检测装置及自动光学检测设备的制作方法

1.本技术实施例涉及光学检测技术领域，特别是涉及一种检测装置及自动光学检测设备。


背景技术：

2.随着工业生产制造的发展，在产品制造生产的多种工艺环节中都需要对产品或设备中的易损耗零件进行检测。以新能源行业的电池制造为例，在电池的生产制造中，对于电池本身需要进行检测，从而可以得知电池是否符合合格标准；或者，对于生产制造设备的零件进行检测，从而可以得知该零件能否满足工艺标准。
3.在发明人实现本技术实施例的过程中，发现：目前在电池及其他零件的检测工艺中，常使用的方式是，将待测物品设置于设备中部，并且环绕待测物品设置有多组摄像头，从而从各个方向获取待测物信息。但这种方式需要使用多组摄像头造价高昂且占用空间较大。


技术实现要素：

4.本技术实施例主要解决的技术问题是提供一种检测装置及自动光学检测设备，能够改善目前将待测物品设置于设备中部，并且环绕待测物品设置有多组摄像头，从而从各个方向获取待测物信息，但这种方式需要使用多组摄像头造价高昂且占用空间较大的现状。
5.为解决上述技术问题，本技术采用的一个技术方案是：提供一种检测装置。所述检测装置包括支架和检测机构。所述支架包括第一安装平面，所述第一安装平面设有检测工位。所述检测机构包括图像获取组件和第一反射件，所述图像获取组件和第一反射件安装于所述第一安装平面上，所述图像获取组件朝向所述检测工位设置，所述第一反射件的反射面朝向所述检测工位和所述图像获取组件设置，所述图像获取组件用于获取位于所述检测工位上的待测物的图像，以及所述第一反射件上成像的所述检测工位上的待测物的图像，所述图像获取组件与所述检测工位的连线和所述第一反射件与所述检测工位的连线不共线。
6.可选地，所述检测机构还包括第二反射件，所述第二反射件安装于所述第一安装平面上，所述第二反射件与所述检测工位的连线和所述图像获取组件与所述检测工位的连线不共线，且所述第二反射件的反射面与所述第一反射件的反射面存在夹角。所述图像获取组件用于获取所述第二反射件上成像的所述检测工位上的待测物的图像。
7.可选地，所述检测机构还包括第一旋转台，所述第一旋转台安装于所述第一安装平面上，所述第一反射件安装于所述第一旋转台上，所述第一旋转台用于调节所述第一反射件的反射面与所述第二反射件的反射面之间的夹角。
8.可选地，所述检测机构还包括第二旋转台，所述第二旋转台安装于所述第一安装平面上，所述第二反射件安装于所述第二旋转台上，所述第二旋转台用于调节所述第二反
射件的反射面与所述第一反射件的反射面之间的夹角。
9.可选地，所述检测机构还包括旋转柱、第一拉杆和第二拉杆，所述第一反射件和所述第二反射件与所述旋转柱铰接，所述第一反射件和第二反射件可以绕所述旋转柱转动，所述第一拉杆的一端与第一反射件转动连接，所述第一拉杆的另一端与所述第一安装平面滑动连接，所述第二拉杆的一端与所述第二反射件转动连接，所述第二拉杆的另一端与所述与所述第一安装平面滑动连接。
10.可选地，所述第一安装平面设有滑轨，所述图像获取组件、所述检测工位、所述旋转柱沿同一直线设置，所述滑轨的一端指向所述旋转柱，所述滑轨的另一端沿该直线延伸，所述检测装置还包括滑块，所述第一拉杆的另一端和第二拉杆的另一端均连接于所述滑块，所述滑块可沿所述滑轨滑动。
11.可选地，所述检测装置还包括光学放大元件，所述光学放大元件设置于所述检测工位与第一反射件之间，所述光学放大元件用于放大位于所述检测工位上的待测物的图像的局部。
12.可选地，所述检测装置还包括第一升降组件，所述第一升降组件安装于所述第一安装平面上，所述光学放大元件安装于所述第一升降组件上，所述第一升降组件用于驱动所述光学放大元件升降运动。或者，所述检测装置还包括第二升降组件，所述第二升降组件安装于所述检测工位下方，所述第二升降组件用于驱动所述检测工位升降运动。
13.可选地，图像获取组件包括摄像机及发光件，所述摄像机安装于所述第一安装平面上，所述发光件安装于所述第一安装平面上或者安装于所述第一安装平面上方，所述摄像机用于获取所述待测物的图像，所述发光件用于发射光线至待测物体上。
14.为解决上述技术问题，本技术采用的另一个技术方案是：提供一种自动光学检测设备。所述自动光学检测设备包括上述检测装置。
