用于控制进程的电子装置及其方法与流程

技术特征：
1.一种电子装置，所述电子装置包括：温度传感器；以及处理器，其中，所述处理器被配置为：检测所述电子装置的温度超过预定温度；当所述温度超过所述预定温度时，驱动满足预定条件的至少一个进程达时间段的一部分，并且在剩余的时间段内不驱动所述至少一个进程。2.根据权利要求1所述的电子装置，其中，所述处理器被配置为：利用所述温度传感器来重复地测量所述温度，重复地确定重复地测量到的温度是否超过所述预定温度，以及当重复地测量到的温度低于所述预定温度时，驱动所述至少一个进程达所述时间段的一部分和所述剩余的时间段。3.根据权利要求1所述的电子装置，其中，所述预定条件是数据吞吐量超过预定容量达预定时间。4.根据权利要求1所述的电子装置，其中，所述预定条件是所述处理器的使用率超过预定级别达预定时间。5.根据权利要求1所述的电子装置，其中，所述预定条件与显示器、语音或相机中的任何一个有关。6.根据权利要求1所述的电子装置，其中，所述处理器被配置为驱动具有高使用率的进程达所述剩余的时间段。7.根据权利要求1所述的电子装置，其中，所述处理器被配置为不驱动所述进程达所述时间段的一部分。8.根据权利要求1所述的电子装置，其中，所述预定温度与多个预定温度相对应，并且所述处理器被配置为根据所述多个预定温度来改变所述时间段的一部分和所述剩余的时间段。9.根据权利要求1所述的电子装置，其中，所述处理器被配置为：形成组，所述组包括满足所述预定条件的进程，以及利用所形成的组来调整所述时间段的一部分和所述剩余的时间段。10.根据权利要求9所述的电子装置，其中，所述处理器被配置为在所述组中不包括进程的情况下，不调整所述时间段的一部分和所述剩余的时间段。11.一种用于运行电子装置的方法，所述方法包括：检测所述电子装置的温度超过预定温度；当所述温度超过所述预定温度时，驱动满足预定条件的至少一个进程达时间段的一部分，并且在剩余的时间段内不驱动所述至少一个进程。12.根据权利要求11所述的方法，所述方法还包括：利用所述温度传感器来重复地测量所述温度；重复地确定重复地测量到的温度是否超过所述预定温度；以及当重复地测量到的温度低于所述预定温度时，驱动所述至少一个进程达所述时间段的一部分和所述剩余的时间段。
13.根据权利要求11所述的方法，其中，所述预定条件是数据吞吐量超过预定容量达预定时间。14.根据权利要求11所述的方法，其中，所述预定条件是处理器的使用率超过预定级别达预定时间。15.根据权利要求11所述的方法，其中，所述预定条件与显示器、语音或相机中的任何一个有关。

技术总结
在某些实施例中，一种电子装置包括温度传感器；以及，处理器，其中所述处理器被配置为：检测所述电子装置的温度超过预定温度；当所述温度超过所述预定温度时，驱动满足预定条件的至少一个进程达时间段的一部分，并且在剩余的时间段内不驱动所述至少一个进程。时间段内不驱动所述至少一个进程。时间段内不驱动所述至少一个进程。


技术研发人员：方性龙 卢泫陈 权秉洙 金钟佑 李相旼 金学烈 金武永
受保护的技术使用者：三星电子株式会社
技术研发日：2021.01.20
技术公布日：2022/9/14