包括裂纹电阻测量电路的显示驱动器的制作方法

1.本公开涉及包括裂纹电阻测量电路的显示驱动器及测量显示面板的裂纹的方法。


背景技术：

2.随着显示技术的发展，柔性显示器、透明显示面板等正在不断发展。柔性显示器是指可弯曲显示装置。
3.柔性显示器包括塑料膜而不是传统液晶显示器(lcd)和有机发光二极管(oled)中的围绕液晶的玻璃基板，因此柔性显示器具有可折叠或可展开的柔性。
4.柔性显示器不仅轻薄，而且耐冲击性强。此外，柔性显示器可以是可折叠和可弯曲的并且可以被制造成各种形状。具体而言，柔性显示器可以应用于传统的基于玻璃基板的显示器已经限制性地应用或者甚至尚未应用的工业领域。
5.然而，这种柔性显示器在弯曲时，可能存在出现裂纹的问题。


技术实现要素：

6.因此，本公开的目的在于提供包括裂纹电阻测量电路的显示驱动器以及测量显示面板的裂纹的方法，该裂纹电阻测量电路能够测量显示面板的电阻以检测由于显示面板中出现裂纹而导致的缺陷。
7.根据本公开的一个实施方式的包括裂纹电阻测量电路的显示驱动器包括连接至显示面板的裂纹电阻电路以测量裂纹电阻电路的裂纹电阻的裂纹电阻测量电路，其中裂纹电阻测量电路包括：参考电阻生成电路，其被配置为使用串联连接的至少两个电阻器和与至少两个电阻器相对应地连接的至少两个开关，来生成参考电阻；比较器，其被配置为将裂纹电阻的大小与参考电阻的大小进行比较，并输出电阻比较结果；以及电路控制器，其被配置为根据电阻比较结果输出用于控制至少两个开关的参考电阻控制信号。
附图说明
8.附图被包括以提供对本公开的进一步理解，并且被并入本技术中并构成本技术的一部分，附图示出了本公开的实施方式并与说明书一起用来说明本公开的原理。在附图中：
9.图1是根据本公开的一个实施方式的显示装置的框图；
10.图2是根据本公开的一个实施方式的数据驱动集成电路的框图；
11.图3是根据本公开的一个实施方式的裂纹电阻测量电路的框图；
12.图4是根据本公开的一个实施方式的参考电阻生成电路的电路图；
13.图5是根据本公开的一个实施方式的测量显示面板的裂纹的方法的流程图；以及
14.图6是例示了根据本公开的一个实施方式的测量裂纹电阻的方法的图。
具体实施方式
15.在说明书中，应注意，在其它附图中已经用于指代相似元件的相似附图标记尽可
能用于这些元件。在以下描述中，当本领域技术人员已知的功能和配置与本公开的基本配置无关时，将省略其详细描述。说明书中描述的术语应如下理解。
16.本公开的优点和特征及其实现方法将通过参照附图描述的以下实施方式而变得清楚。然而，本公开可按照不同的形式具体实现，而不应被解释为限于本文所阐述的实施方式。相反，提供这些实施方式是为了使得本公开将是彻底的和完整的，并且将向本领域技术人员充分传达本公开的范围。此外，本公开仅由权利要求书的范围限定。
17.在附图中所公开的用于描述本公开的实施方式的形状、尺寸、比例、角度和数量仅是示例，因此本公开不限于所示出的细节。相似的附图标记始终指代相似的元件。在以下描述中，当相关已知功能或配置的详细描述被确定为不必要地模糊本公开的要点时，将省略详细描述。
18.在使用本说明书中描述的“包含”、“具有”和“包括”的情况下，除非使用“仅～”，否则可以添加另一部件。除非提及相反情形，否则单数形式的术语可以包括复数形式。
19.在解释元件时，尽管没有显式描述，但是元件被解释为包括误差范围。
20.在描述时间关系时，例如，当时间顺序被描述为“在～之后”、“随后～”、“接下来～”和“在～之前”时，除非使用“正好”或“紧接”，否则可以包括不连续的情况。
21.将理解，尽管在本文中可以使用术语“第一”、“第二”等来描述各种元件，但这些元件不应受这些术语的限制。这些术语仅用于将一个元件与另一个区分开。例如，在不脱离本公开的范围的情况下，第一元件可以被称为第二元件，并且类似地，第二元件可以被称为第一元件。
22.术语“至少一个”应理解为包括一个或更多个相关所列项目的任何组合和所有组合。例如，“第一项、第二项和第三项中的至少一项”的含义表示从第一项、第二项和第三项中的两个或更多个项提出的所有项的组合、以及第一项、第二项或第三项。
