一种集成电路芯片测试接口板的制作方法

1.本发明是一种集成电路芯片测试接口板，属于电子领域。


背景技术：

2.集成电路的芯片测试需要配合接口端和插槽端继电排针板与电容、电阻等电子元器件形成板块电路分布图纸架构操作，从而内置芯片配合测试的数据检测记录，保证芯片性能的开发和使用推广普及预处理操作，目前技术公用的待优化的缺点有：
3.集成电路的芯片测试需要在电路板配合接口插槽形成多个继电节点的汇总输入操作，但对引脚杆插接的插槽容易因为刚性挤压造成引脚针形变和弯曲现象，导致后续的继电节点断路缺失，影响测试集成端的数据分析和排查效率。


技术实现要素：

4.针对现有技术存在的不足，本发明目的是提供一种集成电路芯片测试接口板，以解决集成电路的芯片测试需要在电路板配合接口插槽形成多个继电节点的汇总输入操作，但对引脚杆插接的插槽容易因为刚性挤压造成引脚针形变和弯曲现象，导致后续的继电节点断路缺失，影响测试集成端的数据分析和排查效率的问题。
5.为了实现上述目的，本发明是通过如下的技术方案来实现：一种集成电路芯片测试接口板，其结构包括：排针条板、接口护针插槽、集成继电板、以太网端口、并行插槽，所述接口护针插槽安装于集成继电板的右后角，所述排针条板插嵌在集成继电板的后侧，所述以太网端口嵌套于集成继电板的右侧，所述并行插槽紧贴于集成继电板的前侧并且处于同一水平面上，所述接口护针插槽设有凸弧垫条、三相插针槽、接口插槽壳，所述三相插针槽安装于接口插槽壳内部的左侧，所述凸弧垫条设有两个并且分别紧贴于接口插槽壳内部的上下两侧，所述接口插槽壳安装于集成继电板的右后角。
6.为优化上述技术方案，进一步采取的措施为：
7.作为本发明的进一步改进，所述凸弧垫条由凸弧板、横垫条组成，所述凸弧板安装于横垫条的内部，所述凸弧板与横垫条嵌套在一起并且处于同一水平面上。
8.作为本发明的进一步改进，所述凸弧板由格栅胶条、弧槽板组成，所述格栅胶条安装于弧槽板的内部，所述格栅胶条与弧槽板紧贴在一起并且处于同一竖直面上。
9.作为本发明的进一步改进，所述三相插针槽由三相针孔槽、插槽板块组成，所述三相针孔槽设有两个并且均安装于插槽板块的右侧，所述三相针孔槽与插槽板块扣合在一起并且处于同一竖直面上。
10.作为本发明的进一步改进，所述三相针孔槽由通孔槽、三相电芯管组成，所述三相电芯管安装于通孔槽的内部，所述三相电芯管与通孔槽插嵌在一起并且处于同一竖直面上。
11.作为本发明的进一步改进，所述排针条板由排针管、继电条座块组成，所述排针管安装于继电条座块的顶部上，所述排针管与继电条座块插嵌在一起并且相互垂直。
12.作为本发明的进一步改进，所述排针管由管孔槽、电容继电片组成，所述电容继电片安装于管孔槽的内部，所述管孔槽与电容继电片嵌套成一体并且处于同一竖直面上。
13.作为本发明的进一步改进，所述集成继电板由触点柱帽、集成板块组成，所述触点柱帽安装于集成板块的内部，所述触点柱帽与集成板块插嵌在一起并且相互垂直。
14.作为本发明的进一步改进，所述触点柱帽由电极圆片板、电磁滑块帽组成，所述电极圆片板安装于电磁滑块帽的内部，所述电极圆片板与电磁滑块帽电连接并且处于同一竖直面上。
15.作为本发明的进一步改进，所述格栅胶条为左右带护帽中隔胶条的复合条架结构，方便纵向联动配合横向穿插防护引脚电网对接包裹操作。
16.作为本发明的进一步改进，所述三相电芯管为左侧带球帽针孔右侧窄道长管的硅晶闸管体结构，方便三相交流电和三相插座形成继电对接操作效果。
17.作为本发明的进一步改进，所述电容继电片为左右带双圆片三引脚继电片的复合电容器结构，方便对位电容形成容量增幅和排针连通操作效果。
18.作为本发明的进一步改进，所述电磁滑块帽为柱帽槽内四个端角贴合电磁块的复合触点端帽结构，方便逐个引脚穿插形成整体的芯片测试端口集成分布节点架构操作效果。
