显示面板的缺陷检测装置的制作方法

1.本公开涉及显示面板的缺陷检测技术领域，具体地，涉及一种显示面板的缺陷检测装置。


背景技术：

2.随着显示产品分辨率的提高，显示面板在制造过程中，对缺陷检测和修复的需求越来越大。因此，对工艺过程中的微观缺陷的检测、分析和修复可以有效提高产品的良品率。
3.相关技术中，一般采用取像装置对显示面板的各个位置进行取像，取像装置需要进行对焦，由于显示面板的各个位置的平整度有差异，而目前的取像装置高度固定，因此，取像装置在对显示面板的各个位置进行取像时无法实现快速对焦。


技术实现要素：

4.本公开的目的是提供一种显示面板的缺陷检测装置，该缺陷检测装置能够实现对显示面板各个位置取像时的快速对焦。
5.为了实现上述目的，本公开提供一种显示面板的缺陷检测装置，所述缺陷检测装置包括基体、取像机构、平移机构以及高度补偿机构，所述基体用于承载显示面板，所述取像机构位于所述基体的上方并用于采集显示面板的图像，所述平移机构设置于所述基体并包括横向平移结构和纵向平移结构，所述横向平移结构能够带动所述纵向平移结构沿横向移动，所述纵向平移结构能够带动所述高度补偿机构沿纵向移动，所述取像机构设置于所述高度补偿机构，该高度补偿机构能够带动所述取像机构上下移动。
6.可选地，所述高度补偿机构能够带动所述取像机构沿竖直方向上下移动。
7.可选地，所述高度补偿机构包括连接板和设置于所述连接板上的补偿滑轨，所述纵向平移结构能够带动所述连接板沿纵向移动，所述补偿滑轨沿上下方向延伸，所述取像机构滑动连接于所述补偿滑轨。
8.可选地，所述补偿滑轨的数量至少为两个，至少两个补偿滑轨相互平行设置，所述取像机构具有与每个所述补偿滑轨滑动连接的配合部。
9.可选地，所述缺陷检测装置包括放置在所述基体上的承载台，所述承载台具有用于承载显示面板的承载平面。
10.可选地，所述承载台由石质材料构成。
11.可选地，所述横向平移结构包括设置于所述基体的沿横向延伸的第一滑轨，所述纵向平移结构滑动连接于所述第一滑轨。
12.可选地，所述第一滑轨的数量为两个并分别布置在承载台的纵向两侧，所述纵向平移结构包括纵跨在两个第一滑轨上的门式支架，所述门式支架具有与每个所述第一滑轨滑动配合的第一滑动部。
13.可选地，所述纵向平移结构包括设置于所述门式支架上的沿纵向延伸的第二滑
轨，所述高度补偿机构包括滑动连接于所述第二滑轨的连接板，所述取像机构用于沿上下方向可滑动地连接于所述连接板。
14.可选地，所述纵向平移结构包括至少两条相互平行的第二滑轨，所述连接板具有与每个所述第二滑轨滑动配合的第二配合部。
15.通过上述技术方案，在本公开提供的显示面板的缺陷检测装置中，在对显示面板进行缺陷检测时，需要取像机构对显示面板的各个位置进行拍照取像，这里，通过横向平移结构带动纵向平移结构横向平移，并且通过纵向平移结构带动高度补偿机构纵向平移，从而可以实现取像机构到达平面的任意位置，即可以到达显示面板的各个位置的上方，由于显示面板的平整度或者基体的平整度可能不高，因此可能导致取像机构在平面移动时改变自身与显示面板的垂向间距，导致自身无法对焦，本公开通过高度补偿机构带动取像机构上下移动，可以灵活调整取像机构的高度位置，从而可以灵活调整取像机构与显示面板上待取像位置的垂向间距，进而实现取像机构的快速对焦，实现取像机构对显示面板的各个位置的有效取像。
16.本公开的其他特征和优点将在随后的具体实施方式部分予以详细说明。
附图说明
17.附图是用来提供对本公开的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与下面的具体实施方式一起用于解释本公开，但并不构成对本公开的限制。在附图中：
18.图1是根据本公开实施例提供的显示面板的缺陷检测装置的结构示意图；
19.图2是根据本公开实施例提供的显示面板的缺陷检测装置的部分结构示意图。