15.本技术实施例的有益效果是：区别于现有技术的情况，本技术实施例提供了一种检测装置。所述检测装置包括支架和检测机构。所述支架包括第一安装平面，所述第一安装平面设有检测工位。所述检测机构包括图像获取组件和第一反射件，所述图像获取组件和第一反射件安装于所述第一安装平面上，所述图像获取组件朝向所述检测工位设置，所述第一反射件的反射面朝向所述检测工位设置，所述图像获取组件用于获取位于所述检测工位上的待测物的图像，以及所述第一反射件上成像的所述检测工位上的待测物的图像，所述图像获取组件与所述检测工位的连线和所述第一反射件与所述检测工位的连线不共线。通过上述结构，使得所述图像获取组件可以获取待测物至少两个方向上的图像，从而可以确定待测物是否产生形变等缺陷，同时减少了所述图像获取组件的使用数量，降低了成本且节省了空间。
附图说明
16.为了更清楚地说明本技术具体实施例或现有技术中的技术方案，下面将对具体实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍。在所有附图中，类似的元件或部分一般由类似的附图标记标识。附图中，各元件或部分并不一定按照实际的比例绘制。
17.图1是本技术其中一实施例提供的自动光学检测设备的示意图；
18.图2是本技术其中一实施例提供的检测装置的立体图；
19.图3是本技术另一实施例提供的检测装置的立体图；
20.图4是本技术另一实施例提供的检测装置的示意图；
21.图5是本技术又一实施例提供的检测装置的示意图。
22.自动光学检测设备1000的附图标记如下：
23.检测装置100传送装置200支架10第一旋转台24第一安装平面11第二旋转台25检测工位111旋转柱26滑轨112第一拉杆27检测机构20第二拉杆28图像获取组件21光学放大元件30摄像机211第一升降组件40第一反射件22第二升降组件50第二反射件23滑块60
具体实施方式
24.为了便于理解本技术，下面结合附图和具体实施例，对本技术进行更详细的说明。需要说明的是，当元件被表述“固定于”另一个元件，它可以直接在另一个元件上、或者其间可以存在一个或多个居中的元件。当一个元件被表述“连接”另一个元件，它可以是直接连接到另一个元件、或者其间可以存在一个或多个居中的元件。本说明书所使用的术语“垂直的”、“水平的”、“左”、“右”以及类似的表述只是为了说明的目的。
25.除非另有定义，本说明书所使用的所有的技术和科学术语与属于本技术的技术领域的技术人员通常理解的含义相同。本说明书中在本技术的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施例的目的，不是用于限制本技术。本说明书所使用的术语“和/或”包括一个或多个相关的所列项目的任意的和所有的组合。
26.请参阅图1，其示出了本技术其中一实施例提供的自动光学检测设备1000的示意图，其中自动光学检测设备1000包括检测装置100和传送装置200。传送装置200用于传送物料至检测装置100处，对物料进行检测；或者，将需要进行检测的设备零件传送至检测装置100处，对设备零件进行检测。对于检测装置100请继续参阅下文。
27.本技术其中一实施例提供了一种检测装置100，请参阅图2，其示出了本技术其中一实施例提供的检测装置100的立体图，并结合其他附图。检测装置100包括支架10和检测机构20，支架10包括第一安装平面11，第一安装平面11设有检测工位111。检测机构20包括图像获取组件21和第一反射件23，图像获取组件21和第一反射件22安装于第一安装平面11上，图像获取组件21朝向检测工位111设置，第一反射件22的反射面朝向检测工位111和图像获取组件21设置，图像获取组件21用于获取位于检测工位111上的待测物的图像，以及第一反射件22上成像的检测工位111上的待测物的图像，图像获取组件21与检测工位111的连线和第一反射件22与检测工位111的连线不共线。即是，图像获取组件21共需获取至少两个图像，一个是直接从位于检测工位111上的待测物的图像，另一个是从第一反射件23上获取的待测物的成像，从而使得图像获取组件21可以获得待测物至少两个方向上的图像。需要
