用于校准具有多个重复硬件组件的至少一个分析装置的方法与流程

技术特征：
1.一种用于校准具有重复硬件组件的至少一个分析装置 (112) 的方法，其中所述分析装置 (112) 包括多个硬件组件 (114)，其中硬件组件是所述分析装置 (112) 的物理和/或有形部件，其中所述方法包括以下步骤：a) 提供至少一个具有至少一种分析物的浓度的已知目标值的校准品样品i；b) 至少一个测量步骤，其中所述测量步骤包括使用所述分析装置 (112) 对所述校准品样品进行至少一次测量，其中获取至少一个检测器信号s
ijk
，其中i = 1,
ꢀ…
i，其中i ≥2，其中i是指所述校准品样品的数量，j = 1,
ꢀ…
j，其中j ≥2，其中j是指所述硬件组件的数量，其中k =1,
ꢀ…
k
ij
，其中k
ij ≥ 1，其中k是指所述测量步骤的重复次数；c) 至少一个校准步骤，其中确定所述检测器信号与所述分析物的所述浓度之间的关系，其中所述校准步骤包括：c.1：提供至少一个参数化函数，其中所述参数化函数具有参数组，其中所述参数组包括描述所述参数化函数的分析物特定部分的参数，其中所述参数组进一步包括用于调整所述硬件组件 (114) 的所述参数化函数的参数；c.2：通过进行基于所述参数化函数的校准来确定校准值；以及c.3：基于所述参数化函数的反函数和确定的校准值来确定分析函数。2.一种用于校准具有重复硬件组件的至少一个分析装置 (112) 的方法，其中所述分析装置 (112) 包括多个硬件组件 (114)，其中硬件组件是所述分析装置 (112) 的物理和/或有形部件，其中所述方法包括以下步骤：a) 提供至少一个校准品样品i，所述校准品样品具有至少一种分析物的浓度的已知目标值和平均校准曲线，从中得出所述至少一个校准品样品的理论信号；b) 至少一个测量步骤，其中所述测量步骤包括使用所述分析装置 (112) 对所述校准品样品进行至少一次测量，其中获取至少一个检测器信号s
ijk
，其中 i = 1,
ꢀ…
i，其中i ≥1，其中i是指所述校准品样品的数量，j = 1,
ꢀ…
j，其中j ≥2，其中j是指所述硬件组件的数量，其中 k = 1,
ꢀ…
k
ij
，其中k
ij ≥ 1，其中k是指所述测量步骤的重复次数；c) 至少一个校准步骤，其中确定所述检测器信号与理论信号值之间的关系，其中所述校准步骤包括：
‑ꢀ
提供至少一个参数化函数，其中所述参数化函数具有参数组，其中所述参数组包括描述所述参数化函数的分析物特定部分的参数，其中所述参数组进一步包括用于调整所述硬件组件 (114) 的所述参数化函数的参数；
‑ꢀ
通过进行基于所述参数化函数的校准来确定校准值；以及
‑ꢀ
基于所述参数化函数的反函数和确定的校准值来确定分析函数。3.根据权利要求 1 或 2 所述的方法，其中所述方法进一步包括：对另外的样品进行至少一次测量，其中通过使用所述分析函数，基于所述另外的样品的测量信号来确定所述另外的样品的浓度。4.根据前述权利要求中任一项所述的方法，其中所述参数组由表示，其中n和r为正整数，其中对应于描述所述参数化函数的分析物特定部分的所述参数，其中是指描述用于调整所述硬件组件 (114) 的所述参数化函数的所述参数的向量，其中所述校准值由