20.附图标记说明
21.1-基体，2-取像机构，31-横向平移结构，311-第一滑轨，32-纵向平移结构，321-门式支架，322-第二滑轨，4-高度补偿机构，41-连接板，42-补偿滑轨，5-承载台，51-承载平面，100-显示面板。
具体实施方式
22.以下结合附图对本公开的具体实施方式进行详细说明。应当理解的是，此处所描述的具体实施方式仅用于说明和解释本公开，并不用于限制本公开。
23.在本公开中，在未作相反说明的情况下，使用的方位词如“横向、纵向以及上下方向”是基于图1中的xyz坐标系定义的，具体地，横向可以参考图1中的x方向，纵向可以参考图1中的y方向，上下方向可以参考图1中的z方向。使用的术语“第一、第二”是为了区分一个要素和另一个要素，不具有顺序性和重要性。此外，下面的描述在涉及附图时，不同附图中的相同附图标记表示相同或相似的元素，本公开在此不作赘述。
24.根据本公开的具体实施方式，提供一种显示面板的缺陷检测装置，图1和图2示出了其一种实施例，参考图1中所示，所述缺陷检测装置包括基体1、取像机构2、平移机构以及高度补偿机构4，所述基体1用于承载显示面板100，所述取像机构2位于所述基体1的上方并用于采集显示面板100的图像，所述平移机构设置于所述基体1并包括横向平移结构31和纵向平移结构32，所述横向平移结构31能够带动所述纵向平移结构32沿横向移动，所述纵向平移结构32能够带动所述高度补偿机构4沿纵向移动，所述取像机构2设置于所述高度补偿
机构4，该高度补偿机构4能够带动所述取像机构2上下移动。
25.通过上述技术方案，在本公开提供的显示面板的缺陷检测装置中，在对显示面板100进行缺陷检测时，需要取像机构对显示面板100的各个位置进行拍照取像，这里，通过横向平移结构31带动纵向平移结构32横向平移，并且通过纵向平移结构32带动高度补偿机构4纵向平移，从而可以实现取像机构2到达平面的任意位置，即可以到达显示面板100的各个位置的上方，由于显示面板100的平整度或者基体1的平整度可能不高，因此可能导致取像机构2在平面移动时改变自身与显示面板100的垂向间距，导致自身无法对焦，本公开通过高度补偿机构4带动取像机构2上下移动，可以灵活调整取像机构2的高度位置，从而可以灵活调整取像机构2与显示面板100上待取像位置的垂向间距，进而实现取像机构2的快速对焦，实现取像机构2对显示面板100的各个位置的有效取像。
26.需要说明的是，上述的垂向间距指的是在垂直于取像机构2和显示面板100二者的方向上的间距。
27.在本公开的具体实施方式中，参考图1和图2中所示，所述高度补偿机构4能够带动所述取像机构2沿竖直方向上下移动。这样，高度补偿机构4能够快速地调整取像机构2的高度位置，进而快速调整取像机构2与显示面板100的垂向间距。这里，竖直方向即为垂直于横向和纵向的方向。当然，本公开的高度补偿机构4也可以带动取像机构2沿与横向和纵向均交叉的其他上下方向移动，本公开对此不作限制。
28.在本公开的具体实施方式中，参考图1和图2中所示，所述高度补偿机构4包括连接板41和设置于所述连接板41上的补偿滑轨42，所述纵向平移结构32能够带动所述连接板41沿纵向移动，所述补偿滑轨42沿上下方向延伸，所述取像机构2滑动连接于所述补偿滑轨42。这样，通过取像机构2沿补偿滑轨42的上下移动即可以实现自身的上下移动，这里的补偿滑轨42还能够为取像机构2起到导向的作用。这里，本公开的高度补偿机构4还可以包括驱动结构(图中未示出)，驱动结构可以驱动取像机构2沿补偿滑轨42滑动，这里，驱动结构的具体形式可以有多种，例如，可以为直线电机，以直接驱动取像机构2沿补偿滑轨42滑动，也可以为驱动电机通过丝杠螺母、齿轮齿条带动取像机构2沿补偿滑轨42滑动，这些驱动方式均为机械领域中常用的直线驱动方向，本公开对此不作赘述。
