一种电子产品测试方法及系统与流程

1.本发明实施例涉及测试技术领域，尤其涉及一种电子产品测试方法及系统。


背景技术：

2.随着电磁可靠性理论研究和技术应用的不断演进，电子产品的功能越来越丰富，集成度越来越高，使用场景越来越复杂。国际上对产品的电磁兼容性能的要求越来越高，世界上许多国家和地区已对它进行了强制性的认证管理。为了产品能能够顺利进入市场，产品研发阶段就必须对电子产品的电磁兼容特性进行研究管控。
3.对电子产品的电磁兼容特性分析方式通常是将产品放置在标准的暗室或屏蔽环境中，使用标准的干扰源对电子产品进行性能测试，用以评估电子产品的抗干扰能力，无法分析电子产品在实际应用场景时的抗干扰性能。


技术实现要素：

4.本发明提供一种电子产品测试方法及系统，以实现分析电子产品在实际应用场景下的抗干扰性能。
5.第一方面，本发明实施例提供了一种电子产品测试方法，电子产品测试方法包括：采集设备采集待测试电子产品的至少一种应用场景的环境干扰信号；在所述待测试电子产品放置于测试室的载台上，所述待测试电子产品进入正常工作状态后，控制器控制所述采集设备从不同方向向所述待测试电子产品发射所述环境干扰信号，并控制监控设备采集所述待测试电子产品的状态参数；其中，所述监控设备为测试室外的电子产品；所述控制器根据监控过程中所述待测试电子产品的状态参数确定所述待测试电子产品的抗干扰性能。
6.可选地，控制器控制监控设备采集所述待测试电子产品的状态参数包括：所述控制器控制辅助设备与所述待测试电子产品进行通信，并控制所述监控设备采集所述待测试电子产品的通信参数；和/或，所述控制器控制监控设备采集所述待测试电子产品的显示参数或电压参数。
7.可选地，控制器控制所述采集设备从不同方向向所述待测试电子产品发射所述环境干扰信号包括：所述控制器选择所述环境干扰信号；所述控制器设置所述方向的步进值；所述控制器根据所述步进值控制所述载台的方向改变，以控制所述待测试电子产品与所述采集设备相对的方向改变；所述控制器控制所述采集设备向所述待测试电子产品发射选择的所述环境干扰信号。
8.可选地，在控制器根据监控过程中所述待测试电子产品的状态参数确定所述待测试电子产品的抗干扰性能之后，还包括：所述控制器记录不同方向的所述待测试电子产品在每一环境干扰信号下对应的所述待测试电子产品的抗干扰性能。
9.可选地，采集设备采集待测试电子产品的至少一种应用场景的环境干扰信号包括：所述采集设备采集所述待测试电子产品的至少一种应用场景的环境干扰信号，并将所述环境干扰信号发送至存储设备；控制器控制所述采集设备从不同方向向所述待测试电子产品发射所述环境干扰信号包括：所述控制器控制所述存储设备通过所述采集设备从不同方向向所述待测试电子产品发射所述环境干扰信号。
10.可选地，控制器根据监控过程中所述待测试电子产品的状态参数确定所述待测试电子产品的抗干扰性能包括：所述控制器根据监控过程中所述待测试电子产品的所述通信参数确定所述待测试电子产品的抗干扰性能；和/或，所述控制器根据监控过程中所述待测试电子产品的所述电压参数或所述显示参数确定所述待测试电子产品的抗干扰性能。
11.可选地，所述控制器根据监控过程中所述待测试电子产品的通信参数确定所述待测试电子产品的抗干扰性能包括：所述控制器控制所述监控设备获取所述待测试电子产品通信过程中的信号传输速率；所述控制器控制所述监控设备获取所述待测试电子产品通信后的丢包率；所述控制器根据所述信号传输速率和所述丢包率确定所述待测试电子产品的抗干扰性能。
