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一种试剂管漏装检测装置的制作方法

2022-10-13 01:40:18 来源:中国专利 TAG:


1.本发明涉及产品检测领域,具体是涉及一种试剂管漏装检测装置。


背景技术:

2.试剂,又称生物化学试剂或试药。主要是实现化学反应、分析化验、研究试验、教学实验、化学配方使用的纯净化学品。一般按用途分为通用试剂、高纯试剂、分析试剂、仪器分析试剂、临床诊断试剂、生化试剂、无机离子显色剂试剂等。
3.试剂一般都通过自动化设备定量填充在试剂管中,现有技术多为通过人工检测或通过重量测量来判定试剂的填充情况,人工测量通过给试剂管补光,然后通过人工肉眼来观察试剂管内是否填充试剂,而称量法则通过不同产品的重量偏差来判定产品的填充情况。
4.对于小规格试剂管,人工测量观测不易,且人体容易产生疲劳导致出现漏检测的情况发生;而称量法则适用于重量偏差较大的情况下使用,对于小规格试剂管,内部填充试剂量很少,填充试剂前后重量变化轻微,很难通过称量法来判定试剂管的填充情况。


技术实现要素:

5.基于此,有必要针对现有技术问题,提供一种试剂管漏装检测装置。
6.为解决现有技术问题,本发明采用的技术方案为:一种试剂管漏装检测装置,包括用于排列输送试剂管的传送带,所述传送带的两侧分别设有激光发射器和测光板,所述测光板中部设有一用于检测发射光线的光敏电阻,所述激光发射器呈倾斜状态设置,所述激光发射器的发射方向朝向测光板设置,当经过测光板与激光发射器之间的试剂管为空瓶时,所述激光发射器的检测光线落在光敏电阻上;所述传送带的一侧还设有用于检测试剂管外壁与自身之间距离的测距传感器;所述传送带一侧设置有连接所述激光发射器的角度调节组件,所述传送带的另一侧设置有连接所述测光板的高度微调组件。
7.进一步的,传送带两侧均固定设置有与传送带同向水平设置的安装侧板。
8.进一步的,角度调节组件包括:l型激光支座,固定设置于其中一块所述安装侧板中部;激光调整架,呈竖直状态固定设置于l型激光支座顶部,激光调整架中部成型有两根呈竖直状态对称设置于激光调整架靠近传送带一侧的限高支柱,以及两根呈竖直状态对称设置于激光调整架远离传送带一侧的调整支柱;激光固定夹,同轴固定设置于激光发射器外侧,两根限高支柱中部均成型有若干限高孔,激光固定夹的一端两侧均成型有与限高孔配合的限位销孔,激光固定夹另一端的两侧均成型有t型槽;两个t型滑块,每个t型滑块的一端均成型有活动设置于对应的t型槽内的t型柱,两根调整支柱中部均成型有呈竖直方向设立的滑动槽,每个t型滑块另一端均成型有在对
应的滑动槽上下滑动的腰型滑块。
9.进一步的,角度调节组件还包括:顶升螺杆,激光调整架底部成型有角度螺纹孔,顶升螺杆呈竖直状态旋设于角度螺纹孔内,l型激光支座顶部成型有供顶升螺杆穿过的螺杆避让孔;顶升块,固定设置于顶升螺杆顶部,顶升块顶部与激光固定夹远离传送带的一端底部相抵触;防滑旋帽,固定设置于顶升螺杆底部。
10.进一步的,高度微调组件包括有:l型安装支座,固定设置于另一块所述安装侧板中部;l型接收支座,固定设置于l型安装支座顶部,l型接收支座底部成型有用于固定测距传感器的安装孔,l型接收支座顶部成型有柱形滑槽,柱形滑槽设置于安装孔的正上方,测光板远离传送带的一侧成型有活动设置于柱形滑槽内的柱形滑块。
11.进一步的,每个安装侧板的外侧均固定设置有一组防倾装置,两组防倾装置从两侧抵触试剂管上端防止试剂管倾倒,每组防倾装置均包括:两个防倾支座,固定设置于对应的安装侧板的两端;两个l型防倾支架,固定设置于对应的防倾支座的顶部,每个l型防倾支架底部成型有用于调节l型防倾支座与传送带间距的腰型定位孔;防倾杆,呈水平状态固定设置于两个l型防倾支架的上半部,每个l型防倾支架的侧壁上均成型有呈竖直状态设立的用于调整防倾杆高度的腰型调节孔。