说明的是，检测装置100还包括处理器(图中未示出)，处理器用于通过算法解析上述图像获取组件21获得的图像，例如：处理器在获得待测物的图像后，可以将待测物的图像与标准图像进行比对，从而得知当前待测物是否符合标准；或者，处理器在获得待测物的图像后，将待测物的图像分析后形成3d模型，并与标准模型进行比对，从而得知当前待测物是否符合标准。
28.进一步地，请继续参阅图2，并结合其他附图。检测机构20还包括第二反射件23，第二反射件23安装于第一安装平面11上，第二反射件23与检测工位111的连线和图像获取组件21与检测工位111的连线不共线，且第二反射件23的反射面与第一反射件22的反射面存在夹角。图像获取组件21用于获取第二反射件23上成像的检测工位111上的待测物的图像。需要说明的是，第二反射件23与检测工位111的连线和图像获取组件21与检测工位111的连线不共线，且图像获取组件21与检测工位111的连线和第一反射件22与检测工位111的连线不共线，从而防止位于检测工位111上的待测物体积过大，遮挡第一反射件22和/或第二反射件23上反射的待测物的图像，以使图像获取组件21在同一位置无需移动即可获得待测物至少三个方向上的图像，从而进一步便于处理器将待测物的图像与标准图像比对，或者，便于处理器将待测物的3d模型与标准模型进行比对。可以理解的是，第一反射件22和/或第二反射件23的反射面均需要在图像获取组件21的拍摄范围内，防止待测物的图像获取不完整。可以理解的是，检测机构20还可以包括三个反射件或四个反射件，从而便于图像获取组件21和处理器对待测物的图像进行分析比对。
29.在本技术其中一实施例中，请继续参阅图2，并结合其他附图。检测机构20还包括第一旋转台24，第一旋转台24安装于第一安装平面11上，第一反射件22安装于第一旋转台24上，第一旋转台24用于调节第一反射件22的反射面与第二反射件23的反射面之间的夹角。可以理解的是，在第一安装平面11与第一旋转台24齐平，或者第一旋转台24通过高度可调节装置设置于第一安装平面11上，从而便于调节第一反射件22的反射面与第二反射件23的反射面，以适应多种待测物。
30.进一步地，请继续参阅图2，并结合其他附图。检测机构20还包括第二旋转台25，第二旋转台25安装于第一安装平面11上，第二反射件23安装于第二旋转台25上，第二旋转台25用于调节第二反射件23的反射面与第一反射件22的反射面之间的夹角。同样地，在第一安装平面11与第二旋转台25齐平，或者第二旋转台25通过高度可调节装置设置于第一安装平面11上，从而便于调节第一反射件22的反射面与第二反射件23的反射面，以适应多种待测物。可选地，为了提高第一反射件22和第二反射件23的调节精度，第一旋转台24和第二旋转台25可以分别使用单独的伺服电机、电缸等方式进行驱动调节精准控制，或者，还可以使用齿轮组的形式使得第一旋转台24和第二旋转台25共同转动。具体地，第一反射件22和第二反射件23均使用平面镜。
31.在本技术另一实施例中，请参阅图3和图4，其示出了本技术另一实施例提供的检测装置100的立体图和本技术另一实施例提供的检测装置100的示意图，并结合其他附图。检测机构20还包括旋转柱26、第一拉杆27和第二拉杆28，第一反射件22和第二反射件23与旋转柱26铰接，第一反射件22和第二反射件23可以绕旋转柱26转动，第一拉杆27的一端与第一反射件22转动连接，第一拉杆27的另一端与第一安装平面11滑动连接，第二拉杆28的一端与第二反射件23转动连接，第二拉杆28的另一端与与第一安装平面111滑动连接。需要
说明的是，旋转柱26和第一反射件22的连接处与第一拉杆27和第一反射件22的连接处，相对设置于第一反射件22的两侧，从而使得第一拉杆27可以驱动第一反射件22绕旋转柱26转动；相应地，旋转柱26和第二反射件23的连接处与第二拉杆28和第二反射件23的连接处，相对设置于第二反射件23的两侧，从而使得第二拉杆28可以驱动第二反射件23绕旋转柱26转动。可选地，第一拉杆27连接于第一反射件22靠近第一安装平面11的一侧，从而使得第一拉杆27可以嵌入式设计在第一安装平面11内，从而节省空间，同时保护第一拉杆27防止折断；或者，第一拉杆27连接于第一反射件22的中部，从而使得第一拉杆27可以将拉力均匀分布在第一反射件22上，防止第一反射件22出现应力集中现象；亦或是，第一拉杆27连接于第一反射件22远离第一安装平面11的一侧。