19.有益效果
20.本发明一种集成电路芯片测试接口板，工作人员将排针条板的排针管插接在继电条座块顶部通过管孔槽与电容继电片继电对接集成继电板导通以太网端口与并行插槽，再通过接口护针插槽的凸弧垫条在接口插槽壳内通过凸弧板与横垫条交替垫护带动格栅胶条与弧槽板在三相插针槽的插槽板块一侧形成引脚杆插入防形变的操作效果，让三相针孔槽的通孔槽与三相电芯管继电对接芯片实现集成电路测试接口操作提升效率和精准度，保证电网架构分布测试稳定性。
21.本发明操作后可达到的优点有：
22.运用排针条板与接口护针插槽相配合，通过排针管与继电条座块测试接口的节点使三相插针槽形成继电排针管和集成继电板的电位对接操作效果，也让后续的芯片测试得到各个位置节点对接操作，让引脚杆插接形成边缝垫护居中穿插通孔通电高效，提升集成电路板芯片测试输入端安全防护效率。
附图说明
23.为了更清楚地说明本发明实施例的技术方案，下面将对实施例描述中的附图作详细地介绍，以此让本发明的其它特征、目的和优点将会变得更明显：
24.图1为本发明一种集成电路芯片测试接口板的结构示意图。
25.图2为本发明排针条板与接口护针插槽详细的剖面结构示意图。
26.图3为本发明接口护针插槽与集成继电板详细的截面结构示意图。
27.图4为本发明接口护针插槽、凸弧垫条、三相插针槽详细的剖面结构示意图。
28.图5为本发明排针管工作状态的截面放大结构示意图。
29.图6为本发明触点柱帽工作状态的剖面放大结构示意图。
30.图7为本发明凸弧板工作状态的截面放大结构示意图。
31.图8为本发明三相针孔槽工作状态的剖面放大结构示意图。
32.附图标记说明：排针条板-1、接口护针插槽-2、集成继电板-3、以太网端口-4、并行插槽-5、凸弧垫条-2a、三相插针槽-2b、接口插槽壳-2c、凸弧板-2a1、横垫条-2a2、格栅胶条-2a11、弧槽板-2a12、三相针孔槽-2b1、插槽板块-2b2、通孔槽-2b11、三相电芯管-2b12、排针管-11、继电条座块-12、管孔槽-111、电容继电片-112、触点柱帽-31、集成板块-32、电极圆片板-311、电磁滑块帽-312。
具体实施方式
33.为使本发明实现的技术手段、创作特征、达成目的与功效易于明白了解，下面结合具体实施方式，进一步阐述本发明。
34.实施例一：
35.请参阅图1-图8，本发明提供一种集成电路芯片测试接口板，其结构包括：排针条板1、接口护针插槽2、集成继电板3、以太网端口4、并行插槽5，所述接口护针插槽2安装于集成继电板3的右后角，所述排针条板1插嵌在集成继电板3的后侧，所述以太网端口4嵌套于集成继电板3的右侧，所述并行插槽5紧贴于集成继电板3的前侧并且处于同一水平面上，所述接口护针插槽2设有凸弧垫条2a、三相插针槽2b、接口插槽壳2c，所述三相插针槽2b安装于接口插槽壳2c内部的左侧，所述凸弧垫条2a设有两个并且分别紧贴于接口插槽壳2c内部的上下两侧，所述接口插槽壳2c安装于集成继电板3的右后角。
36.请参阅图4，所述凸弧垫条2a由凸弧板2a1、横垫条2a2组成，所述凸弧板2a1安装于横垫条2a2的内部，所述凸弧板2a1与横垫条2a2嵌套在一起并且处于同一水平面上，所述三相插针槽2b由三相针孔槽2b1、插槽板块2b2组成，所述三相针孔槽2b1设有两个并且均安装于插槽板块2b2的右侧，所述三相针孔槽2b1与插槽板块2b2扣合在一起并且处于同一竖直面上，通过横垫条2a2与插槽板块2b2形成相互顶压框住输入端脚杆的操作效果。
37.请参阅图7，所述凸弧板2a1由格栅胶条2a11、弧槽板2a12组成，所述格栅胶条2a11安装于弧槽板2a12的内部，所述格栅胶条2a11与弧槽板2a12紧贴在一起并且处于同一竖直面上，所述格栅胶条2a11为左右带护帽中隔胶条的复合条架结构，方便纵向联动配合横向穿插防护引脚电网对接包裹操作，通过格栅胶条2a11在弧槽板2a12内形成凸弧垫护防偏移引脚杆的包裹操作效果。