12.第二方面，本发明实施例还提供了一种电子产品测试系统，该电子产品测试系统包括：采集设备、测试室、载台、监控设备、待测试电子产品和控制器；所述待测试电子产品位于所述载台上，所述载台位于所述测试室内，所述辅助设备为测试室外的电子产品；所述采集设备用于采集所述待测试电子产品的至少一种应用场景的环境干扰信号；所述控制器与所述采集设备连接，所述控制器与所述监控设备连接，所述控制器与所述待测试电子产品连接，所述控制器用于在所述待测试电子产品进入正常工作状态后，控制所述采集设备从不同方向向所述待测试电子产品发射所述环境干扰信号，并控制所述监控设备采集所述待测试电子产品的状态参数；所述控制器还用于根据监控过程中所述待测试电子产品的状态参数确定所述待测试电子产品的抗干扰性能。
13.可选地，电子产品测试系统还包括功率放大器；所述采集设备与所述功率放大器连接，所述采集设备用于通过所述功率放大器从
不同方向向所述待测试电子产品发射所述环境干扰信号。
14.可选地，所述测试室包括吸波暗室、屏蔽室或混响室。
15.本发明通过采集设备采集待测试电子产品的至少一种应用场景的环境干扰信号，在待测试电子产品放置于测试室的载台上，且待测试电子产品进入正常工作状态后，控制器控制采集设备从不同方向向待测试电子产品发射环境干扰信号，从而模拟待测试电子产品在实际应用场景工作的情况，对待测试电子产品进行多维度多方位的抗干扰测试，待测试电子产品在工作时，控制器可以通过监控设备获取待测试电子产品的状态参数，例如获取待测试电子产品的信号传输速率和丢包率，还可以获取待测试电子产品的显示参数或电压参数，控制器根据待测试电子产品的状态参数可以对待测试电子产品的抗干扰性能进行分析，从而确定待测试电子产品在实际应用场景下的抗干扰性能。通过采集设备采集多种应用场景的环境干扰信号，便于测试待测试电子产品在不同应用场景的抗干扰性能，从而真实还原待测试电子产品在不同应用场景的抗干扰性能，有利于提高测试的准确性。本发明解决了使用标准的干扰源对电子产品进行测试，无法分析电子产品在实际应用场景时的抗干扰性能问题，达到了分析电子产品在实际应用场景下的抗干扰性能的效果，并提高了测试的准确性。
附图说明
16.图1是本发明实施例提供的一种电子产品测试方法的流程图；图2是本发明实施例提供的又一种电子产品测试方法的流程图；图3是本发明实施例提供的又一种电子产品测试方法的流程图；图4是本发明实施例提供的又一种电子产品测试方法的流程图；图5是本发明实施例提供的图4中s430包括的方法的流程图；图6是本发明实施例提供的一种电子产品测试系统的结构示意图；图7是本发明实施例提供的又一种电子产品测试系统的结构示意图。
具体实施方式
17.下面结合附图和实施例对本发明作进一步的详细说明。可以理解的是，此处所描述的具体实施例仅仅用于解释本发明，而非对本发明的限定。另外还需要说明的是，为了便于描述，附图中仅示出了与本发明相关的部分而非全部结构。
18.图1是本发明实施例提供的一种电子产品测试方法的流程图，参见图1，电子产品测试方法包括：s110、采集设备采集待测试电子产品的至少一种应用场景的环境干扰信号。
19.具体地，待测试电子产品例如包括手机、蓝牙耳机等电子产品，电子产品例如包括可以进行无线通信的产品，也可以包括可以进行有线通信的产品，还可以包括可以使用监控设备进行状态变化监控的产品，采集设备在待测试电子产品的应用场景采集应用场景的环境干扰信号，可以采集多种应用场景的环境干扰信号，便于测试待测试电子产品在不同应用场景的抗干扰性能，从而真实还原待测试电子产品在不同应用场景的抗干扰性能，有利于提高测试的准确性。其中，应用场景例如包括车站、机场和马路等。并且，采集设备具备回放功能，可以对采集的环境干扰信号进行回放。