12.上述检测装置的检测方法包括以下步骤:s1:先将一瓶空载试剂管置于传送带上,并手动微调试剂管的位置,此过程中通过测距传感器测量出试剂管外壁与自身之间的最小距离d,上位机将该数值d设定为最小距离数值,并设定上位机在满足d
±
0.2mm时进行一次计数;s2:接着调节激光发射器的发射角度以及测光板的高度,使检测光线穿过空载的试剂管后落在测光板上的光敏电阻上,被检测光线照射的光敏电阻会产生一个信号被上位机所监测到,上位机得到该信号后即判定此瓶为漏装试剂管,至此完成校准过程;s3:校准完成后设备启动进行批量检测,所有的待测试剂管依序排列在传送带上并向前输送,此过程中每个试剂管会依次经过激光发射器与测光板之间,在此过程中,通过测距传感器不断的进行实时测距,该距离的连续数值经上位机的分析呈现为时间和距离相关的波形图;s4:在步骤s3中,上位机在每一次的波谷时刻对光敏电阻进行数据记录,若此时光敏电阻有信号产生则判定为漏装,同时该空载试剂管的排列位置也被计数,后续筛选机构根据该位置计数信息将空瓶剔出传送带。
13.本发明与现有技术相比具有的有益效果是:其一,本发明中的一种试剂管漏装检测装置通过光线折射率的偏差精准分辨试剂管中的药剂漏装情况并做好记录;其二,本发明中的一种试剂管漏装检测装置能够通过调节激光发射器角度与测光板的高度实现对各种不同规格型号的试剂管的检测。
附图说明
14.图1是本发明的立体结构示意图;图2是本发明的立体结构俯视视图;图3是图3中a-a处半剖视图;图4是本发明的角度调节组件的立体结构爆炸视图;图5是本发明的高度微调组件的立体结构爆炸视图;图6是本发明的光线折射情况示意图;图7是本发明中测距传感器监测的距离-时间波形图。
15.图中标号为:1、传送带;2、角度调节组件;3、激光发射器;4、测光板;5、光敏电阻;6、测距传感器;7、安装侧板;8、l型激光支座;9、螺杆避让孔;10、激光调整架;11、限高支柱;12、限高孔;13、调整支柱;14、滑动槽;15、角度螺纹孔;16、激光固定夹;17、t型槽;18、限位销孔;19、t型滑块;20、t型柱;21、腰型滑块;22、顶升螺杆;23、防滑旋帽;24、顶升块;25、高度微调组件;26、l型安装支座;27、l型接收支座;28、柱形滑槽;29、安装孔;30、顶升弹簧;31、防脱压盖;32、高度螺纹孔;33、顶丝;34、柱形滑块;35、防倾支座;36、l型防倾支架;37、腰型定位孔;38、腰型调节孔;39、防倾杆;40、防倾装置。
具体实施方式
16.为能进一步了解本发明的特征、技术手段以及所达到的具体目的、功能,下面结合附图与具体实施方式对本发明作进一步详细描述。
17.参考图1至图7所示的一种试剂管漏装检测装置,包括用于排列输送试剂管的传送带1,所述传送带1的两侧分别设有激光发射器3和测光板4,所述测光板4中部设有一用于检测发射光线的光敏电阻5,所述激光发射器3呈倾斜状态设置,所述激光发射器3的发射方向朝向测光板4设置,当经过测光板4与激光发射器3之间的试剂管为空瓶时,所述激光发射器3的检测光线落在光敏电阻5上;所述传送带1的一侧还设有用于检测试剂管外壁与自身之间距离的测距传感器6;所述传送带1一侧设置有连接所述激光发射器3的角度调节组件2,所述传送带1的另一侧设置有连接所述测光板4的高度微调组件25。
18.传送带1将试剂管依次传送至检测区域内,测距传感器6对试剂管与自身的距离进行测距,在试剂管与测距传感器6距离最近的位置由上位机(现有技术,未在图中示出)上进行记录并计数,激光发射器3的发射检测光线,检测光线穿过试剂管,现有试剂填充多为自动化定量填充,试剂管会分出现满载和空瓶两种情况,若试剂管为空瓶,则检测光线依次经过试剂管壁、空气、试剂管壁的折射落于测光板4中部的光敏电阻5上,使光敏电阻5产生信号被上位机(现有技术,未在图中示出)所记录并标记为漏装,若激光发射器3的检测光线穿过满载的试剂管,则检测光线无法落在光敏电阻5上,上位机(现有技术,未在图中示出)仅记录试剂管与测距传感器6的距离并计数,若检测光线仅穿过空气也无法落于光敏电阻5上,上位机(现有技术,未在图中示出)既不计数,也不记录光敏电阻5信号,检测装置可通过角度调节组件2和高度微调组件25使激光发射器3发出的检测光线仅在试剂管为空瓶时落于光敏电阻5上。
