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一种上盖平整度检测机构的制作方法

2022-07-09 16:49:28 来源:中国专利 TAG:

技术特征:
1.一种上盖平整度检测机构,其特征在于,包括载盘,所述载盘上设置有多个定位工装,所述定位工装用于对装有上盖的产品进行定位,所述载盘的上方设置有高度传感器,所述高度传感器用于获取上盖的多点位置的高度数据,所述高度传感器安装在x轴伺服驱动机构上,所述x轴伺服驱动机构安装在y轴伺服驱动机构上,且x轴伺服驱动机构的移动方向与载盘的长度方向垂直,y轴伺服驱动机构的移动方向与载盘的长度方向平行。2.根据权利要求1所述的上盖平整度检测机构,其特征在于,所述定位工装包括两个间隔设置的定位块,每个定位块上设置有弧形槽。3.根据权利要求1所述的上盖平整度检测机构,其特征在于,所述多个定位工装沿载盘的长度方向依次间隔设置。4.根据权利要求1所述的上盖平整度检测机构,其特征在于,所述x轴伺服驱动机构包括x轴伺服电机、x轴丝杠组件以及第一安装架,所述高度传感器安装在所述第一安装架上,所述第一安装架与x轴丝杠组件相连,所述x轴丝杠组件与所述x轴伺服电机相连。5.根据权利要求1至4中任意一项所述的上盖平整度检测机构,其特征在于,所述y轴伺服驱动机构包括y轴伺服电机以及y轴丝杠组件,所述y轴伺服电机与所述y轴丝杠组件相连,所述y轴丝杠组件上设置有第二安装架,所述第二安装架上设置有所述x轴伺服驱动机构。

技术总结
本实用新型涉及一种上盖平整度检测机构,该机构包括载盘,所述载盘上设置有多个定位工装,所述定位工装用于对装有上盖的产品进行定位,所述载盘的上方设置有高度传感器。所述高度传感器用于获取上盖的多点位置的高度数据,所述高度传感器安装在X轴伺服驱动机构上。所述X轴伺服驱动机构安装在Y轴伺服驱动机构上,且X轴伺服驱动机构的移动方向与载盘的长度方向垂直,Y轴伺服驱动机构的移动方向与载盘的长度方向平行。该机构结构简单,且检测效率较高。高。高。


技术研发人员:李东旭
受保护的技术使用者:苏州西尔维特智能科技有限公司
技术研发日:2021.11.09
技术公布日:2022/7/8
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