20.s120、在待测试电子产品放置于测试室的载台上，且待测试电子产品进入正常工作状态后，控制器控制采集设备从不同方向向待测试电子产品发射环境干扰信号，并控制监控设备采集待测试电子产品的状态参数；其中，监控设备为测试室外的电子产品。
21.具体地，将待测试电子产品放置于测试室的载台上，并将采集设备的天线放置于测试室，且采集设备的天线正对载台的中心，开启待测试电子产品，使得待测试电子产品进入正常工作状态，例如为显示画面或与辅助设备进行通信，在待测试电子产品正常工作时，控制器控制采集设备通过天线从不同方向向待测试电子产品发射环境干扰信号，模拟待测试电子产品在实际应用场景工作的情况。其中，测试室为干净环境，测试室例如为吸波暗室、屏蔽室或混响室，使得待测试电子产品在工作时，不受其他信号的干扰，便于对待测试电子产品进行测试。监控设备为测试室外的电子产品，待测试电子产品在工作时，监控设备可以对待测试电子产品进行实时监控，获取待测试电子产品的状态参数。
22.而且，控制器控制采集设备从不同方向向待测试电子产品发射环境干扰信号，可以对待测试电子产品进行多维度多方位的抗干扰测试，便于分析待测试电子产品的抗干扰性能。
23.可选地，采集设备可以通过功率放大器向待测试电子产品发射环境干扰信号，可以通过功率放大器对环境干扰信号的功率进行调节，便于还原真实应用场景的环境干扰信号，也可以分析不同功率的环境干扰信号下，待测试电子产品的抗干扰性能。
24.s130、控制器根据监控过程中待测试电子产品的状态参数确定待测试电子产品的抗干扰性能。
25.具体地，在待测试电子产品的工作过程中，监控设备可以获取待测试电子产品的状态参数，并发送至控制器，控制器可以获取待测试电子产品的状态参数，状态参数可以包括通信参数、显示参数或电压参数，例如获取待测试电子产品的信号传输速率和丢包率，还可以包括吞吐量、误码率和信噪比等，控制器根据待测试电子产品的状态参数可以对待测试电子产品的抗干扰性能进行分析，从而确定待测试电子产品在实际应用场景下的抗干扰性能。例如获取待测试电子产品的显示参数，控制器根据显示参数可以判断待测试电子产品是否出现显示屏闪屏或花屏，就可以根据显示参数对待测试电子产品的抗干扰性能进行判断；还可以获取待测试电子产品的电压信息，例如控制器通过示波器采集待测试电子产品的电压波形，控制器根据电压是否发生突变或电压发生突变的程度，可以对待测试电子产品的抗干扰性能进行判断，从而确定待测试电子产品在实际应用场景下的抗干扰性能。
26.需要说明的是，状态参数还可以包括其他参数，此处并不进行限定。
27.本实施例的技术方案，通过采集设备采集待测试电子产品的至少一种应用场景的环境干扰信号，在待测试电子产品放置于测试室的载台上，且待测试电子产品进入正常工作状态后，控制器控制采集设备从不同方向向待测试电子产品发射环境干扰信号，从而模拟待测试电子产品在实际应用场景工作的情况，对待测试电子产品进行多维度多方位的抗干扰测试，待测试电子产品在工作时，控制器可以通过监控设备获取待测试电子产品的状态参数，例如获取待测试电子产品的信号传输速率和丢包率，还可以获取待测试电子产品的显示参数或电压参数，控制器根据待测试电子产品的状态参数可以对待测试电子产品的抗干扰性能进行分析，从而确定待测试电子产品在实际应用场景下的抗干扰性能。通过采集设备采集多种应用场景的环境干扰信号，便于测试待测试电子产品在不同应用场景的抗