19.进一步的,传送带1两侧均固定设置有与传送带1同向水平设置的安装侧板7。
20.传送带1两侧固定设置有用于安装角度调节组件2与高度微调组件25的安装侧板
7。
21.进一步的,角度调节组件2包括:l型激光支座8,固定设置于其中一块所述安装侧板7中部;激光调整架10,呈竖直状态固定设置于l型激光支座8顶部,激光调整架10中部成型有两根呈竖直状态对称设置于激光调整架10靠近传送带1一侧的限高支柱11,以及两根呈竖直状态对称设置于激光调整架10远离传送带1一侧的调整支柱13;激光固定夹16,同轴固定设置于激光发射器3外侧,两根限高支柱11中部均成型有若干限高孔12,激光固定夹16的一端两侧均成型有与限高孔12配合的限位销孔18,激光固定夹16另一端的两侧均成型有t型槽17;两个t型滑块19,每个t型滑块19的一端均成型有活动设置于对应的t型槽17内的t型柱20,两根调整支柱13中部均成型有呈竖直方向设立的滑动槽14,每个t型滑块19另一端均成型有在对应的滑动槽14上下滑动的腰型滑块21。
22.激光发射器3被激光固定夹16固定,激光固定夹16一端成型有限位销孔18并与限高孔12配合以固定激光发射器3的发射端高度,激光固定夹16可绕着限高孔12旋转,另一端成型有t型槽17,两个t型滑块19可在t型槽17内滑动并转动,t型滑块19另一端成型有可在滑动槽14内滑动的腰型滑块21,激光固定夹16转动的过程中t型滑块19上下滑动并使激光固定夹16保持在一个平面内转动无法左右偏移。
23.进一步的,角度调节组件2还包括:顶升螺杆22,激光调整架10底部成型有角度螺纹孔15,顶升螺杆22呈竖直状态旋设于角度螺纹孔15内,l型激光支座8顶部成型有供顶升螺杆22穿过的螺杆避让孔9;顶升块24,固定设置于顶升螺杆22顶部,顶升块24顶部与激光固定夹16远离传送带1的一端底部相抵触;防滑旋帽23,固定设置于顶升螺杆22底部。
24.转动防滑旋帽23带动顶升螺杆22在角度螺纹孔15内旋转上升,顶升块24顶部抬动激光固定夹16上升,通过螺纹抬升对激光发射器3的发射角度进行微调。
25.进一步的,高度微调组件25包括有:l型安装支座26,固定设置于另一块所述安装侧板7中部;l型接收支座27,固定设置于l型安装支座26顶部,l型接收支座27底部成型有用于固定测距传感器6的安装孔29,l型接收支座27顶部成型有柱形滑槽28,柱形滑槽28设置于安装孔29的正上方,测光板4远离传送带1的一侧成型有活动设置于柱形滑槽28内的柱形滑块34。
26.l型接收支座27顶部设置有柱形滑槽28,测光板4的一侧成型有柱形滑块34,柱形滑块34设置于柱形滑槽28内,测光板4能够沿着柱形滑槽28上下运动,测距传感器6固定设置于测光板4的正下方使得测距传感器6、光敏电阻5、检测光线在同一竖直平面内,确保当测距传感器6记录计数时,激光发射器3的检测光线照射穿过试剂管的中轴线。
27.进一步的,高度微调组件25还包括:顶升弹簧30,呈竖直状态同轴设置于所述柱形滑槽28底部,顶升弹簧30顶部与柱形滑块34底部相抵触;防脱压盖31,呈水平状态固定设置于l型接收支座27顶部,防脱压盖31中部成型有与柱形滑槽28同轴设置的高度螺纹孔32;顶丝33,呈竖直状态旋设于高度螺纹孔32内,顶丝33底部与柱形滑块34顶部相抵触。
28.柱形滑块34底部与顶升弹簧30抵触,顶部设有防脱压盖31防止测光板4滑脱,顶丝33旋设于防脱压盖31上的高度螺纹孔32内,当顶丝33下降时,柱形滑块34下移,顶升弹簧30受力压缩,当顶丝33上升时,顶升弹簧30复位将柱形滑块34向上顶升。