32.进一步地，请参阅图4并结合其他附图，第一安装平面11设有滑轨112，图像获取组件21、检测工位111、旋转柱26沿同一直线设置，滑轨112的一端指向旋转柱26，滑轨112的另一端沿该直线延伸，检测装置100还包括滑块60，第一拉杆27的另一端和第二拉杆28的另一端均连接于滑块60，滑块60可沿滑轨112滑动。可以理解的是，滑轨112和滑块60可以相对第一安装平面11凸出设置，或者嵌入式设置于第一安装平面11；滑块60可由气缸、电动机等驱动装置进行调节，除此之外，为了更加精准的调节第一反射件22和第二反射件23的角度，滑块60可由伺服电机、电缸组件等形式进行驱动调节。
33.在本技术又一实施例中，请参阅图5，其示出了本技术又一实施例提供的检测装置100的示意图，并结合其他附图。检测装置100还包括光学放大元件30，光学放大元件30设置于检测工位111与第一反射件22之间，光学放大元件30用于放大位于检测工位111上的待测物的图像的局部。可选地，光学放大件30包括放大凸透镜，使得图像获取组件21在获取待测物图像时，可以将图像局部放大，这种设计使得图像获取组件21可以使用更加稳定高效的定焦摄像头，并且放大凸透镜可以根据实际使用情况进行调节。需要说明的是，图像获取组件21可根据获取到的放大后的图像，通过算法还原模型后与标准图像进行比对，或者，直接将放大后的图像直接与放大的标准图像进行比对等方式。
34.进一步地，请继续参阅图5，并结合其他附图。检测装置100还包括第一升降组件40，第一升降组件40安装于第一安装平面11上，光学放大元件30安装于第一升降组件40上，第一升降组件40用于驱动光学放大元件30升降运动；或者，检测装置100还包括第二升降组件50，第二升降组件50安装于检测工位111下方，第二升降组件50用于驱动检测工位111升降运动。可选地，第一升降组件40可以设置于第一安装平台11上方，第二升降组件50设置于第一安装平台11的下方；或者，第一升降组件40和第二升降组件50均安装于第一安装平台11的下方。需要说明的是，一升降组件40和第二升降组件50均沿垂直于第一安装平面11的方向垂直运动。
35.在本技术其中一实施例中，请一并参阅图2至图5，并结合其他附图。图像获取组件21包括摄像机211及发光件(图中未示出)，摄像机211安装于第一安装平面11上，发光件安装于第一安装平面11上或者安装于第一安装平面11上方，摄像机211用于获取待测物的图像，发光件用于发射光线至待测物体上。需要说明的是，发光件用于射出3d结构光，从而便于摄像机21拍摄图像，再经采集处理系统处理后获得待测物表面数据。其中,3d结构光便于获取物体表面结构的深度，从而便于模型重建。
36.本技术实施例提供了一种检测装置100，检测装置100包括支架10和检测机构20，
支架10包括第一安装平面11，第一安装平面11设有检测工位111。检测机构20包括图像获取组件21和第一反射件23，图像获取组件21和第一反射件22安装于第一安装平面11上，图像获取组件21朝向检测工位111设置，第一反射件22的反射面朝向检测工位111和图像获取组件21设置，图像获取组件21用于获取位于检测工位111上的待测物的图像，以及第一反射件22上成像的检测工位111上的待测物的图像，图像获取组件21与检测工位111的连线和第一反射件22与检测工位111的连线不共线。通过上述结构，使得图像获取组件21可以获取待测物至少两个方向上的图像，从而可以确定待测物是否产生形变等缺陷，同时减少了图像获取组件21的使用数量，降低了成本且节省了空间。
37.基于同一发明构思，本技术实施例还提供一种自动光学检测设备，请复阅图1，自动光学检测设备包括上述的检测装置100，对于检测装置100的结构和功能请参阅上述实施例，此处不再一一赘述。
38.需要说明的是，本技术的说明书及其附图中给出了本技术的较佳的实施例，但是，本技术可以通过许多不同的形式来实现，并不限于本说明书所描述的实施例，这些实施例不作为对本技术内容的额外限制，提供这些实施例的目的是使对本技术的公开内容的理解更加透彻全面。并且，上述各技术特征继续相互组合，形成未在上面列举的各种实施例，均视为本技术说明书记载的范围；进一步地，对本领域普通技术人员来说，可以根据上述说明加以改进或变换，而所有这些改进和变换都应属于本技术所附权利要求的保护范围。