干扰性能，从而真实还原待测试电子产品在不同应用场景的抗干扰性能，有利于提高测试的准确性。本实施例的技术方案解决了使用标准的干扰源对电子产品进行测试，无法分析电子产品在实际应用场景时的抗干扰性能问题，达到了分析电子产品在实际应用场景下的抗干扰性能的效果，并提高了测试的准确性。
28.在上述技术方案的基础上，s120中控制器控制监控设备采集待测试电子产品的状态参数包括：步骤a1、控制器控制辅助设备与待测试电子产品进行通信，并控制监控设备采集待测试电子产品的通信参数。
29.其中，辅助设备为测试室外的电子产品，辅助设备也位于干净环境中，避免在与待测试电子产品通信时，存在其他干扰信号，从而可以提高检测的准确性。
30.具体地，控制器可以控制辅助设备与待测试电子产品进行通信，控制器可以控制辅助设备向待测试电子产品发送第一预设信息，从而使得监控设备获取待测试电子产品在接收信息时的通信参数，便于控制器对待测试电子产品在接收信息时的抗干扰性能进行分析。并且，控制器可以控制辅助设备多次发送第一预设信息至待测试电子产品，进行重复性测试，便于采集多组通信参数，提高测试结果的可靠性。控制器也可以控制待测试电子产品向辅助设备发送第二预设信息，从而使得监控设备获取待测试电子产品在发送信息时的通信参数，便于控制器对待测试电子产品在发送信息时的抗干扰性能进行分析。并且，控制器可以控制待测试电子产品多次发送第二预设信息至辅助设备，进行重复性测试，便于采集多组通信参数，提高测试结果的可靠性。因此，控制器既可以控制待测试电子产品发送信息，也可以控制待测试电子产品接收信息，从而对待测试电子产品不同通信情况下的抗干扰性能进行测试。
31.和/或，步骤a2、控制器控制监控设备采集待测试电子产品的显示参数或电压参数。
32.具体地，控制器通过监控设备可以获取待测试电子产品的显示参数，控制器根据显示参数可以判断待测试电子产品是否出现显示屏闪屏或花屏，就可以根据显示参数对待测试电子产品的抗干扰性能进行判断；控制器还可以获取待测试电子产品的电压信息，例如控制器通过示波器等监控设备采集待测试电子产品的电压波形，控制器根据电压是否发生突变或电压发生突变的程度，可以对待测试电子产品的抗干扰性能进行判断，从而确定待测试电子产品在实际应用场景下的抗干扰性能。
33.图2是本发明实施例提供的又一种电子产品测试方法的流程图，可选地，参见图2，电子产品测试方法包括：s210、采集设备采集待测试电子产品的至少一种应用场景的环境干扰信号。
34.s220、在待测试电子产品放置于测试室的载台上，且待测试电子产品进入正常工作状态后，控制器选择环境干扰信号。
35.具体地，采集设备可以采集多种环境干扰信号，在待测试电子产品进入正常工作状态后，控制器从所有的环境干扰信号中选择一个环境干扰信号，从而可以切换采集设备发射的环境干扰信号。
36.s230、控制器设置方向的步进值。
37.具体地，方向是指采集设备的天线与待测试电子产品相对的方向，方向的步进值
例如是指天线与待测试电子产品中心之间的角度，方向的步进值例如可以是10
°
，也可以是20
°
，也可以是30
°
，步进值的具体数值可以根据实际情况进行确定，例如根据测试的精度进行确定，此处并不进行限定。
38.s240、控制器根据步进值控制载台的方向改变，以控制待测试电子产品与采集设备相对的方向改变。
39.具体地，控制器根据步进值控制载台转动，可以是在水平方向进行转动，也可以是在垂直方向进行转动，水平方向是指平行于载台平面的方向，垂直方向是指垂直于载台平面的方向，从而使得载台的方向改变，载台带动待测试电子产品转动，以控制待测试电子产品与采集设备相对的方向改变，就可以实现从不同方向发射环境干扰信号，实现对待测试电子产品进行多维度多方位的测试。