29.进一步的,每个安装侧板7的外侧均固定设置有一组防倾装置40,两组防倾装置40
从两侧抵触试剂管上端防止试剂管倾倒,每组防倾装置40均包括:两个防倾支座35,固定设置于对应的安装侧板7的两端;两个l型防倾支架36,固定设置于对应的防倾支座35的顶部,每个l型防倾支架36底部成型有用于调节l型防倾支座35与传送带1间距的腰型定位孔37;防倾杆39,呈水平状态固定设置于两个l型防倾支架36的上半部,每个l型防倾支架36的侧壁上均成型有呈竖直状态设立的用于调整防倾杆39高度的腰型调节孔38。
30.两个防倾杆39呈水平对称状态设置于试剂管两侧并与试剂管上端抵触,每个防倾杆39均与两个l型防倾支架36固定连接,每个l型防倾支架36底部均成型有腰型定位孔37用来调整l型防倾支架36与传送带1之间的距离,即调整两个防倾杆39之间的间距,每个l型防倾支架36侧壁均成型有腰型调节孔38来调整防倾杆39高度以适应不同的规格的试剂管。
31.上述检测装置的检测方法包括以下步骤:s1:先将一瓶空载试剂管置于传送带1上,并手动微调试剂管的位置,此过程中通过测距传感器6测量出试剂管外壁与自身之间的最小距离d,上位机将该数值d设定为最小距离数值,并设定上位机在满足d
±
0.2mm时进行一次计数;s2:接着调节激光发射器3的发射角度以及测光板4的高度,使检测光线穿过空载的试剂管后落在测光板4上的光敏电阻5上,被检测光线照射的光敏电阻5会产生一个信号被上位机所监测到,上位机得到该信号后即判定此瓶为漏装试剂管,至此完成校准过程;s3:校准完成后设备启动进行批量检测,所有的待测试剂管依序排列在传送带1上并向前输送,此过程中每个试剂管会依次经过激光发射器3与测光板4之间,在此过程中,通过测距传感器6不断的进行实时测距,该距离的连续数值经上位机的分析呈现为时间和距离相关的波形图;s4:在步骤s3中,上位机在每一次的波谷时刻对光敏电阻5进行数据记录,若此时光敏电阻5有信号产生则判定为漏装,同时该空载试剂管的排列位置也被计数,后续筛选机构根据该位置计数信息将空瓶剔出传送带1。
32.首先对检测装置进行校准,将空载试剂管放置于传送带1上,调整试剂管位置通过测距传感器6实时监控测距传感器6与试剂管的间距,确定试剂管与测距传感器6之间的最小距离,在上位机(现有技术,未在图中示出)上将该最小距离值设定为记录点,并设置上下限偏差防止因试剂管尺寸偏差出现漏记录的情况发生,接着调整激光发射器3的角度及测光板4高度,使得当检测光线穿过空气时,检测光线的照射路径如图6中a处所示无法落到光敏电阻5上,当检测光线穿过空瓶时,检测光线照射路径如图6中b处所示照射到光敏电阻5上,使光敏电阻5产生能被上位机(现有技术,未在图中示出)记录的信号,并记录该信号为漏装试剂管,当检测光线穿过满载试剂管时,检测光线照射路径如图6中c处所示无法落到光敏电阻5上,至此校准完毕,正式工作时,所有试剂管随着传送带1依次被检测光线照射,并因为测距传感器6的实时测距而被上位机(现有技术,未在图中示出)标记计数,当测距传感器6记录的实时测距波纹图出现波谷时表示有一试剂管距离测距传感器6的距离达到最近,此时上位机(现有技术,未在图中示出)进行一次计数并记录光敏电阻5信号,若光敏电阻5无信号则表示此试剂管满载,为正常试剂管,若光敏电阻5产生信号则标记此试剂管为空载,并记录此试剂管的排列位置,由后续的筛选机构现有技术,未在图中示出对已标记的空载试剂管进行剔除。
33.以上实施例仅表达了本发明的一种或几种实施方式,其描述较为具体和详细,但并不能因此而理解为对本发明专利范围的限制。应当指出的是,对于本领域的普通技术人员来说,在不脱离本发明构思的前提下,还可以做出若干变形和改进,这些都属于本发明的
保护范围。因此,本发明专利的保护范围应以所附权利要求为准。
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