38.请参阅图8，所述三相针孔槽2b1由通孔槽2b11、三相电芯管2b12组成，所述三相电芯管2b12安装于通孔槽2b11的内部，所述三相电芯管2b12与通孔槽2b11插嵌在一起并且处于同一竖直面上，所述三相电芯管2b12为左侧带球帽针孔右侧窄道长管的硅晶闸管体结构，方便三相交流电和三相插座形成继电对接操作效果，通过通孔槽2b11包裹三相电芯管2b12形成引脚端继电架护操作效果。
39.请参阅图2，所述排针条板1由排针管11、继电条座块12组成，所述排针管11安装于继电条座块12的顶部上，所述排针管11与继电条座块12插嵌在一起并且相互垂直，通过排针管11在继电条座块12底部形成分引脚节点排列操作效果。
40.请参阅图5，所述排针管11由管孔槽111、电容继电片112组成，所述电容继电片112安装于管孔槽111的内部，所述管孔槽111与电容继电片112嵌套成一体并且处于同一竖直面上，所述电容继电片112为左右带双圆片三引脚继电片的复合电容器结构，方便对位电容
形成容量增幅和排针连通操作效果，通过管孔槽111内接的电容继电片112形成电容缓存减轻电路板复合的操作效果。
41.工作流程：工作人员将排针条板1的排针管11插接在继电条座块12顶部通过管孔槽111与电容继电片112继电对接集成继电板3导通以太网端口4与并行插槽5，再通过接口护针插槽2的凸弧垫条2a在接口插槽壳2c内通过凸弧板2a1与横垫条2a2交替垫护带动格栅胶条2a11与弧槽板2a12在三相插针槽2b的插槽板块2b2一侧形成引脚杆插入防形变的操作效果，让三相针孔槽2b1的通孔槽2b11与三相电芯管2b12继电对接芯片实现集成电路测试接口操作提升效率和精准度，保证电网架构分布测试稳定性。
42.实施例二：
43.请参阅图1-图8，本发明提供一种集成电路芯片测试接口板，其他方面与实施例1相同，不同之处在于：
44.请参阅图3，所述集成继电板3由触点柱帽31、集成板块32组成，所述触点柱帽31安装于集成板块32的内部，所述触点柱帽31与集成板块32插嵌在一起并且相互垂直，通过触点柱帽31在集成板块32内形成节点内埋继电操作效果。
45.请参阅图6，所述触点柱帽31由电极圆片板311、电磁滑块帽312组成，所述电极圆片板311安装于电磁滑块帽312的内部，所述电极圆片板311与电磁滑块帽312电连接并且处于同一竖直面上，所述电磁滑块帽312为柱帽槽内四个端角贴合电磁块的复合触点端帽结构，方便逐个引脚穿插形成整体的芯片测试端口集成分布节点架构操作效果，通过电极圆片板311在电磁滑块帽312内形成继电扩展芯片节点辅助测试的操作效果。
46.通过前期接线穿插形成端脚和端头操作，使集成继电板3的触点柱帽31在集成板块32内通过电极圆片板311与电磁滑块帽312继电传输形成电路板电网节点扩展分布对接的操作效果。
47.本发明通过上述部件的互相组合，达到运用排针条板1与接口护针插槽2相配合，通过排针管11与继电条座块12测试接口的节点使三相插针槽2b形成继电排针管11和集成继电板3的电位对接操作效果，也让后续的芯片测试得到各个位置节点对接操作，让引脚杆插接形成边缝垫护居中穿插通孔通电高效，提升集成电路板芯片测试输入端安全防护效率，以此来解决集成电路的芯片测试需要在电路板配合接口插槽形成多个继电节点的汇总输入操作，但对引脚杆插接的插槽容易因为刚性挤压造成引脚针形变和弯曲现象，导致后续的继电节点断路缺失，影响测试集成端的数据分析和排查效率的问题。
48.本文中所描述的具体实施例仅仅是对本发明作举例说明。本发明所属技术领域的技术人员可以对所描述的具体实施例做各种各样的修改或补充或采用类似的方式替代，但并不会偏离本发明的或者超越所附权利要求书所定义的范围。