40.s250、控制器控制采集设备向待测试电子产品发射选择的环境干扰信号。
41.具体地，在确定方向后，控制器控制采集设备向待测试电子产品发射选择的环境干扰信号，直至采集设备沿所有的方向向待测试电子产品发射选择的环境干扰信号后，控制器再选择环境干扰信号，从而实现采集设备沿不同的方向向待测试电子产品发射所有的环境干扰信号。
42.s260、控制器控制监控设备采集待测试电子产品的状态参数。
43.s270、控制器根据监控过程中待测试电子产品的状态参数确定待测试电子产品的抗干扰性能。
44.图3是本发明实施例提供的又一种电子产品测试方法的流程图，可选地，参见图3，电子产品测试方法包括：s310、采集设备采集待测试电子产品的至少一种应用场景的环境干扰信号。
45.可选地，s310、采集设备采集待测试电子产品的至少一种应用场景的环境干扰信号包括：采集设备采集待测试电子产品的至少一种应用场景的环境干扰信号，并将环境干扰信号发送至存储设备。
46.具体地，采集设备可以将采集的环境干扰信号发送至存储设备，存储设备可以对环境干扰信号进行存储，并且存储时，可以对不同的环境干扰信号进行区分，可以是按照编号的方式进行区分，也可以是按照其他方式进行区分，此处并不进行限定。
47.s320、在待测试电子产品放置于测试室的载台上，且待测试电子产品进入正常工作状态后，控制器控制采集设备从不同方向向待测试电子产品发射环境干扰信号，并控制监控设备采集待测试电子产品的状态参数；其中，监控设备为测试室外的电子产品。
48.可选地，控制器控制采集设备从不同方向向待测试电子产品发射环境干扰信号包括：控制器控制存储设备通过采集设备从不同方向向待测试电子产品发射环境干扰信号。
49.具体地，存储设备中存储有多种环境干扰信号，在待测试电子产品正常工作时，控制器可以控制存储设备通过采集设备从不同方向向待测试电子产品发射环境干扰信号。
50.s330、控制器根据监控过程中待测试电子产品的状态参数确定待测试电子产品的抗干扰性能。
51.s340、控制器记录不同方向的待测试电子产品在每一环境干扰信号下对应的待测试电子产品的抗干扰性能。
52.具体地，控制器可以记录不同方向的待测试电子产品在每一环境干扰信号下对应的待测试电子产品的状态参数，从而得到不同方向的待测试电子产品在每一环境干扰信号下对应的待测试电子产品的抗干扰性能，通过记录不同方向的待测试电子产品在每一环境干扰信号下对应的待测试电子产品的抗干扰性能，可以便于对待测试电子产品的性能进行进一步分析，为待测试电子产品的改进提供方向。
53.图4是本发明实施例提供的又一种电子产品测试方法的流程图，可选地，参见图4，电子产品测试方法包括：s410、采集设备采集待测试电子产品的至少一种应用场景的环境干扰信号。
54.s420、在待测试电子产品放置于测试室的载台上，且待测试电子产品进入正常工作状态后，控制器控制采集设备从不同方向向待测试电子产品发射环境干扰信号，并控制监控设备采集待测试电子产品的状态参数；其中，监控设备为测试室外的电子产品。
55.s430、控制器根据监控过程中待测试电子产品的通信参数确定待测试电子产品的抗干扰性能。
56.具体地，控制器可以通过监控设备获取待测试电子产品的通信参数，例如获取待测试电子产品的信号传输速率和丢包率，还可以包括吞吐量、误码率和信噪比等，控制器根据待测试电子产品的通信参数可以对待测试电子产品的抗干扰性能进行分析，从而确定待测试电子产品在实际应用场景下的抗干扰性能。
57.和/或，s440、控制器根据监控过程中待测试电子产品的电压参数或显示参数确定待测试电子产品的抗干扰性能。