表示。5.根据前述权利要求中任一项所述的方法，其中确定所述检测器信号与所述理论信号值之间的关系，其中所述参数化函数是信号调整函数。6.根据前述权利要求中任一项所述的方法，其中确定所述检测器信号与所述分析物的浓度之间的关系，其中所述参数化函数是信号-浓度-函数。7.根据前述两项权利要求中任一项所述的方法，其中所述信号-浓度-函数是线性函数。8.根据前述权利要求所述的方法，其中所述信号-浓度函数包括硬件-零件特定截距、硬件-零件特定斜率中的一者或两者。9.根据前述两项权利要求中任一项所述的方法，其中所述信号-浓度-函数是带有硬件-零件特定调整系数的线性函数。10.根据前述权利要求中任一项所述的方法，其中所述分析装置 (112) 选自由以下项组成的组：质谱装置(116)，具体为液相色谱质谱装置；免疫测定分析仪；光度测量装置，血气分析仪，血液学分析仪，dna分析仪。11.根据前述权利要求中任一项所述的方法，其中所述硬件组件 (114) 是等效硬件组件 (114)。12.根据前述权利要求中任一项所述的方法，其中所述硬件组件 (114) 选自由以下项组成的组：柱(122)，具体为高效液相色谱柱；流，具体为高效液相色谱流；样品注入装置，具体为高效液相色谱注入装置；泵；测量单元；检测器，具体为质谱检测器(126)。13.根据前述权利要求中任一项所述的方法，其中所述校准品样品运行通过所述硬件组件 (114) 中的一些或全部，或经由所述硬件组件 (114) 中的一些或全部来运送。14.一种用于校准具有重复硬件组件的至少一个分析装置 (112) 的装置 (110)，其中硬件组件是所述分析装置 (112) 的物理和/或有形部件，所述装置 (110) 包括：
•ꢀ
包括多个硬件组件 (114) 的至少一个分析装置(112)，其中所述分析装置 (112) 经配置用于对校准品样品i进行至少一次测量，所述校准品样品具有至少一种分析物的浓度的已知目标值，其中所述分析装置 (112) 配置为获取至少一个检测器信号s
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，其中 i = 1,
ꢀ…
i，其中i ≥2，其中i是指所述校准品样品的数量，j = 1,
ꢀ…
j，其中j ≥2，其中j是指所述硬件组件的数量，其中 k = 1,
ꢀ…
k
ij
，其中k
ij ≥ 1，其中k是指测量步骤的重复次数；以及
•ꢀ
至少一个评估装置(128)，其中所述评估装置 (128) 经配置用于进行至少一个校准步骤，其中确定所述检测器信号与所述分析物的所述浓度之间和/或所述检测器信号与理论信号值之间的关系，其中所述评估装置 (128) 经配置用于提供至少一个参数化函数，其中所述参数化函数具有参数组，其中所述参数组包括描述所述参数化函数的分析物特定部分的参数，其中所述参数组进一步包括用于调整所述硬件组件 (114) 的所述参数化函数的参数；其中所述评估装置 (128) 经进一步配置用于通过进行基于所述参数化函数的校准来确定校准值，其中所述评估装置 (128) 经进一步配置用于基于所述参数化函数的反函数和确定的校准值来确定分析函数。15.一种包括至少一个处理器的计算机或计算机网络，其中所述处理器适于执行根据
涉及用于校准至少一个分析装置 (112) 的方法的前述权利要求中任一项所述的用于校准至少一个分析装置 (112) 的方法的步骤 b) 至 c) 和/或 b) 至 c)。16.一种计算机程序，其中所述计算机程序适于当所述程序在计算机上执行时执行根据涉及用于校准至少一个分析装置 (112) 的方法的前述权利要求中任一项所述的用于校准至少一个分析装置 (112) 的方法的步骤 b) 至 c) 和/或 b) 至 c)。

技术总结
本发明公开了一种用于校准具有重复硬件组件的至少一个分析装置(112)的方法。所述分析装置(112)包括多个硬件组件(114)。所述方法包括以下步骤：a)提供至少一个具有至少一种分析物的浓度的已知目标值的校准品样品i；b)至少一个测量步骤，其中所述测量步骤包括使用所述分析装置对所述校准品样品进行至少一次测量，其中获取至少一个检测器信号s


技术研发人员：N
受保护的技术使用者：豪夫迈
技术研发日：2020.12.16
技术公布日：2022/8/2