29.在本公开的一些实施方式中，参考图2中所示，所述补偿滑轨42的数量至少为两个，至少两个补偿滑轨42相互平行设置，所述取像机构2具有与每个所述补偿滑轨42滑动连接的配合部。这样，能够提高取像机构2在上下方向移动时的稳定性，便于取像机构2的对焦。
30.在本公开的具体实施方式中，参考图1中所示，所述缺陷检测装置包括放置在所述基体1上的承载台5，所述承载台5具有用于承载显示面板100的承载平面51。这样，通过承载台5的承载平面51去承载显示面板100，能够提高显示面板100在放置时的平面度，利于减少基体1对显示面板100的平面度的影响，进而取像机构2的高度在微调时或者不调也可以实现与显示面板100的对焦，利于对显示面板100快速进行取像。
31.在本公开的一些实施方中，所述承载台5由石质材料构成。这样，一方面能够保证承载台5的强度，另一方面便于承载台5的加工，同时大理石使得自身稳定性好，不易发生形变。
32.在本公开的具体实施方式中，参考图1中所示，所述横向平移结构31可以包括设置
于所述基体1的沿横向延伸的第一滑轨311，所述纵向平移结构32滑动连接于所述第一滑轨311。这样，通过纵向平移结构32与第一滑轨311的配合即可以引导纵向平移结构32沿纵向移动，这里，横向平移结构31的动力结构与上述的驱动结构类似，本公开在此不作赘述。
33.在本公开的一些实施方式中，参考图1中所示，所述第一滑轨311的数量为两个并分别布置在承载台5的纵向两侧，所述纵向平移结构32包括纵跨在两个第一滑轨311上的门式支架321，所述门式支架321具有与每个所述第一滑轨311滑动配合的第一滑动部。这样，通过门式支架321与每个第一滑轨311的配合，能够有效提高纵向平移结构32在横向时移动的稳定性。
34.在本公开的一些实施例中，参考图1和图2中所示，所述纵向平移结构32可以包括设置于所述门式支架321上的沿纵向延伸的第二滑轨322，所述高度补偿机构4包括滑动连接于所述第二滑轨322的连接板41，所述取像机构2用于沿上下方向可滑动地连接于所述连接板41。这样，通过连接板41与第二滑轨322的配合，可以实现自身的纵向移动，进而带动取像机构2纵向移动，结构简单且易于实现。这里，驱动连接板41纵向移动的驱动机构与上述的驱动结构类似，本公开在此不作赘述。
35.可选择地，参考图2中所示，所述纵向平移结构32可以包括至少两条相互平行的第二滑轨322，所述连接板41具有与每个所述第二滑轨322滑动配合的第二配合部。这样，可以有效提高连接板41在纵向移动时的稳定性，利于取像机构2对显示面板的取像。
36.下面，本公开将结合上述实施方式详细介绍显示面板的具体取像过程，首先，可以在横向上和纵向上将承载台5划分若干个方块形的小区域，并对这些区域进行编号或划分，将取像机构2移动至每一个区域的上方，测量取像机构2的物镜与承载平面51的垂向间距并记录，以某个区域的垂向间距为基准间距，其他区域的垂向间距与该基准间距的差为补偿值，例如负值为需要向上移动，正值为需要向下移动，之后，需要对待取像区域进行取像时，平移机构将取像机构2移动至待取像区域的上方，在这一过程中，或者到达待取像区域后，高度补偿机构4可以根据补偿值对取像机构2进行快速移动，进而实现对待取像区域的快速取像。
37.以上结合附图详细描述了本公开的优选实施方式，但是，本公开并不限于上述实施方式中的具体细节，在本公开的技术构思范围内，可以对本公开的技术方案进行多种简单变型，这些简单变型均属于本公开的保护范围。
38.另外需要说明的是，在上述具体实施方式中所描述的各个具体技术特征，在不矛盾的情况下，可以通过任何合适的方式进行组合，为了避免不必要的重复，本公开对各种可能的组合方式不再另行说明。
39.此外，本公开的各种不同的实施方式之间也可以进行任意组合，只要其不违背本公开的思想，其同样应当视为本公开所公开的内容。