58.具体地，控制器通过监控设备可以获取待测试电子产品的显示参数，控制器根据显示参数可以判断待测试电子产品是否出现显示屏闪屏或花屏，还可以判断闪屏或花屏的程度，就可以根据显示参数对待测试电子产品的抗干扰性能进行判断。控制器也可以获取待测试电子产品的电压信息，例如控制器通过示波器采集待测试电子产品的电压波形，控制器根据电压是否发生突变或电压发生突变的程度，可以对待测试电子产品的抗干扰性能进行判断，从而确定待测试电子产品在实际应用场景下的抗干扰性能。控制器还可以获取待测试电子产品的其他参数，从而确定待测试电子产品的抗干扰性能。
59.在上述技术方案的基础上，图5是本发明实施例提供的图4中s430包括的方法的流程图，可选地，参见图5，s430、控制器根据监控过程中待测试电子产品的通信参数确定待测试电子产品的抗干扰性能包括：s431、控制器控制监控设备获取待测试电子产品通信过程中的信号传输速率。
60.具体地，在待测试电子产品与辅助设备进行通信的过程中，控制器可以控制监控设备获取待测试电子产品的信号传输速率，根据待测试电子产品的信号传输速率可以对待测试电子产品的抗干扰性能进行分析，当待测试电子产品的信号传输速率较高时，表明待测试电子产品的抗干扰性能较好；当待测试电子产品的信号传输速率较低时，表明待测试电子产品容易受环境干扰信号的影响，抗干扰性能较差。
61.s432、控制器控制监控设备获取待测试电子产品通信后的丢包率。
62.具体地，在待测试电子产品与辅助设备进行通信的过程中，控制器可以控制器控
制监控设备获取待测试电子产品通信后的丢包率，根据丢包率可以对待测试电子产品的抗干扰性能进行分析，当待测试电子产品的丢包率较大时，表明待测试电子产品在通信中受到环境干扰信号的影响较大，待测试电子产品的抗干扰性能较差；当待测试电子产品的丢包率较小时，表明待测试电子产品在通信中受到环境干扰信号的影响较小，待测试电子产品的抗干扰性能较好。
63.s433、控制器根据信号传输速率和丢包率确定待测试电子产品的抗干扰性能。
64.具体地，当信号传输速率较大，且丢包率较小时，表明待测试电子产品的抗干扰性能较好；当信号输出速率较小，且丢包率较大时，表明无线待测试电子产品的抗干扰性能较差，因此，可以根据信号传输速率和丢包率确定待测试电子产品的抗干扰性能，结合信号传输速率和丢包率可以更准确的分析待测试电子产品的抗干扰性能。
65.在上述技术方案的基础上，可选地， s432、控制器控制监控设备获取待测试电子产品通信后的丢包率包括：步骤b1、控制器控制监控设备采集待测试电子产品接收到的第一信息。
66.具体地，当待测试电子产品为接收信息时，控制器控制监控设备采集待测试电子产品接收到的第一信息，由于辅助设备在干净环境中，辅助设备发送信息时不受干扰，所以根据辅助设备接收到的第一信息，可以测试待测试电子产品接收信息时的抗干扰性能。
67.步骤b2、控制器控制监控设备根据第一信息与第一预设信息确定待测试电子产品通信后的丢包率。
68.具体地，丢包率(packet loss rate)是指测试中所丢失数据包数量占所发送数据组的比率，第一预设信息即为辅助设备发送的数据组，监控设备将第一信息与第一预设信息进行做差，根据差值可以计算待测试电子产品在接收数据时的丢包率。
69.和/或，步骤b3、控制器控制监控设备采集辅助设备接收到的第二信息。
70.具体地，当待测试电子产品为发送信息时，辅助设备为接收信息，控制器就会控制监控设备采集辅助设备接收到的第二信息，由于辅助设备在干净环境中，辅助设备接收信息不受干扰，所以根据辅助设备接收到的第二信息，可以测试待测试电子产品发送信息时的抗干扰性能。