23.如本领域技术人员能够充分理解的，本公开的各种实施方式的特征可以部分地或全部地彼此联接或组合，并且可以在技术上彼此进行各种互操作和驱动。本公开的实施方式可以彼此独立地实施，或者可以以相互依从关系一起实施。
24.在下文中，将参照图1和图2详细描述根据本公开的显示装置。
25.图1是根据本公开的一个实施方式的显示装置的框图，并且图2是例示了根据本公开的一个实施方式的显示面板与裂纹电阻测量电路之间的连接关系的图。
26.参照图1，根据本公开的一个实施方式的显示装置1000包括显示面板100和显示驱动器200。
27.显示装置1000可以包括柔性显示面板并且可以包括一个或更多个薄膜晶体管(tft)和有机发光二极管(oled)，但是本公开不限于此。除了oled显示器之外，显示装置1000还可以被实现为诸如液晶显示器、场发射显示器、电致发光显示器或电泳显示器之类的另一显示器。
28.显示面板100包括多条选通线g1至gm、多条数据线d1至dn以及多个像素p。
29.多条选通线g1至gm中的每一条在显示时段(dp)期间接收扫描脉冲。多条数据线d1至dn中的每一条在dp期间接收数据信号。多条选通线g1至gm和多条数据线d1至dn被定位为在基板上彼此交叉以限定多个像素区。多个像素p中的每一个可以包括连接到相邻选通线和相邻数据线的tft(未示出)、连接至tft的像素电极(未示出)以及连接至像素电极的存储
电容器(未示出)。
30.根据本公开的一个实施方式，显示面板100可以包括裂纹电阻电路。如图2所示，裂纹电阻电路包括第一焊盘部111、裂纹电阻rpanel、裂纹电阻线112和第二焊盘部113。
31.第一焊盘部111从电源接收第一电压vdd。第一焊盘部111可以位于显示面板100的一端。
32.裂纹电阻rpanel的大小由将在下面描述的裂纹电阻测量电路520测量。
33.裂纹电阻线112可以沿着显示面板100的边缘设置。具体地，根据本公开的一个实施方式，显示面板100具有在第一方向d1和第二方向d2上延伸的矩形形状并且具有在第一方向d1和第二方向d2上延伸的四个边缘。裂纹电阻线112可以沿着显示面板100的在第一方向d1上延伸的一个边缘和显示面板100的在第二方向d2上延伸的一个边缘中的至少一个定位。因此，通过测量裂纹电阻电路的裂纹电阻rpanel的大小，可以测量显示面板100中在第一方向d1和第二方向d2上是否出现裂纹。
34.第二焊盘部113连接至数据驱动器500的裂纹电阻测量电路520。第二焊盘部113可以位于显示面板100的另一端。虽然第一焊盘部111和第二焊盘部113在图2中被例示为位于不同的角部处，但本公开不限于此，第一焊盘部111和第二焊盘部113可以位于显示面板100的一个角部处。
35.显示驱动器200允许向显示面板100中包括的多个像素p提供数据信号，从而允许通过显示面板100显示图像。
36.显示驱动器200包括定时控制器300、选通驱动器400和数据驱动器500。
37.定时控制器300从外部系统(未示出)接收包括垂直同步信号vsync、水平同步信号hsync、数据使能(de)信号和时钟信号clk的各种定时信号，并生成用于控制选通驱动器400的选通控制信号(gcs)和用于控制数据驱动器500的数据控制信号(dcs)。此外，定时控制器300从外部系统接收图像信号rgb并将接收的图像信号rgb转换成数据驱动器500可处理的形式的图像信号rgb
′
以输出图像信号rgb
′
。
38.主机系统将数字图像数据转换为适合于在显示面板100上显示的格式的数据。主机系统将定时信号与数字图像数据一起发送给定时控制器300。主机系统被实现为电视系统、机顶盒、导航系统、数字多功能光盘(dvd)播放器、蓝光播放器、个人计算机(pc)、家庭影院系统和电话系统中的任何一种以接收输入图像。
39.选通驱动器400从定时控制器300接收gcs。gcs可以包括选通起始脉冲(gsp)、选通移位时钟(gsc)、选通输出使能信号等。选通驱动器400通过接收到的gcs生成与数据信号同步的选通脉冲(扫描脉冲)，并使所生成的选通脉冲移位以将选通脉冲依次提供到选通线g1至gm。为此，选通驱动器400可以包括多个选通驱动集成电路(ic)(未示出)。选通驱动ic在定时控制器300的控制下向选通线g1至gm依次提供与数据信号同步的选通脉冲，以选择被施加数据信号的数据线。选通脉冲在选通高电压和选通低电压之间摆动。
