氢同位素气体汲储装置及对气体处理的方法与流程

技术特征：
1.一种氢同位素气体汲储装置，其特征在于，包括：环形密封腔；进气管路，与所述环形密封腔连通，用于接收待汲储的氢同位素气体；汲储材料，填充在所述环形密封腔内，用于汲储所述氢同位素气体；加热腔，设置于所述环形密封腔的径向内侧；以及加热体，设置于所述加热腔中，用于受控地将所述汲储材料加热至预设温度，以使所述汲储材料在所述预设温度下将汲储的氢同位素气体释放。2.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，还包括：内筒；外筒，设置于所述内筒的径向外侧；底板，设置于所述外筒和所述内筒的底部；以及盖体，设置于所述内筒和所述外筒的顶部，其中，所述底板、所述盖体、所述外筒以及所述内筒共同限定形成所述环形密封腔。3.根据权利要求2所述的装置，其特征在于，所述内筒与所述底板共同限定形成所述加热腔。4.根据权利要求2所述的装置，其特征在于，所述内筒与所述底板为一体成型件。5.根据权利要求2所述的装置，其特征在于，所述盖体与所述外筒为一体成型件。6.根据权利要求2所述的装置，其特征在于，所述外筒与所述底板焊接。7.根据权利要求3所述的装置，其特征在于，所述盖体的中部设有第一通孔，所述内筒的上端经由所述第一通孔向上延伸至高于所述盖体以与所述盖体焊接；所述加热体经由所述内筒的上端开口进入所述加热腔。8.根据权利要求2所述的装置，其特征在于，还包括：上端开口的外壳，所述外筒和所述底板设置于所述外壳内，所述盖体与所述外壳密封连接；所述外壳、所述盖体、所述底板以及所述外筒共同限定形成外层密封腔。9.根据权利要求8所述的装置，其特征在于，还包括：冷却介质进管，与所述外层密封腔连通，用于向所述外层密封腔中引入冷却介质；和冷却介质出管，与所述外层密封腔连通，用于将冷却介质引出所述外层密封腔。10.根据权利要求9所述的装置，其特征在于，所述冷却介质进管和所述冷却介质出管相对地设置在所述外壳的上部。11.根据权利要求2所述的装置，其特征在于，所述进气管路自所述盖体向下延伸至所述环形密封腔的底部。12.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述进气管路的端口处设有过滤器。13.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述环形密封腔内填充的汲储材料所占体积小于所述环形密封腔总体积的80％。14.根据权利要求2所述的装置，其特征在于，还包括：出气管路，与所述环形密封腔连通，当所述进气管路接收的氢同位素气体中存在杂质成分时，所述杂质成分从所述出气管路流出。
15.根据权利要求14所述的装置，其特征在于，当所述加热体对所述汲储材料进行加热时，所述进气管路被导通，所述出气管路被断开，以使所述汲储材料释放的氢同位素气体从所述进气管路流出。16.根据权利要求14所述的装置，其特征在于，所述盖体设有第二通孔，所述出气管路通过所述第二通孔与所述环形密封腔连通。17.根据权利要求16所述的装置，其特征在于，所述出气管路设有过滤器，用于防止所述汲储材料经由所述出气管路流出。18.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，还包括：温度传感器，设置于所述加热腔中，用于检测所述汲储材料的温度。19.一种对气体处理的方法，所述方法利用权利要求1至18中任一项所述的氢同位素气体汲储装置对气体进行处理，其特征在于，所述方法包括：当所述装置的进气管路接收的气体为纯氢同位素气体时，断开所述装置的出气管路，导通所述装置的冷却介质进管和冷却介质出管，向所述装置的环形密封腔中引入冷却介质，使所述装置的汲储材料在低温状态下汲储氢同位素气体。20.根据权利要求19所述的方法，其特征在于，还包括：利用所述装置的温度传感器采集所述汲储材料的温度，以控制所述冷却介质进管和冷却介质出管的通断。21.根据权利要求19所述的方法，其特征在于，还包括：当对所述汲储材料进行解吸时，断开所述出气管路、所述冷却介质进管以及所述冷却介质出管，控制所述装置的加热体将所述汲储材料加热至预设温度。22.根据权利要求21所述的方法，其特征在于，当对所述汲储材料进行解吸时，先断开所述进气管路，当所述环形密封腔内的气压达到预设压力时导通所述进气管路。23.根据权利要求22所述的方法，其特征在于，还包括：当所述汲储材料解吸结束时，断开所述进气管路，导通所述冷却介质进管和所述冷却介质出管，利用冷却介质对所述汲储材料进行冷却。24.一种对气体处理的方法，所述方法利用权利要求1至18中任一项所述的氢同位素气体汲储装置对气体进行处理，其特征在于，所述方法包括：当所述进气管路接收的氢同位素气体中存在杂质成分时，导通所述进气管路和所述出气管路，由所述装置的汲储材料汲储氢同位素气体，从而使得杂质成分单独地从所述出气管路流出，实现氢同位素气体与杂质成分相分离。25.根据权利要求24所述的方法，其特征在于，还包括：导通所述进气管路和所述出气管路时，断开所述冷却介质进管和所述冷却介质出管，使所述汲储材料在常温状态下汲储氢同位素气体。26.根据权利要求24所述的方法，其特征在于，还包括：对所述汲储材料进行解吸，以释放与杂质成分相分离的所述氢同位素气体。

技术总结
本申请实施例提供了一种氢同位素气体汲储装置及对气体处理的方法。氢同位素气体汲储装置包括：环形密封腔；进气管路，与所述环形密封腔连通，用于接收待汲储的氢同位素气体；汲储材料，填充在所述环形密封腔内，用于汲储所述氢同位素气体；加热腔，设置于所述环形密封腔的径向内侧；以及加热体，设置于所述加热腔中，用于受控地将所述汲储材料加热至预设温度，以使所述汲储材料在所述预设温度下将汲储的氢同位素气体释放。本申请实施例在利用加热体对汲储材料进行加热时，加热体产生的热量绝大部分能够沿径向传递至环形密封腔内，从而提高了对汲储材料的加热效率，有利于加快汲储材料的解吸效率。料的解吸效率。料的解吸效率。


技术研发人员：丁卫东 占勤 杨洪广 连旭东 李语奇 郭炜 李卓希
受保护的技术使用者：中国原子能科学研究院
技术研发日：2022.08.23
技术公布日：2022/11/11