中，存储器用于存储程序，处理器在接收到执行指令后，执行程序。
60.处理器可以是一种集成电路芯片，具有信号的处理能力。上述的处理器可以是通用处理器，包括中央处理器(central processing unit，简称：cpu)、网络处理器(network processor，简称：np)等。该处理器还可以是其他通用处理器、数字信号处理器(digital signal processor，dsp)、专用集成电路(application specific integrated circuit，asic)、现场可编程门阵列(field-programmable gate array，fpga)或者其他可编程逻辑器件、分立门或者晶体管逻辑器件、分立硬件组件等。通用处理器可以是微处理器或者该处理器也可以是任何常规的处理器等。可以实现或者执行本技术实施例中的公开的各方法、步骤及逻辑框图。通用处理器可以是微处理器或者该处理器也可以是任何常规的处理器等。
61.本领域技术人员可以理解，图5中示出的结构，仅仅是与本技术方案相关的部分结构的框图，并不构成对本技术方案所应用于其上的计算机装置的限定，具体的计算机装置可以包括比图中所示更多或更少的部件，或者组合某些部件，或者具有不同的部件布置。
62.在本发明的实施例中，还提供了一种计算机可读存储介质，计算机可读存储介质用于存储程序，程序用于执行如上述的一种芯片的自适应测试方法。
63.本领域内的技术人员应明白，本发明实施例的实施例可提供为方法、计算机装置、或计算机程序产品。因此，本发明实施例可采用完全硬件实施例、完全软件实施例、或结合软件和硬件方面的实施例的形式。而且，本发明实施例可采用在一个或多个其中包含有计算机可用程序代码的计算机可用存储介质(包括但不限于磁盘存储器、cd-rom、光学存储器等)上实施的计算机程序产品的形式。
64.本发明实施例是参照根据本发明实施例的方法、计算机装置、或计算机程序产品的流程图和/或框图来描述的。可提供这些计算机程序指令到通用计算机、专用计算机、嵌入式处理机或其他可编程数据处理终端设备的处理器以产生一个机器，使得通过计算机或其他可编程数据处理终端设备的处理器执行的指令产生用于实现在流程图和/或中指定的功能的装置。
65.这些计算机程序指令也可存储在能引导计算机或其他可编程数据处理终端设备以特定方式工作的计算机可读存储器中，使得存储在该计算机可读存储器中的指令产生包括指令装置的制造品，该指令装置实现在流程图中指定的功能。
66.以上对本发明所提供的在芯片的自适应测试方法、系统、计算机装置、计算机可读存储介质的应用进行了详细介绍，本文中应用了具体个例对本发明的原理及实施方式进行了阐述，以上实施例的说明只是用于帮助理解本发明的方法及其核心思想；同时，对于本领域的一般技术人员，依据本发明的思想，在具体实施方式及应用范围上均会有改变之处，综上所述，本说明书内容不应理解为对本发明的限制。