40.根据本公开的一个实施方式，如图2所示，数据驱动器500包括数据信号生成电路510和裂纹电阻测量电路520。
41.数据信号生成电路510从定时控制器300接收dcs和图像信号rgb
′
。dcs可以包括源起始脉冲(ssp)、源采样时钟(ssc)和源输出使能(soe)信号。ssp控制构成数据驱动器500的n个源驱动ic(未示出)的数据采样起始定时。ssc是控制每个源驱动ic中的数据采样定时的
时钟信号。soe信号控制每个源驱动ic的输出定时。
42.另外，数据信号生成电路510将接收到的图像信号rgb
′
转换为模拟数据信号，并通过多条数据线d1至dn将模拟数据信号提供给像素p。
43.裂纹电阻测量电路520通过第二焊盘部113连接至显示面板100的裂纹电阻电路，以测量裂纹电阻电路的裂纹电阻rpanel。裂纹电阻测量电路520可以测量裂纹电阻电路的裂纹电阻rpanel，以确定在显示面板100中是否已经出现裂纹。
44.下面将参照图3和图4详细描述根据本公开的一个实施方式的裂纹电阻测量电路520。
45.在下文中，将参照图3和图4详细描述根据本公开的一个实施方式的裂纹电阻测量电路。图3是根据本公开的一个实施方式的裂纹电阻测量电路的框图，并且图4是根据本公开的一个实施方式的参考电阻生成电路的电路图。
46.裂纹电阻测量电路520测量被测电阻的大小。具体地，如上所述，裂纹电阻测量电路520连接到显示面板100的裂纹电阻电路，以测量裂纹电阻电路的裂纹电阻rpanel的大小。根据本公开的一个实施方式，可以使用通过裂纹电阻测量电路520测量的裂纹电阻rpanel的大小来确定在显示面板100中是否出现由于裂纹引起的缺陷。
47.参照图3，裂纹电阻测量电路520包括参考电阻生成电路521、比较器522和电路控制器523。
48.参考电阻生成电路521生成将与测量的电阻进行比较的参考电阻rref。具体而言，参考电阻生成电路521生成用于与待测量的裂纹电阻rpanel进行比较的参考电阻rref。
49.参照图4，参考电阻生成电路521可以包括多个电阻器并且可以通过根据来自下面将描述的电路控制器523的信号组合多个电阻器来生成参考电阻rref。具体地，参考电阻生成电路521包括第一电阻器r1至第n电阻器rn以及与各个电阻器相对应的第一开关sw1至第n开关swn。
50.第一电阻器r1至第n电阻器rn串联连接在输入节点node1与输出节点node2之间，并且第一开关sw1至第n开关swn位于输入节点node1与输出节点node2之间以与相应的电阻器并联。因此，可以根据在第一开关sw1至第n开关swn的控制下连接的电阻器生成参考电阻rref。也就是说，第一开关sw1至第n开关swn中的每一个通过从电路控制器523接收的参考电阻控制信号rcs而接通或断开，从而控制由参考电阻生成电路521生成的参考电阻ref的大小。
51.第一电阻器r1至第n电阻器rn可以是具有相同电阻的电阻器。第一电阻器r1至第n电阻器rn中的每一个的电阻可以与由参考电阻生成电路521生成的参考电阻rref的分辨率(resolution)相同。另外，由参考电阻生成电路521生成的参考电阻rref可以是具有在0到第一电阻器r1至第n电阻器rn中的每一个的电阻值与电阻器的总数(n)的乘积的预期裂纹电阻范围内的值的电阻。例如，第一电阻器r1至第n电阻器rn中的每一个可以具有1kω的电阻，因此，参考电阻生成电路521可以具有1kω的分辨率，并且参考电阻rref可以处于0ω至n
×
1kω的预期裂纹电阻范围中。在这种情况下，预期裂纹电阻范围表示预期包括裂纹电阻rpanel的值的范围。根据本公开的一个实施方式，可以根据时钟信号将预期裂纹电阻范围减小一半。
52.根据本公开，能够通过提高裂纹电阻测量电路的分辨率来更准确地测量裂纹电
阻。
53.比较器522将测量到的电阻与参考电阻生成电路521的参考电阻rref进行比较。具体地，根据本公开的一个实施方式，比较器522将显示面板100的裂纹电阻rpanel与参考电阻生成电路521的参考电阻rref进行比较，并输出电阻比较结果。