71.步骤b4、控制器控制监控设备根据第二信息与第二预设信息确定待测试电子产品通信后的丢包率。
72.具体地，第二预设信息为待测试电子产品发送的数据组，监控设备将第二信息与第二预设信息进行做差，根据差值可以计算待测试电子产品在发送数据时的丢包率，根据丢包率便于对待测试电子产品的抗干扰性能进行分析。
73.图6是本发明实施例提供的一种电子产品测试系统的结构示意图，参见图6，电子产品测试系统包括：采集设备610、测试室620、载台630、监控设备640、待测试电子产品650和控制器660；待测试电子产品650位于载台630上，载台630位于测试室620内，监控设备640为测试室620外的电子产品；采集设备610用于采集待测试电子产品650的至少一种应用场景的环境干扰信号；控制器660与采集设备610连接，控制器660与监控设备640连接，控制器660与待测试电子产品650连接，控制器660用于在待测试电子产品650进入正常工作状态后，控制采集设备610从不同方向向待测试电子产品650发射环境干扰信号，并控制监控设备640采集待测试电子产品650的状态参数；控制器660还用于根据监控过程中待测试电子
产品650的状态参数确定待测试电子产品650的抗干扰性能。
74.具体地，采集设备610在待测试电子产品650的应用场景采集应用场景的环境干扰信号，可以采集多种应用场景的环境干扰信号，便于测试待测试电子产品在不同应用场景的抗干扰性能，从而真实还原待测试电子产品在不同应用场景的抗干扰性能，有利于提高测试的准确性。采集设备610包括天线611，天线611位于测试室620内，且天线611与载台630的中心相对，采集设备610采集环境干扰信号后，启动待测试电子产品650，使得待测试电子产品650进入正常工作状态，控制器660控制采集设备610通过天线611从不同方向向待测试电子产品650发射环境干扰信号，模拟待测试电子产品650在实际应用场景工作的情况，可以对待测试电子产品进行多维度多方位的抗干扰测试，并且监控设备640可以实时监控待测试电子产品650，控制器660可以根据监控过程中待测试电子产品650的状态参数确定待测试电子产品650的抗干扰性能。
75.可选地，测试室620包括吸波暗室、屏蔽室或混响室。
76.具体地，测试室620为干净环境，测试室620例如为吸波暗室、屏蔽室或混响室，使得待测试电子产品650在工作时，不受其他信号的干扰，便于对待测试电子产品650进行测试。监控设备640为测试室外的电子产品。
77.图7是本发明实施例提供的又一种电子产品测试系统的结构示意图，可选地，参见图7，电子产品测试系统还包括功率放大器670；采集设备610与功率放大器670连接，采集设备610用于通过功率放大器670从不同方向向待测试电子产品650发射环境干扰信号。
78.具体地，采集设备610可以通过功率放大器670向待测试电子产品650发射环境干扰信号，可以通过功率放大器670对环境干扰信号的功率进行调节，便于还原真实应用场景的环境干扰信号，也可以分析不同功率的环境干扰信号下，待测试电子产品650的抗干扰性能。
79.注意，上述仅为本发明的较佳实施例及所运用技术原理。本领域技术人员会理解，本发明不限于这里所述的特定实施例，对本领域技术人员来说能够进行各种明显的变化、重新调整和替代而不会脱离本发明的保护范围。因此，虽然通过以上实施例对本发明进行了较为详细的说明，但是本发明不仅仅限于以上实施例，在不脱离本发明构思的情况下，还可以包括更多其他等效实施例，而本发明的范围由所附的权利要求范围决定。