54.根据本公开的一个实施方式，比较器522根据从定时控制器300输出的时钟信号clk将显示面板100的裂纹电阻rpanel与参考电阻生成电路521的参考电阻rref进行比较。
55.电路控制器523向参考电阻生成电路521提供用于控制参考电阻rref的大小的信号。具体地，为了根据比较器522的比较结果控制参考电阻rref的大小，电路控制器523提供用于控制参考电阻生成电路521的开关sw1至swn的参考电阻控制信号rcs。具体地，根据比较器522的比较结果，电路控制器523通过改变预期裂纹电阻范围的最大值或最小值来改变预期裂纹电阻范围。计算改变后的预期裂纹电阻范围的中值，并且将参考电阻控制信号rcs提供给参考电阻生成电路521，以使得参考电阻rref具有计算出的预期裂纹电阻范围的中值。
56.在下文中，将参照图5和图6详细描述根据本公开的一个实施方式的确定显示面板中是否出现裂纹的方法。图5是根据本公开的一个实施方式的测量显示面板的裂纹的方法的流程图，并且图6是例示了根据本公开的一个实施方式的测量裂纹电阻的方法的图。
57.根据本公开的一个实施方式，电路控制器523从比较器522接收参考电阻生成电路521生成的参考电阻rref与显示面板100的裂纹电阻rpanel之间的比较结果。根据本公开的一个实施方式的电路控制器523通过根据从比较器522接收到的比较结果输出用于调整参考电阻rref的大小的参考电阻控制信号rcs，来控制参考电阻rref的大小。此后，重复这样的处理，直到参考电阻生成电路521的参考电阻rref具有与面板裂纹测量电路的电阻rpanel相同的值，从而控制参考电阻生成电路521的参考电阻rref的大小以测量面板裂纹测量电路的电阻rpanel的大小。
58.首先，将裂纹电阻rpanel与参考电阻rref进行比较(s511)。根据本公开的一个实施方式，根据从定时控制器300输出的时钟信号clk，将裂纹电阻rpanel与参考电阻rref进行比较。
59.当裂纹电阻rpanel大于参考电阻rref时，确定参考电阻rref是否具有与最大参考电阻rref_max相同的值(s512)。
60.当裂纹电阻rpanel大于参考电阻rref且当参考电阻rref具有与最大参考电阻rref_max相同的值时，电路控制器523确定在显示面板100中已经出现裂纹(s513)。具体地，当裂纹电阻rpanel大于参考电阻rref并且当参考电阻rref具有与最大参考电阻rref_max相同的值时，电路控制器523确定裂纹电阻电路由于裂纹而开路。
61.当裂纹电阻rpanel大于参考电阻rref且当参考电阻rref具有与最大参考电阻rref_max不同的值时，电路控制器523将预期裂纹电阻范围的最小值改变为参考电阻rref(s514)。具体地，当裂纹电阻rpanel大于参考电阻rref且当参考电阻rref具有与最大参考电阻rref_max不同的值时，电路控制器523将预期裂纹电阻范围的最小值改变为参考电阻rref，使得预期裂纹电阻范围也改变。
62.此后，电路控制器523输出用于将参考电阻rref控制为改变后的预期裂纹电阻范围的中值的参考电阻控制信号rcs(s521)。具体地，电路控制器523计算改变后的预期裂纹电阻范围的中值，并向参考电阻生成电路521输出用于将参考电阻rref控制为计算出的预
期裂纹电阻范围的中值的参考电阻控制信号rcs。
63.接下来，参考电阻生成电路521改变参考电阻rref的值(s522)。具体地，参考电阻生成电路521根据接收到的参考电阻控制信号rcs控制第一开关sw1至第n开关swn，以改变参考电阻rref的值。
64.另一方面，当裂纹电阻rpanel小于参考电阻rref时，电路控制器523将预期裂纹电阻范围的最大值改变为参考电阻rref(s515)。具体地，当裂纹电阻rpanel小于参考电阻rref时，电路控制器523将预期裂纹电阻范围的最大值改变为参考电阻rref，使得预期裂纹电阻范围也改变。
65.此后，电路控制器523输出用于将参考电阻rref控制为改变后的预期裂纹电阻范围的中值的参考电阻控制信号rcs(s521)。具体地，电路控制器523计算改变后的预期裂纹电阻范围的中值，并且向参考电阻生成电路521输出用于将参考电阻rref控制为计算出的预期裂纹电阻范围的中值的参考电阻控制信号rcs。
66.接下来，参考电阻生成电路521改变参考电阻rref的值(s522)。具体地，参考电阻生成电路521根据接收到的参考电阻控制信号rcs控制第一开关sw1至第n开关swn以改变参考电阻rref的值。
67.根据本公开的一个实施方式，重复操作s511至s522，直到裂纹电阻rpanel具有与参考电阻rref相同的大小。
68.当裂纹电阻rpanel具有与参考电阻rref相同的值时，裂纹电阻rpanel的测量完成(s531)。
69.[表1]
[0070][0071]
如表1和图6所示，将描述当裂纹电阻rpanel为27.5kω时电阻测量过程的示例。当第一时钟信号clk的上升沿出现时，电路控制器523将第一参考电阻1
st rref控制为参考电阻rref的最大值rref_max。因此，比较器522将裂纹电阻rpanel与具有最大值rref_max的第一参考电阻1
st rref进行比较。也就是说，参考电阻生成电路521的第一参考电阻1
st rref具有最大值32kω，并且将裂纹电阻rpanel与具有32kω的最大值rref_max的第一参考电阻1
st rref进行比较。在这种情况下，电路控制器523接收其中裂纹电阻rpanel小于第一参考电阻1
st rref的比较结果。因此，电路控制器523将预期裂纹电阻范围的最大值改变为第一参考电阻1
st rref，计算预期裂纹电阻范围的中值，并输出用于将参考电阻生成电路521的第二参考电阻2
nd rref控制为预期裂纹电阻范围的中值的信号。也就是说，电路控制器523接收其中裂纹电阻rpanel小于32kω的第一参考电阻1
st rref的比较结果，并将当前的32kω的第一参考电阻1
st rref存储为预期裂纹电阻范围的最大值。另外，电路控制器523计算
预期裂纹电阻范围的中值(16kω)并输出参考电阻控制信号rcs，使得参考电阻生成电路521的第二参考电阻2
nd rref具有预期裂纹电阻范围(0kω至32kω)的中值(16kω)。
[0072]
接下来，当第二时钟信号的上升沿出现时，将裂纹电阻rpanel与参考电阻生成电路521的第二参考电阻2
nd rref进行比较。也就说说，将裂纹电阻rpanel与参考电阻生成电路521的16kω的第二参考电阻2
nd rref进行比较。在这种情况下，电路控制器523接收其中裂纹电阻rpanel大于第二参考电阻2
nd rref的比较结果。因此，电路控制器523将预期裂纹电阻范围的最小值改变为第二参考电阻2
nd rref，计算预期裂纹电阻范围的中值(24kω)，并输出参考电阻控制信号rcs，使得参考电阻生成电路521的第三参考电阻3
rd rref具有预期裂纹电阻范围(16kω至32kω)的中值(24kω)。
[0073]
接下来，当第三时钟信号的上升沿出现时，将裂纹电阻rpanel与参考电阻生成电路521的第三参考电阻3
rd rref进行比较。也就是说，将裂纹电阻rpanel与参考电阻生成电路521的24kω的第三参考电阻3
rd rref进行比较。在这种情况下，电路控制器523接收其中裂纹电阻rpanel大于第三参考电阻3
rd rref的比较结果。因此，电路控制器523将预期裂纹电阻范围的最小值改变为第三参考电阻3
rd rref，计算预期裂纹电阻范围的中值(28kω)，并输出参考电阻控制信号rcs，使得参考电阻生成电路521的第四参考电阻4
th rref具有预期裂纹电阻范围(24kω至32kω)的中值(28kω)。
[0074]
接下来，当第四时钟信号的上升沿出现时，将裂纹电阻rpanel与参考电阻生成电路521的第四参考电阻4
th rref进行比较。也就是说，将裂纹电阻rpanel与参考电阻生成电路521的28kω的第四参考电阻4
th rref进行比较。在这种情况下，电路控制器523接收其中裂纹电阻rpanel小于第四参考电阻4
th rref的比较结果。因此，电路控制器523将预期裂纹电阻范围的最大值改变为第四参考电阻4
th rref，计算预期裂纹电阻范围的中值(26kω)，并输出参考电阻控制信号rcs，使得参考电阻生成电路521的第五参考电阻5
th rref具有预期裂纹电阻范围(24kω至28kω)的中值(26kω)。
[0075]
接下来，当第五时钟信号的上升沿出现时，将裂纹电阻rpanel与参考电阻生成电路521的第五参考电阻5
th rref进行比较。也就是说，将裂纹电阻rpanel与参考电阻生成电路521的26kω的第五参考电阻5
th rref进行比较。在这种情况下，电路控制器523接收其中裂纹电阻rpanel大于第五参考电阻5
th rref的比较结果。因此，电路控制器523将预期裂纹电阻范围的最小值改变为第五参考电阻5
th rref，计算预期裂纹电阻范围的中值，并输出参考电阻控制信号rcs，使得参考电阻生成电路521的第六参考电阻6
th rref具有预期裂纹电阻范围(26kω至28kω)的中值(27kω)。
[0076]
接下来，虽然未示出，但是当第六时钟信号的上升沿出现时，将裂纹电阻rpanel与参考电阻生成电路521的第六参考电阻6
th rref进行比较。也就是说，将裂纹电阻rpanel与参考电阻生成电路521的27kω的第六参考电阻6
th rref进行比较。在这种情况下，电路控制器523接收其中裂纹电阻rpanel大于第六参考电阻6
th rref的比较结果。然而，27.5kω的裂纹电阻rpanel比27kω的第六参考电阻6
th rref大0.5kω，但参考电阻生成电路521的分辨率为1kω，并且预期裂纹电阻范围的值与参考电阻生成电路521的分辨率相同。因此，电路控制器523可以确定裂纹电阻rpanel和第六参考电阻6
th rref具有相同的值。
[0077]
虽然未示出，但是根据本公开，可以通过这样的过程测量裂纹电阻rpanel的值，并且能够使用裂纹电阻rpanel的测量值来确定由于显示面板中出现裂纹而导致的缺陷程度。
[0078]
根据本公开的一个实施方式，对于每个时钟信号，预期裂纹电阻范围减小一半，因此，根据式1计算测量裂纹电阻rpanel所需的最大时间t
detect
。
[0079]
[式1]
[0080][0081]
在这种情况下，range表示预期裂纹电阻范围的最大值，resolution表示参考电阻生成电路521的分辨率，t
clk
表示从定时控制器300输出的时钟信号的周期。
[0082]
根据本公开，由于根据时钟信号测量裂纹电阻，因此可以快速测量裂纹电阻。
[0083]
依据根据本公开的包括裂纹电阻测量电路的显示装置及测量显示面板的裂纹的方法，能够测量显示面板的裂纹电阻，从而通过测量到的裂纹电阻的值来确定由于裂纹导致的显示面板的缺陷。
[0084]
另外，依据根据本公开的包括裂纹电阻测量电路的显示装置及测量显示面板的裂纹的方法，能够提高裂纹电阻测量电路的分辨率，从而更准确地测量裂纹电阻。
[0085]
此外，依据根据本公开的包括裂纹电阻测量电路的显示装置及测量显示面板的裂纹的方法，由于根据时钟信号来测量裂纹电阻，因此可以快速地测量裂纹电阻。
[0086]
对于本领域技术人员而言显而易见的是，在不脱离本公开的精神和范围的情况下，可以做出各种改变和修改。
[0087]
另外，本文描述的方法的至少一部分可以使用一个或更多个计算机程序或组件来实现。这些组件可以通过包括易失性存储器和非易失性存储器的计算机可读介质或机器可读介质而提供为一系列计算机指令。指令可以提供为软件或固件，并且可以在诸如以下的硬件构造中完全或部分地实现：专用集成电路(asic)、现场可编程门阵列(fpga)、数字信号处理器(dsp)或其它类似装置。指令可以被配置为由一个或更多个处理器或其它硬件组件来执行，并且当一个或更多个处理器或其它硬件组件执行一系列计算机指令时，一个或更多个处理器或其它硬件组件可以完全或部分地执行本文所公开的方法和过程。
[0088]
因此，上述实施方式应被理解为示例性的而非限制性的。本公开的范围将由所附权利要求而不是以上详细描述来界定，并且从权利要求及其等同物的含义和范围得出的所有变型和修改应理解为包括在本公开的范围内。
[0089]
相关申请的交叉引用
[0090]
本技术要求于2021年1月5日提交的韩国专利申请no.10-2021-0000754的优先权，其通过引用并入本文中，如同在此完整阐述一样。